用于微观径迹的检测分析装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于微观径迹的检测分析装置，该检测分析装置包括用于放置被检测对象(400)的载物组件(300)和用于采集被检测对象(400)上的微观径迹信息的图像采集组件(100)，图像采集组件(100)竖向设置，固定在移动对焦组件(200)上，载物组件(300)设置在图像采集组件(100)的上方，移动对焦组件(200)能够带动图像采集组件(100)竖向移动，以调整图像采集组件(100)和载物组件(300)之间的距离。本实用新型专利技术的用于微观径迹的检测分析装置结构简单、操作方便、识别准确。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种用于微观径迹的检测分析装置，该检测分析装置包括用于放置被检测对象(400)的载物组件(300)和用于采集被检测对象(400)上的微观径迹信息的图像采集组件(100)，图像采集组件(100)竖向设置，固定在移动对焦组件(200)上，载物组件(300)设置在图像采集组件(100)的上方，移动对焦组件(200)能够带动图像采集组件(100)竖向移动，以调整图像采集组件(100)和载物组件(300)之间的距离。本技术的用于微观径迹的检测分析装置结构简单、操作方便、识别准确。【专利说明】用于微观径迹的检测分析装置
本技术涉及一种检测分析装置，尤其涉及一种能够用于微观径迹的检测分析 >J-U ρ?α装直。
技术介绍
目前市场上伪造品充斥的状况层出不穷，伪造品的繁多必然导致消费者对于产品本身的信任度降低，因此目前市场上也存在很多检测防伪标识的装置或系统。但是现有的防伪标识的检测主要是通过计算机技术对图像进行分析，然后再利用图像重建获得被检测对象上的内部物质分析，这样的防伪标识很容易被模仿，也就不可能达到抑制他人仿造的防伪目的。 由于上述分析的图像作为防伪标识很容易被破解，因此微观径迹开始逐渐被应用在防伪标识中。微观径迹标识具有其上径迹微粒直径较小，物理特征信息较为稳定，可以长期存档保留等特点，例如在已经公开的中国专利CN1108769A中，具体公开了一种利用核技术与激光计算机制全息图相结合的连锁保护的双卡防伪标识的制作方法及其检验装置，其利用带电粒子的径迹与计算机制傅里叶变换全息图抽样符合的方法分别在防伪标识中与检验标识中嵌入隐图与符合隐图相合出现固定信息证明标识本身的真品性。但是利用该专利中的技术检测，其检测方式较为复杂，检测精度和速度无法满足日益增长的应用需求，并且体积较大，重量较重。
技术实现思路
本技术的目的在于提供了一种结构简单、操作方便、识别准确的用于微观径迹的检测分析装置。 为实现上述目的，本技术的一种用于微观径迹的检测分析装置的具体技术方案为: 一种用于微观径迹的检测分析装置，包括用于放置被检测对象的载物组件和用于采集被检测对象上的微观径迹信息的图像采集组件，图像采集组件竖向设置，固定在移动对焦组件上，载物组件设置在图像采集组件的上方，移动对焦组件能够带动图像采集组件竖向移动，以调整图像采集组件和载物组件之间的距离。 进一步，图像采集组件包括顺次连接的物镜、镜筒和微观径迹采集器，镜筒上靠近物镜的一端设置有照明光源，放置被检测对象的载物组件设置在物镜的前方。 进一步，物镜外侧包覆设置有可伸缩防尘套。 进一步，移动对焦组件包括底板，底板上设置有驱动装置，驱动装置的动力输出端上设置有连接件，连接件的另一端连接有丝杆，丝杆的另一端与滑块相连，丝杆与滑块为螺纹配合，滑块设置在导轨上，图像采集组件固定设置在滑块上，滑块能够沿导轨前后移动。 进一步，滑块的移动方向上设置有第一限位块和第二限位块，第一限位块设置在滑块靠近驱动装置的一端，第二限位块设置在滑块远离驱动装置的一端，第一限位块和第二限位块上分别设置有远端极限点检测开关和近端极限点检测开关，滑块在第一限位块和第二限位块之间移动。 进一步，移动对焦组件上还设置有中间零点检测开关，中间零点检测开关包括光拦片和槽形光电传感器，光拦片设置在滑块上，并能够随滑块一起移动；槽形光电传感器设置在底板上，槽形光电传感器上形成有红外透射槽，红外透射槽内部的两相对表面上分别设置有红外发射端和红外接收端；光拦片随滑块一起移动时能够进入到槽形光电传感器上的红外透射槽中，遮挡住红外透射槽中的红外发射端到红外接收端的红外光，使驱动装置停止运行，进而确定滑块的起始位置。 