一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统技术方案

一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统，包括待测ZigBee DUT、ZigBee测试仪、测试系统平台，待测ZigBee DUT与ZigBee测试仪通过射频线通信连接，ZigBee测试仪与测试系统平台通过GPIB总线或网线通信连接，测试系统平台由电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器及机箱结构组件构成，电源给背板供电，存储单元通过CF插槽插在控制器上，控制器通过PXI接口插在背板上，键盘通过USB接口连接在控制器上，显示器通过VGA接口连接在控制器上，机箱结构组件将整个测试系统平台固定。本实用新型专利技术的有益效果：利用GPIB总线和网络对ZigBee射频性能进行自动测试，使用方便，能提高ZigBee设备研发与生产的进度，系统形成后无需人为参于，节约人力成本，为ZigBee设备性能指标的验证提供很好的解决方案。

【技术实现步骤摘要】
—种用于测量z i gBee射频性能的自动测试系统
本技术涉及一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统。
技术介绍
随着物联网行业的发展以及ZigBee技术日益成熟，ZigBee产品生产量将逐渐加大。而由于ZigBee产品生产选择器件类型、温度变化、器件组装等因素的影响，即使是基于同样的平台同样的设计，也可能出现不同性能的产品。为了检查ZigBee产品的性能指标，必须通过测试仪进行测量。在ZigBee产品产量逐渐增大，通过手动操作仪表来测量其指标，效率低下，测试将会成为生产的瓶颈。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是，针对现有ZigBee产品测试存在的上述不足，提供一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统，针对ZigBee射频的研发与生产，对其性能指标进行自动测量。 本技术为解决上述技术问题所采用的技术方案是: 一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统，包括待测ZigBee DUT,ZigBee测试仪、测试系统平台，所述待测ZigBee DUT与ZigBee测试仪通过射频线通信连接，ZigBee测试仪与测试系统平台通信连接，所述测试系统平台由电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器及机箱结构组件构成，电源给背板供电，存储单元通过CF插槽插在控制器上，控制器通过PXI接口插在背板上，键盘通过USB接口连接在控制器上，显示器通过VGA接口连接在控制器上，测试系统平台的电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器固定于机箱结构组件上。 按上述方案，所述测试系统平台通过GPIB总线与ZigBee测试仪通信连接，或者通过网线与ZigBee测试仪通信连接，或者同时通过GPIB总线、网线与ZigBee测试仪通信连接。 按上述方案，所述存储单元为市售的Flash存储器，所述控制器为市售的PXI控制器。 本技术用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统的测试方法，包括如下步骤: (I)加载存放于测试系统平台内存储单元中的项目配置文件，将待测ZigBee DUT的测量项目和测试环境配置参数导入测试系统平台中； (2)自动控制ZigBee测试仪与待测ZigBee DUT进行通信； (3)自动控制ZigBee测试仪进行指定测量项目的测量，读取测量结果，并且实时显示测试结果； (4)测量结束后，将测量结果保存。 所述步骤(I)中测量项目按照IEE802.15.4协议要求包括:待测ZigBee DUT的发射状态到接收状态转换时间，接收状态到发射状态转换时间，矢量幅度误差，中心频率误差，发射功率，最大输入电平，接收灵敏度，链路品质信息。 所述步骤(1)中测量项目根据不同测量需求在测试程序中选择修改、配置。 所述步骤(2)中待测ZigBee DUT与ZigBee测试仪通过射频线通信连接。 多次重复所述步骤(3)测量待测ZigBee DUT的某个测量项目或者全部测量项目，反映待测ZigBee DUT在一段时间内的稳定性和一致性。 所述步骤(3)中ZigBee测试仪的测量结果通过测试系统平台的显示器读取，测试系统平台通过GPIB总线或网线获取测量结果。 本技术的有益效果:利用GPIB总线和网络对ZigBee射频性能进行自动测试，使用方便，能提高ZigBee设备研发与生产的进度，系统形成后无需人为参于，可以节约更多的人力成本，为ZigBee设备性能指标的验证提供了很好的解决方案。 【附图说明】 图1是本技术测试系统的总体结构框图； 图2是本技术测试系统平台与ZigBee测试仪连接的结构示意图； 图3是本技术测试系统的工作流程图。 【具体实施方式】 下面结合附图和实施例对本技术进行详细说明。 参照图1?