一种驻波反射点的检测方法及装置制造方法及图纸

技术编号:10854661 阅读:96 留言:0更新日期:2015-01-01 03:27
本发明专利技术公开了一种驻波反射点的检测方法,采集基带信号、所述基带信号对应射频信号的发射耦合信号及反射耦合信号;对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理,确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间;根据所述往返时间和当前传输介质的相对传播常数确定所述驻波反射点的位置。本发明专利技术还同时公开了一种驻波反射点的检测装置。采用本发明专利技术技术方案,不用中断业务就能检测出驻波反射点所在位置,提高了驻波比故障诊断效率,降低了驻波比故障维护和检测成本。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种驻波反射点的检测方法,采集基带信号、所述基带信号对应射频信号的发射耦合信号及反射耦合信号;对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理,确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间;根据所述往返时间和当前传输介质的相对传播常数确定所述驻波反射点的位置。本专利技术还同时公开了一种驻波反射点的检测装置。采用本专利技术技术方案,不用中断业务就能检测出驻波反射点所在位置,提高了驻波比故障诊断效率,降低了驻波比故障维护和检测成本。【专利说明】一种驻波反射点的检测方法及装置
本专利技术涉及通信技术,尤其涉及一种驻波反射点的检测方法及装置。
技术介绍
为了改善网络运营质量,网络优化已成为重要课题。根据移动网运行质量统计结 果分析,造成移动通信质量指标下降的主要原因来自天馈系统,而在天馈系统中,最为重要 的指标就是传输线的终端负载(如天线)与传输线的特性阻抗是否相匹配,通常用驻波比 作为衡量指标。如果天馈系统的驻波比超过一定范围,会导致部分发射的功率反射回来,进 而影响下行覆盖,甚至会损坏射频功放等,最终影响网络质量。 天馈系统的驻波比故障往往不易定位,即使发现了故障,也不能具体定位到具体 是哪一段馈线出现了故障;需要工程人员携带驻波比测试仪上站处理,中断业务,并逐级排 查驻波比故障所在位置,如此,不仅需耗费大量的人力和物力,增加了工程与维护成本,若 长时间因排除驻波比故障而中断业务,会引起客户的投诉,降低客户的满意度。因此,在不 中断业务的情况下对驻波比进行检测并找出驻波比故障点所在位置是当前亟待解决的问 题。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术的主要目的在于提供一种驻波反射点的检测方法及装置,能确 定驻波反射点所在位置,提高驻波比故障诊断效率,降低驻波比故障维护和检测成本。 为达到上述目的,本专利技术的技术方案是这样实现的: 本专利技术提供了一种驻波反射点的检测方法,所述方法包括: 采集基带信号、所述基带信号对应射频信号的发射耦合信号及反射耦合信号; 对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理, 确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间; 根据所述往返时间和当前传输介质的相对传播常数确定所述驻波反射点的位置。 上述方案中,所述对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信 号进行相关处理,确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端 口的往返时间,包括: 对所述反射耦合信号和所述发射耦合信号分别与所述基带信号进行相关,确定所 述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间,并将所述反射耦合信号相对于所述 发射耦合信号的往返时间减去两倍的滤波时延作为驻波反射点相对于滤波所述射频信号 的输出端口的往返时间。 上述方案中,所述对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信 号进行相关处理,确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端 口的往返时间,包括: 对所述反射耦合信号和所述发射耦合信号进行相关,确定所述反射耦合信号相对 于所述发射耦合信号的往返时间,并将所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返 时间减去两倍的滤波时延作为所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往 返时间。 上述方案中,所述对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信 号进行相关处理,确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端 口的往返时间,包括: 对所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关,确定所述驻波反射点相对于所述 基带信号的往返时间,将所述驻波反射点相对于所述基带信号的往返时间减去发射通道时 延作为所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。 上述方案中,所述反射耦合点位于滤波所述射频信号的输出端口时,所述发射通 道时延包括射频处理时延、功率放大时延和滤波时延之和; 所述反射耦合点不在滤波所述射频信号的输出端口时,所述发射通道时延包括射 频处理时延、功率放大时延和两倍的滤波时延之和。 上述方案中,所述根据所述往返时间和当前传输介质的相对传播常数确定所述驻 波反射点的位置,包括: 根据当前传输介质的相对传播常数λ f确定反射耦合信号在当前传输介质中的传 播的速度为λ fXc,其中,C为光速; 所述驻波反射点的位置dk = vXt k = λ fXcXt k,其中,所述驻波反射点相 对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间为2t' k。 上述方案中,所述方法还包括: 根据驻波反射点所在位置dk、前向耦合功率与基带功率之比P,、反射耦合功率 与基带功率之比匕,驻波反射点所在位置的函数仏队) 【权利要求】1. 一种驻波反射点的检测方法,其特征在于,所述方法包括: 采集基带信号、所述基带信号对应射频信号的发射耦合信号及反射耦合信号; 对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理,确定 所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间; 根据所述往返时间和当前传输介质的相对传播常数确定所述驻波反射点的位置。2. 根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对采集的所述发射耦合信号、所述反 射耦合信号和所述基带信号进行相关处理,确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤 波所述射频信号的输出端口的往返时间,包括: 对所述反射耦合信号和所述发射耦合信号分别与所述基带信号进行相关,确定所述反 射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间,并将所述反射耦合信号相对于所述发射 耦合信号的往返时间减去两倍的滤波时延作为驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输 出端口的往返时间。3. 根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对采集的所述发射耦合信号、所述反 射耦合信号和所述基带信号进行相关处理,确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤 波所述射频信号的输出端口的往返时间,包括: 对所述反射耦合信号和所述发射耦合信号进行相关,确定所述反射耦合信号相对于所 述发射耦合信号的往返时间,并将所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间 减去两倍的滤波时延作为所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时 间。4. 根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对采集的所述发射耦合信号、所述反 射耦合信号和所述基带信号进行相关处理,确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤 波所述射频信号的输出端口的往返时间,包括: 对所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关,确定所述驻波反射点相对于所述基带 信号的往返时间,将所述驻波反射点相对于所述基带信号的往返时间减去发射通道时延作 为所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。5. 根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述反射耦合点位于滤波所述射频信号 的输出端口时,所述发射通道时延包括射频处理时延、功率放大时延和滤波时延之和; 所述反射耦合点不在滤波所述射频信号的输出端口时,所述发射通道时延包括射频处 理时延、功率放大时延和本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种驻波反射点的检测方法,其特征在于,所述方法包括:采集基带信号、所述基带信号对应射频信号的发射耦合信号及反射耦合信号;对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理,确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间;根据所述往返时间和当前传输介质的相对传播常数确定所述驻波反射点的位置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈长根王国强马兴望苑伟涛唐雪
申请(专利权)人:中兴通讯股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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