一种3D成像设备，该3D成像设备包括：投影仪，其包括激光器阵列、掩膜和投影光学器件，所述激光器阵列包括多个分立发射器，所述掩膜用于提供结构化光图样，其中，所述激光器阵列和所述掩膜之间的间距根据所述多个分立发射器的非均匀性分布图，以及根据与所述掩膜平面上的光强分布有关的均匀性标准大体上最小化，所述投影光学器件将所述结构化光图样成像于物体上；成像传感器，其适于捕获具有所述结构化光图样投射于其上的物体的影像；以及处理单元，其适于处理所述影像以确定距离参数。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利摘要】一种3D成像设备，该3D成像设备包括：投影仪，其包括激光器阵列、掩膜和投影光学器件，所述激光器阵列包括多个分立发射器，所述掩膜用于提供结构化光图样，其中，所述激光器阵列和所述掩膜之间的间距根据所述多个分立发射器的非均匀性分布图，以及根据与所述掩膜平面上的光强分布有关的均匀性标准大体上最小化，所述投影光学器件将所述结构化光图样成像于物体上；成像传感器，其适于捕获具有所述结构化光图样投射于其上的物体的影像；以及处理单元，其适于处理所述影像以确定距离参数。【专利说明】三维照相机及其投影仪
本专利技术属于图样投射领域，具体用于三维成像。
技术实现思路
当前公开的主题的许多功能组件可以通过各种形式来实施，例如，实施为包括定制的VLSI电路或门阵列等的硬件电路、实施为可编程硬件装置(例如，FPGA等)、或实施为存储于无形的计算机可读介质中且可由各种处理器执行的软件程序代码、及其任意组合。当前公开的主题的特定组件可通过一个特定软件代码段、或通过多个软件代码段构成，所述代码段可结合在一起并在属于各自的组件的当前公开的限制下共同起作用或共同运行。例如，组件可分布于几个代码段(例如，对象、过程和函数)上，并且可源自于几个程序或程序文件，这些程序或程序文件可结合操作以提供当前公开的组件。 通过类似的方式，当前公开的组件可具体体现为操作数据的形式，或操作数据可被当前公开的组件使用。作为示例，这样的操作数据可存储于有形的计算机可读介质上。操作数据可以是单一数据集，或其可以是存储于不同网络节点上或不同储存装置上的不同位置处的数据集合。 根据本申请的主题的方法或设备可具有上文或下文所述的不同方面的任意组合的特征或其等效物，也可以与下文呈现的“【具体实施方式】”中所述的方法或设备的任意一个特征或多个特征、或其等效物相结合。 根据当前公开的主题的一方面，提供3D成像设备。根据当前公开的主题的示例，该3D成像设备可包括投影仪、成像传感器和处理器。该投影仪可包括激光器阵列，该激光器阵列包括多个分立发射器、用于提供结构化光图样的掩膜、以及投影光学器件。激光器阵列和掩膜之间的间距可根据多个分立发射器的非均匀性分布图，以及根据与掩膜平面上的光强分布有关的均匀性标准被大体上最小化。该投影光学器件可被配置成将结构化光图样成像于物体上。该成像传感器可适合于捕获具有投射于其上的结构化光图样的物体的影像。该处理单元可适合于处理影像以确定距离参数。 根据当前公开的主题的示例，多个分立发射器可以大体上相等的发射器尺寸、大体上相等的光发散度输出量、大体上相等的光功率输出量、以及大体上等同的相互间隔为特征。该非均匀性分布图可与分立发射器的光发散度输出量和光功率输出量相关，且可与分立发射器之间的相互间隔相关。 根据当前公开的主题的其他示例，该均匀性标准可进一步与目标动态范围相关。 根据当前公开的主题的另外的其他示例，该均匀性标准可进一步与分立发射器在激光器阵列中的密度和结构化光图样中的特征类型的密度之间的关系相关联。 在当前公开的主题的又一些其他的示例中，该掩膜可根据由激光器阵列发射的光的空间强度分布图设置尺寸。 在当前公开的主题的另外的其他示例中，该空间强度分布图可以限定所述激光器阵列在所述掩膜相对于所述激光器阵列定位的间距处的均匀光的区域。 在当前公开的主题的其他示例中，该掩膜可进一步根据均匀性标准设置尺寸。 根据当前公开的主题的又一些其他的示例，该掩膜可进一步根据光功率传输标准设置尺寸。 根据当前公开的主题的示例，该激光器阵列可以是VCSEL阵列。 根据当前公开的主题的示例，该激光器阵列可以遵照与多个分立发射器中有缺陷的分立发射器的分布和比例相关联的缺陷发射器标准。 