一种PCB电气性能测试治具制造技术

本实用新型专利技术适用于PCB板生产技术领域，提供了一种PCB电气性能测试治具，包括两块间隔设置的主导层、若干沿竖直方向设置于两块主导层之间的导向层、至少两根穿设于主导层与导向层中的探针、以及穿设过主导层与导向层的支撑杆，导向层的数量为八块。本实用新型专利技术在保证治具整体高度不变的前提下，通过在主导层间增加导向层，使相邻两导向层间的间隔变小，在测试过程中探针不会发生弯曲，从而相邻的两探针不会因接触而导致治具内部短路，防止了误测的发生。

【技术实现步骤摘要】
—种PCB电气性能测试治具
本技术属于PCB生产
，尤其涉及一种PCB电气性能测试治具。
技术介绍
PCB电气测试治具主要用于给探针导向及固定，图1所示为一种现有的PCB电气测试治具100'，该治具100'的顶部及底部分别设置有一主导层y，两主导层^之间设置有五块导向层2'，两块导向层2'之间的最大间距为19.1mm，治具上探针3'最小的直径为12mil，探针3丨间最小间距为3.5mil，在市场上，测试探针3丨的长度是固定的95.25mm,因此，治具的整体高度是一个定值。在测试过程中探针3 ’的一端抵持PCB，另一端抵持测试机台，故探针3 '的两端均受力，因相邻两导向层2 '的间距过大，相邻的两根探针3 '的中间部位容易弯曲并相互接触，导致测试治具内部短路，造成误测。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题在于提供一种PCB电气性能测试治具，旨在解决现有技术中的治具因两块导向层间的间距过大，从而导致治具内部短路，造成误测的问题。 本技术是这样实现的，一种PCB电气性能测试治具，包括两块间隔设置的主导层、若干沿竖直方向设置于所述的两块主导层之间的导向层、至少两根穿设于所述主导层与导向层中的探针、以及穿设过所述主导层与导向层的支撑杆，所述导向层的数量为八块。 进一步地，所述导向层的厚度相同。 进一步地，每一导向层的厚度为1.0mm。 进一步地，相邻导向层之间的最大间距为10.37mm。 进一步地，相邻探针之间的最小间距为5mil。 进一步地,所述探针的直径最小为1mil。 进一步地，相邻的导向层之间夹置有垫圈，所述支撑杆穿设于所述垫圈中。 进一步地，位于下方的主导层与相邻的导向层之间夹置有垫圈，所述支撑杆穿设于所述垫圈中。 进一步地，位于上方的主导层叠置于相邻的导向层上。 本技术与现有技术相比，有益效果在于:本技术在保证治具整体高度不变的前提下，通过在主导层间增加导向层，使相邻两导向层间的间隔变小，在测试过程中探针不会发生弯曲，从而相邻的两探针不会因接触而导致治具内部短路，防止了误测的发生。 【附图说明】 图1是现有技术中的PCB电气性能测试治具的纵向剖视示意图。 图2是本技术实施例提供的PCB电气性能测试治具的纵向剖视示意图。 【具体实施方式】 为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。 如图2所示，为本技术的一较佳实施例，一种PCB电气性能测试治具100，包括两块间隔设置的主导层1、若干沿竖直方向设置于两块主导层I之间的导向层2、至少两根穿设于主导层I与导向层2中的探针3、以及穿设过主导层I与导向层2的支撑杆4，导向层2的数量为八块。 具体地，相邻的导向层2之间夹置有垫圈5，支撑杆4穿设于垫圈5中。位于下方的主导层I与相邻的导向层2之间夹置有垫圈5，支撑杆4穿设于垫圈5中。位于上方的主导层I叠置于相邻的导向层2上。 每一导向层2的厚度相同，因导向层2的厚度过厚时无法插针，导向层2过薄时探针3在测试过程中容易上下摆动，造成导向层2上的孔磨损变大，影响测试良率，因此导向层2厚度优选为1.0mm。 于本实施例中，治具100的两个导向层2之间的最大的间距缩小为10.37mm,治具100上的探针3最小的直径为lOmil，探针3间最小间距为5mil，将两个导向层2之间的间距缩小，使探针3中间弯曲度变小，并且缩小了探针3直径，增大两根探针3之间的间距，在测试过程中，探针3两端受力，中间弯曲度变小，同时，增大了相邻两根探针3之间的间距，使相邻的两根探针3不会因接触而导致治具100内部短路，防止了误测的发生。 以上所述仅为本技术的较佳实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种PCB电气性能测试治具，包括两块间隔设置的主导层、若干沿竖直方向设置于所述的两块主导层之间的导向层、至少两根穿设于所述主导层与导向层中的探针、以及穿设过所述主导层与导向层的支撑杆，其特征在于，所述导向层的数量为八块。

【技术特征摘要】
1.一种PCB电气性能测试治具，包括两块间隔设置的主导层、若干沿竖直方向设置于所述的两块主导层之间的导向层、至少两根穿设于所述主导层与导向层中的探针、以及穿设过所述主导层与导向层的支撑杆，其特征在于，所述导向层的数量为八块。2.如权利要求1所述的PCB电气性能测试治具，其特征在于，所述导向层的厚度相同。3.如权利要求2所述的PCB电气性能测试治具，其特征在于，每一导向层的厚度为1.0mm04.如权利要求1至3中任意一项所述的PCB电气性能测试治具，其特征在于，相邻导向层之间的最大间距为10.37mm。5.如权利要求1至3中任意...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏述文，陈代树，
申请(专利权)人：竞华电子深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44