导通测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种导通测试装置，包括电源接口、数码管显示组件、测试接口、探针；所述电源接口的第一端子连接所述数码管显示组件，所述数码管显示组件与所述测试接口连接，所述测试接口与被测产品的用户接口连接；所述电源接口的第二端子连接所述探针；所述探针与所述被测产品的被测引脚连接。本实用新型专利技术的导通测试装置在每个被测引脚与用户接口导通时，数码管显示组件显示不同的数字，检测人员可以比较容易地检查出被测引脚线路中可能存在的短路、断路、错接等问题；同时，选用数码管显示可以避免在测试过程中出现检测失误和视觉疲劳，提高了测试质量与效率；本实用新型专利技术的导通测试装置设计简单、易于实现、成本较低。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
导通测试装置
本技术属于导通测试
，具体地说，是涉及一种导通测试装置。
技术介绍
在电子产品生产过程中，经常需要测试产品的一个引脚与另一个引脚的电性能是否可正常导通、是否与其他引脚存在短路等故障。 目前，通常使用的导通测试检测方式有: (I)万用表检测:采用万用表检测是最常规的检测方式，但是在检测过程中容易发生引脚漏测的问题，而且极为耗时费力。 ( 2 )设计购买测试工装夹具:此方式适合简单的电子器件检测使用，如电缆、排线、FPC等测量，对稍复杂的电子产品都需要专门开发ICT (In-Circuit Test，ICT)设备，设备开发与维护成本高，对产品设计要求也高。
技术实现思路
本技术提供了一种导通测试装置，解决了现有技术中导通测试耗时费力、成本高的问题。 为了解决上述技术问题，本技术采用以下技术方案予以实现: 一种导通测试装置，包括电源接口、数码管显示组件、测试接口、探针；所述电源接口的第一端子连接所述数码管显示组件，所述数码管显示组件与所述测试接口连接，所述测试接口与被测产品的用户接口连接；所述电源接口的第二端子连接所述探针；所述探针与所述被测产品的被测弓I脚连接。 进一步的，所述数码管显示组件包括多个数码管，所述电源接口的第一端子分别连接所述多个数码管，所述多个数码管与所述测试接口连接。 又进一步的，所述多个数码管均为共阴极数码管。 更进一步的，所述数码管显示组件包括10个数码管，10个数码管在点亮时分别显示数字0-9。 优选的，所述测试接口插接在所述导通测试装置上。 进一步的，所述测试接口与用户接口相适配。 优选的，所述测试接口通过电缆或排线与所述用户接口连接。 与现有技术相比，本技术的优点和积极效果是:本技术的导通测试装置在每个被测引脚与用户接口导通时，数码管显示组件显示不同的数字，检测人员可以比较容易地检查出被测引脚线路中可能存在的短路、断路、错接等问题；同时，选用数码管显示可以避免在测试过程中出现检测失误和视觉疲劳，提高了测试质量与效率；本技术的导通测试装置设计简单、易于实现、成本较低。 结合附图阅读本技术实施方式的详细描述后，本技术的其他特点和优点将变得更加清楚。 【附图说明】 图1是本技术所提出的导通测试装置的一种实施例的原理框图； 图2是本技术所提出的导通测试装置的一种实施例的电路原理图。 【具体实施方式】 下面结合附图对本技术的【具体实施方式】作进一步详细地说明。 实施例一、在本实施例中，所述导通测试装置主要由电源接口、数码管显示组件、测试接口、探针等构成，参见图1所示，所述电源接口的第一端子连接数码管显示组件，数码管显示组件连接测试接口，测试接口与被测产品的用户接口连接；电源接口的第二端子连接探针，探针与被测产品的被测弓I脚连接。 [0021 ] 外接电源与电源接口连接，为导通测试装置提供电流。在本实施例中，外接电源的电压为5V，外接电源的正极连接电源接口的第一端子，第一端子连接数码管显示组件，外接电源的负极连接电源接口的第二端子N，第二端子连接探针。 数码管显示组件包括多个数码管，多个数码管均为共阴极数码管，电源接口的第一端子分别与多个数码管连接，多个数码管与测试接口连接。测试接口通过电缆或排线与用户接口连接。 测试接口的引脚数量与数码管的数量相同，多个数码管与测试接口的引脚一一对应连接。如果用户接口的引脚数量与测试接口的引脚数量相同，通过电缆或排线将用户接口的引脚与测试接口的引脚一一对应连接；如果用户接口的引脚数量少于测试接口的引脚数量，根据用户接口的引脚数量选择电缆或排线，在测试接口中选择与用户接口引脚数量相同的引脚，与用户接口的引脚一一对应连接，例如，用户接口有4个引脚，测试接口有10个引脚，通过排线或电缆将测试接口的其中4个引脚与用户接口的4个引脚一一连接。 