智能按键检测系统及其使用方法技术方案

技术编号:11076010 阅读:127 留言:0更新日期:2015-02-25 14:28
本发明专利技术公开一种智能按键检测系统,包括主MCU和从MCU,所述主MCU的I/O口和从MCU的I/O口双向通信连接,所述从MCU与I/O扩展IC端口通过线路连接,所述I/O扩展IC端口与模拟开关IC通过线路连接,所述模拟开关IC与测试夹具通过线路连接,所述测试夹具与主MCU通过线路连接。其用智能检测的方式代替了纯手工一个个点位测试的方式,大大增加了按键检测的工作效率,节省了人力物力的成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测系统领域,尤其涉及。
技术介绍
目前市面上,用于遥控板上的按键检测的方法都为人工一个个按键检测过去;遥控板上的按键很多,这样的工作方式效率太低,影响到产量及人力成本;且手工在测按键时会出现人为误差,影响检测结果。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供智能按键检测系统,其用智能检测的方式代替了纯手工一个个点位测试的方式,大大增加了按键检测的工作效率,节省了人力物力的成本。 为了达到上述目的,本专利技术的技术方案是:智能按键检测系统,包括主MCU和从MCU,所述主MCU的I/O 口和从MCU的I/O 口双向通信连接,所述从MCU与I/O扩展IC端口通过线路连接,所述I/O扩展IC端口与模拟开关IC通过线路连接,所述模拟开关IC与测试夹具通过线路连接,所述测试夹具与主MCU通过线路连接。 所述测试夹具包括支架,所述支架与气缸相连,所述支架上安装有金属探针,所述金属探针分别与限位传感器、模拟开关IC相连,所述限位传感器、气缸均与主MCU相连。 智能按键检测系统的使用方法,包括如下步骤:1)在主MIC设置待检测按键的数量、按键按下的时间、两个按键按下的间隔时间并将信号发送给从MCU ;2)从MCU接收由主MCU发送的待检测按键的数量、按键按下的时间、两个按键按下的间隔时间信号,控制I/O扩展IC以一个I/O 口控制多个模拟开关IC (4);同时,主MCU控制气缸,使夹具上的金属探针去接触待测按键;3)模拟开关IC的输出端控制金属探针的通电开关,金属探针接触被检测按键的按键点位,通过限位传感器触发主MCU,进行检测,当主MCU上的绿灯亮时,按键点位无故障;当红灯亮时按键点位存在故障。 本专利技术的有益效果是:本专利技术其用智能检测的方式代替了纯手工一个个点位测试的方式,大大增加了按键检测的工作效率,节省了人力物力的成本。 【附图说明】 图1为本专利技术的结构示意图。 【具体实施方式】 实施例1如图1所示的智能按键检测系统,包括主MCUl和从MCU2,所述主MCUl的I/O 口和从MCU2的I/O 口双向通信连接,所述从MCU与I/O扩展IC端口 3通过线路连接,所述I/O扩展IC端口 3与模拟开关IC4通过线路连接,所述模拟开关IC4与测试夹具5通过线路连接,所述测试夹具5与主MCU1通过线路连接。 所述测试夹具包括支架6,所述支架6与气缸7相连,所述支架6上安装有金属探针8,所述金属探针8分别与限位传感器9、模拟开关IC4相连,所述限位传感器8、气缸7均与主MCU1相连。 智能按键检测系统的使用方法,包括如下步骤:1)在主MIC1设置待检测按键10的数量、按键按下的时间、两个按键按下的间隔时间并将信号发送给从MCU2 ;2)从MCU2接收由主MCU1发送的待检测按键10的数量、按键按下的时间、两个按键按下的间隔时间信号,控制I/O扩展1C以一个I/O 口控制多个模拟开关IC4 ;同时,主MCU1控制气缸7,使夹具5上的金属探针8去接触待测按键10 ;3)模拟开关IC4的输出端控制金属探针8的通电开关,金属探针8接触被检测按键10的按键点位,通过限位传感器9触发主MCU1,进行检测,当主MCU1上的绿灯亮时,按键点位无故障;当红灯亮时按键点位存在故障。 本实施例的智能按键检测系统,其用智能检测的方式代替了纯手工一个个点位测试的方式,大大增加了按键检测的工作效率,节省了人力物力的成本。本文档来自技高网...

【技术保护点】
智能按键检测系统,其特征在于:包括主MCU(1)和从MCU(2),所述主MCU(1)的I/O口和从MCU(2)的I/O口双向通信连接,所述从MCU与I/O扩展IC端口(3)通过线路连接,所述I/O扩展IC端口(3)与模拟开关IC(4)通过线路连接,所述模拟开关IC(4)与测试夹具(5)通过线路连接,所述测试夹具(5)与主MCU(1)通过线路连接。

【技术特征摘要】
1.智能按键检测系统,其特征在于:包括主MCU(I)和从MCU (2),所述主MCU (I)的I/O 口和从MCU (2)的I/O 口双向通信连接,所述从MCU与I/O扩展IC端口(3)通过线路连接,所述I/O扩展IC端口(3)与模拟开关IC (4)通过线路连接,所述模拟开关IC (4)与测试夹具(5 )通过线路连接,所述测试夹具(5 )与主MCU (I)通过线路连接。2.根据权利要求1所述的智能按键检测系统,其特征在于:所述测试夹具(5)包括支架(6),所述支架(6)与气缸(7)相连,所述支架(6)上安装有金属探针(8),所述金属探针(8)分别与限位传感器(9)、模拟开关IC (4)相连,所述限位传感器(9)、气缸(7)均与主MCU(1)相连。3.智能按键检测系...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡克飞
申请(专利权)人:浙江杭一电器有限公司
类型:发明
国别省市:浙江;33

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