检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法技术

检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法，涉及光电测量领域，填补了检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法空白的问题。该方法包括以下步骤：主光栅与滑架定位后，在主光栅上与滑架的五个轴承对应的位置镀上铬层，铬层厚度满足导电即可；在铬层上引出导线，两个导线之间连接万用表；将导电的滑架放置在主光栅上，利用万用表测量铬层引出的导线之间是否导通，导通则说明导线之间对应的滑架的轴承与主光栅接触良好，不导通则说明对应的滑架的轴承与主光栅之间出现离位。本发明专利技术的检测方法操作简单，可靠性高，易于实现，成本低。

【技术实现步骤摘要】
检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法
本专利技术涉及光电测量
，具体涉及一种检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法。
技术介绍
在精密测量和位移控制领域中，光栅尺为主要的测量手段，光栅尺也是公认的最经济适用的高精度测量设备，在机床、位移控制台等涉及测量的工程
中应用广泛。光栅尺读数头装配工艺中，滑架2与指示光栅粘接是其中的核心步骤，直接关系到是否能保证指示光栅与主光栅1之间的间隙。滑架2与指示光栅粘接后还需要检测指示光栅与主光栅1之间的间隙是否在设计的范围内。指示光栅与滑架2粘接过程或者粘接后的检测过程中需要通过一定的手段或者方法使得滑架2与主光栅1定位，也就是需要保证滑架2上面的五个轴承(第一上轴承201、第二上轴承202、第三上轴承203、第一侧轴承204、第二侧轴承205)与主光栅1接触良好而不出现离位。特别是在粘接滑架2与指示光栅的过程中，因紫外胶在固化过程中会存在收缩，会导致滑架2与指示光栅之间存在收缩力，会影响滑架2与主光栅1之间的定位。所以检测滑架2与主光栅1是否离位显得尤为必要，这也是读数头装调工艺中不可或缺的环节。本领域中，重点都放在如何保证滑架2与主光栅1不离位，尚未发现有检测滑架2的五个轴承与主光栅1是否离位的方法的报道。这是光栅尺领域中一直都没有引起足够重视的问题，也是一直未能够很好地解决的问题。
技术实现思路
为了填补检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法空白的问题，本专利技术提供一种检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法，用于光栅尺生产制造中对指示光栅与滑架装配或者检测指示光栅与主光栅间隙过程中检测滑架的五个轴承与主光栅是否接触良好、是否离位。本专利技术为解决技术问题所采用的技术方案为：本专利技术的检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法，包括以下步骤：步骤一、主光栅与滑架定位后，在主光栅上与滑架的五个轴承对应的位置镀上铬层，铬层厚度满足导电即可；步骤二、在铬层上引出导线，两个导线之间连接万用表；步骤三、将导电的滑架放置在主光栅上，利用万用表测量铬层引出的导线之间是否导通，导通则说明导线之间对应的滑架的轴承与主光栅接触良好，不导通则说明对应的滑架的轴承与主光栅之间出现离位。所述铬层包括：与滑架的第一上轴承对应的第一铬层、与滑架的第二上轴承对应的第二铬层、与滑架的第三上轴承对应的第三铬层、与滑架的第一侧轴承对应的第四铬层、与滑架的第二侧轴承对应的第五铬层。所述万用表包括：连接所述第一铬层引出的导线与所述第三铬层引出的导线的第一万用表、连接所述第一铬层引出的导线与所述第二铬层引出的导线的第二万用表、连接所述第四铬层引出的导线与所述第五铬层引出的导线的第三万用表。在进行步骤一之前还包括以下步骤：在塑料材质的滑架压铸成型过程中加入导电粉末，使得滑架成为导体可以导电。所述导电粉末为金属粉末或者石墨。本专利技术的有益效果是：本专利技术的检测滑架五个轴承与主光栅是否离位的方法，通过滑架五个轴承与主光栅对应的位置处，在主光栅上镀一层铬层，并引出导线，之间接上万用表测量是否导通，以此来实现检测滑架五个轴承与主光栅是否离位，该方法实现了检测滑架轴承与主光栅是否离位，本专利技术的方法操作简单，可靠性高，易于实现，成本低。附图说明图1为本专利技术的检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法中涉及的各组成构件位置关系的主视图。图2为图1所示的仰视图(图2中省略了第一万用表和第二万用表)。图3为本专利技术的检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法中涉及的滑架的五个轴承与主光栅上的铬层接触位置的主视图。图4为图3所示的仰视图。图中：1、主光栅，101、第一铬层，102、第二铬层，103、第三铬层，104、第四铬层，105、第五铬层，2、滑架，201、第一上轴承，202、第二上轴承，203、第三上轴承，204、第一侧轴承，205、第二侧轴承，301、第一万用表，302、第二万用表，303、第三万用表。具体实施方式以下结合附图对本专利技术作进一步详细说明。本专利技术的一种检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法，该方法通过以下步骤实现：步骤一、在塑料材质的滑架2压铸成型过程中加入导电粉末(例如金属粉末或者石墨)，使得滑架2成为导体并且能够导电；步骤二、将滑架2与主光栅1定位后，在主光栅1上与滑架2的五个轴承对应的位置镀上铬层，铬层厚度满足导电即可。具体为：如图3所示，在主光栅1上与滑架2的第一上轴承201相对应的位置镀上第一铬层101，在主光栅1上与滑架2的第二上轴承202相对应的位置镀上第二铬层102，在主光栅1上与滑架2的第三上轴承203对应的第三铬层103，如图4所示，在主光栅1上与滑架2的第一侧轴承204相对应的位置镀上第四铬层104，在主光栅1上与滑架2的第二侧轴承205相对应的位置镀上第五铬层105；步骤三、在铬层上引出导线，两个导线之间连接万用表。具体为：如图1所示，第一铬层101引出的导线与第三铬层103引出的导线之间连接第一万用表301，第一铬层101引出的导线与第二铬层102引出的导线的之间连接第二万用表302，如图2所示，连接第四铬层104引出的导线与第五铬层105引出的导线之间连接第三万用表303；步骤四、将导电的滑架2放置在主光栅1上后，利用万用表测量铬层引出的导线之间是否导通，导通说明导线之间对应的轴承与主光栅1接触良好，不导通则说明对应的滑架2的轴承与主光栅1之间接触不好，出现离位。本专利技术的方法简单可靠，易实现，成本低。本文档来自技高网...

