光性量测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种光性量测装置，包含载台、固定环以及积分球。载台具有开口。固定环设置于载台表面，并固定由承载膜与发光二极管晶片所组成的待测物。固定环与待测物设置在载台上，其中至少部分的待测物暴露于开口。积分球设置于对应开口，并包含球形腔体、颈部以及透光基板。颈部连接球形腔体，且颈部定义收光口。透光基板设置于收光口且位于颈部内，其中待测物覆于透光基板上的部分与载台表面的垂直距离大于或等于待测物其他部分与载台表面的垂直距离。因此，承载膜可被撑平，并藉此提升待测物的平整性。

【技术实现步骤摘要】
光性量测装置
本技术是有关于一种光性量测装置，特别是一种具有积分球的光性量测装置。
技术介绍
发光二极管(LED)具有省电、体积小、以及高亮度优点，因此广泛地被应用作为光源使用。而为了检验生产的发光二极管的品质，常见检测方式为使用积分球作测量。积分球可将置于球口的开口处的发光二极管所发射的光线进行收集，并进行发光二极管光源的亮度测量。 现有的积分球在测量时，以覆晶发光二极管(flip-chip)为例，其是属于上点下收光的测量，所以在积分球与覆晶发光二极管之间会隔着一片石英玻璃。因为石英玻璃的设置，覆晶发光二极管光源在隔着石英玻璃的厚度情况下，其无法和积分球完全贴近，导致测量角度过小，进而影响测量结果。使得收光范围的测量角度过小而产生误差，无法完全使光线均匀进入积分球。除此之外，当光线进入积分球后，若覆晶二极管光源与积分球之间具有间隙，则易使光线漫射出积分球外，导致光性测量有误差。因此，如何能有效解决上述问题，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前相关领域亟需改进的目标。
技术实现思路
本技术提供一种光性量测装置，尤其是一种能够增加发光二极管对收光口发射光线的张角、防止进入积分球内部的光线自发光二极管与积分球间的高度差漫射射出的光性量测装置。 本技术光性量测装置的目的与功效是由以下的技术所实现: 一种光性量测装置，所述光性量测装置包含； —载台，具有一开口 ； 一固定环，设置于所述载台表面，并固定由一承载膜与多个发光二极管晶片所组成的一待测物，所述固定环与所述待测物设置在所述载台上，其中至少部分的所述待测物暴露于所述开口 ；以及 一积分球，设置于对应所述开口，包含: 一球形腔体； 一颈部，连接所述球形腔体，且所述颈部定义一收光口 ；以及 一透光基板，设置于所述收光口且位于所述颈部内，其中所述待测物覆于所述透光基板上的部分与所述载台表面的垂直距离大于或等于所述待测物其他部分与所述载台表面的垂直距离。 如上所述的光性量测装置，其中，覆于所述积分球上的所述承载膜被所述积分球的所述颈部或所述透光基板撑平。 如上所述的光性量测装置，其中，所述透光基板的表面与所述颈部齐平或所述透光基板的表面凸出于所述颈部。 如上所述的光性量测装置，其中，所述透光基板或所述颈部的边缘具有一导角。 如上所述的光性量测装置，其中，所述积分球包含一遮光元件，设置于所述透光基板表面，借此定义所述透光基板的一透光区域。 如上所述的光性量测装置，其中，所述积分球中的所述球形腔体与所述颈部为一体成型。 如上所述的光性量测装置，其中，所述积分球中的所述颈部为组装于所述球形腔体上,并为可拆卸式地连接。 如上所述的光性量测装置，其中，所述透光基板黏附于所述颈部或所述透光基板卡紧于所述颈部。 如上所述的光性量测装置，其中，所述积分球包含一定位部，设置于所述颈部内表面，所述定位部承载所述透光基板。 如上所述的光性量测装置，其中，所述积分球还包含一承载框架，设置于所述颈部，其中所述承载框架包含: 一连接部，黏附固定于所述颈部外表面；以及 一承载部，位于所述收光口内，且所述透光基板设置于所述承载部上。 如上所述的光性量测装置，其中，所述承载部与所述颈部内表面之间存在一间隙。 如上所述的光性量测装置，其中，所述透光基板的表面与所述承载框架齐平或所述透光基板的表面凸出于所述承载框架。 如上所述的光性量测装置，其中，所述承载框架或所述透光基板的边缘具有一导角。 本技术提供一种光性量测装置，将具有防尘效果的透光基板设置于积分球收光口内，使得待测物(例如放置在蓝膜上的发光二极管)放在透光基板上时能更接近积分球，以致于发光二极管对收光口发射光线的张角增加。通过缩短发光二极管与积分球收光口间的高度差，发光二极管的光性量测除了更精准外，也使得发光二极管所发射已进入积分球的光线不会自发光二极管与积分球间的高度差漫射射出。 并且，本技术的光性量测装置不仅通过将积分球以及透光基板结合，使得发光二极管与收光口的高度差缩减，以增加发光二极管对积分球的发光张角，除此之外，还通过额外于积分球上设置有定位部或是承载框架，使得除了发光二极管张角增加外，也可保护积分球内壁的漫射层不容易受到损伤。 【附图说明】 以下附图仅旨在于对本技术做示意性说明和解释，并不限定本技术的范围。