一种EDFA瞬态测试方法技术

一种EDFA瞬态测试方法，用于测试EDFA的瞬态特性，ASESource产生平坦的宽谱ASE光，经过一个1X2的波长选择光开关后，产生两路多波长信号光源，对产生的两路多波信号光源，一路进行强度调制，作为上下波通道，另外一路用作待监控通道。两路信号光用光耦合器合波后，用作瞬态特性测试的信号光源。产生的信号光源经过待测的EDFA后，进入一个2X1的波长选择光开关，滤出需要求检测的波长光信号，经过光电转换，进入对数转换电路或者跨导转换电路，用数字示波器进行检测；采用ASE光源和波长选择光开关产生多波光源，成本低廉，测试波长可任意选择。

【技术实现步骤摘要】
一种EDFA瞬态测试方法
本专利技术涉及一种测试方法，尤其是一种EDFA瞬态测试方法。
技术介绍
掺铒光纤放大器(EDFA)的出现加速了光通信得发展。EDFA自身具有以下优点:对数据格式和速率透明；增益大噪声小；直接对光信号进行放大，省去了电再生中继器，节省成本；增益带宽大，扩大了传输容量。 EDFA作为DWDM系统及未来高速系统、全光网络不可缺少的重要器件，必然需要适应光网络的新需求。例如在DWDM系统中，当输入EDFA的光信号强度放生较大变化，比如发生16dB的掉波或者上波时，并且瞬态持续时间在微秒级时，饵纤中的能量会瞬间转移到剩余的信号波长中，使该剩余信号波长产生过冲或者欠冲。过冲和欠冲在多级EDFA级联时会严重影响网络的稳定性，所以对EDFA的瞬态特性测试就变得非常重要。一种低成本，功能全的EDFA瞬态测试方法及装置十分必要。
技术实现思路
现有技术不能满足人们的需要，为弥补现有技术不足，本专利技术旨在提供一种EDFA瞬态测试方法。 为实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案:一种EDFA瞬态测试方法，该方法及装置可以准确的测试EDFA的瞬态特性，并可以满足各种测试条件，还具有装置成本低廉的优点。 本专利技术提出一种EDFA瞬态测试方法，其中的信号光源产生装置包括:1X2的波长选择开关(wss-l)，ASE光源，声光调制器，信号发生器，可调光衰减器。ASE光源经过一个1X2的波长选择光开关(WSS-1)后，产生两路多波长信号光源，多波信号源的每个波长的线宽由WSS的每个衰减通道带宽决定。两路信号的波长选择可以通过WSS-1完成，WSS-1两臂上的V0A-1和V0A-2可以对调制信道和监控信道上的光功率进行调节。瞬态信号检测装置包括:光耦合器，光电二极管，2X1波长选择开关(WSS-2)，对数转换电路或者跨导转换电路，数字示波器。产生的信号光源经过待测的EDFA后，进入一个2X1的WSS-2后滤出待检测波长光信号，经过光电转换，进入对数转换电路或者跨导转换电路，用数字示波器进行检测。 作为本专利技术的仅有技术方案:ASE光源进入1X2的波长选择光开关后产生两路波长可选择的多波光源，一路用作上下波(add/drop)光信号，另外一路用作监控波长光信号。 平坦的ASE光源进入1X2的波长选择光开关后，通过设置1X2的波长选择光开关的各个通道的电压来调节各个通道的光衰减值来选择两臂输出的光信号波长，并且能对两臂输出的多波信号的斜率根据测试需求进行调节。 与现有技术相比，本专利技术的有益效果是:该EDFA瞬态测试方法进行测试时具有如下特点: 采用ASE光源和波长选择光开关产生多波光源，成本低廉，测试波长可任意选择；采用波长选择光开关来滤出待检测波长，滤波通道可灵活选择。 【附图说明】 图1为本专利技术的整体结构框图；其中:101:ASE光源；102:1X2波长选择光开关；103:信号发生器；104:声光调制器；105和106:可调光衰减器；107:对数转换电路或者跨导转换电路；108:数字示波器；109:2X1波长选择光开关；110:光耦合器。 【具体实施方式】 下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。 请参阅图1，本专利技术实施例中，本专利技术提出一种EDFA瞬态测试方法，该装置可以准确的测试EDFA的瞬态特性，并可以满足各种测试条件，还具有装置成本低廉的优点。 本专利技术提出一种EDFA瞬态测试方法。其中的信号光源产生装置包括:1X2的波长选择开关(wss-l)，ASE光源，声光调制器，信号发生器，可调光衰减器。