深度图的预测方法和检测像素点的方法及相关装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种深度图的预测方法和检测像素点的方法以及相关装置。其中，一种深度图的预测方法包括：获取当前块的特征值中的最大值和最小值；若当前块为深度图中的图像块，特征值为原始像素值；或若当前块为深度图中的图像块经过预测而得到的残差块，特征值为残差值；若当前块的特征值中的最大值与最小值之间的差值的绝对值大于或者等于第一阈值，根据当前块的部分像素点的特征值对当前块进行分区直流编码SDC处理，当前块的部分像素点中不包括当前块中的第一类像素点，当前块中的第一类像素点为当前块中的特征值大于或等于第二阈值的像素点。本发明专利技术实施例的方案有利于提高编码效率和合成视的重建图像质量。

【技术实现步骤摘要】
深度图的预测方法和检测像素点的方法及相关装置
本专利技术涉及图像处理
，具体涉及深度图的预测方法和检测像素点的方法及相关装置。
技术介绍
随着光电采集技术的发展及不断增长的高清数字视频需求，视频数据量越来越大，有限异构的传输带宽、多样化的视频应用不断地对视频编码效率提出了更高的需求，高性能视频编码(英文山丨油6^1016111: ^1(160⑶也叩，缩写:册70标准的制定工作因需启动。 视频编码压缩的基本原理是利用空域、时域和码字之间的相关性，尽可能去除冗余。目前流行做法是采用基于块的混合视频编码框架，通过预测(包括帧内预测和帧间预测〉、变换、量化、熵编码等操作实现视频编码压缩。帧内预测技术利用当前图像块的空间像素信息去除当前图像块的冗余信息以获得残差；帧间预测技术利用当前图像邻近的已编码或已解码图像像素信息去除当前图像块的冗余信息以获得残差。这种编码框架显示了很强生命力，册7(:也仍沿用这种基于块的混合视频编码框架。 三维(英文:301111611810118，缩写:30)视频编解码中为了能够反映出物体深度信息，需要对深度图进行编解码。其中，深度图与传统纹理图有不同的特性，深度图边界通常过渡尖锐，所以在编码中如果预测不准，则会产生较大的残差值，进而在变换量化后可能产生较大失真，且由于变换作用，失真不仅会出现在预测不准的像素位置，其它邻近像素位置也很可能产生失真，进而严重降低编码效率。 深度图是用于进行视点合成的，深度图的失真为几何失真，所以深度图的失真不能用普通的均方误差(英文:11162111 8^1181~6 61^01'，缩写:132)失真等来衡量，为此在传统方法中使用合成视的失真对深度图质量进行衡量。在一定程度上，当深度失真超过一定量时，深度失真本身的大小对合成视点失真并无太大影响。另一方面，深度图虽然在物体间边界变化尖锐，但是各个物体区域较平滑。 在深度图的平滑区域中，物体的深度一般是平滑过渡的。在深度图的生成过程中，由于物体间的相互遮挡，在物体边界部分由于遮挡经常可能造成生成的深度图的平滑区域中出现像素值突变的孤立像素点(其中，这类孤立像素点可称之为奇异像素点，或者特殊像素点，或者突变像素点，当然亦可能具有其他名称)，进而可能在对应残差块中出现预测残差值突变的孤立像素点，这类像素点往往较大不同于其周边的像素点。其中，由于深度图中像素点的像素值代表物体在场景中的相对深度位置，通过深度图中各个像素点得到的合成视图像因为这类像素点的存在而很可能会造成合成视的图像质量下降，因为这些像素点通常是不能反应真实的物体深度位置的。另一方面，这些像素点的存在也很可能会影响到深度图编码质量。 然而，传统技术中并未对块中的这类像素点进行特别考虑。如在分区直流编码(英文:86职16111:1186 00⑶也叩，缩写:30(3)中，对块内的分区直流分量估计中，这类像素点通常会造成分区直流分量估计不准确，进而造成预测精度不高，出现较大预测残差，从而影响编码效率，另外，这类像素点也很可能影响合成视的重建图像质量。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种深度图的预测方法和检测像素点的方法以及相关装置，以期提高编码效率和合成视的重建图像质量。 