一种COB自动测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种COB自动测试系统，包括多工位料盘、测光机构、分料机构、用于上料和测试的第一导轨以及用于下料和分料的第二导轨；通过双轨独立运行设计，实现了测试和分料的并行运作，上料、测试、下料、分料工作均自动进行，且测试与分料工作可并行操作，整个测试、分料环节无等待时间，大幅提高了上料效率和测试分料速度，具有上料效率高、测试速度快、结构简单、自动化程度高等优点。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种机械设备，具体是指一种COB自动测试系统。
技术介绍
随着人们对高效、绿色以及照明多样化的需求日益增加，COB以其卓越的性能逐渐成为照明新宠儿，但同时也对其光色性能提出了更大的挑战。在现有的半导体技术制造条件下，通过在芯片制造或芯片封装过程中改进工艺来提高COB产品光电参数的一致性难度很大，而且会大大增加成本。因此，在实际生产中通常根据COB光电参数进行严格的筛选分类，以提高其一致性。目前，COB自动测试系统并不多见，现有系统的测试分料环节主要采用旋转式和直线式两种，具体可见CN103658057A、CN202951639U等公开文献。典型的旋转式测试系统依靠旋转工位盘送料，存在机构复杂、可靠性低、容易卡料等缺陷，直线式测试系统采用单轨设计，测试和下料共用同一轨道，通过机械手线性往复运动送料出料，存在测试速度慢、自动化程度低等不足，制约了其产品的生产检测效率和可靠性。
技术实现思路
针对上述现有技术的不足，本技术旨在提供一种 COB自动测试系统，通过双轨独立运行设计，实现了测试和分料的并行运作，且测试准确可靠、测试速度快、自动化程度高，可方便、快速的进行COB的测试及分料。本技术所述的一种COB自动测试系统，其特征在于，包括多工位料盘、测光机构、分料机构、用于上料和测试的第一导轨以及用于分料和下料的第二导轨，所述的多工位料盘沿第一导轨被驱动至测光机构测光口处，测光机构逐个或者时序测量多工位料盘不同工位上的被测对象，测试后的多工位料盘沿第二导轨被驱动至分料机构处。整个测试过程包括上料、测试、下料和分料四个环节。上料时，装载有多个被测对象的多工位料盘沿第一导轨被驱动至测光机构测光口处，完成测试环节后，多工位料盘被转移至第二导轨，并沿第二导轨驱动至分料机构处完成下料和分料环节。相比于传统的技术方案，本技术中的多工位料盘可装填多个被测对象，使得一次上料可进行多个被测对象的测试，且不会出现卡料情况，提高了上料效率；更为重要的是，设计了测试工位与分料工位分开的并行系统结构，在测试的同时可进行分料，整个测试、分料环节无等待时间，显著的提高了测试速度和工作效率。本技术还可以通过以下技术方案进一步完善：上述技术方案中，所述的第一导轨和第二导轨开环或者闭环设置。当第一导轨和第二导轨开环设置时，两个导轨的设置方式灵活，可平行设置、垂直设置或者倾斜相交设置等，多工位料盘通过机械手抓载或者其它人工智能手段将多工位料盘转移至第二导轨上，第二导轨与分料机构对接以完成自动测试；例如相互平行设置，当多工位料盘在第一导轨上完成测试后，通过设置在两个导轨上方沿滑轨移动的机械手或者设置在两个导轨之间的可伸缩机械手，将多工位料盘转移至第二导轨上，再沿第二导轨驱动至分料机构处。闭环设置时，第一和第二导轨构成一个闭合回路，无需机械手或者其它驱动方式转移多工位料盘，多工位料盘可仅通过沿导轨滑动的方式即可直接完成测试流程的推进，系统自动化程度高且测试方便；例如第一导轨和第二导轨构成矩形回路，第一导轨和第二导轨为矩形的两条平行边，在第一导轨上完成测试的多工位料盘沿闭环导轨直接被驱动至第二导轨上，并沿第二导轨继续驱动至分料机构处。本技术方案提供了两种导轨设置方案，但本专利技术不仅限于上述两种方案。作为一种技术方案，包括与多工位料盘相耦合的料盘夹具，所述的料盘夹具为可在第一导轨和第二导轨上移动的可移动式夹具，或者所述的料盘夹具为设置在测光机构测光口处的可升降式夹具。可移动式夹具：多工位料盘通过耦合在料盘夹具上而在第一导轨和第二导轨上平稳移动，沿第一导轨运动至测光机构测光口处时，测光机构直接进行测量；可升降式夹具：当料盘夹具运动至测光机构测光口处时，料盘夹具将料盘升起，使被测对象与测光口对准贴紧，测试结束后将料盘降至第一导轨上，通过料盘转移机械手或者移动等方式转移到第二导轨，或者料盘继续沿闭环导轨移动直接运动至第二导轨；作为优选，所述的测光机构包括积分球和光谱仪，所述的积分球固定在第一导轨上方，光谱仪与积分球连接。测量过程中，测光机构和多工位料盘可相对运动，即测光机构移动、多工位料盘不动，或者测光机构不动、多工位料盘移动。