一种驱动装置、阵列基板和显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种驱动装置，包括多个级联的移位寄存器，多个检测开关，多个检测端；所述多个检测开关的控制端分别与所述多个移位寄存器电连接，所述多个检测开关的第一极分别与所述多个移位寄存器的信号输出端电连接，至少间隔一级的所述检测开关的第二极之间电连接并共同连接到同一检测端，每个所述检测端依次接收所述移位寄存器的数据信号。通过每个检测端依次接收到的数据信号，可以直接快速准确的获得异常移位寄存器的位置，为解析液晶显示面板的异常提供有效解决方案。

【技术实现步骤摘要】
一种驱动装置、阵列基板和显示装置
本专利技术涉及显示
，特别涉及一种驱动装置、阵列基板和显示装置。
技术介绍
液晶显示器(liquidcrystaldisplay，LCD)或有机发光二极管(OrganicLight-EmittingDiode,OLED)具有低辐射、体积小及低耗能等优点，已逐渐在部分应用中取代传统的阴极射线管显示器(CathodeRayTubedisplay，CRT)，因而被广泛地应用在笔记本电脑、个人数字助理(PersonalDigitalAssistant，PDA)、平面电视，或移动电话等信息产品上。传统液晶显示器的方式是利用外部驱动芯片来驱动面板上的芯片以显示图像，但为了减少元件数目并降低制造成本，近年来逐渐发展成将驱动电路结构直接制作于显示面板上，例如采用将栅极驱动电路(gatedriver)整合于液晶面板(GateOnArray，GOA)的技术。通常，在液晶面板的制造过程中，可能会造成栅极驱动电路中的栅极移位寄存器的存在缺陷，因此，会在液晶面板的外围设置检测端用于检测栅极移位寄存器是否存在异常。如图1所示，现有技术的栅极驱动电路包括多个级联的栅极移位寄存器ASG1、ASG2、ASG3…ASG2N-1、ASG2N，栅极移位寄存器ASG接收触发信号STV和时钟信号CLK(图中未示出)等信号，从信号输出端Gout输出栅极信号。倒数第二级栅极移位寄存器ASG2N-1连接第一测试端TEST1，接收倒数第二级栅极移位寄存器ASG2N-1输出的栅极信号。最后一级栅极移位寄存器ASG2N连接第二测试端TEST2，接收最后一级栅极移位寄存器ASG2N-1输出的栅极信号。目前，栅极驱动电路工作异常后的测试分析方法有两种，第一种是测试驱动IC输出的栅极移位寄存器ASG工作所需要的时钟信号CLK、触发信号STV等信号，推测栅极移位寄存器ASG是否损坏。但是，DriverIC输出的ASG工作所需要的时钟信号CLK、触发信号STV等信号并不是液晶显示面板上像素单元工作所需要的直接信号，而只是通过时钟信号CLK和触发信号STV信号去产生液晶显示面板上像素单元工作的栅极信号，因此，一般测试驱动IC输出的栅极移位寄存器ASG所需要的各种信号，只能判断驱动IC是否工作正常，而不能直接判断液晶显示面板上的栅极移位寄存器ASG是否有异常。第二种是直接分析第一测试端TEST1和第二测试端TEST2接收到的栅极信号，确定栅极移位寄存器ASG是否异常。若测试到最后一级或倒数第二级栅极移位寄存器ASG的栅极信号存在异常，那么，在这之前的每一级栅极移位寄存器ASG都有可能工作异常，但液晶显示面板上的台阶空间有限，不能将每级栅极移位寄存器ASG输出的栅极信号都拉到液晶显示面板的台阶上来，测试的局限性很大。同时，还由于多个栅极移位寄存器ASG级联在一起后，当某一级栅极移位寄存器ASG有轻微损伤，输出的栅极信号失真但仍然能将下一级栅极移位寄存器ASG触发，在此级栅极移位寄存器ASG之后的所有栅极移位寄存器ASG正常工作，此时，测试最后一级或倒数第二级栅极移位寄存器ASG的栅极信号的输出也是正常的，此种情况，某一级栅极移位寄存器ASG工作异常不能通过测试最后两级的栅极移位寄存器ASG的栅极信号检测出来。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种驱动装置、阵列基板和显示装置。有鉴于此，本专利技术实施例提供一种驱动装置，包括多个级联的移位寄存器，多个检测开关，多个检测端；所述多个检测开关的控制端分别与所述多个移位寄存器电连接，所述多个检测开关的第一极分别与所述多个移位寄存器的信号输出端电连接，至少间隔一级的所述检测开关的第二极之间电连接并共同连接到同一检测端，每个所述检测端依次接收所述移位寄存器的数据信号。本专利技术实施例还提供一种采用该驱动装置的阵列基板，包括上述的驱动装置。本专利技术实施例还提供一种显示装置，包括上述的阵列基板。本专利技术实施例提供的驱动装置、阵列基板和显示装置，由于每级的移位寄存器设置有检测开关，每级移位寄存器的数据信号可以依次的传送给检测端，通过每个检测端依次接收到的数据信号，可以直接快速准确的获得异常移位寄存器的位置，为解析液晶显示面板的异常提供有效解决方案。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是现有技术中的驱动装置的结构示意图；图2是本专利技术实施例提供的一种驱动装置的结构示意图；图3是图2实施例提供的驱动装置中移位寄存器的电路图；图4是图2实施例提供的驱动装置的时序图；图5是本专利技术实施例提供的另一种驱动装置的结构示意图；图6是本专利技术实施例提供的另一种驱动装置的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。图2是本专利技术实施例提供的一种驱动装置的结构示意图。如图2所示，驱动装置包括多个级联的移位寄存器ASG，当由9根信号线进行驱动时，9根信号线上传输的信号分别为：正向扫描信号FW、反向扫描信号BW、第一初始触发信号STV1、第二初始触发信号STV2、第0时钟信号CLK0、第1时钟信号CLK1、第2时钟信号CLK2、第3时钟信号CLK3、低电平信号VGL。第0时钟信号CLK0、第1时钟信号CLK1、第2时钟信号CLK2和第3时钟信号CLK3均为脉冲信号，第0时钟信号CLK0与第2时钟信号CLK2互为反相信号，即第0时钟信号CLK0的周期与第2时钟信号CLK2的周期相同，相位相反；第1时钟信号CLK1与第3时钟信号CLK3互为反相信号，即第1时钟信号CLK1的周期与第3时钟信号CLK3的周期相同，相位相反，第0时钟信号为高电平的时间段与第1时钟信号为高电平的时间段可以交叠，也可以不交叠；第2时钟信号为高电平的时间段与第3时钟信号为高电平的时间段可以交叠，也可以不交叠。移位寄存器ASG接收上述信号后，从信号输出端GOUT输出数据信号。移位寄存器ASG包括奇数级移位寄存器和偶数级移位寄存器，奇数级移位寄存器包括ASG1、ASG3、ASG5、ASG7、ASG9…ASG4N-3、ASG4N-1，偶数级移位寄存器包括ASG2、ASG4、ASG6、ASG8、ASG10、…ASG4N-2、ASG4N，N为大于等于1的正整数。每级移位寄存器ASG包括触发信号端STVIN、正向扫描信号端FWIN、反向扫描信号端BWIN、时钟信号端CLKIN、反向时钟信号端CLKBIN、低电平信号端VGLIN、结束信号端END和上拉信号端PU。第一级移位寄存器ASG1的触发信号端STV接收第一初始触发信号STV1，正向扫描信号端FWIN接收正向扫描信号FW，反向扫描信号端BWIN接收反向扫描信号BW，时钟信号端CLKIN接收第2时钟信号CLK2，反向时钟信号端CLKBIN接收第0时钟信号CLK0、低电平信号端VGLIN接收本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种驱动装置，包括多个级联的移位寄存器，多个检测开关，多个检测端；所述多个检测开关的控制端分别与所述多个移位寄存器电连接，所述多个检测开关的第一极分别与所述多个移位寄存器的信号输出端电连接，至少间隔一级的所述检测开关的第二极之间电连接并共同连接到同一检测端，每个所述检测端依次接收所述移位寄存器的数据信号。