作为本实施例的另一种优选设计方案，测试接口插接在导通测试装置上，测试接口与被测产品的用户接口相适配。优选的，测试接口的引脚数量与用户接口的引脚数量相同。根据被测产品的用户接口的引脚个数，选择具有相同引脚个数的测试接口插接在导通测试装置上。如果选择的测试接口的引脚数量与数码管的数量相同，多个数码管与测试接口的引脚一一对应连接；如果选择的测试接口的引脚数量少于数码管的数量，选择与测试接口引脚数量相同数码管，与测试接口的引脚一一对应连接，例如，数码管显示组件中有10个数码管，测试接口有4个引脚，将数码管显示组件中的4个数码管与测试接口的4个引脚一一对应连接。由于测试接口可根据用户接口的引脚数量进行选择，而且可插拔，提高了导通测试装置的灵活性，通用性强。 多个数码管在点亮时可以分别显示不同的文字。作为本实施例的一种优选设计方案，数码管显示组件可以包括有10个数码管，10个数码管均为共阴极数码管。如果用户接口有10个引脚，测试接口有10个引脚，用户接口与测试接口的引脚一一对应连接，测试接口的引脚与数码管一一对应连接。如果用户接口和10个被测引脚都导通，10个数码管分别点亮，分别显示数字“ O ”、“ I”、“ 2 ”、“ 3 ”、“ 4 ”、“ 5 ”、“ 6 ”、“ 7 ”、“ 8 ”、“ 9 ”，即1个数码管分另Ij显示不同的数字。 下面以测试具有4个引脚的用户接口与4个被测引脚的导通为例，详细论述导通测试装置的工作原理。 在本实施中，用户接口的4个引脚:引脚V、引脚K、引脚CT、引脚IV，4个被测引脚:被测引脚1、被测引脚2、被测引脚3、被测引脚4;选择具有4个引脚的测试接口，测试接口的4个引脚:引脚A、引脚B、引脚C、引脚D，与数码管显示组件中的4个数码管D1、D2、D3、D4——对应连接。 参见图2所示，电源接口的第一端子P分别通过电阻Rl、R2、R3、R4连接数码管Dl、D2、D3、D4相应的输入引脚，使得数码管Dl、D2、D3、D4在点亮时可以显示不同的数字。例如，第一端子P通过电阻Rl连接数码管Dl的b、c引脚，使数码管Dl在点亮时显示数字“1”，第一端子P通过电阻R2连接数码管D2的a、b、d、e、g引脚，使数码管D2在点亮时显示数字“2”，第一端子P通过电阻R3连接数码管D3的a、b、C、d、g引脚，使数码管D3在点亮时显示数字“3”，第一端子P通过电阻R4连接数码管D4的b、c、g、f引脚，使数码管D4在点亮时显示数字“4”;数码管Dl的公共引脚GND通过开关SWl连接测试接口 J1001的引脚A，数码管D2的公共引脚GND通过开关SW2连接测试接口 J1001的引脚B，数码管D3的公共引脚GND通过开关SW3连接测试接口 J1001的引脚C，数码管D4的公共引脚GND通过开关SW4连接测试接口 J1001的引脚D。 通过电缆或排线将测试接口的引脚A、引脚B、引脚C、引脚D与用户接口的引脚A'、引脚B'、引脚C'、引脚D'——对应连接，闭合开关SW1、SW2、SW3、SW4，探针点击被测引脚1，如果用户接口的引脚A'与被测引脚I连接导通，则外接电源提供的电流通过第一端子P、电阻Rl传输至数码管显示组件中的数码管D1，经数码管Dl的引脚GND传输至本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种导通测试装置，其特征在于：包括电源接口、数码管显示组件、测试接口、探针；所述电源接口的第一端子连接所述数码管显示组件，所述数码管显示组件与所述测试接口连接，所述测试接口与被测产品的用户接口连接；所述电源接口的第二端子连接所述探针；所述探针与所述被测产品的被测引脚连接。

【技术特征摘要】
1.一种导通测试装置，其特征在于:包括电源接口、数码管显示组件、测试接口、探针；所述电源接口的第一端子连接所述数码管显示组件，所述数码管显示组件与所述测试接口连接，所述测试接口与被测产品的用户接口连接；所述电源接口的第二端子连接所述探针；所述探针与所述被测产品的被测弓I脚连接。2.根据权利要求1所述的导通测试装置，其特征在于:所述数码管显示组件包括多个数码管，所述电源接口的第一端子分别连接所述多个数码管，所述多个数码管与所述测试接口连接。3.根据权利要求2所...

【专利技术属性】
技术研发人员：郝国忠，闫鹏，
申请(专利权)人：青岛海信电子设备股份有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37