一种绝缘测试电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种绝缘测试电路，其限流保护电阻R8的两端分别连接电源和控制开关Q1的漏极，源极引出后分成两路，其一个支路连接控制开关Q3的漏极，源极连接钳位分压保护电阻R9后接地，控制开关Q3的控制端连接控制模块C1，另一个支路连接被测绝缘电阻Rx1后连接控制开关Q2的漏极，源极引出后也分成两路，其中一路连接过压保护电阻VAR后接地，另一路依次连接采样电阻R7和采样电阻R6后接地，模拟复用开关芯片U1的管脚5和6分别接在采样电阻R7和R6之间、控制开关Q2的源极和采样电阻R7之间，模拟复用开关芯片U1的管脚4和10～13连接并经过采样参考电阻R5后接地。本实用新型专利技术能够消除测试打火问题，并提高绝缘测试效率、测试分辨率和自身的保护能力。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电子测试
，更具体的说，特别涉及一种PCB光板自动化测试设备的高压绝缘测试电路。
技术介绍
飞针测试机使用直流高压测试源对PCB板进行绝缘测试时，两组测试探针中分别需要选通高压测试源、零电压状态电路；若提前选通，在被测网络间存在短路时会造成电压瞬间变化和放电、打火，损坏被测PCB板，造成生产成本浪费和额外赔偿，产生的浪涌电流还会摧毁绝缘测试采样电路；若待测试探针到位后再选通加载测试电路，需要增加软件判断时间和IO、开关的响应时间，实际的测试效率降低。还有测试探针在非测试时或者系统维护、调试时带有高压是一种潜在危险，容易发生人身触电的安全事故。另外，高压绝缘测试采用单一的采样电阻会存在测试分辨率低的问题，若被测网络间的绝缘电阻处于设定阀值附近，则有可能发生误测的不良现象；单个采样电阻可实现的测试范围也受到限制，对采样通道的增益要求较多。
技术实现思路
本技术的目的在于针对现有技术存在的技术问题，提供一种绝缘测试电路，能够提高绝缘测试效率，消除了测试的放电、打火问题，降低了触电的可能性，同时提高了绝缘电阻的测试分辨率和绝缘测试电路自身的保护能力。为了解决以上提出的问题，本技术采用的技术方案为：一种绝缘测试电路，该测试电路包括限流保护电阻R8、控制开关Q1、控制开关Q2、控制开关Q3、钳位分压保护电阻R9、被测绝缘电阻Rx1、采样电阻R6、采样电阻R7、过压保护电阻VAR、控制模块C1和模拟复用开关芯片U1；所述限流保护电阻R8的一端连接电源，另一端连接控制开关Q1的漏极，控制开关Q1的源极引出后分成两个之路，其中一个支路连接控制开关Q3的漏极，控制开关Q3的源极连接钳位分压保护电阻R9后接地，控制开关Q3的控制端连接控制模块C1，控制开关Q1源极的另一个支路连接被测绝缘电阻Rx1后连接控制开关Q2的漏极，控制开关Q2的源极引出后也分成两路，其中一路连接过压保护电阻VAR后接地，控制开关Q2源极的另一路依次连接采样电阻R7和采样电阻R6后接地，采样电阻R7和采样电阻R6之间引出后连接模拟复用开关芯片U1的管脚5，控制开关Q2的源极和采样电阻R7之间引出后连接模拟复用开关芯片U1的管脚6，模拟复用开关芯片U1的管脚4和管脚10～13连接后接地，控制开关Q1和控制开关Q2的控制端均连接外部控制组合IO信号。所述测试电路还包括采样参考电阻R5，采样参考电阻R5接在采样电阻R6和地端之间，模拟复用开关芯片U1的管脚4和管脚10～13连接后接在采样参考电阻R5和采样电阻R6之间。所述模拟复用开关芯片U1的型号采用ADG509F。与现有技术相比，本技术的有益效果在于：本技术采用控制模块、模拟复用开关芯片和控制开关组成绝缘测试电路，实现了测试探针组合能自动快速地加载测试信号，提高了测试效率，并能实现非测试时间不带有高压测试源，从而提高了整个电路的安全性能，消除了测试的放电、打火问题，也降低了触电的可能性；采用采样电阻和采样参考电阻实现了整个电路的多电阻分段采样，也提高了绝缘电阻测试分辨率和测试范围；采用分压电阻、限流保护电阻和过压保护电阻为测试采样电路提供有效的保护。附图说明图1为本技术绝缘测试电路的原理图。具体实施方式为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的较佳实施例。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容的理解更加透彻全面。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。