后者作为优选，以确保整个测试过程中积分球固定不动，避免了积分球移动对球内涂层的影响和运动冲击与震动对光谱仪精度的影响，保证了测试系统的精度和稳定性。积分球上设置有探测窗口，光谱仪通过光纤连接到探测窗口上，以获取积分球内被测对象的光信号。作为一种技术方案，包括供电组件，所述的供电组件为用以对准并接触被测对象电极的电极探针；或者所述的供电组件为给多工位料盘上被测对象时序供电的多路程控电源。采用电极探针接触供电的方式，一般每次仅能测量一个COB，通过多工位料盘移动的方式，使得电极探针逐个与被测COB接触，实现COB的逐个测量。若采用多路程控电源供电方式，测试时根据多工位料盘上工位的测试顺序，时序点亮被测对象，例如，给每个COB下均设置电极探针，通过多路程控电源控制电极探针的方式，实现逐个COB依次点亮，或者按照逐排/逐列的方式点亮多工位料盘上的COB，再计算得出每个COB的光色参数。作为优选，所述的用以下料和分料的分料机构包括物料转移机械手和分料盒；所述的物料转移机械手包括用以转移被测对象的转移机械手和用以将被测对象送至相应分料盒的分料机械手，所述的转移机械手为摆动式或线性式机械手；或者所述的物料转移机械手为将多工位料盘上的被测对象直接转移至对应分料盒的一体化机构。物料转移机械手采用包括转移机械手和分料机械手的结构时，所述摆动式的转移机械手设置在第二导轨上方靠近分料盒的一侧，通过气缸控制转移机械手将被测对象吸起，摆动机械手臂，将被测对象转移至分料机械手，再由设置在与分料盒平行的滑轨上沿滑轨运动的分料机械手将被测对象送至相应的分料盒中；所述的转移机械手也可采用线性式，在第二导轨与分料机械手之间设置一线性滑轨，转移机械手设置在线性滑轨上沿滑轨线性移动，通过气缸控制转移机械手将多工位料盘上的被测对象吸起，然后线性移动至分料机械手处，完成被测对象的转移。前者作为优选，以简化设计，方便易行。或者所述的物料转移机械手采用一体化结构时，将物料转移机械手设置在第二导轨旁靠近分料盒的一侧，通过气缸控制物料转移机械手将多工位料盘上的被测对象吸起后直接送至相应的分料盒中。作为优选，包括控制器，所述第一导轨、第二导轨和物料转移机械手均与控制器连接。第一导轨、第二导轨、物料转移机械手均通过步进电机和气缸驱动，在控制器的控制下运动，自动化程度高，定位精度好。作为优选，包括机罩，所述测试系统上覆盖设置有取/放料盘的开口的机罩，用于抵挡环境光对积分球测试结果的影响，提高COB测试精度。综上所述，本技术通过双轨独立运行设计，实现了测试和分料的并行运作，上料、测试、下料、分料工作均自动进行，且测试与分料工作可并行操作，整个测试、分料环节无等待时间，大幅提高了上料效率和测试分料速度，具有上料效率高、测试速度快、结构简单、自动化程度高等有益效果。【附图说明】附图1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种COB自动测试系统，其特征在于，包括多工位料盘(1)、测光机构(2)、分料机构(3)、用于上料和测试的第一导轨(4)以及用于下料和分料的第二导轨(5)，所述的多工位料盘(1)沿第一导轨(4)被驱动至测光机构(2)测光口处，测光机构(2)逐个或者时序测量多工位料盘(1)不同工位上的被测对象，测试后的多工位料盘(1)沿第二导轨(5)被驱动至分料机构(3)处。

【技术特征摘要】
1.一种COB自动测试系统，其特征在于，包括多工位料盘(1)、测光机构(2)、分料机构(3)、用于上料和测试的第一导轨(4)以及用于下料和分料的第二导轨(5)，所述的多工位料盘(1)沿第一导轨(4)被驱动至测光机构(2)测光口处，测光机构(2)逐个或者时序测量多工位料盘(1)不同工位上的被测对象，测试后的多工位料盘(1)沿第二导轨(5)被驱动至分料机构(3)处。
2.如权利要求1所述的一种COB自动测试系统，其特征在于，所述的第一导轨(4)和第二导轨(5)开环或者闭环设置。
3.如权利要求1所述的一种COB自动测试系统，其特征在于，包括与多工位料盘(1)相耦合的料盘夹具(6)，所述的料盘夹具(6)为可在第一导轨(4)和第二导轨(5)上移动的可移动式夹具；或者所述的料盘夹具为设置在测光机构测光口处的可升降式夹具。
4.如权利要求1所述的一种COB自动测试系统，其特征在于，所述的测光机构(2)包括积分球(7)和光谱仪(8)，所述的积分球(7)固定在第一导轨(4)上方，光谱仪(8)与积分球(7)连接。...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘建根，
申请(专利权)人：杭州远方光电信息股份有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33