【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】单晶枯提拉用二氧化枯容器及其制造方法
本专利技术是关于一种用于提拉单晶娃的二氧化娃容器及其制造方法。
技术介绍
先前W来,使用如专利文献1和专利文献2所记载的制造方法,来作为单晶娃提拉 用二氧化娃巧巧的制造方法。此等方法是于旋转的模框中投入经高纯度化处理的石英粉, 并成型后,自上部塞入电极,根据对电极施加电压来引起电弧放电,使环境温度上升至石英 粉的烙融温度区域(推断为1800?210(TC左右),从而使石英粉烙融、烧结。然而,于使用 如此制造而成的二氧化娃巧巧时,出现W下的单晶娃的品质上的问题:烙融娃与二氧化娃 巧巧反应而产生一氧化娃(SiO)气体,该气体W气泡(气体泡)的形式被引入至单晶娃中, 生成被称作孔隙或气孔的空隙缺陷等。 尤其,在单晶娃的一般的提拉法也就是柴氏拉晶法(Czoc虹alski Method, CZ法) 中,向被称作巧巧的二氧化娃容器内的烙融娃的烙液面(W下,也简称为液面。)添加晶 种(种晶),然后一边少许缩小晶种的直径一边使其生长(缩颈),然后一边扩大直径一边 制作大直径单晶娃(放肩(化ouldering)),接着一边将大直径单晶娃的直径保持为固定一 边进行提拉(拉起),取出长轴尺寸的单晶娃。进行此提拉时,会产生烙融娃的液面振动的 现象(W下,将此现象简称为液面振动。)。若产生此液面振动,则产生W下问题;无法进 行种晶、缩颈或放肩,或者在提拉(拉起)过程中,部分单晶娃产生多晶化。一般认为,其原 因之一在于产生氧化娃(SiO)气体而导致液面振动。在W专利文献1、2制造而成的二氧化 娃巧巧中,尤其是直径3 ...
【技术保护点】
一种单晶硅提拉用二氧化硅容器的制造方法,所述单晶硅提拉用二氧化硅容器具有直筒部、弯曲部及底部,所述制造方法的特征在于,包含下述工序:制造粒径为10~1000μm的结晶质二氧化硅粉,来作为第一原料粉;制造粒径为50~2000μm的结晶质二氧化硅粉与粒径为50~2000μm的非晶质二氧化硅粉的混合粉,来作为第二原料粉;将前述第一原料粉投入至具有旋转对称性的模框的内侧,一边使该模框旋转一边暂时成型为按照该模框的内壁的特定形状,而于该模框内形成由第一原料粉所构成的第一暂时成型体;将前述第二原料粉投入至已形成于前述模框内的第一暂时成型体的内侧和上部的至少任意一者,并将具有由前述第一原料粉所构成的部分和由前述第二原料粉所构成的部分的第二暂时成型体,使其形状成为按照要制造的二氧化硅容器的形状,而且,在相当于该要制造的二氧化硅容器的至少直筒部的内侧表层部分的位置,形成为具有由前述第二原料粉所构成的部分;一边使前述模框旋转,一边自前述第二暂时成型体的内侧根据放电加热熔融法进行加热,由此将前述第二暂时成型体中的由前述第二原料粉所构成的部分,作成结晶质二氧化硅粉熔融相与非晶质二氧化硅粉熔融相呈粒状地夹杂的混 ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.04.08 JP 2013-080812;2013.04.15 JP 2013-085131. 一种单晶硅提拉用二氧化硅容器的制造方法,所述单晶硅提拉用二氧化硅容器具有 直筒部、弯曲部及底部,所述制造方法的特征在于,包含下述工序: 制造粒径为10?1000 y m的结晶质二氧化硅粉,来作为第一原料粉; 制造粒径为50?2000 ii m的结晶质二氧化硅粉与粒径为50?2000 ii m的非晶质二氧 化硅粉的混合粉,来作为第二原料粉; 将前述第一原料粉投入至具有旋转对称性的模框的内侧,一边使该模框旋转一边暂时 成型为按照该模框的内壁的特定形状,而于该模框内形成由第一原料粉所构成的第一暂时 成型体; 将前述第二原料粉投入至已形成于前述模框内的第一暂时成型体的内侧和上部的至 少任意一者,并将具有由前述第一原料粉所构成的部分和由前述第二原料粉所构成的部分 的第二暂时成型体,使其形状成为按照要制造的二氧化硅容器的形状,而且,在相当于该要 制造的二氧化硅容器的至少直筒部的内侧表层部分的位置,形成为具有由前述第二原料粉 所构成的部分; 一边使前述模框旋转,一边自前述第二暂时成型体的内侧根据放电加热熔融法进行 加热,由此将前述第二暂时成型体中的由前述第二原料粉所构成的部分,作成结晶质二氧 化硅粉熔融相与非晶质二氧化硅粉熔融相呈粒状地夹杂的混合二氧化硅层,并且,作成容 器外侧是由含有气泡的不透明二氧化硅玻璃所构成,容器内侧是由透明二氧化硅玻璃所构 成。2. 如权利要求1所述的单晶硅提拉用二氧化硅容器的制造方法,其中,将前述混合二 氧化硅层,形成为包含下述位置:前述所制造的二氧化硅容器的内表面之中,相当于该二氧 化硅容器保持原料硅熔液时的初期的熔液面的内表面上的位置。3. 如权利要求1或2所述的单晶硅提拉用二氧化硅容器的制造方法,其中,按照以下方 式来形成前述第二暂时成型体:在相当于前述制造的二氧化硅容器的直筒部和弯曲部的内 侧表层部分的位置上,作成具有由前述第二原料粉所构成的部分。4. 如权利要求1至3中的任一项所述的单晶硅提拉用二氧化硅容器的制造方法,其中, 按照以下方式来形成前述混合二氧化硅层:作成于前述二氧化硅容器的壁厚方向上的厚度 为2謹以上,宽度为100謹以上。5. -种单晶硅提拉用二氧化硅容器的制造方法,其特征在于,其具有以下工序: 根据权利要求1至4中的任一项所述的方法来制造二氧化硅容器之后,进一步,于该二 氧化硅容器的内表面之中的未形成前述混合二氧化硅层的内表面的至少一部分上,形成高 纯度二氧化硅玻璃层,对于该二氧化硅玻璃层的杂质元素的浓度,使Li、Na、K分别为50质 量口口13以下,0&、]\%分别为25质量??13以下,11、0、?6、附、(:11、211、21'、]\1〇、1、?13分别为10 质量ppb以下,该高纯度二氧化硅玻璃层的厚度为200?2000 y m。6. 如权利要求1所述的单晶硅提拉用二氧化硅容器的制造方法,其中...
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