本发明专利技术揭露一种电源侦测及校正装置与电源侦测及校正方法。电源侦测及校正装置包括侦测单元、测量芯片与微控制器。测量芯片电性连接侦测单元，微控制器电性连接测量芯片。侦测单元用以侦测一电源的一输入电流与一输入电压；测量芯片用以基于输入电流与输入电压来计算至少一电力相关数值；微控制器用以自测量芯片读取电力相关数值，并且根据一计算机设备传来的一校正指令来为测量芯片进行校正。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术揭露一种。电源侦测及校正装置包括侦测单元、测量芯片与微控制器。测量芯片电性连接侦测单元，微控制器电性连接测量芯片。侦测单元用以侦测一电源的一输入电流与一输入电压；测量芯片用以基于输入电流与输入电压来计算至少一电力相关数值；微控制器用以自测量芯片读取电力相关数值，并且根据一计算机设备传来的一校正指令来为测量芯片进行校正。【专利说明】
本专利技术是有关于电源方面的技术，且特别是有关于一种电源侦测及校正的装置与 方法。
技术介绍
近年来由于工商发达、社会进步，相对提供的产品亦渐趋智能化及重视环保绿能。 因此，当前开发的开关模式电源产品（SMPS)亦比以往更加进步，会加上高精度的电源用量 参数回报至客户系统，使系统达至数据收集、控制、节能的目的，而得以贡献社会。 然而，在电源行业中，单独利用传统MCU侦测和计算出的输入参数读值精度不高， 因此往往需要复杂的校正过程，所需时间长，导致生产效率较低，对电源的开发和生产造成 困扰。 由此可见，上述现有的方式，显然仍存在不便与缺陷，而有待加以进一步改进。为 了解决上述问题，相关领域莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的方 式被发展完成。因此，如何能提供高精度、高效率的装置，并且能够容易校正的方法，实属当 前重要研发课题之一，亦成为当前相关领域亟需改进的目标。
技术实现思路
因此，本专利技术的一目的是在提供一种电源侦测及校正的装置与电源侦测及校正方 法，以解决现有技术的问题。 依据本专利技术一实施例，一种电源侦测及校正装置包括侦测单元、测量芯片与微控 制器。测量芯片电性连接侦测单元，微控制器电性连接测量芯片。侦测单元用以侦测一电 源的一输入电流与一输入电压；测量芯片用以基于输入电流与输入电压来计算至少一电力 相关数值；微控制器用以自测量芯片读取电力相关数值，并且根据一计算机设备传来的一 校正指令来为测量芯片进行校正。 上述的侦测单元包括电流感测电阻器与电压侦测电路。电流感测电阻器用以侦测 输入电流；电压侦测电路，用以以分压方式来侦测输入电压。 上述的测量芯片与微控制器之间是透过一串行外围设备接口总线（SPI总线)来进 行通讯。 上述的电源侦测及校正装置还包括但不限于一组插针。该组插针，电性连接侦测 单元，用以引入输入电流与输入电压及供电电源输入。 上述的电源侦测及校正装置还包括双向通用同步/异步收发接口（USART接口）。 该双向通用同步/异步收发接口，连接微控制器，用以接收计算机设备所传送的校正指令， 并将校正后的电力相关数值数据发送给计算机设备进行验证。 上述的电源侦测及校正装置还包括光耦合器与单向通用同步/异步收发接口。光 耦合器连接微控制器；单向通用同步/异步收发接口，透过光耦合器耦接微控制器，且用以 连接一接收模块。 上述的电力相关数值包括但不限于电压值、电流值与功率值。 依据本专利技术另一实施例，一种电源侦测及校正方法，包括：（a)侦测一电源的一输 入电流与一输入电压；（b)利用一微控制器去判断一计算机设备是否传来一校正指令；（c) 当微控制器收到校正指令时，由微控制器使一测量芯片进行参数校正；（d)当微控制器未 收到校正指令时，利用微控制器令测量芯片以基于输入电流与输入电压来计算至少一电力 相关数值，并且利用微控制器去读取电力相关数值。 步骤（c)包括利用微控制器执行下列步骤：发送一电流校正指令与一电压校正指 令给测量芯片，令测量芯片基于特定的输入条件去作校正；等待测量芯片完成校正后，自测 量芯片读取一电流增益值与一电压增益值；储存电流增益值与电压增益值，并据以重置测 量芯片。 