一种显示面板的检测电路及其检测方法技术

本发明专利技术提供一种显示面板的检测电路及所述电路的检测方法，所述检测电路包括：两条检测线，分别用于向每行像素单元提供扫描信号；其中一条所述检测线仅连接所述像素单元的一条扫描线，另一条所述检测线连接所述像素单元的另一条扫描线。本发明专利技术的显示面板的检测电路及使用所述电路对显示面板进行的检测方法，通过将像素单元的两条扫描线连接不同的检测线，并分别施加不同的电压，以检测显示面板的异常，解决了现有技术不能检测显示面板异常的技术问题，以提高显示效果。

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板的检测电路及其检测方法
本专利技术涉及显示器领域，特别是涉及一种显示面板的检测电路及使用所述检测电路对显示面板进行检测的方法。
技术介绍
现有的显示面板包括多个像素单元，每个像素单元包括主像素部和子像素部，为了解决大视角色偏的问题，通常将主像素部的亮度设置成大于子像素部的亮度，从而提高显示效果。主像素部具有第一薄膜晶体管，子像素部具有第二薄膜晶体管和第三薄膜晶体管。主扫描线连接第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管的控制端，在主扫描线输入为高电平时，第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管闭合，通过数据线向主像素部和子像素部充电，充电结束后主像素部和子像素部的电荷相等。次扫描线连接第三薄膜晶体管的控制端，在次扫描线输入为高电平时，第三薄膜晶体管闭合，将子像素部的液晶电容上的一部分电荷分配到分享电容上，使得子像素部的电荷小于主像素部的电荷，从而解决了大视角色偏问题。现有的检测电路1，如图1所示，其包括第一检测线11和第二检测线12，像素单元15，每个像素单元对应的扫描线为主扫描线13和次扫描线14，其中奇数行(1、3、5、7)的像素单元的主扫描线连接第一检测线11，偶数行(2、4、6、8)的像素单元的主扫描线连接第二检测线12，且第n+2行像素单元的主扫描线连接第n行像素单元的次扫描线，或者如图2所示，将第n+4行像素单元的主扫描线连接第n行像素单元的次扫描线，图2其余连接方式与图1相同，其中n为正整数。现有的检测电路，只能检测主像素部和子像素部能否发亮。但是，在制程中分享电容与子像素部的像素电极之间存在着ITO(透明导电层)残留，从而使得子像素部的像素电极和分享电容之间出现短路，第三薄膜晶体管的控制作用失效。当子像素部的像素电极充电时，分享电容也充电，使得两者电位相同，当子像素部的像素电极充完电时，由于分享电容的上极板与子像素部的像素电极电位相同，使得子像素部的液晶电容不能向分享电容分享一部分电荷，使得子像素部的电位无法被拉低，使得子像素部的亮度出现异常，即显示面板出现异常。这种异常情况特别是在低灰阶(譬如L48灰阶)下较为明显，因此有必要对显示面板的异常进行检测；而使用现有的检测电路并不能检测显示面板的异常。故，有必要提供一种显示面板的检测电路及使用所述检测电路对显示面板进行检测的方法，以解决现有技术所存在的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种显示面板的检测电路及使用所述检测电路对显示面板进行检测的方法，以解决现有技术的检测电路不能检测显示面板异常的技术问题，以提高显示效果。为解决上述问题，本专利技术提供的技术方案如下：本专利技术实施例提供一种显示面板的检测电路，所述显示面板包括阵列基板，所述阵列基板包括：数据线、扫描线、以及由所述数据线和所述扫描线限定的多个像素单元，所述多个像素单元组成多行像素单元，所述像素单元对应的扫描线包括主扫描线和次扫描线；其中每个所述像素单元包括主像素部和子像素部、所述主像素部具有第一薄膜晶体管，所述子像素部具有第二薄膜晶体管以及第三薄膜晶体管，所述主扫描线，用于向所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的控制端输入第一扫描信号，其中所述第一扫描信号用于控制向所述第一薄膜晶体管的输入端和所述第二薄膜晶体管的输入端输入数据信号，所述第一薄膜晶体管的输出端与所述主像素部的主液晶电容连接，所述第二薄膜晶体管的输出端与所述子像素部的子液晶电容连接；所述次扫描线，用于当所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开时，向所述第三薄膜晶体管的控制端输入第二扫描信号，其中所述第二扫描信号用于对所述子液晶电容和分享电容上的电荷进行重新分配，所述第三薄膜晶体管的输入端与所述子像素部的子液晶电容连接，所述第三薄膜晶体管的输出端与所述分享电容连接；所述检测电路包括：两条检测线，分别用于向每行所述像素单元提供扫描信号；其中一条所述检测线仅连接所述像素单元的一条扫描线，另一条所述检测线连接所述像素单元的另一条扫描线。本专利技术还提供一种使用上述的检测电路对显示面板进行检测的方法，其中所述两条检测线包括第一检测线和第二检测线；所述方法包括：将所述多行像素单元划分为n组检测区域，其中每组所述检测区域包括h行像素单元，第2n+1组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第一检测线，第2n组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第二检测线；第n组检测区域中的每行像素单元的次扫描线连接第n+1组检测区域中的任一行的像素单元的主扫描线；其中n为正整数，h＝2k，k≥1。