识别电路的方法、集成电路设备和用于检测烟尘的设备技术

本申请提供了识别电路的方法、集成电路设备和用于检测烟尘的设备。所述方法包括：提供包括电路硬件装置和放射源的装置，其中放射源机械地连接到电路硬件装置，并且放射源具有预定的放射性指纹，所述预定的放射性指纹具有至少包括第一放射性指纹特性的一组放射性指纹特性；基于由放射源发出的辐射，检测至少一些放射性指纹特性；以及至少部分地基于检测到的放射性指纹特性，识别电路硬件装置的至少第一识别特性。

【技术实现步骤摘要】
识别电路的方法、集成电路设备和用于检测烟尘的设备
本专利技术一般涉及电子电路装置的领域，所述电子电路装置包括放射性检测器和/或与电子电路“放射性通信”(参见下面在具体实施方式部分的定义子部分中的定义)的放射源。
技术介绍
当不是天然放射性的一些同位素原子核采用某些高能粒子轰击时，会产生人工产生的放射性同位素。每个放射性同位素通过半衰期值(其涉及放射性材料随着时间的推移而变得具有更小放射性的方式)以及通常以居里(Ci)或以贝克勒尔(Bq)为单位测量的活度来表征。一个Ci单位等于每秒3.7X1010次衰变。一个Bq单位等于每秒1次衰变。更具体地，半衰期是一部分放射性材料中的原子核的一半衰变掉所花费的时间的平均长度。人工产生的放射性同位素和天然放射性同位素之间的比较/对比的一些点如下：(i)天然和人工放射性材料都根据半衰期值“衰变”；和(ii)人工放射性同位素一般相对于天然放射性同位素具有较短的半衰期周期值。存在着集成电路芯片(IC)形式的传统装置，其具有被机械连接从而与IC的电路“放射性通信”的放射性材料。在该文件中，放射源材料与电路放射性通信的装置在本文中将有时被描述为具有“嵌入源”。存在着IC形式的传统装置，其具有与IC进行数据通信的放射性检测器(在本文中有时被称为“辐射检测器”，其不应与例如可见光检测器混淆)。在该文件中，放射性检测器与电路进行数据通信的装置在本文中将有时被描述为具有“嵌入检测器”。
技术实现思路
根据本专利技术的一方面，提供了用于识别电路的方法和相关联的硬件。该方法包括以下步骤(不一定按下面的顺序)：(i)提供包括电路硬件装置和放射源的装置，其中放射源机械地连接到电路硬件装置，并且放射源具有预定的放射性指纹，所述预定的放射性指纹具有至少包括第一放射性指纹特性的一组放射性指纹特性；(ii)基于由放射源发出的辐射，检测至少一些放射性指纹特性；以及(iii)至少部分地基于检测到的放射性指纹特性，识别电路硬件装置的至少第一识别特性。根据本专利技术的另一方面，集成电路设备包括：集成电路芯片；放射源；连接硬件装置；以及辐射检测模块。放射源通过连接硬件装置机械地连接到集成电路芯片。辐射检测模块可操作地连接到集成电路芯片，使得辐射检测模块与放射源放射性通信。辐射检测模块被构造、定位、编程和/或连接以确定下述中的至少一种：(i)随着时间的推移从被总计地考虑的放射源和外部辐射源接收的总辐射剂量，和/或(ii)在给定的时间点从被总计地考虑的放射源和外部辐射源接收的总辐射量。根据本专利技术的另一方面，用于检测烟尘的设备包括：放射源；辐射检测器；以及烟尘警报模块。放射源与辐射检测器放射性通信。辐射检测器将检测信号发送给烟尘检测器模块，其中检测信号至少部分地基于从放射源发出的辐射。烟尘检测器模块被连接、构造和/或编程为在检测信号指示烟尘存在的情况下发送出警报信号。放射源是具有小于432年的半衰期的人工产生的放射性同位素。附图说明图1是根据本专利技术的示例性多用途设备的实施例的框图。具体实施方式图1是示出设备100的框图，其包括：IC基板101；源固定硬件102；放射源材料(在本文中有时也被称为辐射源材料)104；辐射检测器106；控制模块(“mod”)108；硬件完整性子模块110(包括指纹数据库111)；经过时间子模块112(包括速率与时间(rateversustime)数据库113)；辐射限制子模块114；烟尘检测器子模块118；输入/输出(I/O)路径120；以及被连接器具组122(包括扬声器213、显示器214以及气囊216)。非常概括地描述设备100：(i)源固定硬件102机械地固定辐射源材料104；(ii)检测器106检测由源104发出的辐射，并且发送该信息给控制模块108；(iii)控制模块108具有用于执行各种逻辑功能的硬件、软件和/或固件，其中一些逻辑功能使用检测到的辐射作为输入；以及(iv)被连接的器具组122具有至少部分地由控制模块108控制的各种器具(例如扬声器213由控制模块108控制以充当烟尘警报)。应当记住的是，设备100是被讨论以示出本专利技术许多方面的示例性多用途装置，本公开的许多以商业产品为导向的实施例仅具有示例性设备100的新颖特征和特性的某个子集。源固定硬件102将源材料104机械连接(参见下面的定义)到IC基板101，使得放射源材料104与电路(具体是辐射检测器106)放射性通信。在该实施例中，源材料是基板自身的一个层，其嵌入层叠形式的IC基板的其它层中，并且源固定硬件是IC基板的其它层，其嵌入并固定放射源层。可替换地，固定硬件可以以包括但不限于下述方式的方式固定源材料：(i)跨越基板的外表面伸展(例如作为放射性底部填充(radioactiveunderfill))；(ii)作为包装在IC基板材料内的粒子；(iii)作为安装在IC基板的外表面上或其附近的粒子；(iv)采用IC基板中的网目(mesh)或迹线(或网目或迹线上的薄层)的形式；和/或(v)在IC基板上、IC基板中和/或IC基板附近的其它位置和/或几何结构。在该实施例中，放射源材料104是可以包括放射性同位素以及诸如粘合剂(binder)之类的其它材料的混合物的层。在该实施例中，组成放射源104的放射性同位素可以是天然存在的或人造的，并且具有“相对短的半衰期”(即小于432年)。可替换地，本公开的各种实施例中的放射源材料可以：(i)专门由单个放射性同位素形成；(ii)由与诸如粘合剂之类的其它非放射性材料一起混合的单个放射性同位素形成；(iii)人造放射性同位素；(iv)天然存在的放射性同位素；和/或(v)人造和天然存在的同位素(在混合物中具有或不具有非放射性材料)的混合物。当在下面讨论控制模块108的子模块时，将有关于什么种类的放射源材料在本公开的各种实施例中最优地工作的一些更详细的讨论。本公开的一些实施例甚至可能不需要在设备中存在辐射源。放射源通过放射性衰变产生辐射。放射源可以通过包括下述特性的特性来描述：(i)发射的辐射类型，诸如：(a)阿尔法粒子、(b)贝塔粒子、(c)中子、(d)x射线、和/或(e)伽玛；(ii)相应的半衰期；以及(iii)相应的活度。阿尔法粒子是辐射类型中具有最小穿透性的。具有最大穿透性的粒子是中性粒子，其包括：(i)中子；(ii)x射线；以及(iii)伽玛射线。半衰期是给定样本中的同位素原子的一半经历衰变的时间量。一般地，具有长半衰期的天然存在的放射性同位素不具有非常高水平的放射性。人工产生的放射性同位素可以以变化的强度或活度来制备以适合于应用，并且可以具有相对短的半衰期。对于包括多种分别具有不同半衰期的放射性同位素的单个放射源：有时有可能基于发射出一定强度的辐射的类型和发射出的辐射的相应能量来分别单独地跟踪单个组分同位素的衰变。本公开的一些实施例包括具有经证实的初始放射性水平的单个或多个同位素的辐射源。本公开的一些实施例将辐射源嵌入到芯片或电路中或者紧邻着芯片或电路。现在将讨论辐射检测器106。在该实施例中，辐射检测器是“嵌入型辐射检测器”。本专利技术的一些实施例可能不需要在设备中存在辐射检测器。现在将讨论控制模块的各种子模块，以硬件完整性子模块110和其“指纹”数据库111开始。更具体地，本专利技术的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种识别电路的方法，所述方法包括：提供包括电路硬件装置和放射源的装置，其中所述放射源机械地连接到所述电路硬件装置，并且所述放射源具有预定的放射性指纹，所述预定的放射性指纹具有至少包括第一放射性指纹特性的一组放射性指纹特性；基于由所述放射源发出的辐射，检测至少一些放射性指纹特性；以及至少部分地基于检测到的放射性指纹特性，识别所述电路硬件装置的至少第一识别特性。

