漏电检测装置及漏电检测方法制造方法及图纸

使用环状磁性体的漏电检测装置在小型化方面具有界限、另外在电线变粗的情况下，需要使环状的磁性体自身变大。而且，难以相对于已经配置的电线来配置环状的磁性体。本发明专利技术提供一种漏电检测装置，其设置在将电源与负载连接的一对电源线上，其特征在于，具有：分别保持一对上述电源线的一对保持机构；将一对上述保持机构彼此以规定间隔固定的固定机构；与上述电源线平行地分别配置在上述保持机构上的一对磁性元件；检测一对上述磁性元件彼此的磁阻效应之差的检测机构；和使驱动电流流向上述磁性元件的驱动机构。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】漏电检测装置
本专利技术涉及检测漏电的漏电检测装置。
技术介绍
漏电是指电流流至除从电源向负载连结的电线之外的部分的情况。在实际中，根 据从电源流向负载的电流与从负载流回电源的电流产生不同的情况来检测漏电。在以往的 漏电检测装置中提出了一种装置，其使从电源与负载连通的2根电线从环状的磁性体的孔 穿过，并检测磁性体的阻抗（impedance)的变化（专利文献1)。 在图24中说明该漏电检测装置100的概要。漏电检测装置100由环状的磁性体 101、粘贴在磁性体101上的磁阻元件102、和检测阻抗的变化的检测器103构成。环状的磁 性体101使从电源115向着负载116的一对电线110、111 (设为电线A以及电线B)均从孔 104的部分穿过。 磁阻元件102使用电阻因磁场而变化的磁阻元件。磁阻元件配置在环状的磁性体 101所生成的磁场中。例如，能够例举将环状的磁性体101的一部分削除来形成间隙并将上 述磁阻元件配置在该间隙内的结构。当然也可以为除此之外的方法。 检测器103只要是能够检测磁阻元件的电阻变化的机构即可，在使电阻变化转换 为规定频率的信号、或在通过滤波电路以及放大电路进行波形整形之后，由信号检测电路 输出并转换为主力信号。 若说明该漏电检测装置100的动作，则只要没有漏电，在电线A110中流动的电流 与在电线Bill中流动的电流为相同量，另外，因为这些电流的方向是相反的，所以在环状 的磁性体101中不产生磁通。因此，此时磁阻元件102的电阻不发生变化。另一方面，若发 生了漏电，则在电线A110中流动的电流值与在电线Bill中流动的电流值会产生不同，因 此，在环状的磁性体101中产生磁通。 磁阻元件102的阻抗因该产生的磁通而变化，因此，由检测器103检测阻抗变化， 而检测漏电的发生。 在先技术文献 专利文献 专利文献1 :日本特开平10-232259号公报 专利文献1的漏电检测装置是简便的，另外还能够实现某种程度的小型化。但是， 由于使用环状的磁性体，所以其小型化必要会被限制。另外，因为需要使来自电源的电线A 以及电线B从环状的孔穿过，所以在电线变粗的情况下，环状的磁性体101自身也会变大。 另外，难以相对于已经配置的电线来配置环状的磁性体101。而且，需要花费工时，例如，能 够如钳型电流表那样地将环状磁性体的一部分开放，并使电线从开放部分进入至孔中，并 再次复原以使环状磁性体形成磁通的闭路。 另外，在为了小型化而使电路基板自身集成化之中，在来自电源的电源线图案共 同具有双线时不得不用磁性体包围，因此，随后的安装是极其困难的。
技术实现思路
本专利技术是鉴于上述那样的课题而想到的，而提供一种漏电检测装置，其即使在已 经进行了配线的电路中，也能够随后容易地设置，另外，也能够小型化。更具体地，本专利技术的 漏电检测装置设置在将电源与负载连接的一对电源线上，其特征在于，具有： 分别保持一对所述电源线的一对保持机构； 将一对所述保持机构彼此以规定间隔固定的固定机构； 与所述电源线平行地分别配置在所述保持机构上的一对磁性元件； 检测一对所述磁性元件彼此的磁阻效应之差的检测机构；和 使驱动电流流向所述磁性元件的驱动机构。 专利技术效果 本专利技术的漏电检测装置能够发挥非接触（原理）、容易设置（超小型、薄型）、节能 (计测时的能量消耗小）的这些磁阻元件的优点，并即使在已经进行了配线的电路中，也能 够容易地安装。另外，通过将磁阻元件相对于电线A以及电线B的配置位置固定，而能够将 来自相邻电线的磁场的影响抑制为充分小，并能够进行稳定的漏电检测。另外，通过在磁阻 元件上设置偏置（bias)机构，也能够进行功率测定和电流测定。 【附图说明】 图1是表示本专利技术的漏电检测装置的构成的图。 图2是磁性元件的放大图。 图3是说明磁性元件的动作的图。 图4是表示施加了条形的导体图案的磁性元件（条纹柱型（barberpoletype)) 的图。 图5是说明由磁性元件进行功率计测的情况的原理图。 图6表示在与本专利技术的漏电检测装置的电源线成直角的面上的剖视图。 图7是表示本专利技术的漏电检测装置的接线图（电源独立的情况）。 图8是表示本专利技术的漏电检测装置的接线图（电源寄生的情况）。 图9是表示本专利技术的能够进行功率计测和电流计测的漏电检测装置的接线图。 