基于光栅的差分相位对比成像制造技术

技术编号:11117617 阅读:145 留言:0更新日期:2015-03-06 16:45
一种成像系统(200)被配置用于基于光栅的DPCI。所述成像系统包括:旋转机架(204),其绕检查区域旋转;由所述旋转机架支撑的辐射源(208),其发射贯穿所述检查区域的辐射;由所述旋转机架支撑的探测器阵列(212),其探测贯穿所述检查区域的辐射;以及由所述旋转机架支撑的干涉仪,其包括源光栅(214)、相位光栅(218)和吸收器光栅(220)。在整合周期期间,所述相位光栅或所述吸收器光栅中的至少一个相对于另一个连续地平移,并且所述探测器生成并输出指示所探测的辐射的电信号,其中,所述电信号包括吸收分量、相干分量和相位分量。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】基于光栅的差分相位对比成像
下文总体上涉及基于光栅的差分相位对比成像(DPCI)并且结合对计算机断层摄 影(CT)的具体应用加以描述。
技术介绍
在常规CT成像中,通过被扫描目标的组分的吸收剖面的差异来获得对比。这在诸 如骨骼的高吸收结构被嵌入在诸如人体的周围组织的相对弱的吸收材料的基体中的情况 下产生好的结果。然而,在调查具有相似吸收剖面的不同形式的组织(例如,乳房造影或血 管造影)的情况下,X射线吸收对比比较差。因此,在利用基于当前医院的X射线系统获得 的吸收射线照片中区分病理组织与非病理组织对于某些组织构成仍然困难。 基于光栅的DPCI克服了以上指出的限制。在于2012年6月8日提交并被授权给 皇家飞利浦电子有限公司的名称为PhaseContrastImaging的申请序列号13/514682 中讨论了范例基于光栅的DPCI装置,,通过引用将该申请整体并入本文中。在图1中示出 了在13/514682中描述的装置。该装置包括X射线源102和探测器106,探测器106跨检查 区域106位于源102的对面。源光栅108位于源102与探测器104之间与源102相邻,吸 收器(或分析器)光栅110位于源102与探测器104之间与探测器104相邻,并且相位光 栅112位于检查区域106中的目标114与吸收器光栅110之间。 源光栅108与相位光栅112被分开距离(1) 116。相位光栅112与吸收器光栅 110被分开距离(d)118,距离(d)118对应于泰伯距离U/ = /)!2/8i,其中,X是入 射辐射的波长)。源光栅108、相位光栅110和吸收器光栅112分别具有光栅线周期P(l、Pl 和巧,其中本文档来自技高网...
基于光栅的差分相位对比成像

【技术保护点】
一种被配置用于基于光栅的DPCI的成像系统(200),包括:旋转机架(204),其绕检查区域旋转;由所述旋转机架支撑的辐射源(208),其发射贯穿所述检查区域的辐射;由所述旋转机架支撑的探测器阵列(212),其探测贯穿所述检查区域的辐射;以及由所述旋转机架支撑的干涉仪,其包括:源光栅(214),相位光栅(218),以及吸收器光栅(220),其中,在整合周期期间,所述相位光栅或所述吸收器光栅中的至少一个相对于另一个连续地平移,并且所述探测器生成并输出指示所探测的辐射的电信号,其中,所述电信号包括吸收分量、相干分量和相位分量。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.06.27 US 61/664,9501. 一种被配置用于基于光栅的DPCI的成像系统(200),包括: 旋转机架(204),其绕检查区域旋转; 由所述旋转机架支撑的辐射源(208),其发射贯穿所述检查区域的辐射; 由所述旋转机架支撑的探测器阵列(212),其探测贯穿所述检查区域的辐射;以及 由所述旋转机架支撑的干涉仪,其包括: 源光栅(214), 相位光栅(218),以及 吸收器光栅(220), 其中,在整合周期期间,所述相位光栅或所述吸收器光栅中的至少一个相对于另一个 连续地平移,并且所述探测器生成并输出指示所探测的辐射的电信号,其中,所述电信号包 括吸收分量、相干分量和相位分量。2. 根据权利要求1所述的成像系统,其中,在所述整合周期期间,所述相位光栅或所述 吸收器光栅中的所述至少一个相对于另一个连续地平移通过所述相位光栅或所述吸收器 光栅中的所述至少一个的一个或多个光栅线周期。3. 根据权利要求2所述的成像系统,其中,所述相位光栅和所述吸收器光栅两者都平 移,并且所述相位光栅和所述吸收器光栅以相反方向平移。4. 根据权利要求2所述的成像系统,其中,仅所述相位光栅或所述吸收器光栅中的一 个平移。5. 根据权利要求4所述的成像系统,其中,每个相位步进周期仅所述相位光栅或所述 吸收器光栅中的一个的方向反向。6. 根据权利要求4所述的成像系统,其中,每个相位步进周期仅所述相位光栅或所述 吸收器光栅中的一个的方向相同。7. 根据权利要求5至6中的任一项所述的成像系统,其中,整合周期包括多个相位步进 周期。8. 根据权利要求1至7中的任一项所述的成像系统,其中,所述探测器阵列包括至少一 个探测器像素,所述至少一个探测器像素接收未由所述检查区域中的对象或目标衰减的辐 射,并且所述探测器阵列还包括: 参考数据确定器(232),其基于参考像素的输出信号至少确定所述相位光栅与所述吸 收器光栅之间的相对全局相位。9. 根据权利要求8所述的成像系统,其中,所述参考数据确定器基于参考像素的所述 输出信号来确定定义所述整合周期的信号。10. 根据权利要求9所述的成像系统,还包括: 信号处理器(230),其基于所述相对全局相位和定义所述整合周期的所述信号从所述 电信号中提取所述吸收分量、所述相干分量或所述相位分量中的至少一个。11. 根据权利要求10所述的成像系统,还包括: 重建器(2...

【专利技术属性】
技术研发人员:R·普罗克绍
申请(专利权)人:皇家飞利浦有限公司
类型:发明
国别省市:荷兰;NL

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