【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】磁记录介质基板用玻璃及其利用
本专利技术涉及适合于作为硬盘等的磁记录介质的基板材料的磁记录介质基板用玻 璃、使用该玻璃的磁记录介质基板及其制造方法、为了得到该基板而能使用的磁记录介质 基板坯件(blank)、具备该基板的磁记录介质及其制造方法、以及具备该基板的磁记录装 置。
技术介绍
伴随着因特网等信息相关基础技术的进展,磁盘、光盘等信息记录介质的需求也 在快速地增加。计算机等的磁存储装置的主要构成要素是磁记录介质和磁记录再生用的磁 头。作为磁记录介质,已知有软盘和硬盘。其中,作为硬盘(磁盘)用的基板材料,例如有 铝基板、玻璃基板、陶瓷基板、碳基板等,在实用上,根据尺寸、用途而主要使用铝基板和玻 璃基板。在笔记本个人计算机用硬盘驱动器中,除了耐冲击性以外,伴随着磁记录介质的高 密度记录化对提高盘基板的表面平滑性的要求变得越来越严格,因此,用表面硬度、刚性差 的铝基板来应对是存在极限的。因此玻璃基板的开发成为当前主流(例如,参照文献1? 10)。 此外近年来,以谋求磁记录介质的更进一步的高密度记录化为目的,正在探讨研 究使用Fe - Pt类、Co - Pt类等的磁各向异性能高的磁性材料(高Ku磁性材料)(例如, 参照文献11)。虽然为了高记录密度化需要减小磁性粒子的粒径,但是另一方面,当粒径变 小时,由热涨落造成的磁特性的劣化会成为问题。因为高Ku磁性材料不易受到热涨落的影 响,所以期待会有助于高密度记录化。 文献1 :日本特表平9 一 507206号公报; 文献2 :日本特开2007-51064号公报; 文献3 ...
【技术保护点】
一种磁记录介质基板用玻璃,其中,作为必要成分包含SiO2、Li2O、Na2O、以及从由MgO、CaO、SrO及BaO构成的组中选择的一种以上的碱土类金属氧化物,MgO的含量相对于MgO、CaO、SrO及BaO的合计含量的摩尔比(MgO/(MgO+CaO+SrO+BaO))为0.80以上,杨氏模量为80GPa以上,玻璃化转变温度为620℃以上。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.05.16 US 61/647,6441. 一种磁记录介质基板用玻璃,其中, 作为必要成分包含Si02、Li20、Na20、以及从由MgO、CaO、SrO及BaO构成的组中选择的 一种以上的碱土类金属氧化物, MgO的含量相对于MgO、CaO、SrO及BaO的合计含量的摩尔比(MgO/ (MgO+CaO+SrO+BaO))为 0· 80 以上, 杨氏模量为80GPa以上, 玻璃化转变温度为620°C以上。2. -种磁记录介质基板用玻璃,其中, 作为必要成分包含Si02、Li20、Na20、以及从由MgO、CaO、SrO及BaO构成的组中选择的 一种以上的碱土类金属氧化物, CaO的含量相对于MgO、CaO、SrO及BaO的合计含量的摩尔比(CaO/ (MgO+CaO+SrO+BaO))为 0· 20 以下, 杨氏模量为80GPa以上, 玻璃化转变温度为620°C以上。3. 如权利要求1或2所述的磁记录介质基板用玻璃,其中,在100?300°C的平均线膨 胀系数为70X10_V°C以上。4. 一种磁记录介质基板用玻璃,其中, 作为必要成分包含Si02、Li20、Na20、以及从由MgO、CaO、SrO及BaO构成的组中选择的 一种以上的碱土类金属氧化物, MgO的含量相对于MgO、CaO、SrO及BaO的合计含量的摩尔比(MgO/ (MgO+CaO+SrO+BaO))为 0· 80 以上, 在100?300°C的平均线膨胀系数为70X1(TV°C以上, 玻璃化转变温度为620°C以上。5. -种磁记录介质基板用玻璃,其中, 作为必要成分包含Si02、Li20、Na20、以及从由MgO、CaO、SrO及BaO构成的组中选择的 一种以上的碱土类金属氧化物, CaO的含量相对于MgO、CaO、SrO及BaO的合计含量的摩尔比(CaO/ (MgO+CaO+SrO+BaO))为 0· 20 以下, 在100?300°C的平均线膨胀系数为70X1(TV°C以上, 玻璃化转变温度为620°C以上。6. 如权利要求4或5所述的磁记录介质基板用玻璃,其中,杨氏模量为80GPa以上。7. 如权利要求1?6中任一项所述的磁记录介质基板用玻璃,其中,比模量为30MNm/ kg以上。8. 如权利要求1?7中任一项所述的磁记录介质基板用玻璃,其中,其为化学强化用玻 3? 〇9. 一种磁记录介质基板,其中,由权利要求1?8中任一项所述的磁记录介质基板用玻 璃构成。10. -种磁记录介质基板,其中,对权利要求1?8中任一项所述的磁记录介质基板用 玻璃进行化学强化而成。11. 如权利要求9或10所述的磁记录介质基板,其中,由断裂韧性值为0. 9MPa ·πι1/2以 上的玻璃构成。12. 如权利要求10所述的磁记录介质基板,其中,其由如下化学强化玻璃构成,在该化 学强化玻璃中,在通过巴比涅法求出的与两个主表面垂直的假想截面中的应力分布中,拉 伸应力分布是凸形状,但是该凸形状不包含向压缩应力侧凹陷的凹部。13. 如权利要求10所述的磁记录介质基板,其中,其由如下化学强化玻璃构成,在该化 学强化玻璃中,通过巴比涅法求出的拉伸应力的平均值Tav与拉伸应力的最大值Tmax满足 下述式(1): Tav/Tmax >...
【专利技术属性】
技术研发人员:松本奈绪美,桥本和明,
申请(专利权)人:HOYA株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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