在本专利技术的使用所述检测电路对显示面板进行检测的方法中，所述方法包括：向所述第一检测线输入高电平电压，以及向所述第二检测线输入低电平电压，以使所述第2n+1组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使所述第2n+1组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开；并通过所述数据线向所述第2n+1组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号，以对所述第2n+1组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部进行充电；在所述通过所述数据线向所述第2n+1组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号的步骤之后，所述方法还包括：向所述第一检测线输入低电平电压，以及向所述第二检测线输入高电平电压，以使所述第2n+1组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开，并且使所述第2n+1组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管闭合；并通过所述数据线向所述第2n组检测区域的每行像素单元输入第二数据信号，以检测所述第2n+1组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，生成检测结果；其中所述第一数据信号的电压大于所述第二数据信号的电压。在本专利技术的使用所述检测电路对显示面板进行检测的方法中，所述方法包括：向所述第二检测线输入高电平电压，以及向所述第一检测线输入低电平电压，以使所述第2n组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使所述第2n组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开；并通过所述数据线向所述第2n组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号，以对所述第2n组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部进行充电；在所述通过所述数据线向所述第2n组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号的步骤之后，所述方法还包括：向所述第二检测线输入低电平电压，以及向所述第一检测线输入高电平电压，以使所述第2n组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开，并且使所述第2n组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管闭合；并通过所述数据线向所述第2n+1组检测区域的每行像素单元输入第二数据信号，以检测所述第2n组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，以生成检测结果，其中所述第一数据信号的电压大于所述第二数据信号的电压。本专利技术还提供一种使用上述的检测电路对显示面板进行检测的方法，其中所述两条检测线包括第一检测线和第二检测线，所述方法包括：将所述多行像素单元划分为n组检测区域，其中每组所述检测区域包括h行像素单元，第2n+1组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第二检测线，第2n组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第一检测线；第n本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示面板的检测电路，其特征在于，所述显示面板包括阵列基板，所述阵列基板包括：数据线、扫描线、以及由所述数据线和所述扫描线限定的多个像素单元，所述多个像素单元组成多行像素单元，所述像素单元对应的扫描线包括主扫描线和次扫描线；其中每个所述像素单元包括主像素部和子像素部、所述主像素部具有第一薄膜晶体管，所述子像素部具有第二薄膜晶体管以及第三薄膜晶体管，所述主扫描线，用于向所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的控制端输入第一扫描信号，其中所述第一扫描信号用于控制向所述第一薄膜晶体管的输入端和所述第二薄膜晶体管的输入端输入数据信号，所述第一薄膜晶体管的输出端与所述主像素部的主液晶电容连接，所述第二薄膜晶体管的输出端与所述子像素部的子液晶电容连接；所述次扫描线，用于当所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开时，向所述第三薄膜晶体管的控制端输入第二扫描信号，其中所述第二扫描信号用于对所述子液晶电容和分享电容上的电荷进行重新分配，所述第三薄膜晶体管的输入端与所述子像素部的子液晶电容连接，所述第三薄膜晶体管的输出端与所述分享电容连接；所述检测电路包括：两条检测线，分别用于向每行所述像素单元提供扫描信号；其中一条所述检测线仅连接所述像素单元的一条扫描线，另一条所述检测线连接所述像素单元的另一条扫描线。...

