三极管放大测试电路制造技术

一种三极管放大测试电路，包括测试电路和被测三极管。测试电路包括压控电流源电压生成电路、压控电流源电路和三极管放大测量电路。所述压控电流源电压生成电路和压控电流源电路电连接；所述被测三极管电连接于压控电流源电路和三极管放大测量电路之间。本实用新型专利技术的测试电路简单，方便，能够快速地判读出三极管的类型和计算出待测三极管的放大倍数。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种三极管放大测试电路，包括测试电路和被测三极管。测试电路包括压控电流源电压生成电路、压控电流源电路和三极管放大测量电路。所述压控电流源电压生成电路和压控电流源电路电连接；所述被测三极管电连接于压控电流源电路和三极管放大测量电路之间。本技术的测试电路简单，方便，能够快速地判读出三极管的类型和计算出待测三极管的放大倍数。【专利说明】H极管放大测试电路
本技术涉及一种H极管的测试电路，尤其涉及一种H极管放大测试电路。
技术介绍
H极管放大倍数的测量是电子电路应用及工程中的一个非常重要的参数。对于该 个放大参数的测量，现有许多测量的方法和系统。其中有W单片机为核也，设计了H极管特 性参数数字化测量装置，该装置能够测量的参数较多，因此在测量H极管参数时经常被用 至IJ。但是该装置在H极管的放大倍数测量方面使用了数控恒流源方案。采用上述方案后， 存在如下问题；1、如果仅仅用来测试H极管放大倍数，测试系统相对而言就较为复杂。2、系 统在组建时投入成本过高。 还有一种比较典型的方式是采用电路布局和硬件相位补偿，通过测量多级放大器 与被测器件共同构成的闭环回路而产生的电路振荡，来计算H极管的放大倍数。该样的测 量方式也存在电路设计复杂的问题。
技术实现思路
为了解决现有H极管放大倍数的测量方案较为复杂的问题，本技术采用一种 简易的H极管的测试电路来对H极管的放大倍数进行测量。 为了实现上述目的；本技术采用的技术方案是；一种H极管放大测试电路， 包括测试电路和被测H极管。所述测试电路包括压控电流源电压生成电路、压控电流源电 路和H极管放大测量电路。所述压控电流源电压生成电路和压控电流源电路电连接；所述 被测H极管电连接于压控电流源电路和H极管放大测量电路之间。 进一步的，所述压控电流源电压生成电路包括可调电位器Rl和运算放大器Al。所 述可调电位器Rl的两端电连接于加载电压源和地之间；可调电位器Rl的可调端与运算放 大器Al的正输入端电连接；所述运算放大器Al的负输入端与其输出端电连接。 进一步的，所述压控电流源电路包括电阻R2和运算放大器A2。所述电阻R2电连 接于运算放大器Al的输出端和运算放大器A2的负输入端之间。运算放大器A2的负输入 端与被测H极管的集电极电连接，运算放大器A2的正输入端与参考电压源电连接，运算放 大器A2的输出端与被测H极管的发射集电连接。 进一步的，所述H极管放大倍数测量电路包括运算放大器A3、电阻R3、电阻R4和 电压表V。所述运算放大器A3的负输入端与被测H极管的基极电连接。所述电阻R3电连 接于运算放大器A3的负输入端和运算放大器A3的输出端之间。所述电阻R4电连接于运 算放大器A3和地之间。所述电压表V电连接于运算放大器A3的输出端与地之间。 采用本技术的技术方案后，运算放大器A2的正输入端与参考电压源相连。电 压表V测量H极管放大倍数测量电路的输出电压。根据电压的正负值，判断出待测的H极 管为NPN型H极管或PNP型H极管。根据电压表测出电压值和参考电压源的数值，通过相 应的公式得出H极管的放大倍数。本技术的测试电路简单，方便，能够快速地判读出H 极管的类型和计算出待测H极管的放大倍数。 【专利附图】【附图说明】： 图1 H极管放大测试电路的电路原理框图。 图2 H极管放大测试电路的电路原理图。 【具体实施方式】 下面结合附图对本技术优选的方案做进一步的阐述： 如图1、图2所示，一种H极管放大测试电路，包括测试电路和被测H极管。所述测 试电路包括压控电流源电压生成电路、压控电流源电路和H极管放大测量电路。 