本发明专利技术提供一种轴键槽对称度测量装置，用于测量工件轴键槽的对称度，包括底座、测量机构，所述测量机构设于底座之上，且形如倒立的ш，包括一横杆与三个竖杆，所述竖杆包括两个侧边竖杆与一个中间竖杆，所述底座与横杆均设有供竖杆运动的滑道，所述横杆与竖杆均设有刻度，且侧边竖杆设有销轴，所述销轴用于键槽定位，销轴与键槽的相对面设有激光器，所述中间竖杆沿竖直方向两侧各设有一测量尺，且两测量尺起始刻度相反，两测量尺之间通过一透明膜相连，透明膜一端设有激光器。本发明专利技术利用激光线标记两键槽中心线及垂直线，然后利用两个起始点相反的测量尺结合激光线测量键槽的对称度。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种轴键槽对称度测量装置，用于测量工件轴键槽的对称度，包括底座、测量机构，所述测量机构设于底座之上，且形如倒立的ш，包括一横杆与三个竖杆，所述竖杆包括两个侧边竖杆与一个中间竖杆，所述底座与横杆均设有供竖杆运动的滑道，所述横杆与竖杆均设有刻度，且侧边竖杆设有销轴，所述销轴用于键槽定位，销轴与键槽的相对面设有激光器，所述中间竖杆沿竖直方向两侧各设有一测量尺，且两测量尺起始刻度相反，两测量尺之间通过一透明膜相连，透明膜一端设有激光器。本专利技术利用激光线标记两键槽中心线及垂直线，然后利用两个起始点相反的测量尺结合激光线测量键槽的对称度。【专利说明】轴键槽对称度测量装置
本专利技术属于机械加工精工测量领域，尤其是涉及一种轴键槽对称度测量装置。
技术介绍
现有技术对于轴键槽对称度测量方法主要有V形铁、平板、百分表与表座，这些方法测量步骤繁琐，精度可靠性差。
技术实现思路
本专利技术要解决的问题是提供一种轴键槽对称度测量装置，解决现有技术中轴键槽对称度测量繁琐、精度不高的问题。 为解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案是:轴键槽对称度测量装置，用于测量工件轴键槽的对称度，包括底座、测量机构，所述测量机构设于底座之上，且形如倒立的ΠΙ，包括一横杆与三个竖杆，所述竖杆包括两个侧边竖杆与一个中间竖杆，所述底座与横杆均设有供竖杆运动的滑道，所述竖杆均设有刻度，用于确定两键槽连线为水平线，侧边竖杆设有销轴，所述销轴用于键槽定位，销轴与键槽的相对面设有激光器，所述激光器发射的激光用于连接两键槽中心线，所述中间竖杆沿竖直方向两侧各设有一测量尺，且两测量尺起始刻度相反，两测量尺之间通过一透明膜相连，透明膜一端设有激光器，所述激光器用于指示两键槽中心连线的垂直线，所述测量尺用于测量两条激光线交点与工件上侧与下侧的距离，从而确定检测的对称度。 进一步，所述销轴中至少有一个设有激光器。 进一步，所述销轴设有激光器开关。 进一步，所述中间竖杆至少一端设有激光器。 进一步，所述竖杆与工件之间留有缝隙。 本专利技术具有的优点和积极效果是:利用激光线标记两键槽中心线及垂直线，然后利用两个起始点相反的测量尺结合激光线测量键槽的对称度。 【专利附图】【附图说明】 图1是轴键槽对称度测量装置示意图 图中: 1-底座，2-测量机构，21-侧边竖杆，211-销轴，22-横杆，23-中间竖杆，231-透明膜。 【具体实施方式】 下面结合附图对本专利技术的具体实施例做详细说明。 如附图1所示，轴键槽对称度测量装置，用于测量工件轴键槽的对称度，包括底座 1、测量机构2，所述测量机构2设于底座I之上，该测量机构2形如倒立的U!，包括一横杆22与三个竖杆，包括两个侧边竖杆21与一个中间竖杆23，所述底座I与横杆22均设有供侧边竖杆21运动的滑道，所述竖杆均设有刻度，且侧边竖杆21设有销轴211，所述销轴211用于键槽定位，，销轴211与键槽的相对面设有激光器，至少有一个销轴211设有激光器与激光器开关，所述中间竖杆23沿竖直方向两侧各设有一测量尺，且两测量尺起始刻度相反，两测量尺之间通过一透明膜231相连，透明膜231 —端设有激光器，所述中间竖杆23与轴工件之间留有缝隙以使激光贴近工件。 本实施例工作原理，将待测工件置于底座I上，然后将测量机构2置于底座I滑道上，然后调整横杆22高度，使之与工件上部接触，然后调整两侧边竖杆21，使侧边竖杆21卡住工件，同时中间竖杆23位于横杆22中间，打开激光器，两条激光器垂直相交，然后通过中间竖杆23两个相反起始点的测量尺读取垂直激光线与水平激光线交点到垂直激光线与工件两端交点的长度，然后计算键槽对称度。 以上对本专利技术的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本专利技术的较佳实施例，不能被认为用于限定本专利技术的实施范围。凡依本专利技术申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本专利技术的专利涵盖范围之内。【权利要求】1.轴键槽对称度测量装置，用于测量工件轴键槽的对称度，包括底座、测量机构，其特征在于:所述测量机构设于底座之上，且形如倒立的ΠΙ，包括一横杆与三个竖杆，所述竖杆包括两个侧边竖杆与一个中间竖杆，所述底座与横杆均设有供竖杆运动的滑道，所述横杆与竖杆均设有刻度，且侧边竖杆设有销轴，所述销轴用于键槽定位，销轴与键槽的相对面设有激光器，所述中间竖杆沿竖直方向两侧各设有一测量尺，且两测量尺起始刻度相反，两测量尺之间通过一透明膜相连，所述透明膜一端设有激光器。2.根据权利要求1所述的轴键槽对称度测量装置，其特征在于:所述销轴中至少有一个设有激光器。3.根据权利要求1或3所述的轴键槽对称度测量装置，其特征在于:所述销轴设有激光器开关。4.根据权利要求1所述的轴键槽对称度测量装置，其特征在于:所述中间竖杆至少一端设有激光器。5.根据权利要求1或6所述的轴键槽对称度测量装置，其特征在于:所述中间竖杆与轴工件之间留有缝隙。【文档编号】G01B11/26GK104279988SQ201410606133【公开日】2015年1月14日 申请日期:2014年10月31日 优先权日:2014年10月31日 【专利技术者】尹红净, 雷洪声 申请人:天津市中重金属结构有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
轴键槽对称度测量装置，用于测量工件轴键槽的对称度，包括底座、测量机构，其特征在于：所述测量机构设于底座之上，且形如倒立的ш，包括一横杆与三个竖杆，所述竖杆包括两个侧边竖杆与一个中间竖杆，所述底座与横杆均设有供竖杆运动的滑道，所述横杆与竖杆均设有刻度，且侧边竖杆设有销轴，所述销轴用于键槽定位，销轴与键槽的相对面设有激光器，所述中间竖杆沿竖直方向两侧各设有一测量尺，且两测量尺起始刻度相反，两测量尺之间通过一透明膜相连，所述透明膜一端设有激光器。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：尹红净，雷洪声，
申请(专利权)人：天津市中重金属结构有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。