【技术实现步骤摘要】
一种密封件接触界面气体泄漏率的测量系统及方法
本专利技术涉及密封接触界面气体泄漏率测试的系统和方法,属于气体密封测量
技术介绍
密封件是防止流体或固体微粒从相邻结合面间泄漏以及防止外界杂质如灰尘与水分等侵入机器设备内部的一种重要零部件,广泛应用于航天航空、汽车制造、精密仪器、水利工程等重要领域,在保证仪器设备正常运转,保护环境等方面起到了重要作用。在密封系统服役过程中,是否发生泄漏以及密封接触界面上沿不同方向的气体泄漏率,是评价密封装置密封性的关键因素。现有的密封制品中,存在大量的表面附有织物的密封产品以减小摩擦磨损,延长使用寿命,如大型飞机舱门密封件。由于织物结构的各向异性,气体在接触界面不同方向上的泄漏率也不同。传统的气体泄漏方法主要分为两种,一种是针对密封件或密封装置整体泄漏情况进行检测,该方法无法直接针对接触界面,无法考虑接触界面的方向性;另一种是针对泄漏点采用超声或失踪气体的方法来检测,该类方法只能对单个泄漏点逐点检测,不能解决接触密封的测量问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种密封接触界面气体泄漏率的测量系统及方法,用于测量接触界面不同接触应力下不同方向的气体泄漏率。为达到上述目的,本专利技术采用的技术方案是:一种密封件接触界面气体泄漏率的测量系统,其特征在于:该系统包括进气装置、测量装置和排气装置;所述进气装置包括储气罐、进气端压力控制阀、进气端流量计、进气端压力传感器以及进气端开关阀门;所述测量装置包括实验舱体、密封件和支撑底座;密封件放置在支撑底座上,密封件各方向尺寸均大于实验舱体的底部,使实验舱体的底部与密封件完全接触; ...
【技术保护点】
一种密封件接触界面气体泄漏率的测量系统,其特征在于:该系统包括进气装置、测量装置和排气装置;所述进气装置包括储气罐(1)、进气端压力控制阀(3)、进气端流量计(5)、进气端压力传感器(6)以及进气端开关阀门(7);所述测量装置包括实验舱体(8)、密封件(9)和支撑底座(16);密封件(9)放置在支撑底座(16)上,密封件(9)各方向尺寸均大于实验舱体(8)的底部,使实验舱体(8)的底部与密封件(9)完全接触;所述排气装置包括真空泵(15)、排气端压力控制阀(14)、排气端流量计(13)、排气端压力传感器(12)以及排气端开关阀门(10);所述进气端压力控制阀(3)、进气端流量计(5)、进气端压力传感器(6)以及进气端开关阀门(7)依次通过进气管道(4)相连;所述真空泵(15)、排气端压力控制阀(14)、排气端流量计(13)、排气端压力传感器(12)以及排气端开关阀门(10)依次通过排气管道(11)相连;所述进气管道(4)与所述排气管道(11)分别与所述实验舱体(8)相连接。
【技术特征摘要】
1.一种密封件接触界面气体泄漏率的测量方法,该方法采用的测量系统包括进气装置、测量装置和排气装置;所述进气装置包括储气罐(1)、进气端压力控制阀(3)、进气端流量计(5)、进气端压力传感器(6)以及进气端开关阀门(7);所述测量装置包括实验舱体(8)、密封件(9)和支撑底座(16);密封件(9)放置在支撑底座(16)上,密封件(9)各方向尺寸均大于实验舱体(8)的底部,使实验舱体(8)的底部与密封件(9)完全接触;所述排气装置包括真空泵(15)、排气端压力控制阀(14)、排气端流量计(13)、排气端压力传感器(12)以及排气端开关阀门(10);所述进气端压力控制阀(3)、进气端流量计(5)、进气端压力传感器(6)以及进气端开关阀门(7)依次通过进气管道(4)相连;所述真空泵(15)、排气端压力控制阀(14)、排气端流量计(13)、排气端压力传感器(12)以及排气端开关阀门(10)依次通过排气管道(11)相连;所述进气管道(4)与所述排气管道(11)分别与所述实验舱体(8)相连接;其特征在于所述方法包括如下步骤:1)当实验舱体处于正压情况下:a.设第一种实验舱体(8)底面开口的长方形长度为b1,宽度为a,实验舱体(8)厚度为l,将实验舱体(8)放置在密封件(9)上,使两者密封接触;b.在实验舱体(8)上部施加预定压力,使得接触界面(17)总压力为F1,接触应力为:c.关闭排气端开关阀门(10),连接储气罐(1),检查并确定实验系统气密性良好后,打开进气端开关阀门(7)和储气罐(1)阀门,调节进气端压力控制阀(3),使实验舱体(8)内压力大于大气压,观察进气端压力传感器(6);d.当进气端压力传感器(6)示数保持稳定后,记录进气端流量计(5)示数Qa1;e.关闭储气罐(1),取第二种实验舱体(8),使其与密封件(9)所围底面的长度为b2,b2≠b1,宽度为a长方形,重复步骤b至c,使这时的接触应力与第一种实验时的接触应力相同,所以施加总载荷变为:f.当进气端压力传感器(6)示数保持稳定后,记录进气端流量计(5)示数Qa2;g.计算密封件(9)在该接触应力下的泄漏率:根据联立两式相减可得其中qa为宽度方向上接触界面(17)单位长度泄漏率,qb为长度方向上接触界面(17)的泄漏率,qc为...
【专利技术属性】
技术研发人员:姚学锋,柯玉超,董弋锋,杨恒,
申请(专利权)人:清华大学,
类型:发明
国别省市:北京;11
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