步骤（d)包括利用微控制器执行下列步骤：将电流增益值与电压增益值发送给测 量芯片，进而要求测量芯片通过模拟数字转换器（ADC)计算出该电力相关数值；当测量芯 片计算完毕后，微控制器读取电力相关数值；并将电力相关数值经数值范围转换后，所产生 的数据传送给计算机设备或一接收模块。 上述的电源侦测及校正方法还包括利用计算机设备执行下列步骤：调整相关设备 到特定的输入条件；确定测量模块是处于稳定的输入状态；发送校正指令给微控制器；等 待微控制器通知校正是否完成；当校正已完成时，发送一停止校正指令给微控制器，使微控 制器离开校正状态；从微控制器接收电力相关数值数据进行验证；确认校正后相关数值数 据是符合规格；否则重新发送另一校正指令给微控制器进行重新校正。 上述的电力相关数值包括电压值、电流值与功率值。 综上所述，本专利技术的技术方案与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。通过 上述技术方案，可达到相当的技术进步，并具有产业上的广泛利用价值，其至少具有下列优 占 · 1.本专利技术具有较高的精准度，直接从输入近端采集数据，更能准确的反应真实用 电状况；以及 2.本专利技术使用的单点数据采集比传统的多点采集更简单易调，数据线性度更高。 以下将以实施方式对上述的说明作详细的描述，并对本专利技术的技术方案提供更进 一步的解释。 【专利附图】【附图说明】 为让本专利技术的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说 明如下： 图1是依照本专利技术一实施例的一种电源侦测及校正装置的方块图； 图2是依照本专利技术一实施例的一种电源供应器电磁干扰滤波电路的电路图；以及 图3是依照本专利技术一实施例的一种测量模块电源侦测及校正装置的电路架构图； 图4是依照本专利技术一实施例的一种电源侦测及校正方法利用微控制器执行的流 程图；以及 图5是依照本专利技术另一实施例的一种电源侦测及校正方法利用计算机设备执行 的流程图。 【具体实施方式】 为了使本专利技术的叙述更加详尽与完备，可参照所附的附图及以下所述各种实施 例，附图中相同的号码代表相同或相似的元件。另一方面，众所周知的元件与步骤并未描述 于实施例中，以避免对本专利技术造成不必要的限制。 本专利技术的技术方案是一种电源侦测及校正装置，其可应用于电源供应器的输入参 数侦测、计算及精度校正，以提高输入参数读值的精度以满足客户系统的需求，或是广泛地 运用在相关的技术环节。以下将搭配图1?图3来说明此装置的【具体实施方式】。 图1是依照本专利技术一实施例的一种电源侦测及校正装置100的方块图。如图1 所示，电源侦测及校正装置100包括侦测单元110、测量芯片（Meter IC) 120与微控制器 (Micro Control Unit, MCU) 130。在架构上，侦测单元110电性连接外部电源140,测量芯 片120电性连接侦测单元110,而且微控制器电性连接测量芯片。该外部电源140可为一交 流（AC)电源或是供电网路（power grid)。 于使用时，侦测单元110侦测外部电源140的电流与电压。由于输入电流电压的 侦测点均选择在输入的近端，能采集到最接近真实的输入条件，从而获得更高的精度。 再者，采用测量芯片120进行电流电压的接收和计算，以基于输入电流与输入电 压来计算至少一电力相关数值(例如：电压值、电流值与功率值)，借此速度更快，且免除传 统微控制器的数据处理的负载，并且节省微控制器资源，并可提高数据回报速度本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电源侦测及校正装置，其特征在于，包括：一侦测单元，用以侦测一电源的一输入电流与一输入电压；一测量芯片，电性连接该侦测单元，用以基于该输入电流与该输入电压来计算至少一电力相关数值；以及一微控制器，电性连接该测量芯片，用以读取该测量芯片的电力相关数值，并且根据一计算机设备传送的一校正指令，以校正该测量芯片。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：沈伟雄，雷玉涛，
申请(专利权)人：台达电子电源东莞有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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