【技术保护点】
检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、主光栅(1)与滑架(2)定位后，在主光栅(1)上与滑架(2)的五个轴承对应的位置镀上铬层，铬层厚度满足导电即可；步骤二、在铬层上引出导线，两个导线之间连接万用表；步骤三、将导电的滑架(2)放置在主光栅(1)上，利用万用表测量铬层引出的导线之间是否导通，导通则说明导线之间对应的滑架(2)的轴承与主光栅(1)接触良好，不导通则说明对应的滑架(2)的轴承与主光栅(1)之间出现离位。

【技术特征摘要】
1.一种检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、主光栅(1)与滑架(2)定位后，在主光栅(1)上与滑架(2)的五个轴承对应的位置镀上铬层，铬层厚度满足导电即可；步骤二、在铬层上引出导线，两个导线之间连接万用表；步骤三、将导电的滑架(2)放置在主光栅(1)上，利用万用表测量铬层引出的导线之间是否导通，导通则说明导线之间对应的滑架(2)的轴承与主光栅(1)接触良好，不导通则说明对应的滑架(2)的轴承与主光栅(1)之间出现离位；所述铬层包括：与滑架(2)的第一上轴承(201)对应的第一铬层(101)、与滑架(2)的第二上轴承(202)对应的第二铬层(102)、与滑架(2)的第三上轴承(203)对应的第三铬层(103)、与滑架(2)的第一侧轴承(204)对应的第四铬层(104)、与滑架(2...

【专利技术属性】
技术研发人员：张雪鹏，孙强，吴宏圣，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：吉林;22