【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光腔衰荡
,具体涉及一种在光反馈光腔衰荡技术中筛选衰荡信号的方法,适用于基于光反馈光腔衰荡技术的高反射率测量、吸收光谱测量或痕量气体检测。
技术介绍
光反馈光腔衰荡技术是连续波光腔衰荡技术的一种,它将光腔衰荡技术与半导体激光器的光反馈效应相结合,简化了系统结构,提高了激光光源与衰荡腔的耦合效率,另外还具有信噪比高和光谱分辨率高的优势(D.Romanini,A.A.Kachanov,J.Morville,M.Chenevier,“Measurement of trace gases by diode laser cavity ringdown spectroscopy”,Proc of SPIE,1999,3821:94~104;李斌成,龚元;光腔衰荡高反射率测量技术综述,《激光与光电子学进展》,2010,47:021203)。目前已成功应用于痕量气体检测,吸收光谱测量和高反射率测量等领域。实际应用中,需要将多次衰荡时间常数的测量结果求平均来减小系统随机误差的影响。为了保证每个测量结果的精度,就要求相应的每一个衰荡信号均达到一定的信噪比,因此需要对信号进行筛选。中国专利申请号200710122408.6的专利技术专利“用于高反射率测量的开光激光束的时序优化方法”中提出的信号筛选方法为预设阈值为腔初始输出信号的最大值,阈值设定后,只有达到阈值的衰荡信号才会触发光开关并被纳入测量过程。若该阈值在一定时间内不能触发光 ...
【技术保护点】
一种在光反馈光腔衰荡技术中筛选衰荡信号的方法,其特征在于实现步骤如下:步骤(1)、初始化本方法需要的参数,包括:预定数据提取精度δ,衰荡信号预采样数Npre,衰荡信号总采样数Num,确定拟采用的衰荡时间常数提取方法;步骤(2)、预采集Npre个光腔衰荡信号,计算光腔衰荡时间常数参考值τ、系统噪声平均值μ和标准差σ,记录噪声样本noise;具体计算过程为:衰荡信号按照单指数衰减函数模型y=Aexp(‑t/τ0)+B提取衰荡时间常数,其中A、B为常数,t为自变量,取Npre个衰荡时间的均值记为系统衰荡时间常数参考值τ,衰荡时间常数的提取可以采用数据拟合算法、积分方法或者快速傅立叶变换法等方法之一;记录的噪声样本noise可以是预先采集的系统噪声,如果衰荡时间常数的提取采用的是数据拟合算法,noise也可以确定为其中一个信号的拟合残差,由noise计算噪声均值μ和噪声标准差σ;步骤(3)、根据光腔衰荡时间参考值τ以及噪声样本noise,计算在当前噪声条件下使用拟采用的提取方法达到预定提取精度δ所需要的最小信号幅值Amin,计算的方法可以为顺序查找、折半查找等数据查找方法;步骤(4)、根据最小 ...
【技术特征摘要】
1.一种在光反馈光腔衰荡技术中筛选衰荡信号的方法,其特征在于实现步骤如下:
步骤(1)、初始化本方法需要的参数,包括:预定数据提取精度δ,衰荡信号预采样数
Npre,衰荡信号总采样数Num,确定拟采用的衰荡时间常数提取方法;
步骤(2)、预采集Npre个光腔衰荡信号,计算光腔衰荡时间常数参考值τ、系统噪声平
均值μ和标准差σ,记录噪声样本noise;具体计算过程为:衰荡信号按照单指数衰减函数模
型y=Aexp(-t/τ0)+B提取衰荡时间常数,其中A、B为常数,t为自变量,取Npre个衰荡时间
的均值记为系统衰荡时间常数参考值τ,衰荡时间常数的提取可以采用数据拟合算法、积分
方法或者快速傅立叶变换法等方法之一;记录的噪声样本noise可以是预先采集的系统噪声,
如果衰荡时间常数的提取采用的是数据拟合算法,noise也可以确定为其中一个信号的拟合
残差,由noise计算噪声均值μ和噪声标准差σ;
步骤(3)、根据光腔衰荡时间参考值τ以及噪声样本noise,计算在当前噪声条件下使用
拟采用的提取方法达到预定提取精度δ所需要的最小信号幅值Amin,计算的方法可以为顺序
查找、折半查找等数据查找方法;
步骤(4)、根据最小信号幅值Amin确定高斯滤波幅值阈值A_guass,A_guass在Amin的
基础上适当地增加;
步骤(5)、筛选衰荡信号,对于腔衰荡信号初始值S0满足最小信号幅值条件但不满足
高斯滤波幅值阈值(Amin<S0≤A_guass)的衰荡信号,预先进行平滑处理后保留,平滑处理方
式采用空间高斯滤波(或称空域高斯滤波);对于腔衰荡信号初始值满足高斯滤波幅值阈值
(S0>A_guass)的衰荡信号直接保留;
步骤(6)、使用拟采用的衰荡时间常数提取方法提取衰荡时间测量值τ(n),n为符合阈
值条件的腔衰荡信号的数目,Num个腔衰荡时间测量值的平均值记为测量结果,标准差记为
测量结果的误差范围。
2.根据权利要求1所述的一种在光反馈光腔衰荡技术中筛选衰...
【专利技术属性】
技术研发人员:何星,董理治,王帅,杨平,许冰,
申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所,
类型:发明
国别省市:四川;51
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