测试系统及其对位治具技术方案

一种测试系统包含测试机台、第一可插拔接头、第二可插拔接头与对位治具。第二可插拔接头台电性连接受测装置，可插拔地耦接第一可插拔接头。对位治具包含一第一对位模块及一第二对位模块。第一对位模块固持第一可插拔接头。第二对位模块可分离地耦接第一对位模块，用以固持第二可插拔接头。当第一对位模块耦接第二对位模块时，第一可插拔接头恰与第二可插拔接头相互耦接，以致测试机台电性连接受测装置。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种测试系统包含测试机台、第一可插拔接头、第二可插拔接头与对位治具。第二可插拔接头台电性连接受测装置，可插拔地耦接第一可插拔接头。对位治具包含一第一对位模块及一第二对位模块。第一对位模块固持第一可插拔接头。第二对位模块可分离地耦接第一对位模块，用以固持第二可插拔接头。当第一对位模块耦接第二对位模块时，第一可插拔接头恰与第二可插拔接头相互耦接，以致测试机台电性连接受测装置。【专利说明】测试系统及其对位治具
本技术关于一种对位治具，特别是有关于一种测试系统的对位治具。
技术介绍
由于电子装置的生产过程皆被要求便利且快速的完成，如何对电子装置进行精确且快速的电性测试便成为极需解决的趋势。传统对电子装置进行电性测试时，测试机台通过探针与转接垫的直接对接，以达电性连接受测试的电子装置，进而进行所需的信号测试。 然而，由于探针与转接垫彼此直接对接以进行测试信号的传递，所传递的测试信号将因阻抗不稳，而于传递测试信号的过程中导致测试机台与受测试的电子装置产生断讯，进而降低生产故障排除的效率。 有鉴于此，如何提供一种解决方案，可有效改善上述所带来的缺失及不便，实乃相关业者目前刻不容缓的一重要课题。
技术实现思路
本技术提供一种测试系统及其对位治具，以解决以上先前技术所提到的不便与缺点。 根据本技术的一实施方式，此种测试系统包含一测试机台、一第一导线组、一第二导线组与一对位治具。第一导线组的一端电性连接测试机台，另端具有一第一可插拔接头。第二导线组的一端电性连接至少一受测装置，另端具有一第二可插拔接头。第二可插拔接头可插拔地耦接第一可插拔接头。测试治具包含一第一对位模块与一第二对位模块。第一对位模块用以固持第一可插拔接头。第二对位模块可分离地耦接第一对位模块，用以固持第二可插拔接头。当第一对位模块耦接第二对位模块时，第一可插拔接头恰与第二可插拔接头相互耦接，以致测试机台电性连接受测装置。 在本技术的另一实施方式中，这种测试治具包含一第一对位模块与一第二对位模块。第一对位模块包含一第一平台与至少一定位柱。第一平台用以固持一第一可插拔接头。定位柱连接第一平台。第二对位模块可分离地耦接第一对位模块，第二对位模块包含一第二平台与至少一定位槽。第二平台用以固持一第二可插拔接头。定位槽位于第二平台上，且对准定位柱。故，当定位柱伸入定位槽时，第一可插拔接头至少对位第二可插拔接头。 综上所述，本技术的测试系统及其对位治具在一或多个实施例中，通过第一对位模块与第二对位模块精准的对位设计，第一可插拔接头可与第二可插拔接头相互插接，从而降低所传递的测试信号的阻抗峰值，以稳定所传递的测试信号，并避免于过程中产生断讯，进而提闻生广故障排除的效率。 【专利附图】【附图说明】 图1是绘示依照本技术一实施方式的测试系统的示意图。 图2是绘示本技术的此实施方式的对位治具处于一分离状态的示意图。 图3是绘示本技术的此实施方式的对位治具处于一结合状态的示意图。 图4是绘示本技术的此实施方式的第一对位模块的立体图。 图5是绘示本技术的此实施方式的第二对位模块的立体图。 图6是绘示本技术的此实施方式的第二对位模块透视顶板而观看活动板的示意图。 图7是绘示本技术的此实施方式的第二对位模块的侧视图。 图8是绘示本技术的此实施方式的第二对位模块的上视图。 