发光异常检测电路制造技术

一种发光异常检测电路，用以快速检测具有庞大数量的发光元件的发光装置，异常检测电路包括电源模块、缓冲模块及异常检测模块。电源模块用以输出第一电源信号，缓冲模块包括多个缓冲器，各缓冲器之一缓冲输入端接收第一电源信号，缓冲输出端对应第一电源信号输出第二电源信号至发光元件中的其中之一，异常检测模块包括多个比较器，各比较器之二检测输入端分别对应耦接缓冲器的其中之一的缓冲输入端及缓冲输出端，以接收第一电源信号及第二电源信号，其检测输出端输出一比较信号，异常检测模块根据此些比较器之比较信号输出一检测结果。

【技术实现步骤摘要】
发光异常检测电路
本技术是一种发光异常检测电路，特别是应用于列印装置之列印头的发光异常检测电路。
技术介绍
发光二极管(Light-Emitting D1de, LED)为一种通过电能转换为光能的光源，其效率高、寿命长，因此被广泛应用于各个领域。发光二极管除了大量运用在生活周遭外，近年也在3C或小家电产品上可见其踪迹，像是LED荧幕、LED台灯等等。此外，亦有厂商将LED技术应用至印表机上，利用LED列印头(Printer Head)来取代雷射列印头。 LED印表机和雷射印表机的列印原理是类似的，皆采用光学技术将数字数据转成光资讯，再通过碳粉将数据打在感光鼓上，即能列印出文件。然LED印表机比雷射印表机更具优势的地方在于其舍去了复杂的光学结构，仅采用简单的LED阵列配合光学部件即可，故LED印表机比雷射印表机所需的产品体积要小很多，且具备失真率低及精密度高之优点。而LED印表机较明显的缺点为若LED列印头的阵列中有LED异常或损坏，即会影响到印刷品质，故得更换异常部位。所以，为了确保发光二极管的发光品质及印表机的列印品质，如何测试列印头上的每一发光二极管之好坏即显得相当重要。于测试发光二极管是否异常时，公知是利用直接供给发光二极管电压后察看其发光状态来确认其是否有异常。然无论是分群供给电压抑或一次供给全体电压来检测，其检测方式较为不便。
技术实现思路
有鉴于此，本技术提出一种发光异常检测电路，用以检测包含多个发光元件的一发光装置，该异常检测电路包括: —电源模块，输出一第一电源信号； 一缓冲模块，包括多个缓冲器，各该缓冲器包括: —缓冲输入端，接收该第一电源信号；及 一缓冲输出端，对应该第一电源信号输出一第二电源信号至该些发光元件中的其中之一；及 一异常检测模块，包括多个比较器，各该比较器包括: 二检测输入端，分别对应耦接该些缓冲器的其中之一的该缓冲输入端及该缓冲输出端，以接收该第一电源信号及该第二电源信号 '及 一检测输出端，输出一比较信号，其中该异常检测模块根据该些比较器之该比较信号输出一检测结果。 上述的发光异常检测电路，其中各该发光元件为一发光二极管。 上述的发光异常检测电路，其中各该比较器为一电压比较器。 上述的发光异常检测电路，其中各该比较器为一电流比较器。 上述的发光异常检测电路，其中该缓冲模块为一集成电路。 上述的发光异常检测电路，其中该异常检测模块为一集成电路。 上述的发光异常检测电路，其中该异常检测模块更包括多个显示单元，各该些显示单元分别耦接各该比较器的该检测输出端，以分别显示对应各该比较器的该比较信号的该检测结果。 上述的发光异常检测电路，其中该异常检测模块更包括一逻辑判断单元，耦接该些比较器的该检测输出端，以逻辑运算该些比较信号而产生该检测结果。 上述的发光异常检测电路，其中该逻辑判断单元为一或门。 本技术之发光异常检测电路，通过外加电路去比较每一经过缓冲器的前与后两点电源信号，即可得知每一发光元件是否异常，相较以往之检测显得更为方便。 以下在实施方式中详细叙述本技术之详细特征以及优点，其内容足以使任何本领域技术人员了解本技术之
技术实现思路
并据以实施，且根据本说明书所揭露之内容、申请专利范围及附图，任何本领域技术人员可轻易地理解本技术相关之目的及优点。 【附图说明】 图1为本技术的方块示意图； 图2为本技术的第一实施例的电路示意图； 图3为本技术的第二实施例的电路示意图； 图4为本技术的第三实施例的电路示意图； 图5为本技术的第三实施例的另一态样的的电路示意图； 图6为本技术的第四实施例的电路示意图。 其中，附图标记: I 发光异常检测电路2发光装置 21发光二极管3电源模块 31第一电源信号32第二电源信号 4 缓冲模块41缓冲器 411缓冲输入端412缓冲输出端 5 异常检测模块51比较器 511检测输入端512检测输出端 6 显示单元7 逻辑判断单元 71检测结果72或门 73检测结果 【具体实施方式】 请参照图1，为本技术的发光异常检测电路I的方块示意图。发光异常检测电路I主要包括电源模块3、缓冲模块4与异常检测模块5，用来检测位于印刷装制的列印头的发光装置2是否有异常。