一种发光二极管外延片生长方法技术

技术编号:10814751 阅读:88 留言:0更新日期:2014-12-24 19:08
本发明专利技术公开了一种发光二极管外延片生长方法,属于半导体技术领域。所述方法包括:将反应腔中的温度控制在第一生长温度,向反应腔中持续通入氨气并间断性地通入三甲基镓源,在玻璃衬底上生长不掺杂层;将反应腔中的温度调至第二生长温度,向反应腔中持续通入氨气和硅源并间断性地通入三甲基镓源,在不掺杂层上生长N型层;将反应腔中的温度调至第三生长温度,向反应腔中持续通入氨气并间断性地通入三甲基镓源和三甲基铟源,在N型层上生长有源层;将反应腔中的温度调至第四生长温度,向反应腔中持续通入氨气、二茂镁源以及间断性通入三甲基镓源,在有源层上生长P型层;第一生长温度、第二生长温度、第三生长温度以及第四生长温度均不超过480°。

【技术实现步骤摘要】
一种发光二极管外延片生长方法
本专利技术涉及半导体
,特别涉及一种发光二极管外延片生长方法。
技术介绍
发光二极管芯片发光二极管的核心组件,发光二极管芯片主要包括衬底、生长在衬底上的外延层和设于外延层上的电极。目前的GaN基发光二极管普遍采用金属有机化合物化学气相沉淀(Metal-organicChemicalVaporDeposition,简称“MOCVD”)的方法在衬底上生长外延层,常用于制作的衬底材料有蓝宝石、碳化硅和硅。但这些常用材料制作的衬底因衬底翘曲问题制作尺寸较小且成本较高,而玻璃作为一种常见材料,相对上述常用材料,其成本低。在实现本专利技术的过程中,专利技术人发现现有技术至少存在以下问题:由于玻璃的软化温度为500℃,而传统的MOCVD法中的外延层的生长所需温度会超过500℃,致使玻璃制作的衬底软化,导致玻璃无法作为制作衬底的材料。
技术实现思路
为了解决玻璃由于软化温度不高而无法在传统的MOCVD法中成为GaN基发光二极管芯片衬底的制作材料的问题,本专利技术实施例提供了一种发光二极管外延片生长方法。所述技术方案如下:一方面,提供了一种发光二极管外延片生长方法,所述方法包括:将反应腔中的温度控制在第一生长温度,向所述反应腔中持续通入氨气并间断性地通入三甲基镓源,在玻璃衬底上生长不掺杂层;将反应腔中的温度调至第二生长温度,向所述反应腔中持续通入氨气和硅源并间断性地通入三甲基镓源,在所述不掺杂层上生长N型层;将反应腔中的温度调至第三生长温度,停止向所述反应腔中通入硅源,向所述反应腔中持续通入氨气并间断性地通入三甲基镓源和三甲基铟源,在所述N型层上生长有源层;将反应腔中的温度调至第四生长温度,停止向所述反应腔中通入三甲基铟源,向所述反应腔中持续通入氨气、二茂镁源以及间断性通入三甲基镓源,在所述有源层上生长P型层;所述第一生长温度、所述第二生长温度、所述第三生长温度以及所述第四生长温度均不超过480°;间断性通入三甲基镓源、三甲基铟源采用如下方式实现:通入10-50秒,间断2-10秒;所述方法还包括:将所述玻璃衬底进行化学清洗并用氮气枪吹干;将所述玻璃衬底置于所述反应腔中,在氢气氛围下加热至初始温度,对所述玻璃衬底进行预处理,所述初始温度在410°-440°之间。具体地,所述第一生长温度在450°-480°之间,所述第二生长温度在420°-450°之间,所述第三生长温度在380°-400°之间,所述第四生长温度在420°-440°之间。具体地,所述不掺杂层的厚度为2um。具体地,所述N型层的厚度为2um。具体地,所述有源层为4-6个周期的InGaN/GaN量子阱。具体地,所述InGaN/GaN量子阱包括InGaN阱层和GaN垒层,所述InGaN阱层的厚度为2-4nm,所述GaN垒层的厚度为5-20nm。具体地,所述P型层的厚度为100-400nm。本专利技术实施例提供的技术方案带来的有益效果是:通过将反应腔中的温度控制在第一生长温度,向反应腔中持续通入氨气并间断性地通入三甲基镓源在玻璃衬底上生长不掺杂层;将反应腔中的温度调至第二生长温度,向反应腔中持续通入氨气和硅源并间断性地通入三甲基镓源在不掺杂层上生长N型层;将反应腔中的温度调至第三生长温度,向反应腔中持续通入氨气并间断性地通入三甲基镓源和三甲基铟源在N型层上生长有源层;将反应腔中的温度调至第四生长温度,向反应腔中持续通入氨气、二茂镁源以及间断性通入三甲基镓源在有源层上生长P型层。此方法中,第一生长温度、第二生长温度、第三生长温度以及第四生长温度均不超过480°,使得玻璃可以作为制作衬底的材料,既可以增大衬底的制作尺寸,又可以降低了发光二极管芯片的衬底制作成本。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术实施例一提供的一种发光二极管外延片生长方法的流程图;图2是本专利技术实施例二提供的一种发光二极管外延片生长方法的流程图;图3是本专利技术实施例二提供的一种发光二极管外延片结构示意图;图4是本专利技术实施例二提供的一种有源层的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本专利技术实施方式作进一步地详细描述。实施例一本专利技术实施例提供了一种发光二极管外延片生长方法,参见图1,该方法包括:步骤S11,将反应腔中的温度控制在第一生长温度,向反应腔中持续通入氨气并间断性地通入三甲基镓源,在玻璃衬底上生长不掺杂层。其中,第一生长温度不超过480°。在本实施例中,间断性地通入三甲基镓源可以采用如下方式实现:通入10-50秒,间断2-10秒。步骤S12,将反应腔中的温度调至第二生长温度,向反应腔中持续通入氨气和硅源并间断性地通入三甲基镓源,在不掺杂层上生长N型层。其中,第二生长温度不超过480°。在本实施例中,上述硅源可以是硅烷,间断性地通入三甲基镓源可以采用如下方式实现:通入10-50秒,间断2-10秒。步骤S13,将反应腔中的温度调至第三生长温度,停止向反应腔中通入硅源,向反应腔中持续通入氨气并间断性地通入三甲基镓源和三甲基铟源,在N型层上生长有源层。其中,第三生长温度不超过480°。在本实施例中,间断性地通入三甲基镓源和三甲基铟源可以采用如下方式实现:通入10-50秒,间断2-10秒。步骤S14,将反应腔中的温度调至第四生长温度,停止向反应腔中通入三甲基铟源,向反应腔中持续通入氨气、二茂镁源以及间断性通入三甲基镓源,在有源层上生长P型层。其中,第四生长温度不超过480°。在本实施例中,间断性地通入三甲基镓源可以采用如下方式实现:通入10-50秒,间断2-10秒。本专利技术实施例通过将反应腔中的温度控制在第一生长温度,向反应腔中持续通入氨气并间断性地通入三甲基镓源,在玻璃衬底上生长不掺杂层;将反应腔中的温度调至第二生长温度,向反应腔中持续通入氨气和硅源并间断性地通入三甲基镓源,在不掺杂层上生长N型层;将反应腔中的温度调至第三生长温度,向反应腔中持续通入氨气并间断性地通入三甲基镓源和三甲基铟源,在N型层上生长有源层;将反应腔中的温度调至第四生长温度,向反应腔中持续通入氨气、二茂镁源以及间断性通入三甲基镓源,在有源层上生长P型层。此方法中,第一生长温度、第二生长温度、第三生长温度以及第四生长温度均不超过480°,使得玻璃可以作为制作衬底的材料,既可以增大衬底的制作尺寸,又可以降低了发光二极管芯片的衬底制作成本。实施例二本专利技术实施例提供了一种发光二极管外延片生长方法,参见图2,该方法包括:步骤S21,将玻璃衬底进行化学清洗并用氮气枪吹干。具体地,化学清洗可以采用如下方式进行:首先用浸有无水乙醇的棉球对玻璃衬底进行多次擦洗,然后在丙酮中超声清洗三次,每次10min,接着在无水乙醇中超声清洗三次,每次10min。步骤S22,将该玻璃衬底置于反应腔中,在氢气气氛下加热反应腔至初始温度,对该玻璃衬底进行预处理。具体地,该玻璃衬底可以放置在石墨盘上送入反应腔中,该初始温度410°-440°之间。步骤S23,将反应腔中的温度控制在第一生长温度,向反应本文档来自技高网...
一种发光二极管外延片生长方法

