CCD相机强度-涨落关联成像方法技术

技术编号:10915718 阅读:332 留言:1更新日期:2015-01-15 09:23
本发明专利技术涉及一种CCD相机强度-涨落关联成像方法,将CCD相机对目标曝光各像素单元感应光子数信息采集并存储,按时间顺序将曝光时间划分为若干短时间窗,基于时间窗分别对各像素单元做光子数的统计分析,计算曝光时间内光子数及对应信息值的统计平均值和各时间窗口内的总和及涨落;各像素单元的存储信息按照光子数相对于平均值的大小分为正、负两组。对CCD的两个不同像素单元(可选择)之间曝光时间内各窗口计算光子数的关联或涨落关联,在此基础上计算两个像素单元之间归一化的光强度关联或其涨落关联,进而由热光关联成像的原理和方法得到目标的像。所得目标的像可以抗大气湍流扰动,具有热光量子鬼成像的分辨率以及接近100%或100%对比度。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及一种CCD相机强度-涨落关联成像方法,将CCD相机对目标曝光各像素单元感应光子数信息采集并存储,按时间顺序将曝光时间划分为若干短时间窗,基于时间窗分别对各像素单元做光子数的统计分析,计算曝光时间内光子数及对应信息值的统计平均值和各时间窗口内的总和及涨落;各像素单元的存储信息按照光子数相对于平均值的大小分为正、负两组。对CCD的两个不同像素单元(可选择)之间曝光时间内各窗口计算光子数的关联或涨落关联,在此基础上计算两个像素单元之间归一化的光强度关联或其涨落关联,进而由热光关联成像的原理和方法得到目标的像。所得目标的像可以抗大气湍流扰动,具有热光量子鬼成像的分辨率以及接近100%或100%对比度。【专利说明】CCD相机强度-涨落关联成像方法
本专利技术属于光成像
,涉及一种无需采用大孔径透镜即可获取高分辨率、 高对比度和抗大气湍流扰动图像的CCD相机强度-涨落关联成像方法。
技术介绍
在遥感、天文、侦察、制导、科研、生产以及日常生活中,照相是获取影像的基本手 段。但在许多实际情况和应用环境中,由于大气湍流扰动使影像模糊,影响成像质量,另外, 传统的采用经典成像方法的制式相机的成像分辨率受到基本物理原理--瑞利衍射极限 的限制。根据阿贝尔原理,基于透镜的相机,其成像分辨率与透镜的数值孔径成正比,要获 得远距离高分辨率的像,就需要加大透镜的焦距和口径,但孔径太大不仅导致设备体积和 重量的巨大负担,在卫星等特殊成像环境下不便应用,而且大孔径光学成像系统的价格也 过于昂贵。综上所述,就本
而言,如何提高成像质量特别是远距离成像的分辨率并 实现突破经典极限的限制,长期以来一直是人们向往的目标。
技术实现思路
本专利技术的目的在于对现有技术存在的问题加以解决,提供一种CCD相机强度-涨 落关联成像方法,该成像方法通过在强度-涨落关联成像中减去受到湍流扰动变模糊的经 典像的部分,保留不受扰动的部分,进而获取清晰图像,同时,该方法具有量子鬼关联像的 特点,其分辨率不受经典瑞利衍射极限限制,即分辨率不受透镜孔径限制,高分辨率,抗扰 动能力强,此外,采用本专利技术所述分辨率可获得高对比度像。 为实现上述专利技术目的而提出的C⑶相机强度-涨落关联成像方法包括以下步骤: 1、将具有电荷耦合器件CCD的CCD相机光学系统的镜头对准待测目标取景,对待 测目标照相曝光后,电荷耦合器件CCD通过CCD相机光学系统接收到待测目标反射或发射 光子并将其转化为电信号; 2、将CCD各像素单元曝光光子数的输出信号按时序用数据采集卡采集并存储,通 过计算机及软件将曝光时间划分为若干短时间窗口,根据各像素单元在各时间窗口内的光 子总数计算每个像素单元的平均光子数(具体做法是:记录一个像素单元各时间窗口中的 光子数,累计相加得到总光子数,除以时间窗口数目,得到各时间窗口的平均值),将各像素 单元时间窗口平均光子数与各时间窗口光子数比较,大于或小于平均值的数值为涨落,且 据此对像素单元时间窗口内的数据分类:大于平均值的为正,小于平均值的为负; 3、在各像素单元中选定的两个像素单元,用计算机及软件对于选定的两个像素单 元就同步时间窗口中的光子数或涨落的乘积进行计算:分别计算正-正、负-负、正-负、 负-正的乘积,并将其按像素单元在曝光时间内归一化; 4、按照像素单元间光场强度涨落-涨落关联公式和光场强度-强度关联公式的统 计计算公式,即下文【具体实施方式】中的公式(5)、(6),分别计算所选定的两个像素单元之间 的光子数(光场强度)-光子数(光场强度)关联或涨落-涨落关联; 5、利用以上计算获得的两个像素单元之间的光子数-光子数关联或涨落-涨落关 联的结果,按照热光关联成像(热光鬼成像)原理和方法,即可在图像显示器或图像输出设 备中得到目标的关联像。 