本专利技术第一方面提供一种深度图的预测方法，可包括: 获取当前块的特征值中的最大值和最小值；其中，若所述当前块为深度图中的图像块，所述特征值为原始像素值；或若所述当前块为深度图中的图像块经过预测而得到的残差块，所述特征值为残差值； 若所述当前块的特征值中的最大值与最小值之间的差值的绝对值大于或者等于第一阈值，根据所述当前块的部分像素点的特征值对所述当前块进行分区直流编码30(:处理，其中，所述当前块的部分像素点中不包括所述当前块中的第一类像素点，所述当前块中的第一类像素点为所述当前块中的特征值大于或等于第二阈值的像素点。 结合第一方面，在第一方面的第一种可能的实施方式中， 当第一绝对值小于或者等于第二绝对值时，所述第二阈值基于所述第二绝对值得至I』，当所述第一绝对值大于所述第二绝对值时，所述第二阈值基于所述第一绝对值得到； 其中，所述第一绝对值等于所述当前块的特征值的最大值与所述当前块的特征值的平均值之间差值的绝对值；所述第二绝对值等于所述当前块的特征值的最小值与所述当前块的特征值的平均值之间差值的绝对值。 结合第一方面的第一种可能的实施方式，在第一方面的第二种可能的实施方式中，所述当前块的特征值的平均值为所述当前块的部分或全部像素点的特征值的平均值，或者，所述当前块的特征值的平均值根据所述当前块的相邻块的特征值预测得到。 结合第一方面或第一方面的第一种可能的实施方式或第一方面的第二种可能的实施方式，在第一方面的第三种可能的实施方式中， 所述第一阈值的典型取值范围为[1, 10]； 和/或，所述第二阈值的典型取值范围为〔5，10〕。 结合第一方面或第一方面的第一种可能的实施方式或第一方面的第二种可能的实施方式或第一方面的第三种可能的实施方式，在第一方面的第四种可能的实施方式中，所述方法还包括: 从30(:偏移量候选集中确定30(:偏移量候选子集，所述30(]偏移量候选子集中的任意一个300偏移量属于所述300偏移量候选集； 从30(:偏移量候选子集中搜索最优30(:偏移量，所述30(]偏移量候选子集中的任意一个30(:偏移量与分区直流分量的和值小于或等于所述最大值且大于或等于所述最小值，其中，所述分区直流分量为所述30(:处理所对应的分区直流分量。 结合第一方面的第四种可能的实施方式，在第一方面的第五种可能的实施方式中，所述30(:偏移量候选子集中的30(:偏移量的个数小于所述30(:偏移量候选集中的30(:偏移量的个数。 本专利技术第二方面提供一种深度图的预测方法，包括: 获取当前块的特征值中的最大值和最小值；其中，若所述当前块为深度图中的图像块，所述特征值为原始像素值；或若所述当前块为深度图中的图像块经过预测而得到的残差块，所述特征值为预测残差值； 若所述当前块的特征值中的最大值与最小值之间的差值的绝对值大于或者等于第一阈值，对所述当前块中的第一类像素点的特征值进行校正处理以得到校正处理后的当前块，其中，所述当前块中的第一类像素点为所述当前块中的特征值大于或等于第二阈值的像素点； 利用校正处理后的所述当前块计算所述当前块的分区直流分量。 结合第二方面，在第二方面的第一种可能的实施方式中，第一类像素点？1为所述当前块中的任意一个第一类像素点， 其中，对所述第一类像素点？1的特征值进行校正处理包括: 从所述第一类像素点？1的1个邻域像素点中确定候选像素点；根据所述候选像素点的原始像素值对所述第一类像素点？1的特征值进行校正处理，所述1为正整数。 结合第二方面的第一种可能的实施方式，在第二方面的第二种可能的实施方式中，所述当前块中的第一类像素点？1的1个邻域像素点包括:像素点？11、像素点？12、像素点？13和像素点？14中的至少一个像素点；其中，所述像素点为所述第一类像素点向左偏移&1个像素位置而确定的像素点，所述像素点？12为所述第一类像素点向右偏移匕2个像素位置而确定的像素点，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种深度图的预测方法，其特征在于，包括：获取当前块的特征值中的最大值和最小值；其中，若所述当前块为深度图中的图像块，所述特征值为原始像素值；或若所述当前块为深度图中的图像块经过预测而得到的残差块，所述特征值为残差值；若所述当前块的特征值中的最大值与最小值之间的差值的绝对值大于或者等于第一阈值，根据所述当前块的部分像素点的特征值对所述当前块进行分区直流编码SDC处理，其中，所述当前块的部分像素点中不包括所述当前块中的第一类像素点，所述当前块中的第一类像素点为所述当前块中的特征值大于或等于第二阈值的像素点。