【技术特征摘要】
2013.09.26 US 14/037,5501.一种识别电路的方法，所述方法包括：提供包括电路硬件装置和放射源的装置，其中所述放射源机械地连接到所述电路硬件装置，并且所述放射源具有预定的放射性指纹，所述预定的放射性指纹具有至少包括第一放射性指纹特性的一组放射性指纹特性；基于由所述放射源发出的辐射，检测至少一些放射性指纹特性；以及至少部分地基于检测到的放射性指纹特性，识别所述电路硬件装置的至少第一识别特性。2.如权利要求1所述的方法，其中所述第一识别特性是下述中的一种：电路的真伪性，电路的制造位置，电路的制造实体，电路的制造日期，电路的指定客户，电路的型号/修订版，与电路相关联的保修政策，对于每个电路而言唯一的序列号，用于电路的端口映射，被授权与电路一起使用的软件、硬件和/或固件的标识，和/或针对电路的期望地域市场。3.如权利要求1所述的方法，其中所述电路硬件装置采取集成电路的形式。4.如权利要求1所述的方法，其中检测到的放射性指纹特性包括下述中的至少一种：辐射类型、强度、在一定时间间隔内发生的强度变化、发出的辐射的动量、和/或能量分布。5.如权利要求1所述的方法，其中所述放射源包括多个不同的放射性同位素。6.如权利要求1所述的方法，其中所述放射源永久且机械地连接到所述电路硬件装置，使得在不毁坏下述中的至少一个的情况下不能将所述电路硬件装置与所述放射源分离：所述放射源、和/或所述电路硬件装置。7.一种集成电路设备，包括：集成电路芯片；放射源；连接硬件装置；以及辐射检...

【专利技术属性】
技术研发人员：M·S·戈登，K·P·罗德贝尔，
申请(专利权)人：国际商业机器公司，
类型：发明
国别省市：美国;US