显示面板的测试单元结构与显示面板制造技术

本发明专利技术提供一种显示面板之测试单元结构，其设置于显示面板之周边区域，其中多条第一导线与第二导线由显示面板的显示区域延伸至周边区域，且第一导线与第二导线具有相同数量。测试单元结构包括设于第一测试区之第一测试晶体管、设于第二测试区之第二测试晶体管以及第一短路棒。第一测试晶体管之漏极分别电性连接于第一导线，第一测试晶体管之源极分别电性连接于第一短路棒，第二测试晶体管之源极分别电性连接于第一测试晶体管之漏极，第二测试晶体管之漏极则分别电性连接于第二导线，且第一测试区位于第二测试区与显示区域之间。

【技术实现步骤摘要】
显示面板的测试单元结构与显示面板
本专利技术系关于一种测试单元结构与包含该测试单元结构的显示面板，尤指一种能同时测试周边区域与显示区域之导线缺陷的测试单元结构及包含该测试单元结构的显示面板。
技术介绍
随着科技发展，各种显示面板已普遍应用于日常生活的各样电子产品中。一般而言，显示面板包含多个像素区域与多条导线，并通过这些导线传送信号至各像素以显示画面。因此，在显示面板的工艺中需要对导线进行测试以了解是否有断线等缺陷。习知测试方式系在显示面板之周边区域设置与各导线电性连接的短路配线，在进行测试后另以雷射刀将短路配线切断以使显示面板能正常运作。然而，上述测试方式的缺点是必须多一道切断短路配线之工序，且短路配线切断后便无法再被利用，却仍占用了部分面板空间。再者，由于导线在接近芯片处的线距会逐渐缩小，若欲在芯片附近对各导线另外设置测试元件，也会有空间不足之问题。
技术实现思路
本专利技术之目的之一在于提供一测试单元结构与包含该测试单元结构之显示面板，其中该测试单元结构包含设置于不同位置之第一测试晶体管与第二测试晶体管，以提供能同时测试出导线在周边区域与显示区域之部分是否有缺陷之功能。为达上述目的，本专利技术提供一种显示面板之测试单元结构，其至少设置于一显示面板之一周边区域，且该周边区域位于该显示面板之一显示区域的至少一侧，其中多条第一导线以及多条第二导线由该显示区域延伸至该周边区域，该些第一导线与该些第二导线具有相同数量，该测试单元结构包括：多个第一测试晶体管，设于一第一测试区内，其中该些第一测试晶体管之漏极分别电性连接于该些第一导线；多条第一短路棒(shortingbar)，其中该些第一测试晶体管之源极分别电性连接于该些第一短路棒；以及多个第二测试晶体管，设于一第二测试区，该第一测试区位于该第二测试区以及该显示区域之间，其中该些第二测试晶体管之源极分别电性连接于该些第一测试晶体管之漏极，而该些第二测试晶体管之漏极分别电性连接于该些第二导线。上述之显示面板之测试单元结构，其中该些第一测试晶体管位于该些第二测试晶体管以及该显示区域之间。上述之显示面板之测试单元结构，其另包括多条第二短路棒，各该第二短路棒分别电性连接于对应之该第二测试晶体管之漏极以及对应之该第二导线之间或电性连接于对应之该第一测试晶体管之漏极与对应之该第二测试晶体管之源极之间。上述之显示面板之测试单元结构，其中该等第二测试晶体管系位于该些第二短路棒以及该些第一短路棒之间。上述之显示面板之测试单元结构，其另包括一第一测试栅极线，电性连接于各该第一测试晶体管之栅极。上述之显示面板之测试单元结构，其另包括一第二测试栅极线，电性连接于各该第二测试晶体管之栅极。上述之显示面板之测试单元结构，其中该些第一导线与该些第二导线于一导线扇出区内之部分系以不平行之方式并排，该导线扇出区位于该第一测试区与该第二测试区之间，在该导线扇出区内，该些第一导线与该些第二导线之线距系由该导线扇出区邻近于该第一测试区之一侧向着邻近于该第二测试区之一侧缩小。上述之显示面板之测试单元结构，其中该些第一测试晶体管、该些第二测试晶体管以及通过同一个该测试单元结构之该些第一导线之数量系相同。上述之显示面板之测试单元结构，其中该等第一导线之数量为等于或大于3。为达到上述目的，本专利技术还提供一种显示面板，其具有一显示区域与一周围区域，该显示面板包括：多个上述之测试单元结构，并排设于该周围区域；一像素阵列，位于该显示区域内，该些第一导线以及该些第二导线系与该像素阵列电性连接；以及一芯片，与该些第一导线以及该些第二导线电性连接。上述之显示面板，另包括多个接合垫，各该接合垫分别电性连接于对应之该第一导线或该等第二导线与该芯片之间。附图说明图1为本专利技术测试单元结构与显示面板之第一实施例的等效电路示意图；图2为本专利技术测试单元结构之第一实施例的部分放大示意图；图3为本专利技术显示面板之第一实施例包含芯片的部分放大示意图；图4为本专利技术测试单元结构与显示面板之第二实施例的部分放大示意图。其中，附图标记：10测试单元结构12第一测试区14第二测试区16第一短路棒区20第二短路棒区22、22a、22b、22c、22d、22e、22f第一测试晶体管221、241源极222、242漏极223、243半导体通道层24、24a、24b、24c、24d、24e、24f第二测试晶体管26、26a、26b、26c、26d、26e、26f第一短路棒28、28a、28b、28c、28d、28e、28f第二短路棒30第一测试栅极线32第二测试栅极线100显示面板102显示区域104周边区域106基板108、108a、108b、108c、108d、108e、108f第一导线110、110a、110b、110c、110d、110e、110f第二导线112导线扇出区114芯片设置区116薄膜晶体管118液晶电容120第三导线122像素124、126接合垫128芯片第二方向X第一方向Y具体实施方式为使熟习本专利技术所属
之一般技艺者能更进一步了解本专利技术，下文特列举本专利技术之较佳实施例，并配合所附图式，详细说明本专利技术的构成内容及所欲达成之功效。请参考图1与图2，图1为本专利技术显示面板之测试单元结构与显示面板之第一实施例的等效电路示意图，而图2为本专利技术测试单元结构的部分放大示意图，其中本专利技术测试单元结构之各元件的详细结构设计与相对设置位置请参考图2。本专利技术提供了显示面板100与显示面板100之测试单元结构10。显示面板100包括基板106，其表面定义有显示区域102与周边区域104，且周边区域104位于显示区域102的至少一侧，如图1所示，本实施例之周边区域104位于显示区域102的下侧，但不以此为限。显示面板100另包括多条第一导线108与多条第二导线110设置于基板106上，由显示区域102延伸至周边区域104，例如第一导线108与第二导线110系以平行于第一方向Y的方向延伸。在较佳实施例中，第一导线108与第二导线110具有相同之数量。显示面板100还可包括多条第三导线120，第三导线120在显示区域102内沿着第二方向X延伸，在本实施例中，第一导线108与第二导线110为信号线，第三导线120为扫描线，因此第三导线120与各第一导线108、第二导线110相交而定义出多个像素区(也可称为次像素区)，而像素122分别位于像素区内，但不以此为限。因此，显示面板100可视为包括由多个像素122构成之像素阵列，电性连接于第一导线108与第二导线110。举例而言，本实施例之显示面板100为一液晶显示面板，各像素122内包括薄膜晶体管116与液晶电容118，液晶电容118可由一共通电极与一像素电极及两者之间所夹之绝缘层所构成(图未示)，其中当显示面板100在操作时共通电极系被提供共通电压，而像素电极电性连接于薄膜晶体管116的漏极，且各像素122分别用来产生红光、蓝光或绿光，但不以此为限。显示面板100也可为其他各种显示面板，且其像素122内所包含之元件不受前述所限。此外，显示面板100另包括设置于周边区域104的导线扇出区112与芯片设置区114，其中芯片设置区114为预定设置芯片之位置，而导线扇出区112位于芯片设置区114与显示区域102之间。第一导线1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示面板之测试单元结构，其特征在于，其至少设置于一显示面板之一周边区域，且该周边区域位于该显示面板之一显示区域的至少一侧，其中多条第一导线以及多条第二导线由该显示区域延伸至该周边区域，该些第一导线与该些第二导线具有相同数量，该测试单元结构包括：多个第一测试晶体管，设于一第一测试区内，其中该些第一测试晶体管之漏极分别电性连接于该些第一导线；多条第一短路棒(shorting bar)，其中该些第一测试晶体管之源极分别电性连接于该些第一短路棒；以及多个第二测试晶体管，设于一第二测试区，该第一测试区位于该第二测试区以及该显示区域之间，其中该些第二测试晶体管之源极分别电性连接于该些第一测试晶体管之漏极，而该些第二测试晶体管之漏极分别电性连接于该些第二导线。

