一种便携式大面积α、β表面沾污检定源盒制造技术

本发明专利技术提供了一种便携式大面积α、β表面沾污检定源盒，用于电离辐射计量检定、校准α、β表面沾污仪。本发明专利技术含有置换式探头托放面板、底端嵌卡窗口、后端有机玻璃面板、弧形嵌取端片板、检定源盒盖。本发明专利技术中的方形托放框与待检仪器的探测探头对应设置，固定探头几何中心位置，防止被检探头位移。在检定、校准α、β表面沾污仪的过程中，根据不同探头保护栅网与标准放射源表面之间距离的要求来选择不同规格的便携式大面积α、β表面沾污检定源盒。本发明专利技术能够安全快捷避免直接碰触检定用源，操作简单有效保护检定用源由于误操作造成放射性污染。本发明专利技术制作轻巧便于携带，能够提高检定、校准大面积α、β表面沾污仪的工作效率。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供了一种便携式大面积α、β表面沾污检定源盒，用于电离辐射计量检定、校准α、β表面沾污仪。本专利技术含有置换式探头托放面板、底端嵌卡窗口、后端有机玻璃面板、弧形嵌取端片板、检定源盒盖。本专利技术中的方形托放框与待检仪器的探测探头对应设置，固定探头几何中心位置，防止被检探头位移。在检定、校准α、β表面沾污仪的过程中，根据不同探头保护栅网与标准放射源表面之间距离的要求来选择不同规格的便携式大面积α、β表面沾污检定源盒。本专利技术能够安全快捷避免直接碰触检定用源，操作简单有效保护检定用源由于误操作造成放射性污染。本专利技术制作轻巧便于携带，能够提高检定、校准大面积α、β表面沾污仪的工作效率。【专利说明】一种便携式大面积α、β表面沾污检定源盒
本专利技术属于电离辐射计量领域，具体涉及一种便携式大面积α、β表面沾污检定源盒，用于检定、校准α、β表面沾污仪和放置大面积α、β标准放射源。
技术介绍
目前，在辐射测量或辐射防护过程中需使用大量的α、β表面沾污仪。由于计量检定规程JJG478-96规定，对α、β表面沾污仪进行检定、校准时需有严格的实验操作平台。以往对α、β表面沾污仪检定、校准时，先把大面积α、β标准放射源从源盒中取出，再置入检定架上进行检定、校准，反复操作易对标准放射源的活性区造成损坏，引起不必要的放射性污染。同时其工作效率不高，检定架操作相对繁琐。
技术实现思路
为了克服已有技术中反复操作引起不必要的污染，工作效率较低的不足，本专利技术提供一种便携式大面积α、β表面沾污检定源盒。 本专利技术采用的技术方案是:本专利技术的便携式大面积α、β表面沾污检定源盒，其特点是，所述的检定源盒包括置换式探头托放面板、嵌卡窗口、有机玻璃面板、弧形嵌取端片板、检定源盒盖。其中，所述的置换式探头托放面板含有方形托放框、圆弧转角、倾斜面、控制面板、方形探测孔，所述的弧形嵌取端片板的前端为矩形，后端为弧形，所述的嵌卡窗口含有弧形嵌取端片板卡点、条形标准源嵌端。其连接关系是，所述的置换式探头托放面板中心设置有方形托放框，控制面板位于方形托放框内，方形托放框、控制面板的四个端角均为圆弧转角，在方形托放框和控制面板之间有倾斜面，控制面板中心设置有方形探测孔，置换式探头托放面板前端设置有置入式半圆弧。所述的嵌卡窗口的前端设有弧形凹槽，弧形嵌取端片板卡点设置在弧形凹槽左右两端处，弧形嵌取端片板嵌入嵌卡窗口的弧形凹槽内，在嵌卡窗口的前端还设置有条形标准源嵌端。所述的嵌卡窗口的后端通过固定螺钮与有机玻璃面板固定连接，置换式探头托放面板通过固定螺钮与其下方的嵌卡窗口固定连接。检定源盒盖设置于置换式探头托放面板上。 所述的置换式探头托放面板、方形托放框、置入式半圆弧均设置在同一轴心线上，所述的弧形嵌取端片板后端的弧形与嵌卡窗口中的弧形凹槽对应设置。 所述的方形托放框、倾斜面、控制面板、方形探测孔与待检仪器的探测探头对应设置，固定探头几何中心位置，防止被检探头位移。 所述的置入式半圆弧、弧形嵌取端片板卡点、条形标准源嵌端以便于标准放射源的置入和取出，同时固定控制检定用源表面距探测探头保护栅网之间的距离，检定源盒起到保护标准放射源裸露部分和防尘的作用。 根据电离辐射计量检定规程JJG478-96规定，在检定、校准大面积α、β表面沾污仪的过程中，不同探头的保护栅网与标准放射源表面之间距离有不同要求，需选择不同规格的便携式大面积α、β表面沾污检定源盒。其中，放置α标准平面源时，其源表面与探测窗口的距离为5_，用于检定、校准α、β表面沾污仪的α探头。放置β标准平面源时，其源表面与探测窗口的距离为10mm，用于检定、校准α、β表面沾污仪的β探头。本专利技术能够安全快捷避免直接碰触检定用源，操作简单有效保护检定用源由于误操作造成放射性污染。本专利技术制作轻巧便于携带，能够提高检定、校准大面积α、β表面沾污仪的工作效率。 本专利技术的有益效果是，避免反复将标准放射源从源盒中取出、置入检定架上的操作，从而造成检定用源活性区破损，引起放射性污染；避免因调节标准放射源表面与探头保护栅网间距的操作，给检定用源造成损坏；保证电离辐射计量检定、校准量值传递的准确可靠性。