光纤性能测试方法、装置和系统制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种光纤性能测试方法、装置和系统。本发明专利技术实施例涉及光通信技术领域，用以解决对光纤进行性能测试时的效率问题。方法包括从光纤的测试始端向光纤的测试末端发送测试光信号；接收测试光信号经过设置在测试末端的反射器的反射，反射回测试始端的反射光信号；根据测试光信号在测试始端的功率和反射光信号在测试始端的功率，计算光纤对通过其传输的光信号的功率损耗；根据光纤对通过其传输的光信号的功率损耗，确定光纤的性能。本发明专利技术实施例提供的光纤性能测试方法、装置和系统，可以应用于对光纤性能测试效率要求较高的测试设备。

【技术实现步骤摘要】
光纤性能测试方法、装置和系统
本专利技术实施例涉及光通信
，尤其涉及一种光纤性能测试方法、装置和系统。
技术介绍
光纤脆弱，在光纤网络工程施工过程中容易引入光纤故障，光纤在长期使用过程中也容易劣化，因此，需要对光纤进行性能测试，以确保光纤的性能指标满足网络业务的通信要求。图1为现有技术中的光纤性能测试方法的示意图。如图1所示，若要测试从H点到A、B、C、D各点的光纤性能，则需要测试人员在H点利用光通道性能监测(opticalperformancemonitor，简称OPM)仪表分别向A、B、C、D各点发送测试光信号，并记录测试信号的发送功率，同时还需要测试人员在A、B、C、D各点利用OPM仪表接收从H点发送的测试光信号，并记录测试信号的接收功率，将测试信号的发送功率和测试信号的接收功率的相减，得出光纤对通过其传输的光信号的功率损耗，进而确定光纤的性能。可见，现有技术是通过人工配合的方式，实现对各路光纤性能的测试。由于光纤网络中的光纤数量巨大，因此，上述现有技术的光纤性能测试方法人力成本大，效率低。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供一种光纤性能测试方法和装置，用以节约光纤性能测试的人力成本，并提高测试效率。为达到上述目的，本专利技术的实施例采用如下技术方案：第一方面，本专利技术实施例提供一种光纤性能测试方法，包括：从光纤的测试始端向光纤的测试末端发送测试光信号；接收所述测试光信号经过设置在所述测试末端的反射器的反射，反射回所述测试始端的反射光信号；根据所述测试光信号在所述测试始端的功率和所述反射光信号在所述测试始端的功率，计算所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗；根据所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗，确定所述光纤的性能。结合第一方面，在第一方面的第一种可能的实现方式中，在所述计算所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗之前，还包括：利用增设了光衰减器和光开关的光时域反射仪，测试所述测试光信号在所述测试始端的功率和所述反射光信号在所述测试始端的功率；所述光时域反射仪包括激光器、环形器、耦合器、光衰减器、光开关、雪崩二极管、处理单元和连接器，所述光时域反射仪通过所述连接器与所述光纤的测试始端连接。结合第一方面或第一方面的第一种可能的实现方式，在第一方面的第二种可能的实现方式中，由所述激光器发出的测试光信号经过所述环形器、所述耦合器后，一路由所述连接器进入所述光纤，另一路依次经过所述光衰减器、所述光开关、所述雪崩二极管进入所述处理单元；所述测试光信号在所述测试始端的功率Power_T为:Power_T＝value1+loss_cp1-loss_cp2+loss_os1+loss_atn其中，value1为所述测试光信号在进入所述雪崩二极管时的功率；loss_cp1为所述测试光信号经过所述环形器、所述耦合器进入所述光衰减器时，所述耦合器对所述测试光信号的功率损耗；loss_cp2为所述测试光信号经过所述环形器、所述耦合器进入所述连接器时，所述耦合器对所述测试光信号的功率损耗；loss_os1为所述测试光信号经过所述光衰减器、所述光开关进入所述雪崩二极管时，所述光开关对所述测试光信号的功率损耗；loss_atn为所述测试光信号经过所述耦合器、所述光衰减器进入所述光开关时，所述光衰减器对所述测试光信号的功率损耗。