一种多电阻测试处理电路，设置有信号采集单元、滤波单元、数码显示单元、复位单元、触发开关单元和微处理器；所述微处理器为型号STC12C5404AD的芯片；数码显示单元设置有数码管电路、段限流电路和驱动电路，段限流电路设置有电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R17、电阻R18、电阻R19、电阻R20和电阻R21；驱动电路设置有电阻R11、电阻R12、电阻R13、电阻R24、三极管Q2、三极管Q3、三极管Q4和三极管Q5；触发开关单元设置有开关S1和开关S2，复位单元设置有电容C1和电阻R1。该多电阻测试处理电路能够同时对多个电阻的检测结果数据进行采样分析，检测效率高，检测结果精确。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种多电阻测试处理电路，设置有信号采集单元、滤波单元、数码显示单元、复位单元、触发开关单元和微处理器；所述微处理器为型号STC12C5404AD的芯片；数码显示单元设置有数码管电路、段限流电路和驱动电路，段限流电路设置有电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R17、电阻R18、电阻R19、电阻R20和电阻R21；驱动电路设置有电阻R11、电阻R12、电阻R13、电阻R24、三极管Q2、三极管Q3、三极管Q4和三极管Q5；触发开关单元设置有开关S1和开关S2，复位单元设置有电容C1和电阻R1。该多电阻测试处理电路能够同时对多个电阻的检测结果数据进行采样分析，检测效率高，检测结果精确。【专利说明】-种多电阻测试处理电路
本技术涉及电子产品检测
，特别是涉及一种多电阻测试处理电路。
技术介绍
电阻是电子产品广泛使用的元器件之一，电阻阻值的精确度是众多器件有效工作 的重要保障。现有技术中，对厚膜电阻测试通常是通过万用表逐个进行检测，不仅效率低， 而且容易出现差错的情况。 故，对多个电阻情况下的检测需要能够一次进行多组检测，为了配合这种结构改 进，相应的检测处理电路也要能够实现一次进行多个电阻测试结果处理的电路结构。 而现有技术中的检测处理电路不能满足上述要求，因此，针对现有技术不足，提供 一种的多电阻测试处理电路以克服现有技术不足甚为必要。
技术实现思路
本技术的目的在于避免现有技术的不足之处而提供一种多电阻测试处理电 路，能够对多个电阻的检测结果进行采样分析，具有检测效率高，检测结果精确的特点。 本技术的上述目的通过如下技术手段实现。 -种多电阻测试处理电路，设置有信号采集单元、滤波单元、数码显示单元、复位 单元、触发开关单元和微处理器； 所述微处理器为型号STC12C5404AD的芯片； 所述信号采集单元的输出端与所述滤波单元的输入端连接，所述滤波单元的输出 端、所述数码显示单元、所述复位单元、所述触发开关单元分别与所述微处理器连接。 上述数码显示单元设置有数码管电路、段限流电路和驱动电路； 所述数码管电路包括四组八段共阴数码管； 所述段限流电路设置有电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R17、电阻R18、电阻 R19、电阻R20和电阻R21 ; 所述驱动电路设置有电阻R11、电阻R12、电阻R13、电阻R24、三极管Q2、三极管 Q3、三极管Q4和三极管Q5、 所述数码管电路的a脚与电阻R14 -端连接，电阻R14另一端与微处理器的引脚 16连接，所述数码管电路的b脚与电阻R15 -端连接，电阻R15另一端与微处理器的引脚 15连接，所述数码管电路的c脚与电阻R16 -端连接，电阻R16另一端与微处理器的引脚 13连接，所述数码管电路的d脚与电阻R17 -端连接，电阻R17另一端与微处理器的引脚 12连接，所述数码管电路的e脚与电阻R18 -端连接，电阻R18另一端与微处理器的引脚2 连接，所述数码管电路的f脚与电阻R19 -端连接，电阻R19另一端与微处理器的引脚1连 接，所述数码管电路的g脚与电阻R20 -端连接，电阻R20另一端与微处理器的引脚27连 接，所述数码管电路的dp脚与电阻R21 -端连接，电阻R21另一端与微处理器的引脚26连 接； 所述三极管Q5的射极与数码管电路的coml脚连接，三极管Q5的基极与电阻R24 一端连接，电阻R24另一端与所述微处理器的引脚18连接，所述三极管Q4的射极与数码管 电路的 C〇m2脚连接，三极管Q4的基极与电阻R13 -端连接，电阻R13另一端与所述微处理 器的引脚17连接，所述三极管Q3的射极与数码管电路的com3脚连接，三极管Q3的基极与 电阻R12 -端连接，电阻R12另一端与所述微处理器的引脚11连接，所述三极管Q2的射极 与数码管电路的com4脚连接，三极管Q2的基极与电阻R11 -端连接，电阻R11另一端与所 述微处理器的引脚10连接，三极管Q5的集电极、三极管Q4的集电极、三极管Q3的集电极 和三极管Q2的集电极均接地。 