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的检测电路，其特征在于，所述显示面板包括阵列基板，所述阵列基板包括：数据线、扫描线、以及由所述数据线和所述扫描线限定的多个像素单元，所述多个像素单元组成多行像素单元，所述像素单元对应的扫描线包括主扫描线和次扫描线；其中每个所述像素单元包括主像素部和子像素部、所述主像素部具有第一薄膜晶体管，所述子像素部具有第二薄膜晶体管以及第三薄膜晶体管，所述主扫描线，用于向所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的控制端输入第一扫描信号，其中所述第一扫描信号用于控制向所述第一薄膜晶体管的输入端和所述第二薄膜晶体管的输入端输入数据信号，所述第一薄膜晶体管的输出端与所述主像素部的主液晶电容连接，所述第二薄膜晶体管的输出端与所述子像素部的子液晶电容连接；所述次扫描线，用于当所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开时，向所述第三薄膜晶体管的控制端输入第二扫描信号，其中所述第二扫描信号用于对所述子液晶电容和分享电容上的电荷进行重新分配，所述第三薄膜晶体管的输入端与所述子像素部的子液晶电容连接，所述第三薄膜晶体管的输出端与所述分享电容连接；所述检测电路包括：两条检测线，分别用于向每行所述像素单元提供扫描信号；其中一条所述检测线仅连接所述像素单元的一条扫描线，另一条所述检测线连接所述像素单元的另一条扫描线；其中，所述多行像素单元包括n组检测区域，其中每组所述检测区域包括h行像素单元，第2n+1组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接其中一条检测线，第2n组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接另外一条检测线；第n组检测区域中的每行的像素单元的次扫描线连接所述第n+1组检测区域中的任一行的像素单元的主扫描线；其中n为正整数，h＝2k，k≥1，所述第n组检测区域中的每行的像素单元的数据信号的电压和所述第n+1组检测区域中的任一行的像素单元的数据信号的电压不同。2.一种使用如权利要求1所述的检测电路对显示面板进行检测的方法，其特征在于，所述两条检测线包括第一检测线和第二检测线；所述方法包括：将所述多行像素单元划分为n组检测区域，其中每组所述检测区域包括h行像素单元，第2n+1组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第一检测线，第2n组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第二检测线；第n组检测区域中的每行像素单元的次扫描线连接第n+1组检测区域中的任一行的像素单元的主扫描线；其中n为正整数，h＝2k，k≥1；向所述第一检测线输入高电平电压，以及向所述第二检测线输入低电平电压，以使所述第2n+1组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使所述第2n+1组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开；并通过所述数据线向所述第2n+1组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号，以对所述第2n+1组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部进行充电；在所述通过所述数据线向所述第2n+1组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号的步骤之后，所述方法还包括：向所述第一检测线输入低电平电压，以及向所述第二检测线输入高电平电压，以使所述第2n+1组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开，并且使所述第2n+1组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管闭合；并通过所述数据线向所述第2n组检测区域的每行像素单元输入第二数据信号，以检测所述第2n+1组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，生成检测结果；其中所述第一数据信号的电压大于所述第二数据信号的电压。3.根据权利要求2所述的对显示面板进行检测的方法，其特征在于，向所述第二检测线输入高电平电压，以及向所述第一检测线输入低电平电压，以使所述第2n组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使所述第2n组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开；并通过所述数据线向所述第2n组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号，以对所述第2n组检测区域中的每行像素单...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘桓，王金杰，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44