结合第一方面或第一方面的第二种可能的实现方式，在第一方面的第三种可能的实现方式中，到达所述连接器的反射光信号依次经过所述耦合器、所述环形器、所述光开关、所述雪崩二极管进入所述处理单元；所述反射光信号在所述测试始端的功率Power_S2T为:Power_S2T＝value2+loss_cp3+loss_crcl3+loss_os3其中，value2为所述反射光信号在进入所述雪崩二极管时的功率；loss_cp3为所述反射光信号经过所述连接器、所述耦合器进入所述环形器时，所述耦合器对所述反射光信号的功率损耗；loss_crcl3为所述反射光信号经过所述耦合器、所述环形器进入所述光开关时，所述环形器对所述反射光信号的功率损耗；loss_os3为所述反射光信号经过所述环形器、所述光开关进入所述雪崩二极管时，所述光开关对所述反射光信号的功率损耗。结合第一方面或第一方面的第三种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中，所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗Loss_ODN的计算公式为：Loss_ODN＝(value1-value2+M)/2其中，value1为所述测试光信号在进入所述雪崩二极管时的功率，value2为所述反射光信号在进入所述雪崩二极管时的功率，M为校准值，M的值通过在所述光时域反射仪和所述反射器之间连接一个标准光分配网络测试得到，其中，所述标准光分配网络对通过其传输的光信号的功率损耗为已知值。结合第一方面或第一方面的第一种可能的实现方式或第一方面的第二种可能的实现方式或第一方面的第三种可能的实现方式或第一方面的第四种可能的实现方式，在第五种可能的实现方式中，所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗Loss_ODN的计算公式为：Loss_ODN＝(Power_T-Power_S2T)/2其中，Power_T为所述测试光信号在所述测试始端的功率，Power_S2T为所述反射光信号在所述测试始端的功率。第二方面，本专利技术实施例提供一种光纤性能测试装置，包括：发送模块，用于从光纤的测试始端向光纤的测试末端发送测试光信号；接收模块，用于接收所述测试光信号经过设置在所述测试末端的反射器的反射，反射回所述测试始端的反射光信号；计算模块，用于根据所述测试光信号在所述测试始端的功率和所述反射光信号在所述测试始端的功率，计算所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗；确定模块，用于根据所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗，确定所述光纤的性能。结合第二方面，在第二方面的第一种可能的实现方式中，所述装置为增设了光衰减器和光开关的光时域反射仪，用于测试所述测试光信号在所述测试始端的功率和所述反射光信号在所述测试始端的功率；所述光时域反射仪包括激光器、环形器、耦合器、光衰减器、光开关、雪崩二极管、处理单元和连接器，所述光时域反射仪通过所述连接器与所述光纤的测试始端连接。结合第二方面或第二方面的第一种可能的实现方式，在第二方面的第二种可能的实现方式中，由所述激光器发出的测试光信号经过所述环形器、所述耦合器后，一路由所述连接器进入所述光纤，另一路依次经过所述光衰减器、所述光开关、所述雪崩二极管进入所述处理单元；所述测试光信号在所述测试始端的功率Power_T为:Power_T＝value1+loss_cp1-loss_cp2+loss_os1+loss_atn其中，value1为所述测试光信号在进入所述雪崩二极管时的功率；loss_cp1为所述测试光信号经过所述环形器、所述耦合器进入所述光衰减器时，所述耦合器对所述测试光信号的功率损耗；loss_cp2为所述测试光信号经过所述环形器、所述耦合器进入所述连接器时，所述耦合器对所述测试光信号的功率损耗；loss_os1为所述测试光信号经过所述光衰减器、所述光开关进入所述雪崩二极管时，所述光开关对所述测试光信号的功率损耗；loss_atn为所述测试光信号经过所述耦合本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光纤性能测试方法，其特征在于，包括：从光纤的测试始端向光纤的测试末端发送测试光信号；接收所述测试光信号经过设置在所述测试末端的反射器的反射，反射回所述测试始端的反射光信号；根据所述测试光信号在所述测试始端的功率和所述反射光信号在所述测试始端的功率，计算所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗；根据所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗，确定所述光纤的性能。

