一种检验金属件线形尺寸范围的装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种检验金属件线形尺寸范围的装置，包括校对块、基准块、检具板、测针、发光二极管、电池及电阻，所述校对块位于基准块的顶部，且与基准块相连接，所述检具板位于校对块的顶部，且检具板的一端的下表面贴合在所述校对块的上表面上，所述检具板的中心设有一螺纹通孔，所述测针通过其尾部穿过螺纹通孔与所述检具板相连接；所述发光二极管的正极通过导线与电池的正极相连，其负极通过导线与电阻的一端相连接，所述电阻的另一端通过导线与金属件的一端相连接，金属件的另一端与所述电池的负极相连接，所述检具板的下表面与所述金属件上的测量基准面贴合。本发明专利技术用于检验金属件的线形尺寸是否在要求的公差带内，测量结果直观。

【技术实现步骤摘要】
一种检验金属件线形尺寸范围的装置
本专利技术涉及一种检验金属件线形尺寸范围的装置。
技术介绍
目前，检验线形尺寸的检验仪器主要有三座标、高度尺、测高仪等。但是用上述检验仪器检验线形尺寸的过程中，操作者每次都需要判断实测值是否在线形尺寸范围内，检验效率低。2008年9月《河南省汽车工程学会第五届科研学术研讨会》的《7HNSAE08071叶轮测量圆高度的测量方法》中公开了一种测量高度的专用检具，该检具包括：底座、检具板、定位芯轴、百分表和校对块。该检具中百分表的读数偏差加上校对块的尺寸就是被测尺寸。每检验一个高度都要操作者先读取百分表的示值，然后将百分表的示值与校对块的尺寸相加得出实测值，最后操作者需要判断实测值是否在线形尺寸范围内，检验效率低。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种检验结果直观的检验金属件线形尺寸范围的装置，解决金属件检验线形尺寸范围效率低的问题。本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种检验金属件线形尺寸范围的装置，包括校对块、基准块、检具板、测针、发光二极管、电池及电阻，所述校对块位于所述基准块的顶部，且与所述基准块相连接，所述检具板位于所述校对块的顶部，且所述检具板的一端的下表面贴合在所述校对块的上表面上，所述检具板的中心设有一螺纹通孔，所述测针通过其尾部穿过所述螺纹通孔与所述检具板相连接；所述发光二极管的正极通过导线与所述电池的正极相连，其负极通过导线与所述电阻的一端相连接，所述电阻的另一端通过导线与金属件的一端相连接，所述金属件的另一端与所述电池的负极相连接，所述检具板的下表面与所述金属件上的测量基准面贴合。本专利技术的有益效果是：本专利技术用于检验金属件的线形尺寸是否在要求的公差带内，测量结果直观。解决了用测高仪等普通测量仪器测量效率低的问题。线形尺寸简称尺寸，是指两点之间的距离，如直径、半径、宽度、深度、高度、中心距等。在上述技术方案的基础上，本专利技术还可以做如下改进。进一步，所述基准块的高度尺寸与所述金属件线形尺寸的最小尺寸相同，所述基准块与所述校对块的高度之和与所述金属件线形尺寸的最大尺寸相同。进一步，所述检具板为绝缘体，其形状呈板状。进一步，所述测针的头部呈半球状，其尾部呈螺柱状，且所述测针的尾部的外螺纹尺寸与所述检具板上的螺纹通孔的内螺纹尺寸相配适。附图说明图1为本专利技术检验金属件线形尺寸范围的装置的电路结构示意图；图2为本专利技术检验金属件线形尺寸最小尺寸的装置的主视图；图3为本专利技术检验金属件线形尺寸最小尺寸的装置的俯视图；图4为本专利技术检验金属件线形尺寸最大尺寸的装置的主视图；图5为本专利技术检验金属件线形尺寸最大尺寸的装置的俯视图；附图中，各标号所代表的部件列表如下：1、检具板，2、测针，3、基准块，4、校对块，5、电池，6、发光二极管，7、电阻，8、金属件，9、螺纹通孔。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本专利技术，并非用于限定本专利技术的范围。一种检验金属件线形尺寸范围的装置，如图1至图5所示，包括校对块4、基准块3、检具板1、测针2、发光二极管6、电池5及电阻7，所述校对块4位于所述基准块3的顶部，且与所述基准块3相连接，所述检具板1位于所述校对块4的顶部，且所述检具板1的一端的下表面贴合在所述校对块4的上表面上，所述检具板1的中心设有一螺纹通孔9，所述测针2通过其尾部穿过所述螺纹通孔9与所述检具板1相连接；所述发光二极管6的正极通过导线与所述电池5的正极相连，其负极通过导线与所述电阻7的一端相连接，所述电阻7的另一端通过导线与金属件8的一端相连接，所述金属件8的另一端与所述电池5的负极相连接，所述检具板1的下表面与所述金属件8上的测量基准面贴合。