上述三极管Q5、Q4、Q3和三极管Q2的型号均为8550,所述电阻R11、电阻R12、电 阻R13和电阻R24均为1千欧；所述电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R17、电阻R18、电阻 R19、电阻R20和电阻R21均为510欧。 上述触发开关单元设置有开关S1和开关S2,所述开关S1的一端、所述开关S2的 一端接地，所述开关S1的另一端与所述微处理器的引脚8连接，所述开关S2的另一端与所 述微处理器的引脚9连接。 上述复位单元设置有电容C1和电阻R1，所述电容C1的一端与VCC连接，所述电容 C1的另一端、电阻R1 -端与微处理器的引脚13连接，电阻R1另一端接地。 上述电容C1为10微法，所述电阻R1为10千欧。 上述信号采集单设置有电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8和电阻R9 ; 所述滤波电路设置有电阻R41、电阻R42、电阻R43、电阻R44、电阻R45、电阻R46、 电容C41、电容C42、电容C43、电容C44、电容C45和电容C46 ; 所述电阻R4的一端与电阻R46 -端连接，电阻R46另一端与电容C46、微处理器的 引脚20连接，所述电阻R5的一端与电阻R45 -端连接，电阻R45另一端与电容C45、微处理 器的引脚21连接，所述电阻R6的一端与电阻R44 -端连接，电阻R44另一端与电容C44、 微处理器的引脚22连接，所述电阻R7的一端与电阻R43 -端连接，电阻R43另一端与电容 C43、微处理器的引脚23连接，所述电阻R8的一端与电阻R42 -端连接，电阻R42另一端与 电容C42、微处理器的引脚24连接，所述电阻R9的一端与电阻R41 -端连接，电阻R41另一 端与电容C43、微处理器的引脚25连接， 所述电阻R4、电阻R45、电阻R6、电阻R7、电阻R8和电阻R9的另一端均接地，所述 电容C41、电容C42、电容C43、电容C44、电容C45和电容C46的另一端均接地。 上述多电阻测试处理电路还设置有报警单元，所述报警单元设置有电阻R22、三极 管Q6和警铃BUZZER，所述电阻R22-端与所述微处理器的引脚19连接，所述R22另一端与 三极管Q6的基极连接，三极管Q6的集电极接地，三极管Q6的发射极与警铃BUZZER连接。 上述多电阻测试处理电路还设置有电源退耦单元，所述电源退耦单元设置有电容 C2和电容C3,所述电容C2的一端、电容C3的一端、微处理器的引脚28均接VCC，电容C2 的另一端、电容C3的另一端接地。 上述多电阻测试处理电路还设置有指示单元，所述指示单元设置为发光二极管 D1，二极管D1的正极与微处理器的引脚4连接，二极管D1的负极接地。 本技术的多电阻测试处理电路，设置有信号采集单元、滤波单元、数码显示单 元、复位单元、触发开关单元和微处理器；所述微处理器为型号STC12C5404AD的芯片；所述 信号采集单元的输出端与所述滤波单元的输入端连接，所述滤波单元的输出端本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种多电阻测试处理电路，其特征在于：设置有信号采集单元、滤波单元、数码显示单元、复位单元、触发开关单元和微处理器；所述微处理器为型号STC12C5404AD的芯片；所述信号采集单元的输出端与所述滤波单元的输入端连接，所述滤波单元的输出端、所述数码显示单元、所述复位单元、所述触发开关单元分别与所述微处理器连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄锦云，洪学毅，王雅青，肖小媛，
申请(专利权)人：珠海市华晶微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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