本专利技术进一步的技术解决方案还在于:通过计算机及软件将CCD接收光时间均匀 划分为小的时间段,即标记为Λ tl,Λ t2,…,Λ …的时间窗口,由上述步骤1得到的光子 测量数据信息首先存储到CCD的寄存器中,然后通过计算机与CCD的接口在一系列短的时 间窗口内由数据采集卡按各像素单元曝光光子数输出信号时序采集并存储;在各像素单元 中选定的两个像素单元A和B,像素单元A和B接收照射光子的计数分别为n jA和njB,j是 时间窗口编号;利用计算机或图像卡软件计算CCD每个像素单元接收光时间内的平均光子 数目孓和冗;接着,使每个像素单元中的平均光子数与各时间窗口中实际光子数进行比较, 将每个时间窗内的光子数分为"正"和"负",即"正"、"负"确认: 【权利要求】1. 一种CCD相机强度-涨落关联成像方法,其特征在于包括以下步骤: I. 1将具有电荷耦合器件CCD (2)的CCD相机光学系统(1)的镜头对准待测目标(7)取 景,对待测目标(7)照相曝光后,电荷耦合器件CCD(2)通过CCD相机光学系统(1)接收到 待测目标(7)反射或发射光子并将其转化为电信号; 1. 2将CCD各像素单元曝光光子数的输出信号按时序用数据采集卡(3)采集并存储,通 过计算机(4)及软件将曝光时间划分为若干短时间窗口,根据各像素单元在各时间窗口内 的光子总数计算每个像素单元的平均光子数,将各像素单元时间窗口平均光子数与各时间 窗口光子数比较,大于或小于平均值的数值为涨落,且据此对像素单元时间窗口内的数据 分类:大于平均值的为正,小于平均值的为负; 1.3在各像素单元中选定的两个像素单元,用计算机(4)及软件对于选定的两个像素 单元就同步时间窗口中的光子数或涨落的乘积进行计算:分别计算正-正、负-负、正-负、 负-正的乘积,并将其按像素单元在曝光时间内归一化; 1. 4按照像素单元间光场强度涨落-涨落关联公式和光场强度-强度关联公式的统计 计算公式分别计算所选定的两个像素单元之间的光子数(光场强度)-光子数(光场强度) 关联或涨落-涨落关联; 1. 5利用以上计算获得的两个像素单元之间的光子数-光子数关联或涨落-涨落关联 的结果,按照热光关联成像原理和方法,即可在图像显示器(6)或图像输出设备中得到目 标的关联像。2. 根据权利要求1所述的CCD相机强度-涨落关联成像方法,其特征在于:通过计算 机及软件将CXD接收光时间均匀划分为小的时间段,即标记为At 1, At2,…,Atp…的时 间窗口,由步骤I. 1得到的光子测量数据信息首先存储到CCD的寄存器中,然后通过计算机 (4)与CCD的接口在一系列短的时间窗口内由数据采集卡(3)按各像素单元曝光光子数输 出信号时序采集并存储;在各像素单元中选定的两个像素单元A和B,像素单元A和B接收 照射光子的计数分别为和n#,j是时间窗口编号;利用计算机或图像卡软件计算CCD每 个像素单元接收光时间内的平均光子数目&和/Ts ;接着,使每个像素单元中的平均光子数 与各时间窗口中实际光子数进行比较,将每个时间窗内的光子数分为"正"和"负",即"正"、 "负"确认:其中j表不窗口编号,a =A,B,光子数及其涨落n和An分别对应于光场强度和它的涨 落; 将两个像素单元的本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种CCD相机强度‑涨落关联成像方法,其特征在于包括以下步骤:1.1将具有电荷耦合器件CCD(2)的CCD相机光学系统(1)的镜头对准待测目标(7)取景,对待测目标(7)照相曝光后,电荷耦合器件CCD(2)通过CCD相机光学系统(1)接收到待测目标(7)反射或发射光子并将其转化为电信号;1.2将CCD各像素单元曝光光子数的输出信号按时序用数据采集卡(3)采集并存储,通过计算机(4)及软件将曝光时间划分为若干短时间窗口,根据各像素单元在各时间窗口内的光子总数计算每个像素单元的平均光子数,将各像素单元时间窗口平均光子数与各时间窗口光子数比较,大于或小于平均值的数值为涨落,且据此对像素单元时间窗口内的数据分类:大于平均值的为正,小于平均值的为负;1.3在各像素单元中选定的两个像素单元,用计算机(4)及软件对于选定的两个像素单元就同步时间窗口中的光子数或涨落的乘积进行计算:分别计算正‑正、负‑负、正‑负、负‑正的乘积,并将其按像素单元在曝光时间内归一化;1.4按照像素单元间光场强度涨落‑涨落关联公式和光场强度‑强度关联公式的统计计算公式分别计算所选定的两个像素单元之间的光子数(光场强度)‑光子数(光场强度)关联或涨落‑涨落关联;1.5利用以上计算获得的两个像素单元之间的光子数‑光子数关联或涨落‑涨落关联的结果,按照热光关联成像原理和方法,即可在图像显示器(6)或图像输出设备中得到目标的关联像。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:徐卓杜磊周宇刘建彬
申请(专利权)人:西安交通大学
类型:发明
国别省市:陕西;61

网友询问留言 已有1条评论
  • 来自[美国加利福尼亚州圣克拉拉县山景市谷歌公司] 2015年01月16日 22:54
    由大量子系统组成的系统的可测的宏观量在每一时刻的实际测度相对平均值或多或少有些偏差,这些偏差就叫涨落,涨落是偶然的、杂乱无章的、随机的。
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