进一步，还包括密闭的防尘箱体，图像采集组件和移动对焦组件设置在防尘箱体的内部，载物组件设置在防尘箱体的顶壁上。 与现有检测分析装置相比，本技术的用于微观径迹的检测分析装置具有以下优点:本技术的用于微观径迹的检测分析装置通过图像采集组件和移动对焦组件的配合使用，可自动、精确地为图像采集组件确定合适的焦点，且操作简单、耗时比较小，单次测量时间可控制在I Ims左右，整个对焦环路在2S内即可完成自动对焦，极大地提高了装置的检测分析效率。 【专利附图】【附图说明】 图1为本技术的用于微观径迹的检测分析装置的结构示意图； 图2为图1中的图像采集组件和移动对焦组件的结构示意图； 图3为图2中的移动对焦组件的内部结构图。 【具体实施方式】 为了更好的了解本技术的目的、结构及功能，下面结合附图，对本技术的一种用于微观径迹的检测分析装置做进一步详细的描述。 如图1所示，本技术的用于微观径迹的检测分析装置包括图像采集组件100、移动对焦组件200和载物组件300。其中，载物组件300可为普通的载物玻璃板，用于放置被检测对象400 ；图像采集组件100用于采集被检测对象400上的微观径迹信息；移动对焦组件200用于控制图像采集组件100的移动和定位，以实现图像采集组件100的对焦操作。 进一步，本技术中的图像采集组件100竖向设置，载物组件300设置在图像采集组件100的上方，且图像采集组件100设置在移动对焦组件200上，移动对焦组件200可带动图像采集组件100竖向移动，以调整图像采集组件100和载物组件300之间的距离。 应注意的是，本技术中的被检测对象400可以是含有微观径迹的防伪标识等。其中，被检测对象400中的微观径迹可包括分子、原子、原子核、基本粒子及与之相应的场所形成的轨迹，以及用其他物理、化学、生物、机械等方式生成的微观径迹。 下面结合图1至图3，对本技术的用于微观径迹的检测分析装置的具体结构进行详细描述: 如图1和图2所示，本技术中的图像采集组件100包括顺次连接的物镜101、镜筒102和微观径迹采集器103。其中，镜筒102上靠近物镜101的一端还设置有照明光源104，具体来说，照明光源104是设置在镜筒102的侧壁上。此外，物镜101的外侧还包覆设置有可伸缩防尘套105，在物镜101前后移动进行对焦时，可伸缩防尘套105能够伴随物镜101 一起自动伸缩，全面实现物镜101的防尘。 由此，当需要进行检测时，可将被检测对象400放置在物镜101上方的载物组件300上，并通过下文中将要描述的移动对焦组件200调整物镜101与被检测对象400之间的距离，使得微观径迹采集器103能够精准采集到被检测对象400上的微观径迹信息。应注意的是，本技术中的物镜101可采用现有的光学成像显微镜头组，微观径迹采集器103可采用现有的图像传感器，照明光源104可采用现有的照明光筒。 进一步，如图2和图3所示，本技术中的移动对焦组件200包括底板201，底板201上设置有驱动装置202，驱动装置202的动力输出端上设置有连接件203，连接件203的另一端连接有丝杆204，丝杆204的另一端与滑块205相连。其中，滑块205上设置有内螺纹，丝杆204上设置有外螺纹，滑块205与丝杆204之间为螺纹配合，由此，可将丝杆204沿轴向的转动转化为滑块205的前本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于微观径迹的检测分析装置，其特征在于，包括用于放置被检测对象(400)的载物组件(300)和用于采集被检测对象(400)上的微观径迹信息的图像采集组件(100)，图像采集组件(100)竖向设置，固定在移动对焦组件(200)上，载物组件(300)设置在图像采集组件(100)的上方，移动对焦组件(200)能够带动图像采集组件(100)竖向移动，以调整图像采集组件(100)和载物组件(300)之间的距离。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：马振东，朱军，崔亮，韩勇，
申请(专利权)人：航天民生科技北京有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11