本专利技术的结构简单、操作快捷，有效提高检定、校准α、β表面沾污仪的工作效率，重量轻巧便于外出检定、校准携带。 【专利附图】【附图说明】 图1为本专利技术的便携式大面积α、β表面沾污检定源盒的结构剖析分解图；图2a为本专利技术的俯视图；图2b为本专利技术中的弧形嵌取端片板结构示意图；图中，1.置换式探头托放面板 2.嵌卡窗口3.有机玻璃面板 4.弧形嵌取端片板 5.固定螺钮 6.方形托放框 7.圆弧转角 8.倾斜面9.控制面板 10.方形探测孔 11.置入式半圆弧 12.弧形嵌取端片板卡点13.条形标准源嵌端。 【具体实施方式】 下面结合附图和实施例对本专利技术进行详细描述实施例1图1为本专利技术的便携式大面积α、β表面沾污检定源盒的结构剖析分解图，图2a为本专利技术的俯视图，图2a中去除了检定源盒盖，图2b为本专利技术中的弧形嵌取端片板结构示意图。 在图1 一图2中，本专利技术的便携式大面积α、β表面沾污检定源盒，包括置换式探头托放面板1、嵌卡窗口 2、有机玻璃面板3、弧形嵌取端片板4、检定源盒盖，其中，所述的置换式探头托放面板I含有方形托放框6、圆弧转角7、倾斜面8、控制面板9、方形探测孔10，所述的弧形嵌取端片板4的前端为矩形，后端为弧形，所述的嵌卡窗口 2含有弧形嵌取端片板卡点12、条形标准源嵌端13。其连接关系是，所述的置换式探头托放面板I中心设置有方形托放框6,控制面板9位于方形托放框6内，方形托放框6、控制面板9的四个端角均为圆弧转角，在方形托放框6和控制面板9之间有倾斜面8，控制面板9中心设置有方形探测孔10，置换式探头托放面板I前端设置有置入式半圆弧11。所述的嵌卡窗口 2的前端设有弧形凹槽，弧形嵌取端片板卡点12设置在弧形凹槽左右两端处，弧形嵌取端片板4嵌入嵌卡窗口 2的弧形凹槽内，在嵌卡窗口 2的前端还设置有条形标准源嵌端13，所述的嵌卡窗口2的后端通过固定螺钮与有机玻璃面板3固定连接，置换式探头托放面板I通过固定螺钮5与其下方的嵌卡窗口 2固定连接。检定源盒盖设置于置换式探头托放面板I上。 所述的置换式探头托放面板1、方形托放框6、置入式半圆弧11均设置在同一轴心线上，所述的弧形嵌取端片板4后端的弧形与嵌卡窗口 2中的弧形凹槽对应设置。 所述的方形托放框6、倾斜面8、控制面板9、方形探测孔10与待检仪器的探测探头对应设置，固定探头几何中心位置，防止被检探头位移。 本实施例中，所述的固定螺钮5为数个固定螺钮中的一个；所述的方形托放框6、控制面板9的四个端角均为圆弧转角，圆弧转角7为数个圆弧转角中的一个；所述的弧形嵌取端片板卡点12为两个弧形嵌取端片板卡点中的一个；所述的条形标准源嵌端13为两个条形标准源嵌端中的一个。 根据电离辐射计量检定规程JJG478-96规定，在检定、校准大面积α、β表面沾污仪的过程中，不同探头的保护栅网与标准放射源表面之间距离有不同要求，需选择不同规格的便携式大面积α、β表面沾污检定源盒。其中，放置α标准平面源时，其源表面与探测窗口的距离为5_，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种便携式大面积α、β表面沾污检定源盒，其特征在于:所述的检定源盒包括置换式探头托放面板（1）、嵌卡窗口（2）、有机玻璃面板（3）、弧形嵌取端片板（4）、检定源盒盖，其中，所述的置换式探头托放面板（1）含有方形托放框（6）、圆弧转角（7）、倾斜面（8）、控制面板（9）、方形探测孔（10）；所述的弧形嵌取端片板（4）的前端为矩形，后端为弧形；所述的嵌卡窗口（2）含有弧形嵌取端片板卡点（12）、条形标准源嵌端（13）；其连接关系是，所述的置换式探头托放面板（1）中心设置有方形托放框（6），控制面板(9)位于方形托放框（6）内，方形托放框（6）、控制面板(9)的四个端角均为圆弧转角，在方形托放框(6)和控制面板(9)之间有倾斜面(8),控制面板（9）中心设置有方形探测孔（10），置换式探头托放面板（1）前端设置有置入式半圆弧（11）；所述的嵌卡窗口（2）的前端设有弧形凹槽，弧形嵌取端片板卡点（12）设置在弧形凹槽左右两端处，弧形嵌取端片板（4）嵌入嵌卡窗口（2）的弧形凹槽内，在嵌卡窗口（2）的前端还设置有条形标准源嵌端（13），所述的嵌卡窗口（2）的后端通过固定螺钮与有机玻璃面板（3）固定连接，置换式探头托放面板（1）通过固定螺钮（5）与其下方的嵌卡窗口（2）固定连接；检定源盒盖设置于置换式探头托放面板（1）上。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨小艳，郑慧，涂俊，卓仁鸿，文德智，毛本将，成晶，丁大杰，吕己禄，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院核物理与化学研究所，
类型：发明
国别省市：四川;51