【技术特征摘要】
2014.09.16 TW 1031319601.一种显示面板之测试单元结构，其特征在于，其至少设置于一显示面板之一周边区域，且该周边区域位于该显示面板之一显示区域的至少一侧，其中多条第一导线以及多条第二导线由该显示区域延伸至该周边区域，该些第一导线与该些第二导线具有相同数量，该测试单元结构包括：多个第一测试晶体管，设于一第一测试区内，其中该些第一测试晶体管之漏极分别电性连接于该些第一导线；多条第一短路棒(shortingbar)，其中该些第一测试晶体管之源极分别电性连接于该些第一短路棒；以及多个第二测试晶体管，设于一第二测试区，该第一测试区位于该第二测试区以及该显示区域之间，其中该些第二测试晶体管之源极分别电性连接于该些第一测试晶体管之漏极，而该些第二测试晶体管之漏极分别电性连接于该些第二导线。2.如权利要求1所述之显示面板之测试单元结构，其特征在于，其中该些第一测试晶体管位于该些第二测试晶体管以及该显示区域之间。3.如权利要求1所述之显示面板之测试单元结构，其特征在于，其另包括多条第二短路棒，各该第二短路棒分别电性连接于对应之该第二测试晶体管之漏极以及对应之该第二导线之间或电性连接于对应之该第一测试晶体管之漏极与对应之该第二测试晶体管之源极之间。4.如权利要求3所述之显示面板之测试单元结构，其特征在于，其中该等第二测试晶体管系位于该些第二短路棒以及...

【专利技术属性】
技术研发人员：张正良，汪砡华，彭彦毓，杨哲铭，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71