【技术实现步骤摘要】
极坐标式无接触水平镜面倾角测量系统及测量方法
本专利技术涉及一种水平镜面倾角测量装置及方法,具体涉及一种可以测量处于一定区域内水平镜面的倾角或平行度的极坐标式无接触水平镜面倾角测量系统及方法。
技术介绍
在某些具有特殊要求的光学实验室中,使用多个反射镜构成阵列,各个反射镜安装高度各不相同,本身角度可以根据需要改变,但要求反射镜法线相互平行或与当地重力垂线平行,如图1所示。这就需要一种能够快速测量各个位置反射镜法线方向的测量系统。另外,由于宇航技术的发展,需要在地面模拟太空低重力或零重力环境,以使那些只能在低重力工作环境下工作的机械手、巡视器或空间站模型能够在地面上也能工作和测试。为实现此目的,一种常用方法是使用吊索对被测工件重力进行补偿。而如何保障吊索始终与重力垂线平行或如何高精度地测量吊索对重力垂线的偏角,则是此类系统面临的一个重要问题。一种测量方法是在钢索上垂直安装反射镜,如图2所示,并能够在被测工件在一定区域内运动时,对镜面法线方向偏斜进行实时测量并进行控制,使其始终垂直向上。该方法依靠这水平镜面反射的方式保证吊索与重力垂线平行。然而镜面在动态过程放置是否始终处于水平却无法测量,这将会导致吊索与重力垂线产生无法消除的偏角,因此水平镜面的测量在实际应用中有着重要的价值。
技术实现思路
为了克服现有技术存在的不足,有效提高测量精度,本专利技术提供了一种极坐标式无接触水平镜面倾角测量系统及测量镜面倾角或平行度的方法。本专利技术主要应用于镜面阵列平行度测量、镜面法线与重力垂线的偏角测量和重力卸荷系统的吊索偏离重力垂线的方位角测量,是镜面阵列控制系统和吊索式重力卸 ...
【技术保护点】
极坐标式无接触水平镜面倾角测量系统,其特征在于所述测量系统为极坐标运动形式的框架结构,由立柱、止推轴承、旋转臂、调整装置、负载平台、光学测量系统、伺服电机、圆弧导轨、气浮导轨和直线电机组成,其中:极坐标原点处由立柱支撑,立柱顶端安装有止推轴承,旋转臂一端通过止推轴承固定在立柱上,另一端通过导轨副架在圆弧导轨上,旋转臂由伺服电机驱动绕立柱顶端的止推轴在水平面内旋转,旋转臂上安装有气浮导轨、负载平台和直线电机定子,负载平台由直线电机驱动沿气浮导轨滑动,所述光学测量系统由激光器I、激光器II、分光镜I、分光镜II、CCDI、CCDII、滤光镜与镜头组I、滤光镜与镜头组II、参考反射镜和被测反光镜组成,激光器I、激光器II、分光镜I、分光镜II、CCDI和CCDII安装在负载平台上,参考反射镜位于止推轴上方并与止推轴固联,调整装置位于参考反射镜顶部;激光器I射出的光束经分光镜I分为两束,一束测量基准光束经过滤光镜与镜头组I直接进入CCDI,另一束入射到被测镜面上,经被测镜面反射后回到分光镜I,再次被分光镜I反射后经滤光镜与镜头组I直接进入CCDI;激光器II射出的光束经分光镜II分为两束,一束 ...
【技术特征摘要】
1.极坐标式无接触水平镜面倾角测量系统,其特征在于所述测量系统为极坐标运动形式的框架结构,由立柱、止推轴承、旋转臂、调整装置、负载平台、光学测量系统、伺服电机、圆弧导轨、气浮导轨和直线电机组成,其中:极坐标原点处由立柱支撑,立柱顶端安装有止推轴承,旋转臂一端通过止推轴承固定在立柱上,另一端通过导轨副架在圆弧导轨上,旋转臂由伺服电机驱动绕立柱顶端的止推轴承在水平面内旋转,旋转臂上安装有气浮导轨、负载平台和直线电机定子,负载平台由直线电机驱动沿气浮导轨滑动,所述光学测量系统由激光器I、激光器II、分光镜I、分光镜II、CCDI、CCDII、滤光镜与镜头组I、滤光镜与镜头组II、参考反射镜和被测反光镜组成,激光器I、激光器II、分光镜I、分光镜II、CCDI和CCDII安装在负载平台上,参考反射镜位于止推轴承上方,参考反射镜的轴与旋转臂的轴同轴安装,且用弹性联轴器固联,调整装置位于参考反射镜顶部;激光器I射出的光束经分光镜I分为两束,一束测量基准光束经过滤光镜与镜头组I直接进入CCDI,另一束入射到被测镜面上,经被测镜面反射后回到分光镜I,再次被分光镜I反射后经滤光镜与镜头组I直接进入CCDI;激光器II射出的光束经分光镜II分为两束,一束测量基准光束经过滤光镜与镜头组II直接进入CCDII,另一束入射到参考反射镜上。2.根据权利要求1所述的极坐标式无接触水平镜面倾角测量系统,其特征在于所述参考反射镜的轴与旋转臂的轴同轴安装且用弹性联轴器固联。3.根据权利要求1所述的极坐标式无接触水平镜面倾角测量系统,其特征在于所述参考反射镜轴下端采用调心轴承固定,上端为调整装置,旋转臂轴上端采用轴承固定,下端采用止推轴承固定。4.一种利用权利要求1-3任一权利要求所述的极坐标式无接触水平镜面倾角测量系统测量水平镜面倾角的方法,其特征在于所述方法步骤如下:一、调整旋转臂轴线与当地重力垂线平行;二、分别读取CCDI中的测量基准光束与通过被测镜面反射后进入CCDI的反射测量光束;三、若反射测量光束与测量基准光束不重合,通过CCDI测量它与测量基准光束成像点的距离和方位,即可测出被测反光镜偏角及偏斜方位;四、综合CCDI与CCDII测量结...
【专利技术属性】
技术研发人员:卢鸿谦,刘国平,尹航,班晓军,陈力恒,黄显林,
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学,
类型:发明
国别省市:黑龙江;23
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。