一种显微镜测试样品台制造技术

本实用新型专利技术所提供的一种显微镜测试样品台，尤其适用于对薄片型测试样品的断口进行检测，其通过在现有技术中的测试样品平台上增设一带有凹形插槽的侧壁，从而可以将薄片型测试样品插入到所述凹形插槽内，使薄片型测试样品的缺口呈水平放置，从而可以方便的对薄片型测试样品的缺口进行测试，避免了在使用现有技术中的显微镜测试样品台时必须对薄片型测试样品进行镶嵌，使薄片型测试样品的缺口水平放置在载物台上的麻烦，为测试人员提供方便。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术所提供的一种显微镜测试样品台，尤其适用于对薄片型测试样品的断口进行检测，其通过在现有技术中的测试样品平台上增设一带有凹形插槽的侧壁，从而可以将薄片型测试样品插入到所述凹形插槽内，使薄片型测试样品的缺口呈水平放置，从而可以方便的对薄片型测试样品的缺口进行测试，避免了在使用现有技术中的显微镜测试样品台时必须对薄片型测试样品进行镶嵌，使薄片型测试样品的缺口水平放置在载物台上的麻烦，为测试人员提供方便。【专利说明】—种显微镜测试样品台
本技术涉及测试仪器领域，尤其涉及一种显微镜测试样品台。
技术介绍
由于高分辨率、大景深，电子扫描显微镜(SEM)被广泛应用于材料分析领域。 目前SEM所使用的样品台一般为结构单一的平面结构，现有技术中SEM样品台仅设置有水平放置的载物台，结构单一，不能满足不同类型样品的观测需求，特别是薄片类、纤维类样品的断口观察。 在实际使用中，当需要对薄片类、纤维类样品的断口形貌观察，样品无法镶嵌，故无法在现有技术中的样品台上观察其断口。 因此，现有技术有待于进一步的改进和发展。
技术实现思路
本技术的目的在于为用户提供一种显微镜测试样品台，以解决现有技术中不能直接对薄片类的断口进行观察测试的问题。 本技术解决技术问题所采用的技术方案如下: 一种显微镜测试样品台，其中，包括竖直设置的第一载物平台和第二载物平台，所述第一载物平台水平放置，且设置有用于对测试样品放置的位置进行校正的十字图标； 所述第二载物平台竖直设置在第一载物平台的外边缘，且包含第一测试载物区和第二测试载物区； 所述第一测试载物区和第二测试载物区分别设置有用于承载待测样品的第一凹形插槽和第二凹形插槽； 所述第一凹形插槽的凹槽宽度为所述第二凹形插槽的凹槽宽度的3-4倍。 所述显微镜测试样品台，其中，所述第一载物平台的上表面为圆形结构。 所述显微镜测试样品台，其中，所述第二载物平台为长条型结构。 所述显微镜测试样品台，其中，所述第一测试载物区的第一凹形插槽至少为一个，所述第二测试载物区的第二凹形插槽个数至少为三个。 所述显微镜测试样品台，其中，所述第一凹形插槽的凹槽宽度为0.04 cm -0.2cm,所述第二凹形插槽的凹槽宽度为0.01 cm -0.02cm。 有益效果，本技术所提供的一种显微镜测试样品台，通过在现有技术中的测试样品平台上增设一带有凹形插槽的侧壁，从而可以将薄片型测试样品插入到所述凹形插槽内，使薄片型测试样品的缺口呈水平放置，从而可以方便的对薄片型测试样品的缺口进行测试，避免了在使用现有技术中的显微镜测试样品台时必须对薄片型测试样品进行镶嵌，使薄片型测试样品的缺口水平放置在载物台上的麻烦，为测试人员提供方便。 【专利附图】【附图说明】 图1是本技术的测试样品平台的结构示意图。 图2是本技术的测试样品平台具体应用时的结构示意图。 【具体实施方式】 为使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本技术进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。 如图1所示，本技术提供了一种显微镜测试样品台，图1所示为所述测试样品台的侧视图，如图1所示，其中，包括竖直设置的第一载物平台I和第二载物平台2，所述第一载物平台I水平放置，其上表面为圆形结构，且设置有用于对测试样品放置的位置进行校正的十字图标，(以为图1为侧视图，且第一载物平台为水平放置，因此图1中未能显示出第一载物平台的上表面)便于对测试样品的放置位置进行校正。 所述第二载物平台2竖直设置在第一载物平台I的外边缘，且包含第一测试载物区21和第二测试载物区23。 