一种伺服驱动器老化测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于伺服驱动器老化测试领域，提供了一种伺服驱动器老化测试装置，包括：伺服驱动器、可编程逻辑控制器、伺服电机和可变负载惯量盘；可编程逻辑控制器，与伺服驱动器相连接，用于向伺服驱动器发送老化测试指令；伺服驱动器，与伺服电机相连接，用于驱动伺服电机转动；伺服电机，与可变负载惯量盘相连接，用于带动可变负载惯量盘转动。本实用新型专利技术具备测试周期短、效率高，节约成本，提高伺服驱动器老化测试准确度的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种伺服驱动器老化测试装置
本技术涉及伺服驱动器老化测试领域，特别涉及一种伺服驱动器老化测试装置。
技术介绍
随着社会的发展，人们对伺服驱动器产品质量的要求越来越高，为了提高伺服驱动器的良品率，避免产品在使用早期发生故障，在出厂前需对伺服驱动器进行老化测试。 所谓的老化测试是让设备处在超常规的特殊的环境中运作，或者让此设备超指标地运行；使产品的缺陷在短时间内即可展现出来，避免产品到了用户手中之后，在使用早期就发生故障。对伺服驱动器进行老化测试时，需要将伺服驱动器置于一定的工作环境；然后持续运行一段时间，检测其是否出现故障。 现有技术中，针对伺服驱动器的老化测试一般采用伺服驱动电机在加载或者空载的情况下工作一段时间，再进行其他功能性测试。上述老化测试方案存在如下问题:(I)，在空载情况下，伺服驱动器老化效果不明显，无法做到被测产品的高负荷运行，需要花费很长的时间进行老化测试，生产测试周期长，浪费大量电能，测试效率低；(2)在加载的情况下，伺服驱动器虽然带有负载，但是由于加载量为一固定值，使其始终处于同一种工作状态，或者持续于某些变化幅度不大的工作状态，不能同时测试多种工作状况时的老化问题，老化测试的通过率高，准确度低，无法测试出一些故障机器。 因此，伺服驱动器老化测试领域急需一种测试周期短、效率高，节约成本，提高伺服驱动器老化测试准确度的伺服驱动器老化测试装置。
技术实现思路
针对上述缺陷，本技术提供了一种伺服驱动器老化测试装置，该伺服驱动器老化测试完全由程序控制，能够快速老化设备，有利于提高产品市场良品率，缩短产品周期。 一种伺服驱动器老化测试装置，包括:伺服驱动器、可编程逻辑控制器、伺服电机和可变负载惯量盘； 可编程逻辑控制器，与伺服驱动器相连接，用于向伺服驱动器发送老化测试指令； 伺服驱动器，与伺服电机相连接，用于驱动伺服电机转动； 伺服电机，与可变负载惯量盘相连接，用于带动可变负载惯量盘转动。 作为优选，一种伺服驱动器老化测试装置，还包括中间继电器和接触器，中间继电器分别与可编程逻辑控制器、接触器相连接，接触器的一端接入电网，另一端与伺服驱动器相连接。 作为优选，一种伺服驱动器老化测试装置的可编程逻辑控制器采用西门子S7-200型号。 作为优选，一种伺服驱动器老化测试装置在可编程控制器上设置有启停按钮、正转按钮和反转按钮。 本技术具备的有益效果是: 1、本技术的一种伺服驱动器老化测试装置，在伺服电机上连接有可变负载惯量盘，根据所测试的伺服驱动器的功率选择合适的伺服电机，再根据伺服电机与惯量盘的匹配原则，选择合适量程的可变负载惯量盘，能够适用于各种型号的伺服驱动器老化测试，具备更加广泛的适用性。 2、本技术的可变负载惯量盘具有一定的量程，在老化测试时，可以通过更改可变负载惯量盘的负载量，测试伺服驱动器在不同负载情况下的老化情况，能够同时输出多种工况下的老化测试结果，老化测试结果更加精确，减少工作量，提高老化测试效率，更好的实现老化测试的目的。 3、本技术增加了中间继电器和接触器，从而可以通过可编程逻辑控制器控制伺服驱动器进行瞬间断电老化测试，便于缩短老化测试进程，增强老化测试效果，更加安全、可靠。 4、本技术选用的西门子S7-200型号的可编程逻辑控制器具有应用广泛，成本低廉，适应性强等优点。 5、本技术通过可编程逻辑控制器控制伺服驱动器连续的启停、加减速、正反转、上电断电等行为，使得伺服驱动器始终工作在极限条件下，这样保证伺服驱动器在相对较短的一段时间内，能够快速测试出是否存在问题，增加了老化测试项目，缩短产品老化测试周期，减少电能消耗，有利于提高伺服驱动器投入市场的良品率，为客户带来满意的体验，提高市场认可度。 