阵列基板、显示面板及显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种阵列基板、显示面板及显示装置，属于显示技术领域，其可解决现有的阵列基板由于数据线和修复线之间产生ESD将数据线和修复线短接拉低数据线电压的问题。本发明专利技术的阵列基板，其包括多条信号线，以及在阵列基板周边区域与信号线交叉且绝缘设置的至少一条修复线和冗余修复线，且所述冗余修复线与所述修复线绝缘设置；其中，所述冗余修复线包括至少一个冗余修复部，每个所述冗余修复部的电阻小于每条所述修复线的电阻。

【技术实现步骤摘要】
阵列基板、显示面板及显示装置
本专利技术属于显示
，具体涉及一种阵列基板、显示面板及显示装置。
技术介绍
在薄膜晶体管液晶显示器(ThinFilmTransistorLiquidCrystalDisplay,简称TFT-LCD)制造过程中，小尺寸产品在液晶盒检测(CellTest)过程中通常采用短路条(ShortingBar)检测方式。如图1所示，阵列基板上形成有公共电极线4和分别于红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素对应的三条短路条(即，红色数据信号短路条1、绿色数据信号短路条2、蓝色数据信号短路条3)；其中，每条短路条连接与其对应的子像素(红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素)所连接的数据线5、6、7。通过分别给短路条施加电压，可以检测与短路条连接的数据线是是否存在破损。为了避免数据线破损而导致显示面板报废，故在阵列基板的周边区域上还形成有与数据线交叉设置的修复线8，但是在数据线上施加有数据电压时，很容易在修复线8与数据线交叉的位置(图1中的9代表发生ESD的位置)产生静电释放(Electro-Staticdischarge，简称ESD)，从而导致数据线被击穿与修复线8短路，进而导致数据线上的数据电压被拉低(数据线上的电压通常为正，而修复线8电压为零，即无电压)。然而在通过短路条检测方式检测显示面板上的数据线时，此时与修复线8短路的数据线同时还是与其他数据线连接的，故修复线8将这些数据线上的电压拉低较少部分，也就是说与修复线8短路的数据线相对于为短路的数据线被拉低的电压差异很小，从而被短路的数据线与其他数据线驱动的像素电极的电压差距很小，液晶偏转的差异不明显，显示的颜色的差异也不明显，因此这种短路不良是不容易检测出来的。专利技术人发现现有技术中至少存在如下问题：模组(Module)阶段时为全接触(FullContact)检测方式，该数据线不与其他数据线连接，修复线8可以拉低这条数据线的电压，电压会导致液晶偏转的不同于正常的区域，检测表现为两线。此时检测出来该数据线存在问题，若问题严重的将导致整个面板报废，不严重也将会增加额外修复流程。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题包括，针对现有的阵列基板存在上述的问题，提供一种可以避免在由于数据线和修复线之间产生ESD将数据线和修复线短接拉低数据线电压的阵列基板、显示面板及显示装置。解决本专利技术技术问题所采用的技术方案是一种阵列基板，其包括多条信号线，以及在阵列基板周边区域与信号线交叉且绝缘设置的至少一条修复线和至少一条冗余修复线，且所述冗余修复线与所述修复线绝缘设置；其中，所述冗余修复线包括至少一个冗余修复部，每个所述冗余修复部的电阻小于每条所述修复线的电阻。本专利技术的阵列基板由于增加了冗余修复线，该冗余修复线包括至少一个冗余修复部，单位长度的冗余修复部的电阻大于单位长度的修复线的电阻，此时假设ESD发生的区域位于冗余修复部和修复线所在的区域，由于此处的冗余修复部的电阻大于修复线该位置处的电阻，因此ESD将发生在数据线与冗余修复部的交叉位置，是两者交叉位置处的绝缘层被击穿，从而使得冗余修复部与数据线短接，将静电释放，以避免在数据线与修复线之间产生ESD，同时由于所述冗余修复部的电阻小于每条所述修复线的电阻，所以较修复线而言冗余修复部拉低数据线上的电压程度大大较小，从而使得在后续模组(Module)阶段检测时不会影响显示效果，进而使得阵列基板的良品率大大提高。优选的是，所述冗余修复线包括：断开设置且贯穿全部所述信号线的多个冗余修复部，任意两相邻的冗余修复部的断开位置设于两条相邻的信号线之间。进一步优选的是，所述阵列基板包括两条冗余修复线，所有所述修复线设于所述两条所述冗余修复线之间。更进一步优选的是，所述阵列基板还包括两条与所述修复线交叉且绝缘设置的冗余信号线，两条所述冗余信号线和两条冗余修复线将所述修复线与所述信号线的交叉位置包围。更进一步优选的是，所述冗余信号线与所述信号线同层且绝缘设置。优选的是，所述修复线与所述冗余修复线同层设置。优选的是，所述信号线包括数据线和/或栅线。优选地是，每个所述冗余修复部的两端均悬空。