使用近场光学力的方法技术

描述了使用近场光研究、探寻、分析和探测颗粒、物质和类似物的方法。描述了使用近场光识别颗粒、物质和类似物的结合配偶体、调制物、抑制剂和类似物的方法。在某些实施方式中，该方法包括固定或陷俘颗粒、物质和类似物。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
测量物质的至少一种性质的方法，所述方法包括：在光阱的近场光附近定位物质；从光源引导光至所述物质；探测所述光对所述物质的影响；并且基于所探测的影响测量所述物质的至少一种性质。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：R·哈特，B·科德维斯，
申请(专利权)人：微流控光学公司，
类型：发明
国别省市：美国;US