【技术特征摘要】
1.一种光纤性能测试方法，其特征在于，包括：从光纤的测试始端向光纤的测试末端发送测试光信号；接收所述测试光信号经过设置在所述测试末端的反射器的反射，反射回所述测试始端的反射光信号；根据所述测试光信号在所述测试始端的功率和所述反射光信号在所述测试始端的功率，计算所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗；根据所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗，确定所述光纤的性能；其中，在所述计算所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗之前，利用增设了光衰减器和光开关的光时域反射仪，测试所述测试光信号在所述测试始端的功率和所述反射光信号在所述测试始端的功率；所述光时域反射仪包括激光器、环形器、耦合器、光衰减器、光开关、雪崩二极管、处理单元和连接器，所述光时域反射仪通过所述连接器与所述光纤的测试始端连接；由所述激光器发出的测试光信号经过所述环形器、所述耦合器后，一路由所述连接器进入所述光纤，另一路依次经过所述光衰减器、所述光开关、所述雪崩二极管进入所述处理单元；所述测试光信号在所述测试始端的功率Power_T为:Power_T＝value1+loss_cp1-loss_cp2+loss_os1+loss_atn其中，value1为所述测试光信号在进入所述雪崩二极管时的功率；loss_cp1为所述测试光信号经过所述环形器、所述耦合器进入所述光衰减器时，所述耦合器对所述测试光信号的功率损耗；loss_cp2为所述测试光信号经过所述环形器、所述耦合器进入所述连接器时，所述耦合器对所述测试光信号的功率损耗；loss_os1为所述测试光信号经过所述光衰减器、所述光开关进入所述雪崩二极管时，所述光开关对所述测试光信号的功率损耗；loss_atn为所述测试光信号经过所述耦合器、所述光衰减器进入所述光开关时，所述光衰减器对所述测试光信号的功率损耗。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，到达所述连接器的反射光信号依次经过所述耦合器、所述环形器、所述光开关、所述雪崩二极管进入所述处理单元；所述反射光信号在所述测试始端的功率Power_S2T为:Power_S2T＝value2+loss_cp3+loss_crcl3+loss_os3其中，value2为所述反射光信号在进入所述雪崩二极管时的功率；loss_cp3为所述反射光信号经过所述连接器、所述耦合器进入所述环形器时，所述耦合器对所述反射光信号的功率损耗；loss_crcl3为所述反射光信号经过所述耦合器、所述环形器进入所述光开关时，所述环形器对所述反射光信号的功率损耗；loss_os3为所述反射光信号经过所述环形器、所述光开关进入所述雪崩二极管时，所述光开关对所述反射光信号的功率损耗。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗Loss_ODN的计算公式为：Loss_ODN＝(value1-value2+M)/2其中，value1为所述测试光信号在进入所述雪崩二极管时的功率，value2为所述反射光信号在进入所述雪崩二极管时的功率，M为校准值，M的值通过在所述光时域反射仪和所述反射器之间连接一个标准光分配网络测试得到，其中，所述标准光分配网络对通过其传输的光信号的功率损耗为已知值。4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗Loss_ODN的计算公式为：Loss_ODN＝(Power_T-Power_S2T)/2其中，Power_T为所述测试光信号在所述测试始端的功率，Power_S2T为所述反射光信号在所述测试始端的功率。5.一种光纤性能测试装置，其特征在于，包括：发送模块，用于从光纤的测试始端向光...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘子奇，唐利，孙大伟，
申请(专利权)人：北京华为数字技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11