根据当前公开的主题的示例，该激光器阵列和掩膜能以彼此之间小于5mm的间距定位。 根据当前公开的主题的示例，该激光器阵列和掩膜能以彼此之间小于2_的间距定位。 根据当前公开的主题的另一方面，提供实现3D成像的方法。根据当前公开的主题的示例，该实现3D成像的方法可包括:相对于包括多个分立发射器的激光器阵列一定间距定位用于提供结构化光图样的掩膜，其中所述间距根据多个分立发射器的非均匀性分布图和根据与掩膜平面上的光强分布相关的均匀性标准大体上最小；在来自分立发射器且穿过掩膜的光的光路中定位投影光学器件，以使得结构化光图样成像于物体上；以及在反射的投射光的光路中定位成像传感器，以使得具有结构化光图样投射于其上的物体的影像得以捕获，从而进一步使得距离参数得以确定。 根据当前公开的主题的又一方面，提供用于三维测距(range finding)的投影仪。根据当前公开的主题的示例，该用于三维测距的投影仪可包括激光器阵列、掩膜和投影光学器件。该激光器阵列可包括多个分立发射器。该掩膜可被配置成提供结构化光图样。投影仪中激光器阵列和掩膜之间的间距可根据多个分立发射器的非均匀性分布图，以及根据与掩膜平面上的光强分布有关的均匀性标准大体上最小化。该投影光学器件可适合于将结构化光图样成像于物体上。 当前公开的主题的另一方面涉及实现3D测距的方法，其包括:相对于包含多个分立发射器的激光器阵列一定间距定位用于提供结构化光图样的掩膜，其中所述间距根据多个分立发射器的非均匀性分布图和根据与掩膜平面上的光强分布相关的均匀性标准大体上最小；以及，在来自分立发射器且穿过掩膜的光的光路中定位投影光学器件，以使得结构化光图样成像于物体上。 当前公开的主题的另一方面涉及实现3D测距的方法，其包括:相对于包含多个分立发射器的激光器阵列一定间距定位用于提供结构化光图样的掩膜，在该间距处，实现根据多个分立发射器的非均匀性分布图及根据掩膜平面上的光强分布的理想均匀性；在来自分立发射器且穿过掩膜的光的光路中定位投影光学器件，以使得结构化光图样成像于物体上；以及，在反射的投射光的光路中定位成像传感器，以使得具有结构化光图样投射于其上的物体的影像得以捕获，从而进一步使得距离参数得以确定。 【专利附图】【附图说明】 为了理解本专利技术并了解本专利技术可以如何在实践中实施，现在将参考附图以非限制性示例的方式描述优选实施例，在附图中: 图1是根据当前公开的主题的示例的、用于3D测距的投影仪的方框图说明； 图2A是光在激光器阵列的发射器平面或紧邻发射器的发射表面的平面上的分布的示例说明； 图2B是位于两个平面之间的中间平面处的光分布的示例说明，其中一个平面紧邻发射器的发射表面，而另一个平面与发射器有一定间距，该间距至少通过发射器的非均匀性分布图以及与掩膜平面上的理想光强分布有关的均匀性标准限定； 图2C是根据当前公开的主题的示例的、来自激光器阵列的多个分立发射器的光强分布的示例说明，该光强分布在距激光器阵列最小间距处具有某个非均匀性分布图，在最小间距处的光分布符合均匀性标准； 图3A-3C分别是在与图2A-2C相关联的平面上的激光器阵列发射的光强的分布的不意性说明； 图4是根据当前公开的主题的示例的、通过举例方式显示使用其上具有给定光强分布的不同掩膜的影响以及所产生的投射图样的图形说明； 图5是根据当前公开的主题的示例的、照明图样的密度与产生的投射图样上的掩膜图样的密度之间的本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种3D成像设备，所述3D成像设备包括：投影仪，所述投影仪包括：激光器阵列，其包括多个分立发射器；掩膜，其用于提供结构化光图样，其中，所述激光器阵列和所述掩膜之间的间距根据所述多个分立发射器的非均匀性分布图，以及根据与所述掩膜的平面上的光强分布有关的均匀性标准大体上最小化；投影光学器件，其将所述结构化光图样成像于物体上；成像传感器，其适于捕获具有所述结构化光图样投射于其上的物体的影像；以及处理单元，其适于处理所述影像以确定距离参数。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：马丁·亚伯拉罕，
申请(专利权)人：曼蒂斯影像有限公司，
类型：发明
国别省市：以色列;IL
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