【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】通过折叠三角测量传感器光学器件路径的共轴距离测量相关申请的交叉引用本申请要求2012年3月30日提交的美国专利申请序列号13/436,387的权益和优先权,在此以引用的方式将其全部并入本文中以达到所有目的。领域所公开的实施方案总体涉及用于跟踪衬底表面位置的设备和方法,更具体地,涉及使用光学检测系统跟踪衬底表面位置并且促进划片束的焦点调整的设备和方法。背景许多应用要求精确控制射束焦点相对于表面的位置。例如,光学检查、机器视觉、激光图案化和各种各样其它类似应用要求通过在与衬底表面(或多个表面)相距测量距离处闭合位置控制回路来对焦距进行动态控制。在一些情况下,衬底的形状因子指示对透镜与衬底表面之间的距离的测量是从衬底与图案化激光器、检查光学器件等的相同侧来执行。另外,在一些情况下,衬底表面可能在短距离上是不均匀的,这会导致距离测量因测量位置与目标位置偏离而造成的错误。出于这个原因,可在接近要图案化或检查的位置的点测量与表面的距离。概述所公开的是一种包括基于三角测量的距离传感器以及相关联的光学元件的设备和使用所述设备的方法的实施方案。在本公开中描述的本主题的一个新颖方面可以实现在一种被配置成对具有第一侧和第二侧的电致变色薄片进行划片的设备中,其中电致变色器件被设置在第一侧上。所述设备包括划片用激光器以及基于三角测量的距离传感器。来自划片用激光器的划片束被配置成从第二侧入射在电致变色薄片上,并且限定划片光学路径,以使划片束基本上垂直于电致变色薄片的第二侧。划片束被配置成烧蚀电致变色器件。基于三角测量的距离传感器包括三角测量激光器和检测器。基于三角测量的距离传感器被定向 ...
【技术保护点】
一种被配置成对具有第一侧和第二侧的电致变色薄片进行划片的设备,其中电致变色器件被设置在所述第一侧上,所述设备包括:划片用激光器,来自所述划片用激光器的划片束被配置成从所述第二侧入射在所述电致变色薄片上,并且限定划片光学路径,以使所述划片束基本上垂直于所述电致变色薄片的所述第二侧,所述划片束被配置成烧蚀所述电致变色器件;以及基于三角测量的距离传感器,所述基于三角测量的距离传感器包括三角测量激光器和检测器,所述基于三角测量的距离传感器被定向成使得来自所述三角测量激光器的第一激光束基本上垂直于所述划片光学路径、从所述电致变色薄片反射并且随后由所述检测器检测。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.03.30 US 13/436,3871.一种被配置成对具有第一侧和第二侧的电致变色薄片进行划片的设备,其中电致变色器件被设置在所述第一侧上,所述设备包括:平台,其具有位于所述平台的一侧和相对侧之间的孔隙;划片用激光器,其具有聚焦透镜,来自所述划片用激光器的划片束,其中所述划片用激光器定位于所述平台的一侧,且所述电致变色薄片位于所述平台的所述相对侧,其中所述划片束被配置成穿过所述平台中的所述孔隙,以沿与所述电致变色薄片的所述第二侧垂直的方向入射在所述电致变色薄片上,且其中所述划片束被进一步配置成烧蚀所述电致变色器件;第一反射镜,其附接于所述平台;第二反射镜,其附接于所述平台;以及基于三角测量的距离传感器,所述基于三角测量的距离传感器附接于所述平台,且包括三角测量激光器和检测器,所述基于三角测量的距离传感器被配置成使得来自所述三角测量激光器的第一激光束被平行于所述电致变色薄片而发射、入射在所述第一反射镜上、并从所述第一反射镜以偏离所述电致变色薄片的垂线一入射角而反射至所述电致变色薄片、以相对于所述电致变色薄片的垂线呈第二锐角从所述电致变色薄片反射、并从所述第二反射镜反射至所述检测器,从而在入射与反射之间形成跨过所述划片光学路径的锐角、并且被从所述第二反射镜反射至所述检测器上的位置,其中所述设备基于所述检测器上所接收到的所述第一激光束的被测量部分来确定位于所述电致变色薄片的所述第一侧和第二侧中的一者与所述划片用激光器的所述聚焦透镜之间的距离。2.如权利要求1所述的设备,其中所述基于三角测量的距离传感器和所述划片用激光器被定位在所述电致变色薄片的所述第一侧的外部。3.如权利要求1所述的设备,其中所述第一激光束在由所述检测器检测之前、是沿平行于所述电致变色薄片的路径从所述第二反射镜被反射至所述检测器。4.如权利要求1所述的设备,其中所述划片用激光器具有用于所述划片激光束的大于500mW的输出功率。5.如权利要求1所述的设备,其中所述第一激光束与所述划片激光束在标称焦面相交,并且其中所述基于三角测量的距离传感器还包括第二反射镜,所述第二反射镜被定向成将从所述电致变色薄片反射的所述第一激光束反射至所述检测器。6.如权利要求1所述的设备,其中所述基于三角测量的距离传感器被配置成确定所述电致变色器件与所述电致变色薄片的衬底之间的界面的位置。7.如权利要求1所述的设备,其中所述聚焦透镜经配置以被定位成将所述划片束的焦点调整至所述电致变色器件与所述电致变色薄片的衬底的界面。8.如权利要求1所述的设备,其中所述检测器是电荷耦合器件。9.如权利要求1所述的设备,其中所述电致变色薄片的入射角与所述电致变色薄片的垂线偏离大约5度至大约45度之间。10.如权利要求1所述的设备,其中所述电致变色薄片的入射角与所述电致变色薄片的垂线偏离大约8度至大约20度之间。11.如权利要求1所述的设备,其中当所述电致变色器件处于离所述基于三角测量的距离传感器一标称距离时,所述垂线与所述划片光学路径共轴。12.如权利要求1所述的设备,其中所述基于三角测量的距离传感器经配置以测量从所述基于三角测量的距离传感器到所述电致变色器件之间的距离,其中所述距离是沿着与所述划片光学路径标称地共轴的轴线测量的。13.如权利要求11所述的设备,其中所述距离是测量至所述电致变色器件上的一个点,其中所述点位于距离所述划片束与所述电致变色器件的交界处±5毫米的范围内。14.如权利要求1所述的设备,其中所述划片束被配置成从所述电致变色薄片的第二侧入射在所述电致变色薄片上。15.如权利要求1所述的设备,其中所述划片束被配置成从所述电致变色薄片的所述第一侧入射在所述电致变色薄片上。16.一种用于对标称平坦衬底进行激光划片的设备,所述设备包括:(a)光学器件集合,所述光学器件集合用于在所述衬底和划片束相对于彼此移动时将划片束聚焦到衬底上的划片位置,以在所述衬底上形成划片线;(b)射束焦点调整机构,所述射束焦点调整机构用于在所述衬底在划片期间相对于所述划片束移动时调整所述光学器件集合,以使所述划片束的焦点遵循所述衬底上的轮廓;(c)基于三角测量的距离传感器,所述基于三角测量的距离传感器包括:(i)检测束源,所述检测束源用于发出入射束以使其反射离开所述衬底;以及(ii)检测器,所述检测器用于检测在所述入射束反射离开所述衬底时形成的反射束的位置,其中所述反射束在所述检测器上的所述位置提供了对所述基于三角测量的距离传感器与所述衬底之间...
【专利技术属性】
技术研发人员:布鲁斯·巴克斯特,丹尼斯·穆林斯,
申请(专利权)人:唯景公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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