其中: 图1A为本技术的光性量测装置第一实施例的侧视示意图。 图1B为本技术的光性量测装置第一实施例的俯视示意图。 图2为本技术光性量测装置的透光基板一实施例的俯视示意图。 图3为本技术的光性量测装置第二实施例的侧视示意图。 图4A为本技术的光性量测装置第三实施例的侧视示意图。 图4B为图4A中区域A的放大图。 附图标号说明: 100、100'、100光性量测装置134承载部 102第一方向136间隙 104第二方向138贴合胶 110载台140导角 112开口142透光区域 114固定环144遮光元件 116母环150量测装置 118子环152输出供应器 120、120'、120积分球154 基座 121球形腔体156探针 122颈部160待测物 124收光口161承载膜 126透光基板162发光二极管晶片 128、135 定位部164 光线 130承载框架Θ张角 132 连接部D1、D1'、D2 距离 【具体实施方式】 为使本技术的技术手段及其所能达成的效果，能够有更完整且清楚的揭露，现详细说明如下，请一并参阅揭露的图式及图号: 现有光性量测装置的积分球，例如放置在蓝膜上的发光二极管，由于发光二极管与积分球球口的开口处具有一个高度差，例如一石英玻璃的厚度，使得发光二极管所发出光线的张角受到限制。因此，积分球无法完整收到来自发光二极管所发出光线。除此之外，高度差产生的间隙也使得发光二极管射向积分球的光线于内部发生漫射后自间隙散出。 有鉴于此，本技术的光性量测装置将透光基板设置于积分球收光口内，使得积分球与发光二极管间的高度差缩减，发光二极管入射于积分球内的张角得以增加。此外，本技术的光性量测装置设置定位部或承载框架于积分球收光口，除了仍使发光二极管射至积分球的光线张角增加外，其可保护积分球内壁的漫射层不会受到损伤。 请同时参照图1A以及图1B。图1A为依照本技术的光性量测装置第一实施例的侧视示意图。图1B为依照本技术的光性量测装置第一实施例的俯视示意图。光性量测装置100包含载台110、固定环114、积分球120。进一步，光性量测装置100更可包含量测装置150。 参照图1A。载台110具有开口 112。固定环114设置于载台110表面，且固定环114为沿开口 112周缘布置，以使得开口 112的范围位于固定环114内。固定环114用以固定由承载膜161与发光二极管晶片162所组成的待测物160，其中承载膜161可以为蓝膜(Blue Type)或白膜等,而发光二极管晶片162可以为覆晶发光二极管(flip-chip)。固定环114与待测物160皆设置在载台110上，其中至少部分的待测物160暴露于开口 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光性量测装置，其特征在于，所述光性量测装置包含；一载台，具有一开口；一固定环，设置于所述载台表面，并固定由一承载膜与多个发光二极管晶片所组成的一待测物，所述固定环与所述待测物设置在所述载台上，其中至少部分的所述待测物暴露于所述开口；以及一积分球，设置于对应所述开口，包含：一球形腔体；一颈部，连接所述球形腔体，且所述颈部定义一收光口；以及一透光基板，设置于所述收光口且位于所述颈部内，其中所述待测物覆于所述透光基板上的部分与所述载台表面的垂直距离大于或等于所述待测物其他部分与所述载台表面的垂直距离。

【技术特征摘要】
1.一种光性量测装置，其特征在于，所述光性量测装置包含； 一载台，具有一开口 ； 一固定环，设置于所述载台表面，并固定由一承载膜与多个发光二极管晶片所组成的一待测物，所述固定环与所述待测物设置在所述载台上，其中至少部分的所述待测物暴露于所述开口 ；以及 一积分球，设置于对应所述开口，包含: 一球形腔体； 一颈部，连接所述球形腔体，且所述颈部定义一收光口 ；以及 一透光基板，设置于所述收光口且位于所述颈部内，其中所述待测物覆于所述透光基板上的部分与所述载台表面的垂直距离大于或等于所述待测物其他部分与所述载台表面的垂直距离。2.根据权利要求1所述的光性量测装置，其特征在于，覆于所述积分球上的所述承载膜被所述积分球的所述颈部或所述透光基板撑平。3.根据权利要求1所述的光性量测装置，其特征在于，所述透光基板的表面与所述颈部齐平或所述透光基板的表面凸出于所述颈部。4.根据权利要求1所述的光性量测装置，其特征在于，所述透光基板或所述颈部的边缘具有一导角。5.根据权利要求1所述的光性量测装置，其特征在于，所述积分球包含一遮光元件，设置于所述透光基板表面，借此定义所述透光基板的一透光区域...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭柏翰，陈建羽，林宏毅，
申请(专利权)人：旺矽科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾;71