【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光电探测
,涉及光电探测器件结构,尤其是一种以氟化石墨烯作为绝缘层的石墨烯/氟化石墨烯/硅(MIS)结构的Si-APD光电探测器及制备方法。
技术介绍
雪崩光电二极管具有高灵敏度,高光学响应,响应速度快等优点,在高速调制和微弱信号监测方面有重要应用。光学探测器在化学材料分析、医疗卫生、空间技术和光通讯等方面具有广泛的应用。传统硅基PIN结型紫外探测器件需要热扩散或者离子注入工艺,而且对紫外光存在死层问题,响应随入射光波长的减小而迅速降低。因此,需要提高硅光探测器件对短波长可见光至紫外光的响应。石墨烯是由单层sp2杂化碳原子构成的蜂窝状二维平面晶体薄膜,具有优异的力、热、光、电等性能。与普通金属不同,石墨烯是一种具有透明和柔性的新型二维导电材料。石墨烯和硅接触可以形成肖特基结,制备工艺简单,在光电探测领域有广泛应用。由于石墨烯很薄,所形成的肖特基结是浅结,减少表面复合,可以解决死层问题。肖特基结构探测器的暗电流大于PIN结构器件的暗电流,它影响器件的噪声,这在一定程度上抑制了肖特基结构探测器的发展。因此,需要降低肖特基结构探测器的暗电流,使器件的性能得到提高。氟化石墨烯是石墨烯的衍生物,利用氟化氙(XeF2),六氟化硫(SF6)和八氧环丁烷(C4F8)等含氟气体对石墨烯进行氟化,可以制备氟化石墨烯。通过改变石墨烯的氟化率,禁带宽度可从0.0eV增加到3.0eV,可以将石墨烯由导体 ...
【技术保护点】
以氟化石墨烯为绝缘层的雪崩光电探测器,其特征在于,包括:n型硅衬底(1)、二氧化硅隔离层(2)、二氧化硅窗口(3)、氟化石墨烯绝缘层(4)、顶电极(5)、石墨烯薄膜(6)和底电极(7);其中,所述n型硅衬底(1)的上表面覆盖二氧化硅隔离层(2),在二氧化硅隔离层(2)上开有二氧化硅窗口(3),使二氧化硅隔离层(2)成凹形结构,在二氧化硅隔离层(2)的上表面覆盖顶电极(5),顶电极(5)的外边界小于二氧化硅隔离层(2)的外边界,内边界大于二氧化硅隔离层(2)的内边界;在顶电极(5)的上表面,顶电极(5)、二氧化硅隔离层(2)和n型硅衬底(1)包围形成的梯形空间的内表面覆盖氟化石墨烯绝缘层(4),顶电极(5)上表面氟化石墨烯绝缘层(4)的覆盖范围小于顶电极(5)的边界;在顶电极(5)上表面和氟化石墨烯绝缘层(4)的上表面覆盖石墨烯薄膜(6),顶电极(5)上表面石墨烯薄膜(6)的覆盖范围小于顶电极(5)的边界且大于氟化石墨烯绝缘层(4)的边界;在n型硅衬底(1)下表面设置底电极(7)。
【技术特征摘要】
1.以氟化石墨烯为绝缘层的雪崩光电探测器,其特征在于,包括:n型硅衬
底(1)、二氧化硅隔离层(2)、二氧化硅窗口(3)、氟化石墨烯绝缘层(4)、顶
电极(5)、石墨烯薄膜(6)和底电极(7);其中,所述n型硅衬底(1)的上表
面覆盖二氧化硅隔离层(2),在二氧化硅隔离层(2)上开有二氧化硅窗口(3),
使二氧化硅隔离层(2)成凹形结构,在二氧化硅隔离层(2)的上表面覆盖顶电
极(5),顶电极(5)的外边界小于二氧化硅隔离层(2)的外边界,内边界大于
二氧化硅隔离层(2)的内边界;在顶电极(5)的上表面,顶电极(5)、二氧化
硅隔离层(2)和n型硅衬底(1)包围形成的梯形空间的内表面覆盖氟化石墨烯
绝缘层(4),顶电极(5)上表面氟化石墨烯绝缘层(4)的覆盖范围小于顶电极
(5)的边界;在顶电极(5)上表面和氟化石墨烯绝缘层(4)的上表面覆盖石
墨烯薄膜(6),顶电极(5)上表面石墨烯薄膜(6)的覆盖范围小于顶电极(5)
的边界且大于氟化石墨烯绝缘层(4)的边界;在n型硅衬底(1)下表面设置底
电极(7)。
2.根据权利要求1所述的以氟化石墨烯为绝缘层的雪崩光电探测器,其特征
在于,所述的氟化石墨烯绝缘层(4)为单层或多层氟化石墨烯薄膜。
3.根据权利要求1所述的以氟化石墨烯为绝缘层的雪崩光电探测器,其特征
在于,所述的顶电极(5)是金属薄膜电极,金属材料为铝、金或金铬合金。
4.根据权利要求1所述的以氟化石墨烯为绝缘层的雪崩光电探测器,其特征
在于,所述的底电极(7)是金属薄膜电极,金属材料为镓铟合金、钛金合金或
铝。
5.制备如权利要求1所述的以氟化石墨烯为绝缘层的雪崩光电探测器的方
法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)在n型硅衬底(1)的上表面氧化生长二氧化硅隔离层(2),所用n型
硅衬底(1)的电阻率为1~10Ω·cm;二氧化硅隔离层(2)的厚度为300nm~500
nm,生长温度为900~1200℃;
(2)在二氧化硅隔离层(2...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐杨,万霞,孟楠,陆薇,阿亚兹,王锋,施添锦,俞滨,
申请(专利权)人:浙江大学,
类型:发明
国别省市:浙江;33
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