【技术特征摘要】
1.一种深度图的预测方法，其特征在于，包括: 获取当前块的特征值中的最大值和最小值；其中，若所述当前块为深度图中的图像块，所述特征值为原始像素值；或若所述当前块为深度图中的图像块经过预测而得到的残差块，所述特征值为残差值； 若所述当前块的特征值中的最大值与最小值之间的差值的绝对值大于或者等于第一阈值，根据所述当前块的部分像素点的特征值对所述当前块进行分区直流编码SDC处理，其中，所述当前块的部分像素点中不包括所述当前块中的第一类像素点，所述当前块中的第一类像素点为所述当前块中的特征值大于或等于第二阈值的像素点。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于， 当第一绝对值小于或者等于第二绝对值时，所述第二阈值基于所述第二绝对值得到，当所述第一绝对值大于所述第二绝对值时，所述第二阈值基于所述第一绝对值得到； 其中，所述第一绝对值等于所述当前块的特征值的最大值与所述当前块的特征值的平均值之间差值的绝对值；所述第二绝对值等于所述当前块的特征值的最小值与所述当前块的特征值的平均值之间差值的绝对值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于， 所述当前块的特征值的平均值为所述当前块的部分或全部像素点的特征值的平均值，或者，所述当前块的特征值的平均值根据所述当前块的相邻块的特征值预测得到。4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于， 所述第一阈值的典型取值范围为[1，10]； 和/或，所述第二阈值的典型取值范围为[5，10]。5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于， 所述方法还包括: 从SDC偏移量候选集中确定SDC偏移量候选子集，所述SDC偏移量候选子集中的任意一个SDC偏移量属于所述SDC偏移量候选集； 从SDC偏移量候选子集中搜索最优SDC偏移量，所述SDC偏移量候选子集中的任意一个SDC偏移量与分区直流分量的和值小于或等于所述最大值且大于或等于所述最小值，其中，所述分区直流分量为所述SDC处理所对应的分区直流分量。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于， 所述SDC偏移量候选子集中的SDC偏移量的个数小于所述SDC偏移量候选集中的SDC偏移量的个数。7.一种深度图的预测方法，其特征在于，包括: 获取当前块的特征值中的最大值和最小值；其中，若所述当前块为深度图中的图像块，所述特征值为原始像素值；或若所述当前块为深度图中的图像块经过预测而得到的残差块，所述特征值为预测残差值； 若所述当前块的特征值中的最大值与最小值之间的差值的绝对值大于或者等于第一阈值，对所述当前块中的第一类像素点的特征值进行校正处理以得到校正处理后的当前块，其中，所述当前块中的第一类像素点为所述当前块中的特征值大于或等于第二阈值的像素点； 利用校正处理后的所述当前块计算所述当前块的分区直流分量。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，第一类像素点Pi为所述当前块中的任意一个第一类像素点， 其中，对所述第一类像素点Pi的特征值进行校正处理包括: 从所述第一类像素点Pi的M个邻域像素点中确定候选像素点；根据所述候选像素点的原始像素值对所述第一类像素点Pi的特征值进行校正处理，所述M为正整数。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述当前块中的第一类像素点Pi的M个邻域像素点包括:像素点Pi1、像素点Pi2、像素点Pi3和像素点Pi4中的至少一个像素点；其中，所述像素点Pil为所述第一类像素点Pi向左偏移kl个像素位置而确定的像素点,所述像素点Pi2为所述第一类像素点Pi向右偏移k2个像素位置而确定的像素点,所述像素点Pi3为所述第一类像素点Pi向上偏移k3个像素位置而确定的像素点,所述像素点Pi4为所述第一类像素点Pi向下偏移k4个像素位置而确定的像素点；其中，所述kl、k2、k3和k4为正整数； 或者， 所述当前块中的第一类像素点Pi的M个邻域像素点包括:像素点Pil和像素点Pi3中的至少一个像素点；其中，所述像素点Pil为所述第一类像素点Pi向左偏移kl个像素位置而确定的像素点，所述像素点Pi3为所述第一类像素点Pi向上偏移k3个像素位置而确定的像素点；其中，所述kl和k3为正整数。