被测H极管为待测放大倍数目的双极性晶体管T，其共有H个端子；集电极C、发 射集e与基极b。 压控电流源电压生成电路包括可调电位器Rl和运算放大器A1。所述可调电位器 Rl的两端电连接于加载电压源和地之间；可调电位器Rl的可调端与运算放大器Al的正输 入端电连接；所述运算放大器Al的负输入端与其输出端电连接。 压控电流源电路包括电阻R2和运算放大器A2。所述电阻R2电连接于运算放大 器Al的输出端和运算放大器A2的负输入端之间。运算放大器A2的负输入端与被测H极 管的集电极C电连接，运算放大器A2的正输入端与参考电压源电连接，运算放大器A2的输 出端与被测H极管的发射集e电连接。 H极管放大倍数测量电路包括运算放大器A3、电阻R3、电阻R4和电压表V。所述 运算放大器A3的负输入端与被测H极管的基极b电连接。所述电阻R3电连接于运算放大 器A3的负输入端和运算放大器A3的输出端之间。所述电阻R4电连接于运算放大器A3和 地之间。所述电压表V电连接于运算放大器A3的输出端与地之间，用W测量H极管放大倍 数测量电路的输出电压V。 下面举例说明H极管的放大倍数是如何计算出来的。 由电路分析可知： __欠2作0)./咖线 根据计算公式P=--然后选择一组参数具体为；加载电压 +Vcc = +12V，参考电压化ef = +6V，Rl = IOOK Q，R2 =化 Q，R3 = R4 = IOK Q，运算放大 器 A1、A2、A3 均选用 0P07CP，如 Vi = 7V，则 Is = ImA,有 if2 = 1/目 mA，由于 V。= R2*if2,如 A 10(瓜 Q).l如聲 电压表V的读数为200mV，则有資= 0 --=50，该表明H极管的放大倍数 为50,且是NPN型H极管。如电压表V的读数为-200mV，H极管的放大倍数也是50,但H极 管却是PNP型的。该表明，本测量电路能够适用于NPN和PNP型H极管。 W上所述仅为本技术的较佳实施例，并不用W限制本技术，凡在本实用 新型的精神和原则之内，本领域的普通技术人员所作出的任何修改、等同替换、改进等，均 应包含在本技术的保护范围之内。【权利要求】1. 一种三极管放大测试电路，包括测试电路和被测三极管；其特征在于：所述测试电 路包括压控电流源电压生成电路、压控电流源电路和三极管放大测量电路；所述压控电流 源电压生成电路和压控电流源电路电连接；所述被测三极管电连接于压控电流源电路和三 极管放大测量电路之间。2. 根据权利要求1所述的三极管放大测试电路：其特征在于：所述压控电流源电压生 成电路包括可调电位器R1和运算放大器A1 ; 所述可调电位器R1的两端电连接于加载电压源和地之间；可调电位器R1的可调端与 运算放大器A1的正输入端电连接； 所述运算放大器A1的负输入端与其输出端电连接。3. 根据权利要求1所述的三极管放大测试电路：其特征在于：所述压控电流源电路包 括电阻R2和运算放大器A2; 所述电阻R2电连接于运算放大器A1的输出端和运算放大器A2的负输入端之间； 运算放大器A2的负输入端与被测三极管的集电极电连接；运算放大器A2的正输入端 与参考电压源电连接；运算放大器A2的输出端与被测三极管的发射集电连接。4. 根据权利要求1所述的三极管放大测试电路：其特征在于：所述三极管放大倍数测 量电路包括运算放大器A3、电阻R3、电阻R4和电压表V ; 所述运本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种三极管放大测试电路，包括测试电路和被测三极管；其特征在于：所述测试电路包括压控电流源电压生成电路、压控电流源电路和三极管放大测量电路；所述压控电流源电压生成电路和压控电流源电路电连接；所述被测三极管电连接于压控电流源电路和三极管放大测量电路之间。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李博俭，
申请(专利权)人：李博俭，
类型：新型
国别省市：甘肃;62