【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】功率因数计测装置
本专利技术涉及一种对具有电感负载的电路中的消耗功率的功率因数进行计测的装置,尤其涉及一种利用了磁性膜的磁阻效应的功率因数计测装置。
技术介绍
在使用交流电源来驱动具有电抗成分的负载的情况下,电压与电流产生相位差。由于该相位差,所消耗的功率产生有功功率和无功功率。无功功率的增大导致不能有效利用电源,因此当然期望降低无功功率的增大而增加有功功率。相对于从电源供给的功率将有功功率的比例称为功率因数,通常以cosθ表示。在此,θ为电流-电压的相位差。为了尽可能增大有功功率,需要计测功率消耗电路中的功率因数,以功率因数增大的方式调整电路。尤其是,出于节能这种观点,对于功率因数的显示,直接显示当前的运转效率,提高功率因数而以有效运转为目标,并且期望直接计测功率因数。然而,在大多情况下通过计测无功功率来进行电路所消耗的功率的功率因数的计测。这是通过取相位彼此相差90°的电压、电流信号的积来求出。在该90°的相移中使用了变压器、积分电路等要素。但是,这种方法会产生在负载变动时无功功率的计算变得复杂这种问题。为了解决该问题,在专利文献1中,具备:采样机构,其对交流电路的电压及电流进行采样;存储机构,其按每个采样点而存储由上述采样机构采样得到的电压数据及电流数据;和模拟无功功率运算机构,其根据由上述存储机构存储的电压数据及电流数据来运算无功功率,上述存储机构将上述电压数据及电流数据以同相位存储一个周期量,上述模拟无功功率运算机构对由上述存储机构存储的规定周期量的电压数据及电流数据分别循环地乘以各采样点的电流数据和相位相差90°的采样点的电压数据,根据这些乘积 ...
【技术保护点】
一种功率因数计测装置,测定在经由连接线与电源相连接的负载中消耗的功率的功率因数,其特征在于,具有:一对连结端,其用于与所述负载并联地连结于所述电源;功率因数传感部,其包括:基于同一外部磁场而产生的电阻变化不同的两个磁性元件、输出所述两个磁性元件的差动电压的一对计测端子、与所述一对连结端相连接的一对传感端子;电压检测部,其计测所述计测端子间的电压;低通滤波器,其与所述电压检测部的输出相连接;高通滤波器,其与所述电压检测部的输出相连接;整流器,其与所述高通滤波器相连接;以及除法机构,其将所述低通滤波器的输出与所述整流器的输出相除。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.05.11 JP 2012-1101161.一种功率因数计测装置,测定在经由连接线与电源相连接的负载中消耗的功率的功率因数,其特征在于,具有:功率因数传感部,其与所述负载并联地连结,且包括第1磁性元件及第2磁性元件,相对于外部磁场,在所述第1磁性元件的电阻增加的情况下,所述第2磁性元件的电阻减少;电压检测部,其计测所述第1磁性元件及第2磁性元件间的差动电压;以及功率因数计算部,其基于所述差动电压,计算所述功率因数。2.根据权利要求1所述的功率因数计测装置,其特征在于,相对于所述外部磁场的、所述第1磁性元件的电阻增加量与所述第2磁性元件的电阻减少量大致相等。3.根据权利要求1或2所述的功率因数计测装置,其特征在于,所述功率因数计算部具有:低通滤波器,其与所述电压检测部的输出相连接;高通滤波器,其与所述电压检测部的输出相连接;整流器,其与所述高通滤波器的输出相连接;以及除法机构,其将所述低通滤波器的输出与所述整流器的输出相除。4.根据权利要求1或2所述的功率因数计测装置,其特征在于,所述第1磁性元件具有:短条状的第1磁性膜;设置在所述第1磁性膜的两端的一对第1元件端子;和第1偏转部,其与所述第1磁性膜的膜面平行并施加磁场,所述第2磁性元件具有:短条状的第2磁性膜;设置在所述第2磁性膜的两端的一对第2元件端子;和第2偏转部,其与所述第2磁性膜的膜面平行并施加磁场,所述第1偏转部相对于在所述第1磁性元件中流动的电流的方向而向所述第1磁性元件的面内方向施加的磁场方向,与所述第2偏转部相对于在所述第2磁性元件中流动的电流的方向而向所述第2磁性元件的面内方向施加的磁场方向不同。5.