一种测量介质折射率的方法技术

一种测量介质折射率的方法，包括以下步骤：（1）根据波长选择荧光粉，将荧光粉与有机溶剂混合振荡；（2）将荧光粉悬浮液涂到1～10mm厚的被测样品表面；（3）将涂膜样品置于透镜焦点处，使涂有薄膜的面正对透镜，打开激光器，使激光通过透镜聚焦到涂有薄膜的待测样品上，就能在薄膜上观察到一系列的同心圆光环；（4）测出第一个内侧光环的内半径或相邻光环内半径之差记为；（5）代入公式计算折射率。本发明专利技术能在近紫外、可见、近红外波段来测量平板介质的折射率。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】，包括以下步骤：（1）根据波长选择荧光粉，将荧光粉与有机溶剂混合振荡；（2）将荧光粉悬浮液涂到1～10mm厚的被测样品表面；（3）将涂膜样品置于透镜焦点处，使涂有薄膜的面正对透镜，打开激光器，使激光通过透镜聚焦到涂有薄膜的待测样品上，就能在薄膜上观察到一系列的同心圆光环；（4）测出第一个内侧光环的内半径或相邻光环内半径之差记为；（5）代入公式计算折射率。本专利技术能在近紫外、可见、近红外波段来测量平板介质的折射率。【专利说明】
本专利技术属于折射率测量
，涉及，尤其是涉及 一种无损、原位、快速测量可见波段透明或可见波段不透明但紫外或红外波段透明的平行 平板介质折射率的方法。
技术介绍
介质的折射率一直都是其重要的光学参数。利用全反射原理测量介质折射率是一 种简单方便、快速易行的方法。现有测量介质折射率的技术主要包括插针法、最小偏向角 法、阿贝折射仪法、光干涉法等。这些方法都有一定的缺陷；插针法要求被测介质比较厚，无 法测量mm级样品的折射率；最小偏向角法要求被测样品是特定的三棱状；阿贝折射仪法只 能测量一定范围内的折射率；光干涉法不但对仪器的精密度要求非常高而且操作复杂；且 这些方法都有一个共同的缺点就是不能测量不透明介质的折射率。如何简单快速精确地测 量出不透明介质折射率一直都是光学实验的重点和难点。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是，克服现有技术的不足，提供一种提供测量介质折 射率的方法，适用于测量mm级透明平板介质以及不透明平板介质的折射率。 本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是，一种提供测量介质折射率的方法， 包括以下步骤： (1) 根据波长选择合适的荧光粉，再将荧光粉与有机溶剂(如无水乙醇、丙酮、甲苯）混 合，所述荧光粉与有机溶剂的质量体积比为1?5g/100ml，振荡10?30min，制得荧光粉悬 浮液； (2) 将步骤（1)所制得的荧光粉悬浮液涂(可采用旋涂、滴定、喷洒等方式）到1?10_ 厚的被测样品表面(涂荧光粉悬浮液前测出样品的厚度h)，〔采用旋涂时，优选旋涂3?15 (多）层〕，直到用肉眼可以在介质表面清晰的看到雾状粉尘薄膜，制成涂膜样品； (3) 将涂膜样品置于透镜焦点处，使涂有薄膜的面正对透镜，打开激光器，使激光通过 透镜聚焦到涂有薄膜的待测样品上，就能在薄膜上观察到一系列的同心圆光环； (4) 测出步骤（3)中第一个内侧光环的内半径或相邻光环内半径之差记为(第一个内侧 光环的内半径等于相邻光环内半径之差）； (5) 根据上述测量结果代入公式 【权利要求】1. ，其特征在于，包括以下步骤： (1) 根据波长选择合适的荧光粉，再将荧光粉与有机溶剂混合，所述荧光粉与有机溶剂 的质量体积比为1?5g/100ml，振荡10?30min，制得荧光粉悬浮液； 在紫外波段选择紫外激发荧光粉；红外波段选择红外激发荧光粉；可见波段选择普通 荧光粉； (2) 将步骤（1)所制得的荧光粉悬浮液涂到1?IOmm厚的被测样品表面，涂荧光粉悬 浮液前测出样品的厚度h，直到用肉眼可以在介质表面清晰的看到雾状粉尘薄膜，制成涂膜 样品； (3) 将涂膜样品置于透镜焦点处，使涂有薄膜的面正对透镜，打开激光器，使激光通过 透镜聚焦到涂有薄膜的待测样品上，就能在薄膜上观察到一系列的同心圆光环； (4) 测出步骤（3)中第一个内侧光环的内半径或相邻光环内半径之差记为 d； (5) 根据上述测量结果代入公式" =Iil1I-IdI即可计算出被测样品的折射率η。 d2. 根据权利要求1所述的测量介质折射率的方法，其特征在于，步骤（1)中，所述有机 溶剂为无水乙醇、丙酮、甲苯。3. 根据权利要求1或2所述的测量介质折射率的方法，其特征在于，步骤（1)中，可见 波段选择的普通荧光粉用粉笔灰替代。4. 根据权利要求1或2所述的测量介质折射率的方法，其特征在于，步骤（2)中，涂荧 光粉悬浮液的方式为旋涂、滴定或喷洒。5. 根据权利要求4所述的测量介质折射率的方法，其特征在于，采用旋涂时，旋涂3? 15层。【文档编号】G01N21/41GK104316495SQ201410685691【公开日】2015年1月28日 申请日期:2014年11月26日 优先权日:2014年11月26日 【专利技术者】肖思, 刘圣, 张景迪, 王鹏, 何军, 王道伟 申请人:中南大学本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量介质折射率的方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）根据波长选择合适的荧光粉，再将荧光粉与有机溶剂混合，所述荧光粉与有机溶剂的质量体积比为1～5g/100ml，振荡10～30min，制得荧光粉悬浮液；在紫外波段选择紫外激发荧光粉；红外波段选择红外激发荧光粉；可见波段选择普通荧光粉； （2）将步骤（1）所制得的荧光粉悬浮液涂到1～10mm厚的被测样品表面，涂荧光粉悬浮液前测出样品的厚度h，直到用肉眼可以在介质表面清晰的看到雾状粉尘薄膜，制成涂膜样品；（3）将涂膜样品置于透镜焦点处，使涂有薄膜的面正对透镜，打开激光器，使激光通过透镜聚焦到涂有薄膜的待测样品上，就能在薄膜上观察到一系列的同心圆光环；（4）测出步骤（3）中第一个内侧光环的内半径或相邻光环内半径之差记为；（5）根据上述测量结果代入公式即可计算出被测样品的折射率n。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：肖思，刘圣，张景迪，王鹏，何军，王道伟，
申请(专利权)人：中南大学，
类型：发明
国别省市：湖南;43