解决本专利技术技术问题所采用的技术方案是一种显示面板，其包括上述阵列基板。解决本专利技术技术问题所采用的技术方案是一种显示装置，其包括上述显示面板。附图说明图1为现有的阵列基板的周边区域以及在进行Shortingbar检测的示意图；图2为本专利技术的实施例1的阵列基板的周边区域以及在进行Shortingbar检测的示意图。其中附图标记为：1、红色数据信号短路条；2、绿色数据信号短路条；3、蓝色数据信号短路条；4、公共电极线；5、与红色子像素连接的数据线；6、与绿色子像素连接的数据线；7、与蓝色子像素连接的数据线；8、修复线；9、发生ESD的位置；10、冗余修复线；11、冗余修复部；12、冗余信号线。具体实施方式为使本领域技术人员更好地理解本专利技术的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细描述。实施例1：结合图2所示，本实施例提供一种阵列基板，其包括多条信号线，以及在阵列基板周边区域与信号线交叉且绝缘设置的至少一条修复线8和至少一条冗余修复线10，且所述冗余修复线10与所述修复线8绝缘设置；其中，所述冗余修复线10包括至少一个冗余修复部11，单位长度的冗余修复部11的电阻大于单位长度的修复线8的电阻。本领域技术人员可以理解的是，阵列基板通常包括设置个子像素的显示区域，以及将显示区域包围的周边区域，在阵列基板的制备工艺中，由于工艺原因(例如成膜，特别是在将母板切割成多个基板时，在各基板的周边区域用于产生静电)很容易在信号线与修复线之间产生电荷的堆积，并且电荷堆积到一定程度，就会导致静电释放(ESD)，从而导致修复线8与信号线之间的绝缘层被击穿，导致修复线8与信号线短接，且该种不良在Shortingbar不良检测检测不出来，进而导致在后续的模组(Module)阶段检测时，修复线8拉低与其短接的信号线的电压，导致与该信号线对应的像素单元显示不良。而在本实施例中，由于增加了冗余修复线10，该冗余修复线10包括至少一个冗余修复部11，每个冗余修复部11的电阻小于所述修复线8的电阻，此时假设ESD发生的区域位于冗余修复部11和修复线所在的区域，由于该区域的冗余修复部11的电阻大于修复线8该位置处的电阻，因此ESD将发生在信号线与冗余修复部11的交叉位置(图2中的9代表发生ESD的位置)，是两者交叉位置处的绝缘层被击穿，从而使得冗余修复部11与数据线短接，将静电释放，以避免在信号线与修复线8之间产生ESD，同时由于所述冗余修复部11的电阻小于每条所述修复线8的电阻，所以较修复线8而言冗余修复部11拉低信号线上的电压程度大大较小，从而使得在后续模组(Module)阶段检测时不会影响显示效果，进而使得阵列基板的良品率大大提高。需要说明的是，图2中所示，与红色子像素连接数据线5、与绿色子像素连接数据线6、与蓝色子像素连接数据线7也就是上述内容中的信号线，但图2中所示的数据线并不对本实施例中的信号线构成限制，本实施例中信号线也可以是栅线等其他连接线。而且图2中冗余修复线的延伸方向是与修复线8的方向相同的，应当理解的是，该种设置方式可以使得布线简单，制备方便，当本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列基板，其包括多条信号线，以及在阵列基板周边区域与信号线交叉且绝缘设置的至少一条修复线，其特征在于，所述阵列基板的周边区域还设置有至少一条与所述信号线交叉且绝缘设置的冗余修复线，且所述冗余修复线与所述修复线绝缘设置；其中，所述冗余修复线包括至少一个冗余修复部，每个所述冗余修复部的电阻小于每条所述修复线的电阻。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板，其包括多条信号线，以及在阵列基板周边区域与信号线交叉且绝缘设置的至少一条修复线，其特征在于，所述阵列基板的周边区域还设置有至少一条与所述信号线交叉且绝缘设置的冗余修复线，且所述冗余修复线与所述修复线绝缘设置；其中，所述冗余修复线包括至少一个冗余修复部，每个所述冗余修复部的电阻小于每条所述修复线的电阻。2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述冗余修复线包括：断开设置且贯穿全部所述信号线的多个冗余修复部，任意两相邻的冗余修复部的断开位置设于两条相邻的信号线之间。3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括两条冗余修复线，所有所述修复线设于所述两条所述冗余修复线之间。4.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤展峰，刘利萍，李静，吴健，艾雨，
申请(专利权)人：合肥鑫晟光电科技有限公司，京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34