6、本技术具备自动测试和手动测试2种模式，通过正转按钮和反转按钮，可以认为改变运动状态，瞬间实现正转或反转，操作更加灵活，适用性更强。 【附图说明】 下面结合附图和【具体实施方式】来详细说明本技术: 图1是本技术一种伺服驱动器老化测试装置的结构框图。 图2是对本技术的实施例2的操作流程图。 【具体实施方式】 为了使本技术技术实现的措施、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本技术。 图1是本技术一种伺服驱动器老化测试装置的结构框图。 实施例1: 如图1所示，本技术提供了一种伺服驱动器老化测试装置，包括:伺服驱动器4、可编程逻辑控制器1、伺服电机5和可变负载惯量盘6 ;可编程逻辑控制器1，与伺服驱动器4相连接，用于向伺服驱动器4发送老化测试指令；伺服驱动器4，与伺服电机5相连接，用于驱动伺服电机5转动；伺服电机5，与可变负载惯量盘6相连接，用于带动可变负载惯量盘6转动。 作为优选，一种伺服驱动器老化测试装置的可编程逻辑控制器采用西门子S7-200型号；可编程控制器I上设置有启停按钮、正转按钮和反转按钮。 本技术工作前，需要在可编程控制器I上设置加速到满载时间为0.1秒，正转时间7秒、减速到空载时间为0.1秒，反转时间为7秒； 本技术工作时，首先根据所测试的伺服驱动器4的功率选择合适的伺服电机5，再根据伺服电机5与惯量盘的匹配原则，选择合适量程的可变负载惯量盘6，然后依次连接好伺服驱动器4、可编程逻辑控制器1、伺服电机5和可变负载惯量盘6 ;然后开始对伺服驱动器进行老化测试: (I)将可编程控制器I直接连接在电网或者电源上，打开启停按钮，使可编程控制器I通电，进入自动运行模式，可编程逻辑控制器I即刻给予伺服驱动器4 一个正转指令，伺服驱动器4控制伺服电机5带动可变负载惯量盘6在0.1秒内加速运行到满载，然后持续正转7秒； (2)当伺服驱动器4正转7秒后，可编程逻辑控制器I命令伺服驱动器4控制伺服电机5带动可变负载惯量盘6在0.1秒内减速至O ; (3)伺服驱动器4控制伺服电机5带动可变负载惯量盘6在0.1秒内加速运行到满载，然后持续反转7秒； (4)当伺服驱动器4反转7秒后，由可编程逻辑控制器I给出指令，使得伺服驱动器4在接下来的0.1秒内恢复正转，反复进行上述的正反转过程； 也可以关闭启停按钮，更换可变负载惯量盘的负载量，能够对伺服驱动器4在满载、空载和多种负载的工作情况进行测试，从而快速实现老化测试，以及在各种负载老化测试的老化负载时间，进而筛选出适合不同场合的伺服驱动器，能够极大的满足市场的需求，提高市场认可度，进而极大地实现老化测试的目的。 实施例2: 本技术提供了一种伺服驱动器老化测试装置，包括:伺服驱动器4、可编程逻辑控制器1、伺服电机5和可变负载惯量盘6 ;可编程逻辑控制器I，与伺服驱动器4相连接，用于向伺服驱动器4发送老化测试指令；伺服驱动器4，与伺服电机5相连接，用于驱动伺服电机5转动；伺服电机5，与可变负载惯量盘6相连接，用于带动可变负载惯量盘6转动。 如图1所示，与实施例1不同之处在于，本技术还包括中间继电器2和接触器3，中间继电器2分别与可编程逻辑控制器1、接触器3相连接，接触器3的一端接入电网，另一端与伺服驱动器4相连接。 图2是对本实用本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种伺服驱动器老化测试装置，其特征在于，包括：伺服驱动器、可编程逻辑控制器、伺服电机和可变负载惯量盘；所述可编程逻辑控制器，与所述伺服驱动器相连接，用于向所述伺服驱动器发送老化测试指令；所述伺服驱动器，与所述伺服电机相连接，用于驱动伺服电机转动；所述伺服电机，与所述可变负载惯量盘相连接，用于带动可变负载惯量盘转动。

【技术特征摘要】
1.一种伺服驱动器老化测试装置，其特征在于，包括:伺服驱动器、可编程逻辑控制器、伺服电机和可变负载惯量盘； 所述可编程逻辑控制器，与所述伺服驱动器相连接，用于向所述伺服驱动器发送老化测试指令； 所述伺服驱动器，与所述伺服电机相连接，用于驱动伺服电机转动； 所述伺服电机，与所述可变负载惯量盘相连接，用于带动可变负载惯量盘转动。2.根据权利要求1所述的一种伺服驱动器老化测...

【专利技术属性】
技术研发人员：欧胜，刘国鹰，曾国辉，刘海珊，占兴，王庆振，
申请(专利权)人：上海工程技术大学，
类型：新型
国别省市：上海;31