本实用新型专利技术涉及一种成像盒,其上设置有发光模组以及遮挡结构。当成像盒安装至成像装置时,从成像装置供给成像盒的耗材芯片的电源电压和接地电压上取电,并控制发光模组发出适配于成像装置的表征碳粉余量的光,从而在成像装置对成像盒进行检测时能够接收到满足检测需求的光信号,使成像盒满足了成像装置的固有检测需求。而且,采用遮挡结构遮挡成像装置的装置侧发光元件所发的光,降低光干扰,提高了成像盒被成像装置识别的可靠性。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及打印成像技术,尤其是一种适配于成像装置的固有检测需求的成像盒。
技术介绍
成像装置,例如打印机、复印机、传真机等,用于将要成像的信息通过碳粉等成像材料成像到纸张等成像介质上。成像装置通常包括成像装置主体和可拆卸地安装到成像装置主体上的成像盒。成像盒通常设置有用于容纳碳粉等成像材料的粉仓以及用于存储成像盒相关信息的耗材芯片。耗材芯片通常也以可拆卸的方式安装在成像盒上。现有技术中,为检测成像盒粉仓内的碳粉的实际余量,在成像盒上通常还设置有编码轮,在成像装置主体上还设置有红外光检测装置。由编码轮和红外光检测装置共同构成编码轮光检系统。图1是现有技术中的一个编码轮光检系统的组成结构示意图。具体地,成像装置1的主体带有成像装置控制模块101,主体一侧设置有与成像装置控制模块101电性连接的装置侧发光元件102和装置侧受光元件103。这两个元件在竖直方向上邻近,并且分别在成像装置控制模块101的控制下发射红外光和接收红外光。成像盒2包括用于容纳碳粉的粉仓201。在粉仓201的外端部设置有编码轮202,其通过扭力轴与粉仓201内的搅拌架同轴连接。该编码轮202上还设置有用于反射光线的大反光镜203和小反光镜204。具体地,这两个反光镜分布于扭力轴的两侧,并且两个反光镜的中心与扭力轴的端部共线设置。当成像盒2安装到成像装置1上后,编码轮202的设有两个反光镜的一面朝向成像装置1的装置侧发光元件102和装置侧受光元件103。而且,装置侧发光元件102和装置侧受光元件103构成的竖直面正对编码轮202的位于扭力轴一侧的部分,而不与另一侧正对,同时装置侧发光元件102和装置侧受光元件103在竖直方向上相对于扭力轴对称设置。这种结构使得只有当编码轮202上的反光镜随着粉仓201内搅拌架的转动而转至正对装置侧发光元件102和装置侧受光元件103的位置时,才能将装置侧发光元件102发射的红外光反射到装置侧受光元件103上。当成像装置1驱动粉仓201内的搅拌架转动来搅拌碳粉时,由于碳粉的阻力传递至扭力轴,使得编码轮202的转动速度时快时慢。具体现象为,当成像装置控制模块101控制装置侧发光元件102发出红外光时,从大反光镜203反射光到小反光镜204反射光的时间间隔,与从小反光镜204反射光到大反光镜203反射光的时间间隔不相等,且这两个时间间隔与粉仓201内的碳粉余量有关。因此,现有技术可以通过分析装置侧受光元件103所接收的红外光信号的时间间隔来推算粉仓201内碳粉的实际余量。由上可知,在成像盒上设置编码轮光检系统,需要采用特定材料的扭力轴以满足成像装置的检测需求。而且,检测结果的精度与编码轮反光镜的反光特性和位置设置有关。一旦反光镜表面清洁度低或位置设置存在误差,就会导致成像装置无法检测到反射回来的红外光信号,进而给出成像盒适配出错的误报信息,给用户的使用造成不便。此外,为了满足某些成像装置检测到特定波形的红外光信号的固有检测需求,生产厂商还需要投入额外的人力物力对编码轮光检系统的具体设置进行适应性调整,这也会增加生产成本。这里所说的固有检测需求是指成像装置至少能够通过接收某一特定波形的红外反射光而识别到成像盒的基本要求。
技术实现思路
为了解决上述问题,本技术提供一种新的结构简单的成像盒。该成像盒能够至少满足成像装置对成像盒的固有检测需求,降低误报几率。一种成像盒,可拆卸地安装至成像装置,所述成像盒包括:供电模块;发光元件;控制模块,其电性连接在所述供电模块与发光元件之间,用于当所述供电模块供电时,控制所述发光元件发出适配于所述成像装置的光,所述光表征所述成像盒内成像材料的余量。根据本专利技术的实施例,所述成像盒还包括:检光元件,其电性连接所述控制模块,用于检测所述成像装置是否发出检测光,当所述检光元件检测到所述检测光时,所述控制模块控制发光元件开始发光。根据本专利技术的实施例,所述成像盒还包括:所述控制模块在所述检光元件检测到所述检测光后控制发光元件开始发光,并在经过设定的时间后控制发光元件结束发光。