一种用于测量LED发光强度角度分布的实验装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于测量LED发光强度角度分布的实验装置。该实验装置由固定台、角度盘、转动组件、LED固定组件以及光电探测组件所组成，所述转动组件包括转轴，所述转轴的下端穿过角度盘与固定台的上端面相连，所述LED固定组件与转动组件的上端面相连，所述光电探测组件与转动组件的侧面相连。本实用新型专利技术所述用于测量LED发光强度角度分布的学生实验装置原理简单，成本低廉，结实耐用，能满足学生实验中对LED发光强度角度分布测量的实验要求。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测量LED发光强度角度分布的实验装置
本技术涉及一种用于测量LED发光强度角度分布的实验装置。
技术介绍
发光二极管(LED，Light-Emitting-D1de)是一种能发光的半导体电子元件，最早出现于1962年，与所有半导体二极管一样，LED具有体积小、价格低、重量轻、电压低、电流小、亮度高、发光响应速度快、驱动电路简单等多方面的优点，已经被广泛用于汽车、手机、显示屏、电子仪器和工业系统中。近年来，LED技术不断获得发展，特别是高亮度蓝光、绿光和白光LED技术有了快速发展，使LED的应用范围不断拓宽，在全色显示、交通信号、白光照明等方面形成新的产业增长点，尤其是白光LED以其结构简单、体积小、耗电少、寿命长、造价低等优点，被视为继白炽灯、荧光灯和气体放电光源之后的第四代照明光源，成为当前极具发展潜力的电子产品之一。 随着LED的快速发展和LED应用范围的不断扩大，有关LED方面的知识，已成为高校光电信息科学与工程类专业的一个重要教学内容，但教学内容还停留在课堂讲述阶段。为进一步提升学生对LED知识的掌握，必须要设置有关LED的实验，使学生通过实验来提升对LED知识的掌握。 然而，专用的LED光电特性测试设备结构复杂，特别是光学特性测试要用到光谱仪、光度计等，虽然这些专业仪器具有精度高、测量方便等优点，但同时也具有结构复杂、成本高、体积大、携带和使用不便等缺点，因此这种仪器只能用于大型分析测试实验，而要将其用于教学实验，尤其是用于学生实验是比较困难的。 虽然LED的光学特性参数很多，如光通量、发光强度、相对光谱功率分布、峰值波长、峰值波长半宽度、发光强度的角度分布等。但对于照明来说，LED发光强度的角度分布是一个重要的参数。
技术实现思路
本专利技术提供一种用于测量LED发光强度角度分布的实验装置，成本较低，结构简单，操作方便，适用于学生通过实验测量来定量掌握LED发光强度角度分布的特征。 一种用于测量LED发光强度角度分布的实验装置，由固定台、角度盘、转动组件、LED固定组件以及光电探测组件所组成，所述转动组件包括转轴，所述转轴的下端穿过角度盘与固定台的上端面相连，所述LED固定组件与转动组件的上端面相连，所述光电探测组件与转动组件的侧面相连。 优选的技术方案中，所述转动组件包括转轴、转环、转环压台和螺丝，所述转环压台和转环内设空心腔，所述转环的侧壁设有与转环内空心腔相通的螺纹孔，所述转轴由下至上依次穿过转环和转环压台内的空心腔，螺丝旋进所述螺纹孔将转轴与转环锁定，所述转环压台通过螺丝与转轴固定；所述LED固定组件与转环压台的上端面相连。 优选的技术方案中，所述转环与螺纹孔相对的一侧设有用于固定LED探测组件的定位台阶。 优选的技术方案，所述LED固定组件由L形支架和LED固定夹组成，所述LED固定夹与L形支架的垂直部相连，所述L形支架的底部与转环压台的上端面相连。 优选的技术方案，所述光电探测组件由一个带有刻度的导轨、与导轨相适配的滑块、光电探测器支架和光电探测器组成，所述滑块与导轨滑动连接，所述光电探测器支架是由垂直部和底部组成的L形支架，所述光电探测器的垂直部连接有光电探测器、底部与滑块相连，所述导轨的一端与定位台阶相连。 优选的技术方案，所述导轨为设有凹槽的长方体状，所述滑块为U形、且内侧壁设有与导轨凹槽相适配的凸块。 本技术相对于现有技术具有以下优点: 其一，本技术所述一种用于测量LED发光强度角度分布特征的实验装置结构简单，操作方便，适用于学生通过实验来定量掌握LED发光强度的角度分布特征测量。 其二，本技术所述一种用于测量LED发光强度角度分布的实验装置相对于专用的LED光电特性测试设备而言，成本较低，易于向学生教学实验中推广。 其三，本技术所述一种用于测量LED发光强度角度分布的实验装置既可以作为LED发光强度角分布的测量装置，同时还可以用作机械设计与制图类课程的教学道具。 