于此，发光装置2包含多个发光二极管21。电源模块3用以提供第一电源信号31给缓冲模块4，经缓冲模块4缓冲后，输出第二电源信号32至发光装置2，通过异常检测模块5比较第一电源信号31与第二电源信号32是否相同，若相同即表示发光装置2为正常运作，若相异即表示发光装置2有异常，故经由其检测输出端512输出检测异常信号。其主要原理是因异常(如损毁)的发光装置2可能会造成开路或其他不正常的电路影响，连带使得所连接的缓冲模块4的输出端所量测得的电路信号(即第二电源信号32)不会与第一电源信号31—致。因此，可通过比对缓冲模块4的输入端及输出端的电路信号的结果得知发光装置2是否异常。 请参照图2，为本技术的发光异常电路I的第一实施例的电路示意图，为方便说明，在此仅以检测八个发光二极管21为例说明。然而，发光二极管21的数量非仅于此。例如，欲达到600DPI的列印解析度，发光二极管21的排列密度为每英寸600个发光二极管。发光异常检测电路I包含电源模块3、缓冲模块4及异常检测模块5。其中，电源模块3用以提供第一电源信号31至缓冲模块4。 缓冲模块4包含多个缓冲器41，各缓冲器41包含缓冲输入端411与缓冲输出端412。缓冲输入端411用以接收第一电源信号31，缓冲输出端412用以输出对应第一电源信号31的第二电源信号32给发光二极管21。于本实施例中，缓冲模块4含有八个缓冲器41，以分别接收电源模块3所提供的第一电源信号31来驱动每一发光二极管21。然而缓冲模块4所包含的缓冲器41数量非以八个为限，亦可为其他数量。 异常检测模块5包括多个比较器51。各比较器51包含两个检测输入端511与一检测输出端512。两个检测输入端511分别耦接各缓冲器41的缓冲输入端411与缓冲输出端412，以接收并比较第一电源信号31与第二电源信号32，比较结果则由检测输出端512输出。在此，比较结果是指缓冲器41的缓冲输入端411与缓冲输出端412的电压电位是否相同。例如，当缓冲输入端411与缓冲输出端412的电压电位相同时，检测输出端512输出低电压电位(逻辑O);反之，则输出高电压电位(逻辑I)。于本实施例中，异常检测模块5所包含的比较器51与所耦接的缓冲模块4所含有的缓冲器41的数量相对应，于此均为八个。 在此，缓冲模块4可为一集成电路(IC，Integrated Circuit)实现；异常检测模块5也可为一集成电路实现。前述的缓冲输入端411、缓冲输出端412、两检测输入端511与检测输出端512等即对应为集成电路的接脚。 电源模块3分别提供第一电源信号31至缓冲模块4的每一缓冲器41的缓冲输入端411作缓冲。每一个第一电源信号31可同时全部给予后方的缓冲器41，抑或先后提供给不同缓冲器41，甚者亦可只给予其中几个缓冲器41，端视量测需求而定。 于本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种发光异常检测电路，其特征在于，用以检测包含多个发光元件的一发光装置，该异常检测电路包括：一电源模块，输出一第一电源信号；一缓冲模块，包括多个缓冲器，各该缓冲器包括：一缓冲输入端，接收该第一电源信号；及一缓冲输出端，对应该第一电源信号输出一第二电源信号至该些发光元件中的其中之一；及一异常检测模块，包括多个比较器，各该比较器包括：二检测输入端，分别对应耦接该些缓冲器的其中之一的该缓冲输入端及该缓冲输出端，以接收该第一电源信号及该第二电源信号；及一检测输出端，输出一比较信号，其中该异常检测模块根据该些比较器之该比较信号输出一检测结果。

【技术特征摘要】
2013.10.18 TW 1022195081.一种发光异常检测电路，其特征在于，用以检测包含多个发光元件的一发光装置，该异常检测电路包括: 一电源模块，输出一第一电源信号； 一缓冲模块，包括多个缓冲器，各该缓冲器包括: 一缓冲输入端，接收该第一电源信号；及 一缓冲输出端，对应该第一电源信号输出一第二电源信号至该些发光元件中的其中之一；及 一异常检测模块，包括多个比较器，各该比较器包括: 二检测输入端，分别对应耦接该些缓冲器的其中之一的该缓冲输入端及该缓冲输出端，以接收该第一电源信号及该第二电源信号；及 一检测输出端，输出一比较信号，其中该异常检测模块根据该些比较器之该比较信号输出一检测结果。2.如权利要求1所述的发光异常检测电路，其特征在于，其中各该发光元件为一发光二极管。3.如...

【专利技术属性】
技术研发人员：吉田治信，
申请(专利权)人：日昌电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾;71