图2，本技术所述的用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统，包括待测ZigBee DUT (被测设备)、ZigBee测试仪、测试系统平台，所述待测ZigBee DUT与ZigBee测试仪通过射频线通信连接，ZigBee测试仪与测试系统平台通信连接，所述测试系统平台由电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器及机箱结构组件构成，电源给背板供电，存储单元通过CF插槽插在控制器上，控制器通过PXI接口插在背板上，键盘通过USB接口连接在控制器上，显示器通过VGA接口连接在控制器上，测试系统平台的电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器固定于机箱结构组件上。 所述测试系统平台通过GPIB总线或网线与ZigBee测试仪之间的通信灵活配置，测试系统平台通过GPIB总线与ZigBee测试仪通信连接，或者通过网线与ZigBee测试仪通信连接，或者同时通过GPIB总线、网线与ZigBee测试仪通信连接。 所述存储单元为市售的Flash存储器(如标配2GB MLC Nand Flash)，所述控制器为市售的PXI控制器。 本技术用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统的测试方法，包括如下步骤: (1)加载存放于测试系统平台内存储单元中的项目配置文件，将待测ZigBee DUT的测量项目和测试环境配置参数(待测ZigBee DUT性能指标)导入测试系统平台中； (2)自动控制ZigBee测试仪与待测ZigBee DUT进行通信； (3)自动控制ZigBee测试仪进行指定测量项目的测量，读取测量结果，并且实时显示测试结果； (4)测量结束后，将测量结果保存。 所述步骤(I)中测量项目按照IEE802.15.4协议要求包括:待测ZigBee DUT的发射状态到接收状态转换时间，接收状态到发射状态转换时间，矢量幅度误差，中心频率误差，发射功率，最大输入电平，接收灵敏度，链路品质信息。 所述步骤(I)中测量项目根据不同测量需求在测试程序中选择修改、配置。测量项目可配置具体为:测试系统提供了项目配置文件，在测试系统平台上可以编辑项目配置文件，其目的是可以根据使用者的不同需求配置相关的测量项目，同时也可以根据不同的需求改变某个测量项目的环境，比如最大输入电平协议要求接收功率大于_20dbm测试，可能根据具体需求更改仪器的发射功率；测试系统提供频率、功率、测量次数等可配置的测量环境。可以配置测量项目的测试条件，如频率及仪器发射功率等，其中测量下限值与上限值都按照IEE802.15.4相关标准而定。还可以根据实际的测试需求进行删减和添加项目。 所述步骤(2)中待测ZigBee DUT与ZigBee测试仪通过射频线通信连接。 多次重复所述步骤(3)测量待测ZigBee DUT的某个测量项目或者全部测量项目，反映待测ZigBee DUT在一段时间内的稳定性和一致性。 所述步骤(3)中ZigBee测试仪的测量结果通过测试系统平台的显示器读取，测试系统平台通过GPIB总线或网线获取测量结果。 首先，参照图1，了解本技术的硬件连接方式。将待测ZigBee DUT用射频线连接到ZigBee测试仪的射频输出口，将ZigBee测试仪与测试系统平台通过GPIB总线或者网线连接；参考图2，其中测试系统平台与ZigBee测试仪通过USB-GPIB转接卡相连时，可以将USB转换成GPIB总线；ZigBee测试仪包括本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统，其特征在于：包括待测ZigBee DUT、ZigBee测试仪、测试系统平台，所述待测ZigBee DUT与ZigBee测试仪通过射频线通信连接，ZigBee测试仪与测试系统平台通信连接，所述测试系统平台由电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器及机箱结构组件构成，电源给背板供电，存储单元通过CF插槽插在控制器上，控制器通过PXI接口插在背板上，键盘通过USB接口连接在控制器上，显示器通过VGA接口连接在控制器上，测试系统平台的电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器固定于机箱结构组件上。

【技术特征摘要】
1.一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统，其特征在于:包括待测ZigBeeDUT,ZigBee测试仪、测试系统平台，所述待测ZigBee DUT与ZigBee测试仪通过射频线通信连接，ZigBee测试仪与测试系统平台通信连接，所述测试系统平台由电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器及机箱结构组件构成，电源给背板供电，存储单元通过CF插槽插在控制器上，控制器通过PXI接口插在背板上，键盘通过USB接口连接在控制器上，显示器通过VGA接口连接在控制...

【专利技术属性】
技术研发人员：张家平，姚僖，
申请(专利权)人：武汉威士讯信息技术有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42