【技术特征摘要】
1.一种驱动装置，包括多个级联的移位寄存器，多个检测开关，多个检测端；所述多个检测开关的控制端分别与所述多个移位寄存器电连接，所述多个检测开关的第一极分别与所述多个移位寄存器的信号输出端电连接，至少间隔一级的所述检测开关的第二极之间电连接并共同连接到同一检测端，每个所述检测端依次接收所述移位寄存器的数据信号；所述移位寄存器包括上拉信号端，所述上拉信号端与所述检测开关的控制端电连接。2.如权利要求1所述的驱动装置，其特征在于，所述检测开关为薄膜晶体管，所述控制端为所述薄膜晶体管的栅极。3.如权利要求1所述的驱动装置，其特征在于，所述检测开关包括奇数级检测开关和偶数级检测开关，所述检测端包括第一检测端和第二检测端，至少间隔一级的所述奇数级检测开关第二极之间电连接并共同连接到第一检测端，至少间隔一级的所述偶数级检测开关第二极之间电连接并共同连接到第二检测端。4.如权利要求3所述的驱动装置，其特征在于，所述移位寄存器包括奇数级移位寄存器和偶数级移位寄存器，每级所述移位寄存器包括触发信号端，第一级移位寄存器的触发信号端接收第一初始触发信号，所述奇数级移位寄存器的触发信号端接收上一级奇数级移位寄存器的数据信号，第二级移位寄存器的触发信号端接收第二初始触发信号，所述偶数级移位寄存器的触发信号端接收上一级偶数级移位寄存器的数据信号。5.如权利要求4所述的驱动装置，其特征在于，所述第一检测端包括第一子检测端和第二子检测端，第4N-3级检测开关第二极之间电连接并共同连接到第一子检测端，第4N-1级检测开关第二极之间电连接并共同连接到第二子检测端；所述第二检测端包括第三子检测端和第四子检测端，第4N-2级检测开关第二极之间电连接并共同连接到第四子检测端，第4N级检测开关第二极之间电连接并共同连接到第三子检测端。6.如权利要求4所述的驱动装置，其特征在于，所述第一检测端包括第一子检测端、第二子检测端、第三子检测端和第四子检测端，第8N-7级检测开关第二极之间电连接并共同连接到第一子检测端，第8N-5级检测开关第二极之间电连接并共同连接到第二子检测端，第8N-3级检测开关第二极之间电连接并共同连接到第三子检测端，第8N-1级检测开关第二极之间电连接并共同连接到第四子检测端；所述第二检测端包括第五子检测端、第六子检测端、第七子检测端和第八子检测端，第8N-6级检测开关第二极之间电连接并共同连接到第五子检测端，第8N-4级检测开关第二极之间电连接并共同连接到第六子检测端，第8N-2级检测开关第二极之间电连接并共同连接到第七子检测端，第8N级检测开关第二极之间电连接并共同连接到...

【专利技术属性】
技术研发人员：李军，王桂才，周井雄，张露，
申请(专利权)人：上海天马微电子有限公司，天马微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31