图10是表示本专利技术的漏电检测装置，且表示能够降低来自相邻电线的磁场影响 的构成图。 图11是表示在与图1的漏电检测装置的电源线成直角的面上的剖视图。 图12是表示在与图10的漏电检测装置的电源线成直角的面上的剖视图。 图13是表示本专利技术的磁性元件的配置为1个部位的漏电检测装置的构成图。 图14是表示图13的漏电检测装置的接线图。 图15是表示在图13的漏电检测装置中在磁性元件上添加有偏置机构的情况的接 线图。 图16是表示在图13的漏电检测装置中使一个元件端子接地的情况的接线图。 图17是表示在图16的漏电检测装置中在磁性元件上添加有偏置机构的情况的接 线图。 图18表示图13的漏电检测装置，且是表示从被检测电路得到驱动机构的情况的 接线图（电源寄生的情况）。 图19表示图18的漏电检测装置，且是表示在磁性元件上添加有偏置机构的情况 的接线图。 图20表示图18的漏电检测装置，且是表示使磁性元件的一端接地的情况的接线 图。 图21表示图20的漏电检测装置，且是表示在磁性元件上添加有偏置机构的情况 的接线图。 图22表示图13的漏电检测装置，且是表示添加有偏置机构的磁性元件直线地配 置的情况的接线图。 图23表示图22的漏电检测装置，且是表示从被检测电路得到驱动机构的情况的 接线图（电源寄生的情况）。 图24是表示以往的漏电检测装置的构成图。 【具体实施方式】 以下，参照附图来说明本专利技术的漏电检测装置。此外，以下的说明是本专利技术的一实 施方式的示例，并不限定于以下的实施方式。以下实施方式在不脱离本专利技术的主旨的范围 内能够进行变更。 (实施方式1) 图1是表示本实施方式的漏电检测装置1的外观的图。在图1的（a)中表示保持 电线的部分的外观图。另外，在图1的（b)中表示对与被检测电路的连结关系进行表示的 构成图。参照图1的（b)，被检测电路90包括电源91、负载92、和将电源91与负载92连接 的电源线93。电源线93由电线A93a和电线B93b构成。 本专利技术的漏电检测装置1包括分别保持一对电源线93的一对保持机构11;将保 持机构11之间的间隔固定的固定机构12 ;埋设在保持机构11中的磁性元件14 ;以及检测 磁性元件14的磁阻效应之差的检测机构20。后述说明磁性元件14与检测机构20的具体 连接关系。 图1的（a)表示保持机构11、固定机构12、和磁性元件14的部分，省略了检测机 构20。 电源线93是从电源91向负载92供给功率的一对电线（电线A93a以及电线 B93b)。另外，电源91可以为交流或直流的任意一种。另外，负载92可以为不具有复合要 素的阻抗，也可以为具本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种漏电检测装置，设置在将电源与负载连接的一对电源线上，其特征在于，具有：分别保持一对所述电源线的一对保持机构；将一对所述保持机构彼此以规定间隔固定的固定机构；与所述电源线平行地分别配置在所述保持机构上的一对磁性元件；检测一对所述磁性元件彼此的磁阻效应之差的检测机构；和使驱动电流流向所述磁性元件的驱动机构。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.06.12 JP 2012-1333121. 一种漏电检测装置，设置在将电源与负载连接的一对电源线上，其特征在于，具有： 分别保持一对所述电源线的一对保持机构； 将一对所述保持机构彼此以规定间隔固定的固定机构； 与所述电源线平行地分别配置在所述保持机构上的一对磁性元件； 检测一对所述磁性元件彼此的磁阻效应之差的检测机构；和 使驱动电流流向所述磁性元件的驱动机构。2. 根据权利要求1所述的漏电检测装置，其特征在于，所述固定机构具有可变地调整 一对所述保持机构的间隔的间隔调整机构。3. 根据权利要求1或2所述的漏电检测装置，其特征在于，所述磁性元件分别向着一对 所述保持机构的中间而以规定角度倾斜。4. 根据权利要求1至3中任一项所述的漏电检测装置，其特征在于，在所述磁性元件上 形成有相对于易磁化轴倾斜的导体图案， 所述导体图案相对于一对所述保持机构而具有不同的倾斜方向。5. 根据权利要求1至4中任一项所述的漏电检测装置，其特征在于，所述驱动机构为所 述电源。6. 根据权利要求5所述的漏电检测装置，其特征在于，在所述磁性元件的至少一个磁 性元件上设有偏置机构， 所述漏电检测装置还具有检测所述一个磁性元件的元件端子间电压的功率检测机构。7. 根据权利要求1至4中任一项所述的漏电检测装置，其特征在于，所述驱动机构是独 立于所述电源以及所述负载所构成的电路的电源。8. 根据权利要求7所述的漏电检测装置，其特征在于，所述磁性元件的至少一个磁性 元件由所述独立的电源驱动，所述漏电检测装置还具有检测所述一个磁性元件的元...

【专利技术属性】
技术研发人员：辻本浩章，
申请(专利权)人：公立大学法人大阪市立大学，
类型：发明
国别省市：日本;JP