所述第一测试载物区21和第二测试载物区22分别设置有用于承载待测样品的第一凹形插槽和第二凹形插槽。 所述第一凹形插槽的凹槽宽度为所述第二凹形插槽的凹槽宽度的3-4倍。 所述第一凹形插槽用于放置宽度较大的薄片，所述第二凹形插槽用于放置宽度较小的，纤维材料类的待测样品。 所述显微镜测试样品台，在现有技术中的测试样品台上增设一竖直放置的第二载物平台，在第二载物平台上设置有凹形插槽，方便了薄片型测试样品固定在样品台上，且薄片的断口呈水平，测试人员可以轻松的对薄片样品的断口进行检测。 进一步的，由于第一测试载物区和第二测试载物区设置的凹形插槽的宽度不同，可以供检测人员根据薄片的厚度选择不同的插槽插入测试样品，也可以同时插入不同的测试样品进行检测，因此给检测人员带来方便。 如图2所示为本技术所述显微镜测试样品台在具体应用时的示意图，通过在第一载物平台上设置一如其侧壁的第二载物平台，并在第二载物平台的表面上设置有凹形插槽，从而可以在进行薄片型样品的断口进行检测时，直接将薄片样品插入所述凹形插槽(图中所述31、32)，从而使所述断口呈水平方向，方便了检测员对断口进行检测，从而为断口类的样品检测提供了方便。 在上述技术方案的基础上，所述显微镜测试样品台还可以有以下改进: 为了便于放置薄片类测试样品，优选的，所述第二载物平台为长条型结构。 进一步的，为了满足不同种类，不同厚度测试样品的需要，所述第一测试载物区的第一凹形插槽至少为一个，所述第二测试载物区的第二凹形插槽个数至少为三个，且每个凹形插槽的凹槽宽度不同，优选的，可以将第二载物平台上的所述凹形插槽的宽度设置成等距离增大排列。 所述第一凹形插槽的凹槽宽度为0.04-0.2cm，所述第二凹形插槽的凹槽宽度为0.01-0.02cm。 本技术所提供的一种显微镜测试样品台，尤其适用于对薄片型测试样品的断口进行检测，其通过在现有技术中的测试样品平台上增设一带有凹形插槽的侧壁，从而可以将薄片型测试样品插入到所述凹形插槽内，使薄片型测试样品的缺口呈水平放置，从而可以方便的对薄片型测试样品的缺口进行测试，避免了在使用现有技术中的显微镜测试样品台时必须对薄片型测试样品进行镶嵌，使薄片型测试样品的缺口水平放置在载物台上的麻烦，为测试人员提供方便。 应当理解的是，本技术的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本技术所附权利要求的保护范围。【权利要求】1.一种显微镜测试样品台，其特征在于，包括垂直设置的第一载物平台和第二载物平台，所述第一载物平台水平放置，且设置有用于对测试样品放置的位置进行校正的十字图标； 所述第二载物平台设置在第一载物平台的外边缘，且包含第一测试载物区和第二测试载物区； 所述第一测试载物区和第二测试载物区分别设置有用于承载待测样品的第一凹形插槽和第二凹形插槽； 所述第一凹形插槽的凹槽长度为所述第二凹形插槽的凹槽长度的3-4倍。2.根据权利要求1所述显微镜测试样品台，其特征在于，所述第一载物平台的上表面为圆形结构。3.根据权利要求1所述显微镜测试样品台，其特征在于，所述第二载物平台为长条型结构。4.根据权利要求1所述显微镜测试样品台，其特征在于，所述第一测试载物区的第一凹形插槽至少为一个，所述第二测试载物区的第二凹形插槽个数至少为三个。5.根据权利要求4所述显微镜本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显微镜测试样品台，其特征在于，包括垂直设置的第一载物平台和第二载物平台，所述第一载物平台水平放置，且设置有用于对测试样品放置的位置进行校正的十字图标； 所述第二载物平台设置在第一载物平台的外边缘，且包含第一测试载物区和第二测试载物区；所述第一测试载物区和第二测试载物区分别设置有用于承载待测样品的第一凹形插槽和第二凹形插槽；所述第一凹形插槽的凹槽长度为所述第二凹形插槽的凹槽长度的3‑4倍。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张伟，
申请(专利权)人：深圳市美信检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44