一种高精度试验室用电子天平制造技术

技术编号:11016795 阅读:141 留言:0更新日期:2015-02-11 08:02
本实用新型专利技术公开了一种高精度试验室用电子天平,包括机体,所述机体呈一面为斜面的梯形状,梯形的斜面为前面板,所述前面板上设置有待机按钮、第一显示屏、第二显示屏、中央显示屏、设置按钮和复位按钮,所述机体上面设置有相互分离的第一托盘、第二托盘和中央托盘,所述机体的后面设置有电源插座、保险丝座和开关,所述机体的底面四角处各设置有一个支脚。所述第一托盘、第二托盘和中央托盘均连接一压力传感器,所述压力传感器设置在机体内部。所述机体内底部设置有电路板。通过上述方式,本实用新型专利技术能够同时多组称重测量,节约了检验人员的时间,同时配比称重可提高配比的精确度,避免反复更换配比造成的失误,提高了配比的速度和精确度。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种高精度试验室用电子天平,包括机体,所述机体呈一面为斜面的梯形状,梯形的斜面为前面板,所述前面板上设置有待机按钮、第一显示屏、第二显示屏、中央显示屏、设置按钮和复位按钮,所述机体上面设置有相互分离的第一托盘、第二托盘和中央托盘,所述机体的后面设置有电源插座、保险丝座和开关,所述机体的底面四角处各设置有一个支脚。所述第一托盘、第二托盘和中央托盘均连接一压力传感器,所述压力传感器设置在机体内部。所述机体内底部设置有电路板。通过上述方式,本技术能够同时多组称重测量,节约了检验人员的时间,同时配比称重可提高配比的精确度,避免反复更换配比造成的失误,提高了配比的速度和精确度。【专利说明】—种高精度试验室用电子天平
本技术涉及称量领域,特别是涉及一种高精度实验室用电子天平。
技术介绍
电子天平以其精确的数值显示和称重的便捷性得到越来越广泛的应用。如今,电子天平已经逐渐取代传统的称重设备。检验科室常需要对试剂或样本进行称重或配比实验,现有的电子天平均是只有一个托盘,一次只能进行一次称重测量,反复的更换被称物极易造成错误的操作而造成不可挽回的后果。因此,需要一种高精度试验室用电子天平,能够同时进行多组测量,能够分别显示,使称重配比一次性解决。
技术实现思路
本技术需要解决的技术问题是提供一种高精度试验室用电子天平,能够快速精确的进行配比称量。 为解决上述技术问题,本技术采用的一个技术方案是:提供一种高精度试验室用电子天平,包括机体,所述机体呈一面为斜面的梯形状,梯形的斜面为前面板,所述前面板上设置有待机按钮、第一显示屏、第二显示屏、中央显示屏、设置按钮和复位按钮,所述机体上面设置有相互分离的第一托盘、第二托盘和中央托盘,所述机体的后面设置有电源插座、保险丝座和开关,所述机体的底面四角处各设置有一个支脚;以及, 所述第一托盘、第二托盘和中央托盘均连接一压力传感器,所述压力传感器设置在机体内部; 所述机体内底部设置有电路板,所述电路板通过导线连接所述压力传感器、第一显示屏、第二显示屏、中央显示屏、待机按钮、设置按钮、复位按钮和开关; 所述保险丝座为相互串联的两个,保险丝座内设有保险丝,串联保险丝座一端连接电源插座,一端连接开关。 进一步的,所述第一托盘与第一显示屏相对应连接,所述第二托盘与第二显示屏相对应连接,所述中央托盘与中央显示屏相对应连接。 进一步的,所述机体内还设有充电电池,所述电路板上设有充电单元,所述充电单元与充电电池电气连接。 进一步的,所述中央托盘高出所述第一托盘和第二托盘。 本技术的有益效果是:本技术通过相互分离式的称重托盘,实现同时进行多组称重,等重配比操作更方便更精确,可有效减少配比出错的几率。 【专利附图】【附图说明】 图1是本技术一种高精度试验室用电子天平的立体结构示意图; 图2是所述一种闻精度试验室用电子天平的后视图; 图3是所述一种高精度试验室用电子天平的侧视图; 附图中各部件的标记如下:1、机体,2、第一托盘,3、第二托盘,4、中央托盘,5、第一显示屏,6、第二显示屏,7、中央显示屏,8、待机按钮,9、设置按钮,10、复位按钮,U、压力传感器,12、电路板,13、支脚,14、电源插座,15、保险丝座,16、开关。 【具体实施方式】 下面结合附图对本技术的较佳实施例进行详细阐述,以使本技术的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解,从而对本技术的保护范围做出更为清楚明确的界定。 如图1所示,本技术实施例包括: 一种高精度试验室用电子天平,包括机体1,所述机体I呈一面为斜面的梯形状,梯形的斜面为前面板,所述前面板上设置有待机按钮8、第一显示屏5、第二显示屏6、中央显示屏7、设置按钮9和复位按钮10。待机按钮8控制电子天平进入待机状态和启动状态,节约电能,设置按钮9设置电子天平测重所需的参数,复位按钮10可将电子天平归零使测量更准确。 