【符号说明】 100:测试系统 200:测试机台 3OO:第一导线组 310:第一导线 320:第一可插拔接头 400:第二导线组 410:第二导线 420:第二可插拔接头 500:对位治具 600:第一对位模块 610:第一平台 611:座体 612:缓冲框 613:连接块 620:固持元件 621:夹持块 630:定位柱 700:第二对位模块 710:第二平台 711:底板 712:顶板 712N:开口 713:活动板 713P:定位针 714:挡块 715:活动空间 716:滚珠 717:定位块 717S:间隔空间 718:压迫螺杆 720:定位槽 721:套筒 800:可动式栈板单元 810:板体 811:承载面 812:线槽 900:受测装置 S:空隙 L1、L2:端子 【具体实施方式】 以下将以图式揭露本技术的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本技术。也就是说，在本技术部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化图式起见，一些传统惯用的结构与元件在图式中将以简单示意的方式绘示的。 图1是绘示依照本技术一实施方式的测试系统100的示意图。图2是绘示本技术的此实施方式的对位治具500处于一分离状态的示意图。请参阅图1至图2，本实施方式的测试系统100包含测试机台200、第一导线组300、第二导线组400与对位治具500。第一导线组300包含第一导线310，第一导线310的一端电性连接测试机台200，另端具有第一可插拔接头320。第二导线组400包含第二导线410，第二导线410的一端电性连接一或多个受测装置900，另端具有第二可插拔接头420。第二可插拔接头420可插拔地耦接第一可插拔接头320。测试治具包含第一对位模块600与第二对位模块700。第一对位模块600固持第一可插拔接头320。第二对位模块700可分离地稱接第一对位模块600,且第二对位模块700固持第二可插拔接头420。 图3是绘示本技术的此实施方式的对位治具500处于一结合状态的示意图。请参阅图1与图3，当第一对位模块600耦接第二对位模块700时，使得第一可插拔接头320恰与第二可插拔接头420相互耦接，以致测试机台200因此电性连接受测装置900。 此实施方式中，测试系统100更包含一或多个可动式栈板单元800。每一个可动式栈板单元800可承载一个第二对位模块700与一或多个受测装置900。具体来说，第二对位模块700锁固于可动式栈板单元800上，一或多个受测装置900移除地放置于可动式栈板单元800的一承载面811，且第二导线组400亦可通过一对多的方式电连接多个受测装置900。 故,每当一可动式栈板单兀800移至第一对位模块600下方时,第一对位模块600可沿第一轴向(如Z轴)线性地移动至第二对位模块700，并耦接第二对位模块700，以实现第一可插拔接头320与第二可插拔接头420精准且快速地相互耦接。第一对位模块600可通过活动手臂或支架(图中未示)作第一轴向(如Z轴)的移动。然而，本技术不限于此，意即，其他实施方式下，第一对位模块600也可二维地或任意地移动至第二对位模块700。此外，如图2，可动式栈板单元800具有板体810与线槽812。线槽812开设于板体810的承载面811，线槽812呈线状自第二对位模延伸至受测装置900，用以容纳第二导线 410。 图4是绘示本技术的此实施方式的第一对位模块600的立体图。请参阅图3与图4，在本实施方式中，第一对位模块600包含第一平台61本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试系统，其特征在于，包含：一测试机台；一第一导线组，电性连接该测试机台，具有一第一可插拔接头；一第二导线组，电性连接至少一受测装置，具有一第二可插拔接头，该第二可插拔接头可插拔地耦接该第一可插拔接头；以及一对位治具，包含：一第一对位模块，用以固持该第一可插拔接头；以及一第二对位模块，可分离地耦接该第一对位模块，用以固持该第二可插拔接头，其中，当该第一对位模块耦接该第二对位模块时，该第一可插拔接头恰与该第二可插拔接头相互耦接，以致该测试机台电性连接该至少一受测装置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吕彦志，江庆丰，周镇邦，王年正，陈昱勋，徐志明，吴天文，吕彦宏，
申请(专利权)人：广达电脑股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾;71