【技术保护点】
一种发光二极管外延片生长方法,其特征在于,所述方法包括:将反应腔中的温度控制在第一生长温度,向所述反应腔中持续通入氨气并间断性地通入三甲基镓源,在玻璃衬底上生长不掺杂层;将反应腔中的温度调至第二生长温度,向所述反应腔中持续通入氨气和硅源并间断性地通入三甲基镓源,在所述不掺杂层上生长N型层;将反应腔中的温度调至第三生长温度,停止向所述反应腔中通入硅源,向所述反应腔中持续通入氨气并间断性地通入三甲基镓源和三甲基铟源,在所述N型层上生长有源层;将反应腔中的温度调至第四生长温度,停止向所述反应腔中通入三甲基铟源,向所述反应腔中持续通入氨气、二茂镁源以及间断性通入三甲基镓源,在所述有源层上生长P型层;所述第一生长温度、所述第二生长温度、所述第三生长温度以及所述第四生长温度均不超过480°。

【技术特征摘要】
1.一种发光二极管外延片生长方法,其特征在于,所述方法包括:将反应腔中的温度控制在第一生长温度,向所述反应腔中持续通入氨气并间断性地通入三甲基镓源,在玻璃衬底上生长不掺杂层;将反应腔中的温度调至第二生长温度,向所述反应腔中持续通入氨气和硅源并间断性地通入三甲基镓源,在所述不掺杂层上生长N型层;将反应腔中的温度调至第三生长温度,停止向所述反应腔中通入硅源,向所述反应腔中持续通入氨气并间断性地通入三甲基镓源和三甲基铟源,在所述N型层上生长有源层;将反应腔中的温度调至第四生长温度,停止向所述反应腔中通入三甲基铟源,向所述反应腔中持续通入氨气、二茂镁源以及间断性通入三甲基镓源,在所述有源层上生长P型层;所述第一生长温度、所述第二生长温度、所述第三生长温度以及所述第四生长温度均不超过480°;间断性通入三甲基镓源、三甲基铟源采用如下方式实现:通入10-50秒,间断2-10秒;所述方法还包括:将所述玻璃衬底进行化学清洗并用氮气枪吹干;将...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙玉芹董彬忠王江波刘榕
申请(专利权)人:华灿光电股份有限公司
类型:发明
国别省市:湖北;42

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