【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于化学气相沉积的具有铁磁流体密封件的转盘反应器这里使用的章节标题仅出于文章组织方面的考虑,不应解释成按任何方式限制在本申请中描述的主题。对于相关申请的交叉参考本申请要求对于如下申请的优先权:美国临时专利申请No.61/648,640,在2012年5月18日提交,标题为“用于化学气相沉积的转盘”;美国临时专利申请No.61/781,858,在2013年3月14日提交,标题为“用于化学气相沉积的具有铁磁流体密封件的转盘反应器”;以及美国临时专利申请No.61/648,646,在5/18/2012提交,标题为“用于化学气相沉积的基片载体”。美国临时专利申请No.61/648,640、No.61/781,858以及No.61/648,646的全部内容通过参考包括在里。
技术介绍
气相取向附生(VPE)是一种类型的化学气相沉积(CVD),它涉及将包含化学物种的一种或多种气体引导到基片的表面上,从而相应物种在基片的表面上反应并且形成薄膜。例如,VPE系统可用来在基片上生长化合物半导体。材料典型地通过将至少一种前体气体,并且在多种工艺过程中,将至少第一和第二前体气体注入到处理室中而生长,该处理室包含晶体基片。化合物半导体,如III-V族半导体,可通过使用氢化物前体气体和有机金属前体气体在基片上生长各种半导体材料层而形成。金属有机气相取向附生(MOVPE)是一种气相沉积方法,这种气相沉积方法通常用来使用金属有机物和氢化物的表面反应来生长化合物半导体,这些金属有机物和氢化物包含要求的化学元素。例如,磷化铟可通过引入三甲基铟和磷化氢而在反应器中在基片上生长。在业内使用的用于MOV ...
【技术保护点】
一种用于化学汽相沉积的转盘反应器,所述反应器包括:a)真空室;b)铁磁流体穿通件,马达轴通过所述铁磁流体穿通件进入真空室中,所述铁磁流体穿通件包括上部和下部铁磁流体密封件;c)马达,其定位在所述上部和下部铁磁流体密封件之间的大气区域中,所述马达联接至所述马达轴;d)转台,其定位在所述真空室中,并且联接至所述马达轴,从而所述马达按所需转速转动所述转台;e)介电支架,其联接至所述转台,从而所述转台当由所述轴驱动时转动所述介电支架;f)基片载体,其定位在所述介电支架上,所述基片载体在用于化学汽相沉积处理的所述真空室中支承基片;以及g)加热器,其定位成靠近所述基片载体,所述加热器将所述基片载体的温度控制到化学汽相沉积工艺过程所需的温度。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.05.18 US 61/648,646;2012.05.18 US 61/648,640;1.一种用于化学气相沉积的转盘反应器,所述反应器包括:a)真空室;b)铁磁流体穿通件,马达轴通过所述铁磁流体穿通件进入真空室中,所述铁磁流体穿通件包括上部和下部铁磁流体密封件;c)马达,其定位在所述上部和下部铁磁流体密封件之间的大气区域中,所述马达联接至所述马达轴;d)转台,其定位在所述真空室中,并且联接至所述马达轴,从而所述马达按所需转速转动所述转台;e)介电支架,其联接至所述转台,从而所述转台当由所述轴驱动时转动所述介电支架;f)基片载体,其定位在所述介电支架上,所述基片载体在用于化学气相沉积处理的所述真空室中支承基片;以及g)加热器,其定位成靠近所述基片载体,所述加热器将所述基片载体的温度控制到化学气相沉积工艺过程所需的温度;其中,所述介电支架由一种材料形成,这种材料在被处理的基片与所述真空室中的冷区域之间形成隔热屏障。2.根据权利要求1所述的反应器,其中,所述铁磁流体穿通件形成空心导管,所述空心导管用来使电极或冷却管线中的至少一者通过,所述电极向所述加热器供电,所述冷却管线控制在所述真空室中的温度。3.根据权利要求1所述的反应器,其中,所述马达直接联接至所述马达轴。4.根据权利要求1所述的反应器,其中,所述马达轴以机械方式联接至所述转台。5.根据权利要求1所述的反应器,其中,所述马达轴以磁性方式联接至所述转台。6.根据权利要求1所述的反应器,其中,所述马达轴在偏离所述转台的转动中心的区域中联接至所述转台。7.根据权利要求1所述的反应器,其中,所述马达轴由介电材料形成。8.根据权利要求1所述的反应器,其中,所述介电支架用柔性紧固件联接至所述转台。9.根据权利要求8所述的反应器,其中,所述柔性紧固件包括倾斜螺旋弹簧,该倾斜螺旋弹簧将所述介电支架对中并且锁定至所述转台。10.根据权利要求1所述的反应器,其中,所述介电支架由介电材料形成,该介电材料具有小于10W/(m·K)的导热率。11.根据权利要求1所述的反应器,其中,所述介电支架由石英形成。12.根据权利要求1所述的反应器,其中,所述介电支架包括圆柱形外表面。13.根据权利要求1所述的反应器,其中,所述基片载体通过在所述介电支架的顶部表面与所述基片载体的底部表面之间的摩擦而被保持在所述介电支架的顶部上。14.根据权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员:L·S·巴里斯,R·A·科穆纳莱,R·P·弗雷姆根,A·I·古拉雷,T·A·卢斯,R·W·米尔盖特三世,J·D·波洛克,
申请(专利权)人:维易科精密仪器国际贸易上海有限公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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