所述机体I上面设置有相互分离的第一托盘2、第二托盘3和中央托盘4,所述中央托盘4高出所述第一托盘2和第二托盘3,将三个托盘更好的分离开,防止物品跨不同托盘造成测量的质量偏差。所述第一托盘2、第二托盘3和中央托盘4相互分离和单独测重,可通过设置按钮9设定质量测量相等质量的物品。所述第一托盘2与第一显示屏5相对应连接,第一显示屏5显示第一托盘2的质量信息,所述第二托盘3与第二显示屏6相对应连接,第二显示屏6显示第二托盘3的质量信息,所述中央托盘4与中央显示屏7相对应连接,中央显示屏7显示中央托盘4的质量信息。 如图2所示,所述机体I的后面设置有电源插座14、保险丝座15和开关16,电源插座14接入外部交流电,所述保险丝座15为相互串联的两个,保险丝座15内设有保险丝,串联保险丝座15—端连接电源插座14,一端连接开关16,用于保护整个电子天平的电路安全。 如图3,所述机体I的底面四角处各设置有一个支脚13,所述支脚13支撑整个天平并使天平处于水平状态。 所述第一托盘2、第二托盘3和中央托盘4均连接一压力传感器11,所述压力传感器11设置在机体I内部,所述压力传感器11获取第一托盘2、第二托盘3和中央托盘4的重量信息。所述机体I内底部设置有电路板12,所述电路板12通过导线连接所述压力传感器11、第一显示屏5、第二显示屏6、中央显示屏7、待机按钮8、设置按钮9、复位按钮10和开关16。电路板12将压力传感器11的信息传递到第一显示屏5、第二显示屏6和中央显示屏7中显示。 所述机体I内还设有充电电池,所述电路板12上设有充电单元,所述充电单元与充电电池电气连接,在停电的状态下可启用充电电池供电工作。 本技术一种高精度试验室用电子天平的工作方式:通过分离的第一托盘2、第二托盘3和中央托盘4进行单独的称重,分别通过第一显示屏5、第二显示屏6和中央显示屏7显示重量信息,快速的进行多组检验材料的称重。需要配比称重时,将需要测量的检验材料分别放置在第一托盘2和第二托盘3上,同时称重配比,通过第一显示屏5和第二显示屏6读取重量信息,实现同时配比检验材料的目的。 本技术解决了多组检验材料反复称重的程序,可同时多组称重测量,节约了检验人员的时间。一键同时复位使电子天平可以更精确的称重测量。同时配比称重可提高配比的精确度,避免反复更换配比造成的失误,提高了配比的速度和精确度。 以上所述仅为本技术的实施例,并非因此限制本技术的专利范围,凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的
,均同理包括在本技术的专利保护范围内。【权利要求】1.一种高精度试验室用电子天平,包括机体(I),其特征在于,所述机体(I)呈一面为斜面的梯形状,梯形的斜面为前面板,所述前面板上设置有待机按钮(8)、第一显示屏(5)、第二显示屏(6)、中央显示屏(7)、设置按钮(9)和复位按钮(10),所述机体(I)上面设置有相互分离的第一托盘(2)、第二托盘(3)和中央托盘(4),所述机体(I)的后面设置有电源插座(14)、保险丝座(15)和开关(16),所述机体(I)的底面四角处各设置本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种高精度试验室用电子天平,包括机体(1),其特征在于,所述机体(1)呈一面为斜面的梯形状,梯形的斜面为前面板,所述前面板上设置有待机按钮(8)、第一显示屏(5)、第二显示屏(6)、中央显示屏(7)、设置按钮(9)和复位按钮(10),所述机体(1)上面设置有相互分离的第一托盘(2)、第二托盘(3)和中央托盘(4),所述机体(1)的后面设置有电源插座(14)、保险丝座(15)和开关(16),所述机体(1)的底面四角处各设置有一个支脚(13);以及,所述第一托盘(2)、第二托盘(3)和中央托盘(4)均连接一压力传感器(11),所述压力传感器(11)设置在机体(1)内部;所述机体(1)内底部设置有电路板(12),所述电路板(12)通过导线连接所述压力传感器(11)、第一显示屏(5)、第二显示屏(6)、中央显示屏(7)、待机按钮(8)、设置按钮(9)、复位按钮(10)和开关(16);所述保险丝座(15)为相互串联的两个,保险丝座(15)内设有保险丝,串联的保险丝座(15)一端连接电源插座(14),一端连接开关(16)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:董辰宇
申请(专利权)人:南京南大药业有限责任公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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