参阅图1所示，本技术提供的一种绝缘测试电路，该测试电路包括限流保护电阻R8、控制开关Q1、控制开关Q2、控制开关Q3、钳位分压保护电阻R9、被测绝缘电阻Rx1、采样参考电阻R5、采样电阻R6、采样电阻R7、过压保护电阻VAR、控制模块C1和模拟复用开关芯片U1，其中模拟复用开关芯片U1的型号采用ADG509F。整个电路的连接关系：所述限流保护电阻R8的一端连接电源，另一端连接控制开关Q1的漏极，控制开关Q1的源极引出后分成两个之路，其中一个支路连接控制开关Q3的漏极，控制开关Q3的源极连接钳位分压保护电阻R9后接地，控制开关Q3的控制端连接控制模块C1，控制开关Q1源极的另一个支路连接被测绝缘电阻Rx1后连接控制开关Q2的漏极，控制开关Q2的源极引出后也分成两路，其中一路连接过压保护电阻VAR后接地，控制开关Q2源极的另一路依次连接采样电阻R7、采样电阻R6、采样参考电阻R5后接地，采样电阻R7和采样电阻R6之间引出后连接模拟复用开关芯片U1的管脚5，控制开关Q2的源极和采样电阻R7之间引出后连接模拟复用开关芯片U1的管脚6，模拟复用开关芯片U1的管脚4和管脚10～13连接后接在采样电阻R6和采样参考电阻R5之间，控制开关Q1和控制开关Q2的控制端均连接外部控制组合IO信号。上述中，各部分的原理和功能如下：限流保护电阻R8主要功能是限流、分压作用，防止高压测试源在测试回路产生大电流，避免给测试电路加入超额的电压。控制开关Q1受外部控制组合IO信号控制，是待测试的探针(即被测绝缘电阻Rx1)选通测试源的开关，主要作用是给待测试的探针加载高压测试源和选择加载测试源的探针。控制模块C1是快速加载高压测试源控制开关Q3的控制单元，能够根据测试数据自动识别当前测试探针组合，并根据相关测试探针的传感器信号自动判断测试探针组合是否安全接触到被测PCB板，并迅速输出相应的关闭和打开两种IO信号；其所有部件都是使用硬件逻辑电路设计，响应速度相当高，使用其输出的IO信号即可快速实现探针加载测试信号的动作。其输出的IO信号传输至快速加载高压测试源控制开关Q3的控制端。控制开关Q3是用于控制快速加载到高压测试源的探针的电压。在探针不满足测试条件的状态下，该控制开关Q3受绝缘测试的控制模块C1控制打开，开关连通钳位分压保护电阻R9，使探针保持在一个安全电压上，避免探针接触PCB板的瞬间发生打火、放电；当探针满足测试条件时，控制开关Q3被迅速关闭，测试探针上迅速恢复到高压状态，实本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种绝缘测试电路，其特征在于：该测试电路包括限流保护电阻R8、控制开关Q1、控制开关Q2、控制开关Q3、钳位分压保护电阻R9、被测绝缘电阻Rx1、采样电阻R6、采样电阻R7、过压保护电阻VAR、控制模块C1和模拟复用开关芯片U1；所述限流保护电阻R8的一端连接电源，另一端连接控制开关Q1的漏极，控制开关Q1的源极引出后分成两个之路，其中一个支路连接控制开关Q3的漏极，控制开关Q3的源极连接钳位分压保护电阻R9后接地，控制开关Q3的控制端连接控制模块C1，控制开关Q1源极的另一个支路连接被测绝缘电阻Rx1后连接控制开关Q2的漏极，控制开关Q2的源极引出后也分成两路，其中一路连接过压保护电阻VAR后接地，控制开关Q2源极的另一路依次连接采样电阻R7和采样电阻R6后接地，采样电阻R7和采样电阻R6之间引出后连接模拟复用开关芯片U1的管脚5，控制开关Q2的源极和采样电阻R7之间引出后连接模拟复用开关芯片U1的管脚6，模拟复用开关芯片U1的管脚4和管脚10～13连接后接地，控制开关Q1和控制开关Q2的控制端均连接外部控制组合IO信号。

【技术特征摘要】
1.一种绝缘测试电路，其特征在于：该测试电路包括限流保护电阻R8、
控制开关Q1、控制开关Q2、控制开关Q3、钳位分压保护电阻R9、被测绝缘
电阻Rx1、采样电阻R6、采样电阻R7、过压保护电阻VAR、控制模块C1和
模拟复用开关芯片U1；
所述限流保护电阻R8的一端连接电源，另一端连接控制开关Q1的漏极，
控制开关Q1的源极引出后分成两个之路，其中一个支路连接控制开关Q3的
漏极，控制开关Q3的源极连接钳位分压保护电阻R9后接地，控制开关Q3
的控制端连接控制模块C1，控制开关Q1源极的另一个支路连接被测绝缘电
阻Rx1后连接控制开关Q2的漏极，控制开关Q2的源极引出后也分成两路，
其中一路连接过压保护电阻VAR后接地，控制开关Q2源极的另一路依次连...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄俊华，王星，翟学涛，杨朝辉，高云峰，
申请(专利权)人：深圳市大族激光科技股份有限公司，深圳市大族数控科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44