ASE光源经过一个1X2的波长选择光开关(WSS-1)后，产生两路多波长信号光源，多波信号源的每个波长的线宽由WSS的每个衰减通道带宽决定。两路信号的波长选择可以通过WSS-1 (102)完成，WSS-1 (102)两臂上的V0A-1 (105)和V0A-2 (106)可以对调制信道和监控信道上的光功率进行调节。瞬态信号检测装置包括:光耦合器，光电二极管，2X1波长选择开关(WSS-2)，对数转换电路或者跨导转换电路，数字示波器。产生的信号光源经过待测的EDFA后，进入一个2X1的WSS-2 (109)后滤出待检测波长光信号，经过光电转换，进入对数转换电路或者跨导转换电路(107 )，用数字示波器(108 )进行检测。 本专利技术的作用原理为:ASE Source (101)产生平坦的宽谱ASE光，经过一个1X2的波长选择光开关(102)后，产生两路多波长信号光源，对产生的两路多波信号光源，一路利用信号发生器(103)和声光调制器(104)进行调制，用作上下波通道，另外一路用作监控通道。两路信号光用光耦合器(110)合波后，用作瞬态特性测试的信号光源。产生的信号光源经过待测的EDFA后，利用入一个2X1的波长选择光开关(109)滤出需要检测是波长光信号，经过光电转换，进入对数转换电路或者跨导转换电路(107)，用数字示波器(108)进行检测。 对于本领域技术人员而言，显然本专利技术不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本专利技术的精神或基本特征的情况下，能够以其它的具体形式实现本专利技术。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本专利技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本专利技术内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。 以上所述，仅为本专利技术的较佳实施例，并不用以限制本专利技术，凡是依据本专利技术的技术实质对以上实施例所作的任何细微修改、等同替换和改进，均应包含在本专利技术技术方案的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种EDFA瞬态测试方法，用于测试EDFA的瞬态特性，其特征在于：ASE Source（101）产生平坦的宽谱ASE光，经过一个1X2的波长选择光开关（102）后，产生两路多波长信号光源，对产生的两路多波信号光源，一路进行强度调制，作为上下波通道，另外一路用作待监控通道；两路信号光用光耦合器（110）合波后，用作瞬态特性测试的信号光源；产生的信号光源经过待测的EDFA后，进入一个2X1的波长选择光开关（109），滤出需要求检测的波长光信号，经过光电转换，进入对数转换电路或者跨导转换电路（107），用数字示波器（108）进行检测。

【技术特征摘要】
1.一种EDFA瞬态测试方法，用于测试EDFA的瞬态特性，其特征在于:ASE Source(1l)产生平坦的宽谱ASE光，经过一个1X2的波长选择光开关(102)后，产生两路多波长信号光源，对产生的两路多波信号光源，一路进行强度调制，作为上下波通道，另外一路用作待监控通道；两路信号光用光耦合器(110)合波后，用作瞬态特性测试的信号光源；产生的信号光源经过待测的EDFA后，进入一个2X1的波长选择光开关(109)，滤出需要求检测的波长光信号，经过光电转换，进入对数转换电路或者跨导转换电路(107)，用数字示波器(108)进行检测。2.根据权利要求1所述的瞬态测试方法，其特征在于:ASE光源(101)进入1X2的波长选择光开关(102)后产生两路波长可选择的多波光源，一路用作上下波(add/drop)光信号，另外一路用作监控波长光信号。3.根据权利要求1所述的瞬态测试方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：周仲谋，陈智凯，刘婕，徐桂芹，徐晓忠，吕华龙，张水兴，
申请(专利权)人：国家电网公司，国网江西省电力公司赣西供电分公司，
类型：发明
国别省市：北京;11