一种测试装置，用于测试显示面板的删极线或数据线，包括信号发射装置与侦测装置，其中信号发射装置与侦测装置分别并排设有信号传感器、开路传感器和边缘传感器，其中，所述信号发射装置与侦测装置上分别设有第四传感器，用于侦测相邻两条删极线或数据线的反馈信号。还提供了一种检测方法。本发明专利技术可以准确地将判断显示面板中的栅极线或数据线生产过程中出现的短路、开路现象，并且可以就具体的短路位置做准确的判断，便于后续修补工作的顺利进行，不但大大提高了出产良品率，还进一步提高了修补效率。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种测试装置，用于测试显示面板的删极线或数据线，包括信号发射装置与侦测装置，其中信号发射装置与侦测装置分别并排设有信号传感器、开路传感器和边缘传感器，其中，所述信号发射装置与侦测装置上分别设有第四传感器，用于侦测相邻两条删极线或数据线的反馈信号。还提供了一种检测方法。本专利技术可以准确地将判断显示面板中的栅极线或数据线生产过程中出现的短路、开路现象，并且可以就具体的短路位置做准确的判断，便于后续修补工作的顺利进行，不但大大提高了出产良品率，还进一步提高了修补效率。【专利说明】
本专利技术涉及用于测试液晶面板的测试装置及其测试方法。
技术介绍
随着信息社会的快速发展，显示设备的需求迅猛增长，因而也推动了液晶面板行 业的快速发展，面板的产量不断提升，对产品的品质及良率也有了更高要求，同时对生产检 测设备的要求也提出更高要求。 现有测试装置OST (open short test)设备，主要是针对Array制程的gate line (栅极线）与data line (数据线）进行测试，把open (开路）或short (短路）的不良 检测出来，通过扫描装置定位，以便后续repair(修补）设备进行修补。但目前0ST设备针 对short测试能力较弱，且稳定性差，导致较多的短路不良漏应用到产品中，造成报废。 一般的0ST设备的关键装置如图1、图2所示，包括feeder10(信号发射装置）与 detector20 (侦测装置），feederlO 与 detector20 -般都包含 defect sensorll (信号传感 器）、open sensorl2 (开路传感器）、edge sensorl3 (边缘传感器），只是测试过程中角色 不同，检测时一个feederlO装置发出信号，defect sensorll和open sensorl2接收信号， 虽sensor (传感器）不同，但都是同一 gate line或data line传输过来的信号，feederlO 装置与detector20装置分别置于检测线40 (gate line或data line)的两端，如果gate line或data line出现open,则feederlO装置发出的信号detector20装置无法接收到； 如果是gate line或data line出现short,则feederlO装置发出的信号会被分流削弱，导 致detector20接收到的信号变弱，通过sensor接收到的信号状况追踪open/short异常发 生的line编号，再通过A0I(Automatic Optic Inspection的全称是自动光学检测）检查 装置定位异常点，以便后续r印air设备进行修补。但不同的short位置造成的信号削弱程 度是不一样的，如果信号强弱或规格设备不合理，都会造成short检出率降低，再加上检测 设备检测能力波动，所以short异常经常会被漏检。
技术实现思路
为了克服以上不足，本专利技术将提供一种测试装置，用于测试显示面板的删极线或 数据线，包括信号发射装置与侦测装置，其中信号发射装置与侦测装置分别并排设有信号 传感器、开路传感器和边缘传感器，其特征在于，所述信号发射装置与侦测装置上分别设有 第四传感器，用于侦测相邻两条删极线或数据线的反馈信号。 优选地，所述第四传感器设于开路传感器上方，第四传感器与开路传感器的距离 可调。 优选地，所述第四传感器与开路传感器的垂直距离为相邻两条删极线或数据线的 反馈信号的距离。 本专利技术的另一个目的还在于提供一种以上测试装置的测试方法，用于测试显示面 板的删极线或数据线，其测试步骤包括： A、将信号发射装置与侦测装置设于要测试的栅极线或数据线的两端，信号发射装 置与侦测装置的第四传感器分别连接相邻的栅极线或数据线； B、信号发射装置发出检测信号； C、侦测装置接收检测信号； D、将接收到检测信号与正常线路检测信号对比； E、如没有检测到信号，则判断为开路故障； F、如检测到比正常线路检测信号弱的信号，则判断为短路。 优选地，还包括步骤G:当判断为短路时，通过信号发射装置与侦测装置上设有第 四传感器收到检测信号与正常检测信号强弱比对，判断短路所处的位置。 优选地，还包括建立参照样板步骤Η :在栅极线或数据线之间平均取若干点进行 短路处理，然后进行对每一短路进行一次如以上步骤Α至C和G的操作，并记录短路的位置 和信号发射装置与侦测装置的第四传感器分别接收到的信号强弱。 优选地，将步骤G获得的检测信号与步骤Η获得的参照样板进行比较，取最接近的 参照样板的信号所记录的位置距离为故障点。 有益效果：本专利技术可以准确地将判断显示面板中的栅极线或数据线生产过程中出 现的短路、开路现象，并且可以就具体的短路位置做准确的判断，便于后续修补工作的顺利 进行，不但大大提1? 了出广良品率，还进一步提1? 了修补效率。 【专利附图】【附图说明】 图1是现有检测装直不意图。 图2是现有检测装置工作状态示意图。 图3是本专利技术检测装置的信号发射装置与侦测装置结构示意图。 图4是检测方法流程图。 图5是检测线路有短路故障示意图。 图6是检测线路有开路故障不意图。 图7是检测线路有开路和短路故障时的检测信号示意图。 图8是使用第四传感器检测线路有开路和短路故障时的检测信号示意图。 图9是检测线路短路故障处于不同位置示意图。 图10是针对图9状态检测信号示意图。 【具体实施方式】 下面将结合附图用实施例对本专利技术进行具体说明。 本实施例提供的这种用于测试显示面板的gate line (删极线）或data line (数 据线）的测试装置，和现有测试装置近似，如图1、图2所示，包括feederio (信号发射装 置）与detector20(侦测装置），分别固定于移动轨道30上，用于对检测线40(gate line 或data line)进行检测操作。特别之处在于，参见图3，feederl0与detector20分别并排 设有 defect sensorll (信号传感器）、open sensorl2(开路传感器）、edge sensorl3(边 缘传感器），feederlO与detectorfO上还分别设有第四传感器14,用于侦测相邻两条检 测线40的反馈信号。第四传感器14设于并排排列的defect sensorll、open sensorl2、 edge sensorl3的上方，准确地讲，是设于open sensorl2上方，且第四传感器14与open SenS〇rl2的垂直距离为相邻两条检测线40的距离A，以便精确定位连接相邻两条检测线 40。另外，为了适应不同规格线距的显示面板检测要求，本实施例中，第四传感器14与open sensorl2的距离A可调，根据需要检测的显示面板的gate line或data line的线距做相 应调整。下面将介绍用这种测试装置测试显示面板的检测线40的测试方法，参照图4,检测 方法包括步骤： S10、将feederlO与detector本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测试装置，用于测试显示面板的删极线或数据线，包括信号发射装置(10)与侦测装置(20)，其中信号发射装置(10)与侦测装置(20)分别并排设有信号传感器(11)、开路传感器(12)和边缘传感器(13)，其特征在于，所述信号发射装置(10)与侦测装置(20)上分别设有第四传感器(14)，用于侦测相邻两条删极线或数据线的反馈信号。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：柴立，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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