【技术实现步骤摘要】
一种适用于塑料颗粒的分析天平
本技术涉及塑料颗粒生产
,尤其涉及一种适用于塑料颗粒的分析天平。
技术介绍
分析天平一般是指能精确称量到0.0001克的天平,它是定量分析工作中不可缺少的重要仪器,在塑料颗粒的生产中,通常需要使用分析天平对生产出来的塑料颗粒进行定量分析,但是现有分析天平在使用时都是通过人工将塑料颗粒、砝码放置在托盘上,在对塑料颗粒和砝码取出的过程中,极易使外界的杂质落在托盘上,严重影响测量分析的结果;而且如果由于人为原因使得塑料颗粒掉落在分析天平内部,给分析天平的清扫工作带来很大的困难。
技术实现思路
根据以上技术问题,本技术提供一种测量精度高的适用于塑料颗粒的分析天平,包括挡风壳体、显示装置、支架、横梁、左称体、压感元件、右称体、称重盘,其特征在于:还包括进气口、气路通道、喷气头、连接转轴、接料箱,所述挡风壳体的上端开设有进气口,所述挡风壳体的内部设有支架,所述支架的内部开设有气路通道,所述气路通道与进气口连通,所述喷气头、显示装置安装在支架上,所述横梁安装在支架上,所述横梁的下端设有左称体、右称体,所述压感元件安装在左称体的上端,所述称重盘通过了连接转轴安装在右称体的下端,所述称重盘的下端设有接料箱。 所述左称体、右称体对称设置在横梁的两侧。 所述左称体、右称体的体积、质量相同。 所述喷气头与气路管道连通。 本技术的有益效果为:本技术在原有的分析天平上进行了改进,即将称重盘通过连接转轴安装在右称体的下端,还在称重盘的下端增加了接料箱,测量完毕后连接转轴带动称重盘旋转,使得塑料颗粒依靠自身重 ...
【技术保护点】
一种适用于塑料颗粒的分析天平,包括挡风壳体、显示装置、支架、横梁、左称体、压感元件、右称体、称重盘,其特征在于:还包括进气口、气路通道、喷气头、连接转轴、接料箱,所述挡风壳体的上端开设有进气口,所述挡风壳体的内部设有支架,所述支架的内部开设有气路通道,所述气路通道与进气口连通,所述喷气头、显示装置安装在支架上,所述横梁安装在支架上,所述横梁的下端设有左称体、右称体,所述压感元件安装在左称体的上端,所述称重盘通过了连接转轴安装在右称体的下端,所述称重盘的下端设有接料箱。
【技术特征摘要】
1.一种适用于塑料颗粒的分析天平,包括挡风壳体、显示装置、支架、横梁、左称体、压感元件、右称体、称重盘,其特征在于:还包括进气口、气路通道、喷气头、连接转轴、接料箱,所述挡风壳体的上端开设有进气口,所述挡风壳体的内部设有支架,所述支架的内部开设有气路通道,所述气路通道与进气口连通,所述喷气头、显示装置安装在支架上,所述横梁安装在支架上,所述横梁的下端设有左称体、右称体,所述压感元件安装...
【专利技术属性】
技术研发人员:纪洪绪,
申请(专利权)人:天津思迈德高分子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:天津;12
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