【附图说明】 图1为本技术用于测量LED发光强度角度分布的实验装置爆炸视图。 图2为本技术所述一种用于测量LED发光强度角度分布的实验装置装配示意图。 图3为固定台的结构示意图。 图4为转环的结构示意图。 图5为转环的剖面结构示意图。 图6为导轨的结构示意图。 图7为滑块的结构示意图。 图8为滑块的剖面结构示意图。 图9为LED支架的结构示意图。 图中，1-固定台，2-角度盘，3-通孔A，4_带有台阶的通孔A，5_内六角螺丝A，6_转轴，7-转环，8-手动螺丝A，9-导轨配套滑块，10-光电探测器支架，11-手动螺丝B，12-带有刻度的导轨，13-LED固定夹，14-LED固定架，15-内六角螺丝B，16-转环压台，17-内六角螺丝C，18-通孔B，19-手动螺丝C，20-螺纹孔A，21-螺纹，22-螺纹孔B，23-螺纹孔C，24-圆角A，25-圆角B，26-螺纹孔D，27-螺纹孔E，28-定位台阶，29-凹槽，30-带有台阶的通孔B，31-凸台，32-螺纹孔F，33-螺纹孔G，34-带有台阶的通孔C，35-螺纹孔H，36-带有台阶的通孔D，37-刻度线。 【具体实施方式】 下面结合附图对本技术所述LED发光强度的角分布测量装置的【具体实施方式】进行详细说明。 结合图1和图2，本技术所述LED发光强度的角分布测量装置由固定台1、角度盘2、转动组件、LED固定组件以及光电探测组件所组成，转动组件包括转轴，转轴下端穿过角度盘与固定台的上端面相连，LED固定组件与转动组件的上端面相连，光电探测组件与转动组件的侧面相连。 结合图1、图2和图3，固定台I是一个空心圆台，圆台上端面的中心设有一个螺纹孔B22，转轴6与螺纹孔B22固定在一起；在螺纹孔B22的周围，以螺纹孔B22为圆心，等半径、等间距设有三个螺纹孔C23，固定台I的下边缘设置为圆角A24。 结合图1、图2和图3，角度盘2是一个边缘带有角刻度的圆盘，圆盘的中心设有通孔A3，以通孔A3为圆心，在通孔A3的周围，等半径、等间距设置三个带有台阶的通孔A4，带有台阶的通孔A4的孔间距和位置与所述设置在固定台I上的三个螺纹孔C23的位置对应，用内六角螺丝A5将所述固定台I与角度盘2固定在一起。 结合图1、图2、图4和图5，所述转动组件由转轴6、转环7、转环压台16、手动螺丝C19和内六角螺丝B15。所述转轴6是一端设有螺纹21、另一端设有螺纹孔A20的圆柱，螺纹21的尺寸与设置在固定台I上的螺纹孔B22的尺寸匹配，所述设在转轴6上的螺纹21、螺纹孔A20和转轴6共轴。 转环7是内设通孔B18的长方体，转环7的上部切去了一个小长方体，形成一个用于固定光电探测组件的定位台阶28，与定位台阶28相对的一侧设有与通孔B18相通的螺纹孔D26，转轴6穿过通孔B18，手动螺丝C19旋进螺纹孔D26将转环7与转轴6锁定。定位台阶28上设有五个螺纹孔E27。转环压台16是一个一侧底面封堵的圆筒，转环压台16的内径与转轴6的直径匹配，转环压台16的空心腔内设有台阶，在转环压台16的空心腔的周围，阵列式设置一系列螺纹孔；装配时，先用设在转轴6上本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量LED发光强度角度分布的实验装置，其特征在于：所述实验装置由固定台、角度盘、转动组件、LED固定组件以及光电探测组件所组成，所述转动组件包括转轴，所述转轴的下端穿过角度盘与固定台的上端面相连，所述LED固定组件与转动组件的上端面相连，所述光电探测组件与转动组件的侧面相连。

【技术特征摘要】
1.一种用于测量LED发光强度角度分布的实验装置，其特征在于:所述实验装置由固定台、角度盘、转动组件、LED固定组件以及光电探测组件所组成，所述转动组件包括转轴，所述转轴的下端穿过角度盘与固定台的上端面相连，所述LED固定组件与转动组件的上端面相连，所述光电探测组件与转动组件的侧面相连。2.根据权利要求1所述的测量LED发光强度角度分布的实验装置，其特征在于:所述转动组件包括转轴、转环、转环压台和螺丝，所述转环压台和转环内设空心腔，所述转环的侧壁设有与转环内空心腔相通的螺纹孔，所述转轴由下至上依次穿过转环和转环压台内的空心腔，螺丝旋进所述螺纹孔将转轴与转环锁定，所述转环压台通过螺丝与转轴固定；所述LED固定组件与转环压台的上端面相连。3.根据权利要求2所述的测量LED发光强度角度分布的实验装置，其特征在于:所述转环与螺纹孔...

【专利技术属性】
技术研发人员：裴世鑫，崔芬萍，徐林华，
申请(专利权)人：南京信息工程大学，
类型：新型
国别省市：江苏;32