10.根据权利要求8或9所述的方法，其特征在于， 所述候选像素点的原始像素值与所述第一类像素点Pi的预测像素值之间的差值的绝对值，小于或等于邻域像素点X的原始像素值与所述第一类像素点Pi的预测像素值之间的差值的绝对值，其中，所述邻域像素点X为所述M个邻域像素点中除所述候选像素点之外的任意一个邻域像素点。11.根据权利要求8至10任一项所述的方法，其特征在于， 所述根据所述候选像素点的原始像素值对所述第一类像素点Pi的特征值进行校正处理包括:将所述第一类像素点Pi的原始像素值校正为所述候选像素点的原始像素值；或者，将所述第一类像素点Pi的预测像素值与所述候选像素点的原始像素值的差值作为所述第一类像素点Pi的预测残差值。12.根据权利要求7至11任一项所述的方法，其特征在于， 所述第一阈值的典型取值范围为[1，10]； 和/或，所述第二阈值的典型取值范围为[5，10]。13.根据权利要求7至12任一项所述的方法，其特征在于， 当第一绝对值小于或者等于第二绝对值时，所述第二阈值基于所述第二绝对值得到，当所述第一绝对值大于所述第二绝对值时，所述第二阈值基于所述第一绝对值得到； 其中，所述第一绝对值等于所述当前块的特征值的最大值与所述当前块的特征值的平均值之间差值的绝对值；所述第二绝对值等于所述当前块的特征值的最小值与所述当前块的特征值的平均值之间差值的绝对值。14.一种检测像素点的方法，其特征在于，包括: 获取当前块的特征值中的最大值和最小值；其中，若所述当前块为深度图中的图像块，所述特征值为原始像素值；或若所述当前块为深度图中的图像块经过预测而得到的残差块，所述特征值为预测残差值； 若所述当前块的特征值中的最大值与最小值之间的差值的绝对值大于或者等于第一阈值，将所述当前块中的特征值大于或等于第二阈值的像素点判决为所述当前块中的第一类像素点。15.根据权利要求14所述的方法，其特征在于， 当第一绝对值小于或者等于第二绝对值时，所述第二阈值基于所述第二绝对值得到，当所述第一绝对值大于所述第二绝对值时，所述第二阈值基于所述第一绝对值得到； 其中，所述第一绝对值等于所述当前块的特征值的最大值与所述当前块的特征值的平均值之间差值的绝对值；所述第二绝对值等于所述当前块的特征值的最小值与所述当前块的特征值的平均值之间差值的绝对值。16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于， 所述当前块的特征值的平均值为所述当前块的部分或全部像素点的特征值的平均值，或者，所述当前块的特征值的平均值根据所述当前块的相邻块的特征值预测得到。17.根据权利要求14至16任一项所述的方法，其特征在于， 所述第一阈值的典型取值范围为[1，10]； 和/或，所述第二阈值的典型取值范围为[5，10]。18.一种深度图的预测方法，其特征在于，包括: 获取当前块的特征值中的最大值和最小值；其中，若所述当前块为深度图中的图像块，所述特征值为原始像素值；或若所述当前块为深度图中的图像块经过预测而得到的残差块，所述特征值为预测残差值； 从SDC偏移量候选集中确定SDC偏移量候选子集，所述SDC偏移量候选子集中的任意一个SDC偏移量属于所述SDC偏移量候选集； 从SDC偏移量候选子集中搜索最优SDC偏移量，所述SDC偏移量候选子集中的任意一个SDC偏移量与分区直流分量的和值小于或等于所述最大值且大于或等于所述最小值，其中，所述分区直流分量为对所述当前块进行SDC处理所对应的分区直流分量。19.根据权利要求18所述的方法，其特征在于， 所述SDC偏移量候选子集中的SDC偏移量的个数小于所述SDC偏移量候选集中的SDC偏移量的个数。20.一种深度图的预测装置，其特征在于，包括: 获取单元，用于获取当前块的特征值中的最大值和最小值；其中，...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱策，李帅，郑建铧，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44