根据权利要求1或2所述的功率因数计测装置,其特征在于,所述第1磁性元件具有:短条状的第1磁性膜;设置在所述第1磁性膜的两端的第1元件端子;和多个第1导体,其形成在所述第1磁性膜的表面,所述第2磁性元件具有:短条状的第2磁性膜;设置在所述第2磁性膜的两端的第2元件端子;和多个第2导体,其形成在所述第2磁性膜的表面,所述第1导体相对于在所述第1磁性元件中流动的电流的方向的倾斜方向,与所述第2导体相对于在所述第2磁性元件中流动的电流的方向的倾斜方向不同。6.根据权利要求1或2所述的功率因数计测装置,其特征在于,所述第1磁性元件的易磁化轴相对于在所述第1磁性元件中流动的电流的方向的倾斜方向,与所述第2磁性元件的易磁化轴相对于在所述第2磁性元件中流动的电流的方向的倾斜方向不同。7.根据权利要求1或2所述的功率因数计测装置,其特征在于,所述第1磁性元件及第2磁性元件各自的第1端与所述负载的第1端相连接,所述第1磁性元件及第2磁性元件各自的第2端与所述电压检测部的输入相连接。8.根据权利要求7所述的功率因数计测装置,其特征在于,所述第1磁性元件及第2磁性元件各自的第2端经由计测电阻而与所述负载的第2端相连接。9.根据权利要求1或2所述的功率因数计测装置,其特征在于,所述功率因数传感部还包括分别与所述第1磁性元件及第2磁性元件连接的第1计测电阻及第2计测电阻,所述第1磁性元件及第2磁性元件和所述第1计测电阻及第2计测电阻形成与所述负载并联的电桥电路。10.一种功率因数计测装置,测定在经由连接线与电源相连接的负载中消耗的功率的功率因数,其特征在于,具有:功率因数传感部,其与所述负载并联地连结,包括配置成长度方向与所述连接线大致平行、且相对于同一外部磁场的电阻变化彼此不同的第1磁性元件及第2磁性元件;电压检测部,其计测所述第1磁性元件及第2磁性元件间的差动电压;以及功率因数计算部,其基于所述差动电压,计算所述功率因数。11.根据权利要求10所述的功率因数计测装置,其特征在于,所述功率因数计算部具有:低通滤波器,其与所述电压检测部的输出相连接;高通滤波器,其与所述电压检测部的输出相连接;整流器,其与所述高通滤波器的输出相连接;以及除法机构,其将所述低通滤波器的输出与所述整流器的输出相除。12.根据权利要求10所述的功率因数计测装置,其特征在于,所述第1磁性元件具有:短条状的第1磁性膜;设置在所述第1磁性膜的两端的一对第1元件端子;和第1偏转部,其与所述第1磁性膜的膜面平行并施加磁场,所述第2磁性元件具有:短条状的第2磁性膜;设置在所述第2磁性膜的两端的一对第2元件端子;和第2偏转部,其与所述第2磁性膜的膜面平行并施加磁场,所述第1偏转部相对于在所述第1磁性元件中流动的电流的方向而向所述第1磁性元件的面内方向施加的磁场方向,与所述第2偏转部相对于在所述第2磁性元件中流动的电流的方向而向所述第2磁性元件的面内方向施加的磁场方向不同。13.根据权利要求10所述的功率因数计测装置,其特征在于,所述第1磁性元件具有:短条状的第1磁性膜;设置在所述第1磁性膜的两端的第1元件端子;和多个第1导体,其形成在所述第1磁性膜的表面,所述第2磁性元件具有:短条状的第2磁性膜;设置在所述第2磁性膜的两端的第2元件端子;和多个第2导体,其形成在所述第2磁性膜的表面,所述第1导体相对于在所述第1磁性元件中流动的电流的方向的倾斜方向,与所述第2导体相对于在所述第2磁性元件中流动的电流的方向的倾斜方向不同。14.根据权利要求10所述的功率因数计测装置,其特征在于,所述第1磁性元件的易磁化轴相对于在所述第1磁性元件中流动的电流的方向的倾斜方向,与所述第2磁性元件的易磁化轴相对于在所述第2磁性元件中流动的电流的方向的倾斜方向不同。15.根据权利要求10所述的功率因数计测装置,其特征在于,所述第1磁性元件及第2磁性元件各自的第1端与所述负载的第1端相连接,所述第1磁性元件及第2磁性元件各自的第2端与所述电压检测部的输入相连接。16.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员:辻本浩章,
申请(专利权)人:公立大学法人大阪市立大学,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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