光测定装置及光测定方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种光测定装置，具有：测定部，其对规定波长区间的测定数据进行测定；控制部，其对所述测定数据进行解析；存储部，其存储所述测定数据的解析结果；以及显示部，其将所述解析结果和基于所述测定数据的波形数据显示在同一显示画面上。所述测定部以闪射为单位对所述测定数据进行测定，所述存储部存储多个闪射的所述测定数据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，详细地说，涉及测定数据录入的改良。 本申请要求2013年8月26日申请的日本专利申请第2013-174705的优先权，在这里援引其内容。
技术介绍
作为光测定装置，存在对测定对象光的光谱信息进行测定的光谱分析器或光波长计等光谱测定装置、以及对被测定光纤的长度方向的损失分布信息进行测定的光脉冲试验器(OTDR)等。这些光测定装置具有对测定出的波形数据进行解析而求出各种解析数据的功能。例如在光谱测定装置中具有下述功能:通过对测定光通信信号光的光谱而得到的光谱数据进行解析，求出功率最高的波长和其功率值、信号噪音比(SN比)等的解析数据。 例如在光脉冲试验器中具有下述功能:在对光通信用光纤的长度方向的损失分布进行了测定的情况下，对所获得的损失分布信息进行解析，求出直至光纤的连接点为止的距离或连接损失、及在连接点处产生的反射量等解析数据。 此外，例如在波形测定装置中具有录入功能，即，以任意的多次重复地进行波形测定及数据解析，并且，对各次的解析数据进行累积(录入)，构成为可以进行解析数据的时间推移或异常点的解析等。 此外，在利用光谱测定装置对光通信信号光进行测定时，重复执行光谱测定及SN比解析等数据解析，通过使用录入功能对此时获得的SN比数据进行记录，从而用户可以得知该SN比数据的时间变化或异常点。 图5是表示具有解析数据的录入功能的相关技术的光谱测定装置的结构例的模块图。从测定对象光源101输出的测定对象光向光学测定部102输入。在这里，以光通信信号光作为测定对象光。 光学测定部102对预先设定的规定波长区间的测定对象光的光谱进行测定，将测定出的数据作为波形数据，以闪射(Shot)为单位而读入I个闪射量。该波形数据是将波长和该波长下的功率值汇总多个(例如5万个点)而成的。作为光谱的测定方式，存在使用了单色光度计或多色仪的分散分光方式、或将由干涉计求出的干涉纹通过高速傅立叶变换而求出的傅立叶分光方式等，可以是任一个方法。求出的光谱数据的X轴表示波长值或光频率值，Y轴表示功率值。在以下的说明中，均将X轴作为波长记载，但对于光频率也同样地适用。 运算控制部103通过对光谱数据进行解析，从而求出光功率最大的波长(峰值波长)及其功率值(峰值功率)、噪声水平、SN比等解析数据。运算控制部103除了这些数据解析运算以外，还进行测定条件的设定、以及显示处理运算等，该显示处理运算用于将解析结果以预先设定的期望的显示方式显示在显示画面上。 RAM104是例如在光谱测定装置的内部作为各种数据存储部而使用的半导体存储器。在RAM104中，除了运算控制部103求出的各种解析数据之外，还存储测定条件数据、成为解析对象的I个闪射量的测定数据、在显示画面上显示的显示数据等。 显示部105例如是液晶显示器等的显示器，将在RAM104中存储的各种解析数据，以表或曲线图等用户所选择指定的期望的显示方式显示。 操作输入部106除了在光谱测定装置的操作面板上设置的按钮或开关等之外，还包含与外部连接的鼠标或键盘等。进行对应于测定目的的测定条件的设定、对在显示部105上显示的光标进行操作、或对作为显示对象的解析数据进行指定等，在用户进行光谱测定装置的各种操作设定时使用。 图6是表示如图5所示构成的光谱测定装置的动作例的流程。在这里，说明以闪射为单位重复地测定光通信信号光的峰值波长、峰值功率、SN比，以闪射为单位对解析的各种解析数据进行录入的动作。 首先，对操作输入部106进行操作，设定为了执行一系列的光谱测定功能所需的各种参数，如果参数的设定完成，则对解析数据的录入开始进行操作(步骤Si)。作为所设定的参数，包括:将光谱以闪射为单位进行多次测定时的测定时间间隔、进行多次测定的总测定次数等与录入动作相关的内容；对光谱进行测定的波长范围、波长分辨率或测定敏感度等与光谱测定动作相关的内容；以及在对光谱数据进行解析时使用的解析参数、对录入的各种解析数据以曲线图或表格进行显示时显示的解析数据的选择或曲线图的显示比例尺设定等与显示动作相关的内容等。 在各种解析数据的录入时，使以下说明的一系列处理(步骤S3?步骤S9)以在步骤SI中设定的总测定次数量重复执行(步骤S2、步骤S10)。 作为具体的处理，利用光学测定部102以闪射为单位读入测定对象光的光谱数据(步骤S3)，利用运算控制部103对以闪射为单位读入的光谱数据进行解析，求出峰值波长、峰值功率、SN比等各种解析数据(步骤S4)，将这些解析数据存储在RAM104中(步骤S5)，并且以曲线图或表格等期望的显示方式显示在显示部105上(步骤S6)。 