所述基准块3的高度尺寸与所述金属件8线形尺寸的最小尺寸相同，所述基准块3与所述校对块4的高度之和与所述金属件8线形尺寸的最大尺寸相同。所述检具板1为绝缘体，其形状呈板状。所述测针2的头部呈半球状，其尾部呈螺柱状，且所述测针2的尾部的外螺纹尺寸与所述检具板1上的螺纹通孔的内螺纹尺寸相配适(见图2，A处表示尾部，B处表示头部)。本专利技术的工作原理如下：使用时：1)如图2、图3所示，将基准块3置于水平平台上。检具板1的下表面与基准块3的上表面贴合。旋转测针2直至测针2的顶部与水平平台的上表面接触。电池5的另一端与金属件8导通。检具板1的下表面与金属件8上的测量基准面贴合。若发光二极管6不发光，则金属件8的实际线形尺寸满足线形尺寸的最小尺寸要求；若发光二极管6发光，则金属件8的实际线形尺寸小于线形尺寸的最小尺寸要求，不满足线形尺寸的最小尺寸要求。若发光二极管6发光，则表明测针顶端的球面与金属件8的测量面接触，电路被导通，即金属件8的测量面与金属件8的测量基准面之间的距离比要求的最小尺寸还小，不满足最小尺寸要求；若发光二极管6不发光，则表明测针顶端的球面与金属件8的测量面没有接触，电路处于断开状态，即金属件8的测量面与金属件8的测量基准面之间的距离比要求的最小尺寸大，满足最小尺寸要求。2)如图4、图5所示，将校对块4置于基准块3的上方。检具板1的下表面与校对块4的上表面贴合。旋转测针2直至测针2的顶部与水平平台的上表面接触。电池5的另一端与金属件8导通。检具板1的下表面与金属件8上的测量基准面贴合。若发光二极管6发光，则金属件8的实际线形尺寸满足线形尺寸的最大尺寸要求；若发光二极管6不发光，则金属件8的实际线形尺寸大于线形尺寸的最大尺寸要求，不满足线形尺寸的最大尺寸要求。若发光二极管6发光，则表明测针顶端的球面与金属件8的测量面接触，电路被导通，即金属件8的测量面与金属件8的测量基准面之间的距离比要求的最大尺寸小，满足最大尺寸要求；若发光二极管6不发光，则表明测针顶端的球面与金属件8的测量面没有接触，电路处于断开状态，即金属件8的测量面与金属件8的测量基准面之间的距离比要求的最大尺寸大，不满足最大尺寸要求。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例，并不用以限制本专利技术，凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检验金属件线形尺寸范围的装置，其特征在于：包括校对块、基准块、检具板、测针、发光二极管、电池及电阻，所述校对块位于所述基准块的顶部，且与所述基准块相连接，所述检具板位于所述校对块的顶部，且所述检具板的一端的下表面贴合在所述校对块的上表面上，所述检具板的中心设有一螺纹通孔，所述测针通过其尾部穿过所述螺纹通孔与所述检具板相连接；所述发光二极管的正极通过导线与所述电池的正极相连，其负极通过导线与所述电阻的一端相连接，所述电阻的另一端通过导线与金属件的一端相连接，所述金属件的另一端与所述电池的负极相连接，所述检具板的下表面与所述金属件上的测量基准面贴合。

【技术特征摘要】
1.一种检验金属件线形尺寸范围的装置，包括检具板和校对块，其特征在于：还包括基准块、测针、发光二极管、电池及电阻，所述校对块位于所述基准块的顶部，且与所述基准块相连接，所述检具板位于所述校对块的顶部，且所述检具板的一端的下表面贴合在所述校对块的上表面上，所述检具板的中心设有一螺纹通孔，所述测针通过其尾部穿过所述螺纹通孔与所述检具板相连接；所述发光二极管的正极通过导线与所述电池的正极相连，其负极通过导线与所述电阻的一端相连接，所述电阻的另一端通过导线与金属件的一端相连接，所述金属件的另一端与所述电池的负极相连接，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔宪莉，连波，
申请(专利权)人：北京无线电测量研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11