根据本专利技术的实施例,所述成像盒还包括:所述检光元件为光敏开关,其电性连接在所述供电模块与控制模块之间,或者电性连接在所述控制模块与发光元件之间。根据本专利技术的实施例,所述成像盒还包括:所述检光元件为光敏元件,所述控制模块检测所述光敏元件电气特性的变化来获知所述成像装置发出检测光。根据本专利技术的实施例,所述成像盒还包括:基板;所述发光元件布置在所述基板上,当所述成像盒安装至所述成像装置上时,所述成像装置的装置侧受光元件与发光元件位于所述基板的同一侧,所述成像装置的装置侧发光元件位于所述基板的另一侧,并且所述基板能够遮挡住所述装置侧发光元件发出的光。根据本专利技术的实施例,所述成像盒还包括:基板,所述发光元件和检光元件布置在所述基板的两侧,当所述成像盒安装至所述成像装置上时,所述成像装置的装置侧受光元件与发光元件位于所述基板的同一侧,所述成像装置的装置侧发光元件与检光元件位于所述基板的另一侧,并且所述基板能够遮挡住所述装置侧发光元件发出的光。根据本专利技术的实施例,所述成像盒还包括:基板和挡板,所述挡板垂直于基板设置,形成T字形结构;所述发光元件于所述挡板的一侧布置在所述基板上,当所述成像盒安装至所述成像装置上时,所述成像装置的装置侧受光元件与发光元件位于所述挡板的同一侧,所述成像装置的装置侧发光元件位于所述挡板的另一侧,并且所述挡板能够遮挡住所述装置侧发光元件发出的光。根据本专利技术的实施例,所述成像盒还包括:基板和挡板,所述挡板垂直于基板设置,形成T字形结构;所述发光元件和检光元件分别于所述挡板的两侧布置在所述基板上,当所述成像盒安装至所述成像装置上时,所述成像装置的装置侧受光元件与发光元件位于所述挡板的同一侧,所述成像装置的装置侧发光元件与发光元件位于所述挡板的另一侧,并且所述挡板能够遮挡住所述装置侧发光元件发出的光。根据本专利技术的实施例,所述成像盒还包括:余量信息获取模块,其电性连接所述控制模块,获取当前所述成像盒中成像材料的余量数据信息,传送给所述控制模块,所述控制模块根据余量数据信息控制发光元件发光。根据本专利技术的实施例,所述成像盒还包括:耗材芯片,其设置有电源端子和接地端子,用于与所述成像装置侧的端子建立电性连接,接收所述成像装置提供的电源电压和接地电压;本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种成像盒,可拆卸地安装至成像装置,所述成像盒包括:供电模块;发光元件;控制模块,其电性连接在所述供电模块与发光元件之间,用于当所述供电模块供电时,控制所述发光元件发出适配于所述成像装置的光,所述光表征所述成像盒内成像材料的余量。
【技术特征摘要】
1.一种成像盒,可拆卸地安装至成像装置,所述成像盒包括:
供电模块;
发光元件;
控制模块,其电性连接在所述供电模块与发光元件之间,用于当所述供电模
块供电时,控制所述发光元件发出适配于所述成像装置的光,所述光表征所述成
像盒内成像材料的余量。
2.如权利要求1所述的成像盒,其特征在于,还包括:
检光元件,其电性连接所述控制模块,用于检测所述成像装置是否发出检测
光,当所述检光元件检测到所述检测光时,所述控制模块控制发光元件开始发光。
3.如权利要求2所述的成像盒,其特征在于:
所述控制模块在所述检光元件检测到所述检测光后控制发光元件开始发光,
并在经过设定的时间后控制发光元件结束发光。
4.如权利要求2所述的成像盒,其特征在于:
所述检光元件为光敏开关,其电性连接在所述供电模块与控制模块之间,或
者电性连接在所述控制模块与发光元件之间。
5.如权利要求2所述的成像盒,其特征在于:
所述检光元件为光敏元件,所述控制模块检测所述光敏元件电气特性的变化
来获知所述成像装置发出检测光。
6.如权利要求1所述的成像盒,其特征在于,还包括:
基板;所述发光元件布置在所述基板上,当所述成像盒安装至所述成像装置
上时,所述成像装置的装置侧受光元件与发光元件位于所述基板的同一侧,所述
成像装置的装置侧发光元件位于所述基板的另一侧,并且所述基板能够遮挡住所
述装置侧发光元件发出的光。
7.如权利要求2~5任意一项所述的成像盒,其特征在于,还包括
基板,所述发光元件和检光元件布置在所述基板的两侧,当所述成像盒安装
至所述成像装置上时,所述成像装置的装置侧受光元件与发光元件位于所述基板
的同一侧,所述成像装置...
【专利技术属性】
技术研发人员:王佐,陈亮,邓超爱,何礼华,
申请(专利权)人:珠海艾派克微电子有限公司,
类型:新型
国别省市:广东;44
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