然后，以重复地测定的时间间隔成为在步骤SI中设定的测定时间间隔的方式，等待直至下一次的闪射的测定开始(步骤S7)。在等待下一次的闪射的测定开始的期间，用户也可以通过操作输入部106操作光标，或者变更曲线图或表格的显示条件(步骤S8)。在变更光标操作或显示条件的情况下，对显示进行更新(步骤S9)。 如果达到开始下一次闪射的测定的定时，则再次返回步骤S3的处理，根据测定对象光的光谱测定处理进行各种解析数据的录入处理。 使以上的一系列的各种解析数据的录入处理以闪射为单位按照总测定次数量重复地执行(步骤S10)，结束规定的解析数据的录入处理。在解析数据的录入处理结束后，用户也与步骤S8、S9同样地，可以进行光标操作或显示条件的变更及对显示进行更新，确认解析数据的录入结果。 图7是表示通过录入功能求出的录入数据例的表格。录入数据是存储于RAM104中的内部数据，由表示按照以闪射为单位进行的录入处理的各次的编号(执行次数)的数据编号301、从执行录入处理的时刻的录入开始时的经过时间302、录入处理的各次中的解析数据等构成。图7的解析数据由峰值波长303、峰值功率304及SN比305构成。作为录入数据，有时如306所示，作为各解析数据的合计值，还计算并求出各个数据的最大值(Max)/最小值(Min)/最大值(Max) —最小值(Min)。 图8是在数据录入功能执行中在显示部105上显示的画面例。在图8中，在上部附近设置用于对录入数据进行曲线显示的曲线图区域401，在下部附近设置用于对录入数据进行显示的表格402，在这些曲线图区域401和表格402之间设置光标信息的显示区域403。在右边附近设置用户操作的按键显示区域404，分配通过向操作输入部106输入而执行的规定的功能。 在曲线图区域401中，将录入数据的区块以直线连结而成的曲线图405，是以曲线图显示析数据的时间变化，因此用户可以知道解析数据的变化或异常点。 光标406a和407a表不X轴上的任意时间的位置，光标406b和407b表不Y轴上的某个解析数据。利用这些光标，在曲线图上指示出任意时间的解析数据，或者可以指定在表格402中显示的解析数据的时间位置。这些光标可以通过用户对操作输入部106进行操作而移动到任意位置。 这样，例如如果通过波形测定装置使用数据录入，则用户可以将解析数据录入而以曲线图或表格显示，或者对解析数据的时间变化或异常点进行检测。相关技术的数据录入功能，对于解析数据的时间变化的确认或异常点的检测等是有效的。 在日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光测定装置，其具有：测定部，其对规定波长区间的测定数据进行测定；控制部，其对所述测定数据进行解析；存储部，其存储所述测定数据的解析结果、和所述测定数据；以及显示部，其将所述解析结果和基于所述测定数据的波形数据显示在同一显示画面上，所述测定部以闪射为单位测定所述测定数据，所述存储部存储多个闪射的所述测定数据。

【技术特征摘要】
2013.08.26 JP 2013-1747051.一种光测定装置，其具有: 测定部，其对规定波长区间的测定数据进行测定； 控制部，其对所述测定数据进行解析； 存储部，其存储所述测定数据的解析结果、和所述测定数据；以及 显示部，其将所述解析结果和基于所述测定数据的波形数据显示在同一显示画面上， 所述测定部以闪射为单位测定所述测定数据，所述存储部存储多个闪射的所述测定数据。2.根据权利要求1所述的光测定装置， 所述测定数据包含测定对象光的光谱数据。3.根据权利要求1或2所述的光测定装置， 所述解析结果包含所述测定对象光的平均波长、平均功率、最大波长、最小波长、最大功率、最小功率、波长的标准偏差、及功率的标准偏差中的至少任一个。4.根据权利要求1或2所述的光测定装置， 还具有在所述光测定装置的设定时使用的输入部， 所述控制部按照向所述输入部输入的操作，从所述存储部读出所述测定数据，显示在所述显示部上。5.根据权利要求4所述的光测定装置， 所述控制部按照向所述输入部输入的操作，将所述解析结果和所述测定数据通过曲线图或表格显示在所述显示部上。6.根据权利要求1或2所述的光测定装置， 所述存储部对所测定出的原始光谱数据、对测定出的数据进行压缩后的光谱数据、及对测定出的数据进行间隔剔除后的光谱数据中的至少一个进行存储。7.根据权利要求4所述的光测定装置， 所述控制部在所述显示部上显示:表示所述解析结果的时间变化的曲线图、以及通过向所述输入部输入的操作所指定的所述曲线图内的时间中的所述测定数据的波形数据。8.根据权利要求4所述的光测定装置， 所述控制部按照向所述输入部输入的显示条件，对在所述显示部中显示的所述解析结果...

【专利技术属性】
技术研发人员：石原元太郎，
申请(专利权)人：横河电机株式会社，横河仪表仪器株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP